JP2836105B2 - アーク溶接装置 - Google Patents
アーク溶接装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はアーク溶接装置に関し、特に被溶接物の形
状変化を検出し、この検出結果に基づいて溶接トーチの
位置及び姿勢、或は溶接ビードを制御するようにしたア
ーク溶接装置に関するものである。
状変化を検出し、この検出結果に基づいて溶接トーチの
位置及び姿勢、或は溶接ビードを制御するようにしたア
ーク溶接装置に関するものである。
第８図は例えば特公昭62−47108号公報に示された従
来のパルスアーク溶接装置を示す構成図である。このパ
ルスアーク溶接装置の動作としては、先ず、母材（4b）
の板厚、材質、シールドガスの種類、ワイヤ電極（３）
の径等の組合せから定まる基準溶接電流値I0、基準溶接
電圧V0、ベース電流IB、パルスピーク値Ip0、パルス幅
τ０をそれぞれ設定する。この設定操作によりこの溶接
機は、ワイヤの送給速度Ｖ、溶接トーチのチップ（9a）
と母材の設定距離L0（以下、溶接トーチの設定距離とい
う）、溶接電流のベース電流IB、パルス電流のピーク値
Ip0、パルス幅τ０、パルス周波数ｆで動作し、このと
きのアーク長1a＝10、溶接電圧Va＝V0、溶接電流la＝l0
となる。
来のパルスアーク溶接装置を示す構成図である。このパ
ルスアーク溶接装置の動作としては、先ず、母材（4b）
の板厚、材質、シールドガスの種類、ワイヤ電極（３）
の径等の組合せから定まる基準溶接電流値I0、基準溶接
電圧V0、ベース電流IB、パルスピーク値Ip0、パルス幅
τ０をそれぞれ設定する。この設定操作によりこの溶接
機は、ワイヤの送給速度Ｖ、溶接トーチのチップ（9a）
と母材の設定距離L0（以下、溶接トーチの設定距離とい
う）、溶接電流のベース電流IB、パルス電流のピーク値
Ip0、パルス幅τ０、パルス周波数ｆで動作し、このと
きのアーク長1a＝10、溶接電圧Va＝V0、溶接電流la＝l0
となる。
いま、母材（4b）の表面形状の凹凸により母材と溶接
トーチのチップとの距離La（以下溶接トーチ距離とい
う）がLa＞L0となり、これに伴ってアーク長laがla＞l0
になったりすると、Va＞V0となる。このVaは電圧検出器
（５）で検出されて比較器（20）に入力される。比較器
（20）では基準溶接電圧V0と溶接電圧Vaとを比較し、差
信号VS（＝V0−Va）、即ち差信号VSとして負の信号を出
力する。パルス幅設定器（21）はこの差信号VSを入力し
て補正信号τＳを演算し、パルス幅信号τａ（＝τ０＋
τＳ）を出力する。今、VSは負であるため、VSに比例し
たτＳも負になり、パルス幅τは基準パルス幅τ０より
小さくなる。このパルス幅信号τはスイッチ素子群
（２）に送られ、ワイヤ電極（10）と母材（11）との間
に流れるパルス電流のパルス幅をτ（τ＜τ０）とす
る。このように電流のパルス幅が小さくなるため、ワイ
ヤ電極の溶融塊の移行する容量は少なくなるのに対し
て、ワイヤ送給速度Ｖは一定であるからワイヤ−電極の
突出量が増大してアーク長laは小さくなる方向に速やか
に修正され、アーク長la＝l0となるパルス電流のパルス
幅τａで安定する。この修正されたパルス電流のパルス
幅τａは、パルス幅検出器（24）で検出され、このパル
ス幅τａはτａ＜τ０であるから、つまり電荷量Ｑは減
少したことになる。比較器（６）の差信号Q1（＝τａ−
τ０）は負、従ってこの差信号Q1を受けたトーチ位置制
御装置（14）は溶接トーチ（２）を母材（4b）の方に近
づける向きに差信号Q1が零となるまで、つまりτａ＝τ
０となるところまで駆動する。
トーチのチップとの距離La（以下溶接トーチ距離とい
う）がLa＞L0となり、これに伴ってアーク長laがla＞l0
になったりすると、Va＞V0となる。このVaは電圧検出器
（５）で検出されて比較器（20）に入力される。比較器
（20）では基準溶接電圧V0と溶接電圧Vaとを比較し、差
信号VS（＝V0−Va）、即ち差信号VSとして負の信号を出
力する。パルス幅設定器（21）はこの差信号VSを入力し
て補正信号τＳを演算し、パルス幅信号τａ（＝τ０＋
τＳ）を出力する。今、VSは負であるため、VSに比例し
たτＳも負になり、パルス幅τは基準パルス幅τ０より
小さくなる。このパルス幅信号τはスイッチ素子群
（２）に送られ、ワイヤ電極（10）と母材（11）との間
に流れるパルス電流のパルス幅をτ（τ＜τ０）とす
る。このように電流のパルス幅が小さくなるため、ワイ
ヤ電極の溶融塊の移行する容量は少なくなるのに対し
