JP2846639B2 - 非晶質太陽電池 - Google Patents
非晶質太陽電池Info
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- JP2846639B2 JP2846639B2 JP63080581A JP8058188A JP2846639B2 JP 2846639 B2 JP2846639 B2 JP 2846639B2 JP 63080581 A JP63080581 A JP 63080581A JP 8058188 A JP8058188 A JP 8058188A JP 2846639 B2 JP2846639 B2 JP 2846639B2
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- Japan
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- layer
- solar cell
- flow rate
- sic
- amorphous silicon
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
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- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は非晶質(アモルファス)太陽電池に関するも
のである。
のである。
(従来の技術) 従来の一般的なアモルファス太陽電池の構造の断面の
一例を第2図に示す。ステンレス基板1の表面に水素化
アモルファスシリコンa−Si:Hよりなるn層2、a−S
i:Hよりなるi層3、水素化アモルファスシリコンカー
ボン合金a−SiC:Hよりなるp層4、酸化インジウム錫
を蒸着したITO層5等を積層しその上にアルミニウムを
蒸着した電極6が設けられている。最近p層4とi層3
との間にカーボンドープ量を逐次変更し、バンドギャッ
プを逐次傾斜させたa−SiC:H膜を約100Åの厚さで設け
ることにより変換効率を向上させることが報告されてい
る(P538〜542J.Appl.Phys.56(2),15 July 1984)。
しかし、その形成方法としては、p層の形成条件から単
にドーパントガスであるジボラン(B2H6)を抜いただけ
であった。
一例を第2図に示す。ステンレス基板1の表面に水素化
アモルファスシリコンa−Si:Hよりなるn層2、a−S
i:Hよりなるi層3、水素化アモルファスシリコンカー
ボン合金a−SiC:Hよりなるp層4、酸化インジウム錫
を蒸着したITO層5等を積層しその上にアルミニウムを
蒸着した電極6が設けられている。最近p層4とi層3
との間にカーボンドープ量を逐次変更し、バンドギャッ
プを逐次傾斜させたa−SiC:H膜を約100Åの厚さで設け
ることにより変換効率を向上させることが報告されてい
る(P538〜542J.Appl.Phys.56(2),15 July 1984)。
しかし、その形成方法としては、p層の形成条件から単
にドーパントガスであるジボラン(B2H6)を抜いただけ
であった。
(発明が解決しようとする課題) 前記の従来の技術では、a−SiC:H膜の特性とそれを
適用した太陽電池の相関については検討されていなかっ
た。
適用した太陽電池の相関については検討されていなかっ
た。
(課題を解決するための手段) 本発明の非晶質太陽電池は、水素化アモルファスシリ
コンよりなるn層と、該n層上に形成され水素化アモル
ファスシリコンよりなるi層と、該i層上に形成され水
素化アモルファスシリコンカーボン合金よりなるp層
と、該i層と該p層との界面に形成され水素化アモルフ
ァスシリコンカーボン合金よりなるp/i界面層とを備え
る非晶質太陽電池において、上記p/i界面層の成膜は、
(SiH4+CH4)の流量に対してH2の流量を2〜8の間で
行うものである。
コンよりなるn層と、該n層上に形成され水素化アモル
ファスシリコンよりなるi層と、該i層上に形成され水
素化アモルファスシリコンカーボン合金よりなるp層
と、該i層と該p層との界面に形成され水素化アモルフ
ァスシリコンカーボン合金よりなるp/i界面層とを備え
る非晶質太陽電池において、上記p/i界面層の成膜は、
(SiH4+CH4)の流量に対してH2の流量を2〜8の間で
行うものである。
(作用) 以上のようにすることにより変換効率が大巾に向上す
る。
る。
(実施例) 第1図は本発明の一実施例の構造を示す断面図であ
る。ステンレス基板1の表面にa−Si:Hよりなるn層2
及びi層3を通常のグロー放電分解により形成し、その
後p/i界面層7としてa−SiC:H層を形成させる。更にそ
の上にa−SiC:Hのp層4を形成させる。各層を形成さ
せるときの代表的な条件は下記の表−1に示される。
る。ステンレス基板1の表面にa−Si:Hよりなるn層2
及びi層3を通常のグロー放電分解により形成し、その
後p/i界面層7としてa−SiC:H層を形成させる。更にそ
の上にa−SiC:Hのp層4を形成させる。各層を形成さ
せるときの代表的な条件は下記の表−1に示される。
最後に透明電極として酸化インジウム錫よりなるITO
層5及び集電用の電極6が設けられる。電極6は通常Al
を蒸着する。
層5及び集電用の電極6が設けられる。電極6は通常Al
を蒸着する。
p/i界面層7を形成するa−SiC:Hの作製に際しては、
上記の表1に示されるように、水素ガスH2の流量とモノ
シランガスSiH4及びメタンガスCH4の流量との比率を適