て、ワイヤ送給速度Ｖは一定であるからワイヤ−電極の
突出量が増大してアーク長laは小さくなる方向に速やか
に修正され、アーク長la＝l0となるパルス電流のパルス
幅τａで安定する。この修正されたパルス電流のパルス
幅τａは、パルス幅検出器（24）で検出され、このパル
ス幅τａはτａ＜τ０であるから、つまり電荷量Ｑは減
少したことになる。比較器（６）の差信号Q1（＝τａ−
τ０）は負、従ってこの差信号Q1を受けたトーチ位置制
御装置（14）は溶接トーチ（２）を母材（4b）の方に近
づける向きに差信号Q1が零となるまで、つまりτａ＝τ
０となるところまで駆動する。
また、母材（11）の表面形状の凹凸により、溶接トー
チ距離LaがLa＜L0となったときは、この装置は上記の場
合と逆の向き即ちパルス幅τａはτａ＞τ０となり、つ
づいて差信号Q1は正となって、トーチ位置制御装置（1
4）は溶接トーチ（９）を母材から遠ざかる向きに差信
号Q1が零となるところまで、つまりτａ＝τ０となると
ころまで駆動する。
チ距離LaがLa＜L0となったときは、この装置は上記の場
合と逆の向き即ちパルス幅τａはτａ＞τ０となり、つ
づいて差信号Q1は正となって、トーチ位置制御装置（1
4）は溶接トーチ（９）を母材から遠ざかる向きに差信
号Q1が零となるところまで、つまりτａ＝τ０となると
ころまで駆動する。
従来のパルスアーク溶接装置は以上のように構成され
ているので、被溶接物（母材）の溶接池から溶接トーチ
までの距離の変動に応じた信号で溶接トーチの位置を制
御しているのみで、更に被溶接物の形状に従った溶接ト
ーチ制御を行なう場合は被溶接物の形状に対応した溶接
トーチの姿勢、溶接電流の制御情報を予め記憶させるた
めにメモリを装置に装備し、メモリに各種情報を入力す
る必要があり、また被溶接物の形状が複雑化するほど設
定情報が多くなり、大容量のメモリを要するといった問
題点があった。
ているので、被溶接物（母材）の溶接池から溶接トーチ
までの距離の変動に応じた信号で溶接トーチの位置を制
御しているのみで、更に被溶接物の形状に従った溶接ト
ーチ制御を行なう場合は被溶接物の形状に対応した溶接
トーチの姿勢、溶接電流の制御情報を予め記憶させるた
めにメモリを装置に装備し、メモリに各種情報を入力す
る必要があり、また被溶接物の形状が複雑化するほど設
定情報が多くなり、大容量のメモリを要するといった問
題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、被溶接物の形状に対応した各種溶接条件を
予め設定することなく、被溶接物の形状に沿った溶接ト
ーチの位置、及び姿勢制御を行ないながら溶接を行なう
アーク溶接装置を得ることを目的とする。
れたもので、被溶接物の形状に対応した各種溶接条件を
予め設定することなく、被溶接物の形状に沿った溶接ト
ーチの位置、及び姿勢制御を行ないながら溶接を行なう
アーク溶接装置を得ることを目的とする。
この第１の発明に係るアーク溶接装置は、被溶接物に
対して送給されるワイヤ電極と前記被溶接物との間に溶
接電流を給電し、前記ワイヤ電極の先端に成長した溶接
塊を被溶接部位へ移行して溶接を行なうアーク溶接装置
において、前記ワイヤ電極先端と被溶接物との間のアー
ク長変化を時々刻々検出し、アーク長変化を示すアーク
長信号を出力するアーク長検出器と、溶接過程の移行に
従って時々刻々のアーク長変化を示すアーク長波形を模
擬設定したアーク長設定器と、溶接過程の移行に沿った
時々のアーク長検出値と模擬アーク長設定値とを比較
し、差信号を出力する比較器と、この差信号を予め定め
た溶接過程周期に亘って積分して得た差信号積分値と予
め被溶接部位の形状に対応して設定した設定値との比較
結果に異づいて被溶接部位の形状の変曲を判断する形状
変化判断手段と、上記差信号積分値に基づいて溶接トー
チと被溶接物との間の距離変動を検出する距離変動検出
手段とを設けたものである。
対して送給されるワイヤ電極と前記被溶接物との間に溶
接電流を給電し、前記ワイヤ電極の先端に成長した溶接
塊を被溶接部位へ移行して溶接を行なうアーク溶接装置
において、前記ワイヤ電極先端と被溶接物との間のアー
ク長変化を時々刻々検出し、アーク長変化を示すアーク
長信号を出力するアーク長検出器と、溶接過程の移行に
従って時々刻々のアーク長変化を示すアーク長波形を模
擬設定したアーク長設定器と、溶接過程の移行に沿った
時々のアーク長検出値と模擬アーク長設定値とを比較
し、差信号を出力する比較器と、この差信号を予め定め
た溶接過程周期に亘って積分して得た差信号積分値と予
め被溶接部位の形状に対応して設定した設定値との比較
結果に異づいて被溶接部位の形状の変曲を判断する形状