当に選択することによって所望の特性を得ることができ
る。
上記の表1に示されるように、水素ガスH2の流量とモノ
シランガスSiH4及びメタンガスCH4の流量との比率を適
当に選択することによって所望の特性を得ることができ
る。
第3図は、このH2の流量とSiH4及びCH4の流量の比を
横軸にとり、それぞれの流量の比に対応するa−SiC:H
の屈折率の変化を縦軸にとった双方の関係を示す図であ
る。
横軸にとり、それぞれの流量の比に対応するa−SiC:H
の屈折率の変化を縦軸にとった双方の関係を示す図であ
る。
第4図は、本発明により作製された太陽電池のAM1−1
00mW/cm2の条件下における諸特性と、H2とSiH4+CH4と
のガス流量の比との関係を示す。縦軸の短絡電流Isc,
開放電圧Voc,形状因子FF,及び最大出力Pmaxのそれぞれ
の1の点は、p/i界面層7を設けていない場合を示す。
00mW/cm2の条件下における諸特性と、H2とSiH4+CH4と
のガス流量の比との関係を示す。縦軸の短絡電流Isc,
開放電圧Voc,形状因子FF,及び最大出力Pmaxのそれぞれ
の1の点は、p/i界面層7を設けていない場合を示す。
第3図及び第4図から明らかなように、H2の流量とSi
H4+CH4の流量の比が2〜8倍の間で電池の特性は良く
なっている。このとき、a−SiC:H膜の屈折率は3.2以上
を示している。また、このときa−SiC:H膜中の炭素含
有量が5at%以下では開放電圧が低くなり、逆に25at%
以上では電気的特性が著しく低下するために短絡電流及
び曲線因子が低下することが確かめられている。因みに
本実施例において、H2とSiH4+CH4との流量比が2〜8
倍のときに、a−SiC:H膜の炭素含有量は、11〜23at%
であった。
H4+CH4の流量の比が2〜8倍の間で電池の特性は良く
なっている。このとき、a−SiC:H膜の屈折率は3.2以上
を示している。また、このときa−SiC:H膜中の炭素含
有量が5at%以下では開放電圧が低くなり、逆に25at%
以上では電気的特性が著しく低下するために短絡電流及
び曲線因子が低下することが確かめられている。因みに
本実施例において、H2とSiH4+CH4との流量比が2〜8
倍のときに、a−SiC:H膜の炭素含有量は、11〜23at%
であった。
本実施例においては、水素の流量調節による水素希釈
により屈折率を変化させたが、全ガス流量,グロー放電
の際に使用される高周波(RF)パワー基板温度等の変化
によっても屈折率を調節することができる。たとえば、
基板温度は高くなるほど、全ガス流量は多くなるほど、
また、逆にRFパワーは小さくなるに伴なって、それぞれ
屈折率は大きくなる傾向を示す。これらの場合でも、屈
折率3.2以上のa−SiC:H膜をp/i界面層に用いた場合
に、変換効率が高かった。屈折率が高い膜は、換言する
と膜が緻密になっているのであり、このため電気的特性
が良くなって変換効率が向上するものと考えられる。
により屈折率を変化させたが、全ガス流量,グロー放電
の際に使用される高周波(RF)パワー基板温度等の変化
によっても屈折率を調節することができる。たとえば、
基板温度は高くなるほど、全ガス流量は多くなるほど、
また、逆にRFパワーは小さくなるに伴なって、それぞれ
屈折率は大きくなる傾向を示す。これらの場合でも、屈
折率3.2以上のa−SiC:H膜をp/i界面層に用いた場合
に、変換効率が高かった。屈折率が高い膜は、換言する
と膜が緻密になっているのであり、このため電気的特性
が良くなって変換効率が向上するものと考えられる。
i層そのものをa−SiC:H膜とすることもできる。代
表的な例として、H2とSiH4+CH4の流量比が3倍の場合
と50倍の場合によるa−SiC:H膜をi層に用いた場合の
電池特性を次の表−2に示す。
表的な例として、H2とSiH4+CH4の流量比が3倍の場合
と50倍の場合によるa−SiC:H膜をi層に用いた場合の
電池特性を次の表−2に示す。
このときp層及びn層は表−1に示す条件で形成し、
p/i界面層は形成していない。なお測定条件は、AM1−10
0mW/cm2である。この表から明らかなように、流量比が
3倍の場合、短絡電流Iscと曲線因子FFは殆んど差はな
いが、開放電圧Vocには顕著な差が認められる。a−Si
C:Hをi層に用いる場合も、前述の場合と同様に、種々
の条件で屈折率の制御が可能であり、屈折率3.2以上の
条件で変換効率が高い。
p/i界面層は形成していない。なお測定条件は、AM1−10
0mW/cm2である。この表から明らかなように、流量比が
3倍の場合、短絡電流Iscと曲線因子FFは殆んど差はな
いが、開放電圧Vocには顕著な差が認められる。a−Si
C:Hをi層に用いる場合も、前述の場合と同様に、種々
の条件で屈折率の制御が可能であり、屈折率3.2以上の
条件で変換効率が高い。
(発明の効果) 以上のように、本発明の非晶質太陽電池は、p/i界面
層の成膜時に、H2と(SiH4+CH4)との流量比を2〜8
の間で変えるだけで炭素含有率を変えることができ、こ
れによって容易に屈折率を向上でき、太陽電池の変換効
率を向上できる。
層の成膜時に、H2と(SiH4+CH4)との流量比を2〜8
の間で変えるだけで炭素含有率を変えることができ、こ
れによって容易に屈折率を向上でき、太陽電池の変換効
率を向上できる。
第1図は本発明の一実施例の断面図、第2図は従来の一
例の断面図である。第3図はH2の流量とSiH4およびCH4
の流量との比に対するa−SiC:Hの屈折率の変化を示す
対比図である。第4図は本発明により作製された太陽電
池の諸特性と、H2の流量とSiH4およびCH4の流量との比
の関係を示す対比図である。 2…n層、3…i層、7…p/i界面層、4…p層
例の断面図である。第3図はH2の流量とSiH4およびCH4
の流量との比に対するa−SiC:Hの屈折率の変化を示す
対比図である。第4図は本発明により作製された太陽電
池の諸特性と、H2の流量とSiH4およびCH4の流量との比
の関係を示す対比図である。 2…n層、3…i層、7…p/i界面層、4…p層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森内 荘太 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (56)参考文献 特開 昭58−56415(JP,A) 特開 昭63−58974(JP,A) 特開 平1−145875(JP,A) 実開 平1−80961(JP,U) 実開 平1−95770(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 31/04
Claims (1)
- 【請求項1】水素化アモルファスシリコンよりなるn層
と、該n層上に形成され水素化アモルファスシリコンよ
りなるi層と、該i層上に形成され水素化アモルファス
シリコンカーボン合金よりなるp層と、該i層と該p層
との界面に形成され水素化アモルファスシリコンカーボ
ン合金よりなるp/i界面層とを備える非晶質太陽電池に
おいて、 上記p/i界面層の成膜は、(SiH4+CH4)の流量に対して
H2の流量を2〜8の間で行うことを特徴とする非晶質太
陽電池。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63080581A JP2846639B2 (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 非晶質太陽電池 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63080581A JP2846639B2 (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 非晶質太陽電池 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01253282A JPH01253282A (ja) | 1989-10-09 |
JP2846639B2 true JP2846639B2 (ja) | 1999-01-13 |
Family
ID=13722314
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63080581A Expired - Lifetime JP2846639B2 (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 非晶質太陽電池 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2846639B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6521826B2 (en) | 1999-11-30 | 2003-02-18 | Sharp Kabushiki Kaisha | Thin film solar cell and fabrication method therefor |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4829394B2 (ja) * | 2000-04-05 | 2011-12-07 | Tdk株式会社 | 光起電力素子の製造方法 |
US8349644B2 (en) | 2007-10-18 | 2013-01-08 | e-Cube Energy Technologies, Ltd. | Mono-silicon solar cells |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5856415A (ja) * | 1981-09-30 | 1983-04-04 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | プラズマ気相法 |
JPH0180961U (ja) * | 1987-11-20 | 1989-05-30 |
-
1988
- 1988-03-31 JP JP63080581A patent/JP2846639B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6521826B2 (en) | 1999-11-30 | 2003-02-18 | Sharp Kabushiki Kaisha | Thin film solar cell and fabrication method therefor |
EP2192622A2 (en) | 1999-11-30 | 2010-06-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Thin film solar cell and fabrication method therefor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01253282A (ja) | 1989-10-09 |
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