変化判断手段と、上記差信号積分値に基づいて溶接トー
チと被溶接物との間の距離変動を検出する距離変動検出
手段とを設けたものである。
又、第２の発明に係るアーク溶接装置は、被溶接物に
対して送給されるワイヤ電極と前記被溶接物との間に溶
接電流を給電し、前記ワイヤ電極の先端に成長した溶融
塊を被溶接部位へ移行して溶接を行なうアーク溶接装置
において、上記溶接電流の変化値を予め定めた溶接過程
周期に亘って積分し、この積分値と被溶接部位の形状に
対応して設定した設定値との比較結果より被溶接部位の
形状の変曲を判断する形状変化判断手段と、上記積分値
に基づいて溶接トーチと被溶接物との間の距離変動を検
出する距離変動検出手段とを設けたものである。
対して送給されるワイヤ電極と前記被溶接物との間に溶
接電流を給電し、前記ワイヤ電極の先端に成長した溶融
塊を被溶接部位へ移行して溶接を行なうアーク溶接装置
において、上記溶接電流の変化値を予め定めた溶接過程
周期に亘って積分し、この積分値と被溶接部位の形状に
対応して設定した設定値との比較結果より被溶接部位の
形状の変曲を判断する形状変化判断手段と、上記積分値
に基づいて溶接トーチと被溶接物との間の距離変動を検
出する距離変動検出手段とを設けたものである。
この第１の発明によれば、溶接過程の移行に伴って時
々刻々変化するアーク長検出値と模擬アーク長との比較
結果である差信号を、一溶接過程周期又は単位時間に亘
って積分演算を繰り返し、この繰り返し演算した値が被
溶接物の形状変化の変曲点を示す設定値を越えた時に被
溶接物の形状が変化したことを判定する。又、上記演算
値に基づき溶接トーチと被溶接物との間の距離変動に相
当する距離変動を検出する。次に、これら形状変化及び
距離変動を補正すべく溶接トーチ制御及び溶接電流制御
を行なう。
々刻々変化するアーク長検出値と模擬アーク長との比較
結果である差信号を、一溶接過程周期又は単位時間に亘
って積分演算を繰り返し、この繰り返し演算した値が被
溶接物の形状変化の変曲点を示す設定値を越えた時に被
溶接物の形状が変化したことを判定する。又、上記演算
値に基づき溶接トーチと被溶接物との間の距離変動に相
当する距離変動を検出する。次に、これら形状変化及び
距離変動を補正すべく溶接トーチ制御及び溶接電流制御
を行なう。
又、この第２の発明によれば、溶接過程の移行に伴っ
て変化する溶接電流値を、一溶接過程周期又は単位時間
に亘って積分演算を繰り返し、この繰り返し演算した値
が被溶接物の形状変化の変曲点を示す設定値を越えた時
に被溶接物の形状が変化したことを判定する。又、上記
演算値に基づき溶接トーチと被溶接物との間の距離変動
に相当する距離変動を検出する。次に、これら形状変化
及び距離変動を補正すべく溶接トーチ制御及び溶接電流
制御を行なう。
て変化する溶接電流値を、一溶接過程周期又は単位時間
に亘って積分演算を繰り返し、この繰り返し演算した値
が被溶接物の形状変化の変曲点を示す設定値を越えた時
に被溶接物の形状が変化したことを判定する。又、上記
演算値に基づき溶接トーチと被溶接物との間の距離変動
に相当する距離変動を検出する。次に、これら形状変化
及び距離変動を補正すべく溶接トーチ制御及び溶接電流
制御を行なう。
以下、この第１の発明の一実施例を図について説明す
る。第１図は本実施例によるアーク溶接装置の全体構成
図である。図において、（１）はパルス電流からなるア
ーク電流を溶接器本体に給電するアーク溶接電源であ
り、その構成として（1a）は三相交流電圧を所定の周波
数に変換してトランス（1c）へ出力するインバータ回
路、（1b）は該インバータ回路を駆動するインバータ駆
動回路、（1d），（1d）は変圧されたインバータ出力を
整流し、パルス電流からなるアーク電流を得るダイオー
ドである。（２）は溶接トーチ、（３）はワイヤリール
から送給ローラによって被溶接物（4b）方向に送給され
る溶接ワイヤ電極（以下、単にワイヤ電極と記載す
る）、（4a）はワイヤ電極（３）と被溶接物（4b）間に
発するアーク、（５）はアーク電圧を検出する電圧検出
器、（６）はアーク電流を検出する電流検出器、（７）
はワイヤ送給速度設定器（８）によって設定された送給
速度でワイヤ電極（３）を送給するワイヤ送給装置、
（９）は被溶接物上の溶接線、溶接位置、溶接トーチ距
離をアーク長変化値に基づいて検出する溶接工程検出
器、（10）は各検出結果に基づいて溶接ビードを制御す
るビード制御部、（11）は各検出結果に基づいて溶接ト
ーチの位置制御を行なうトーチ位置制御部である。又、
（12）はパルス電流波形制御回路であり、その回路構成
として、（12a）はアーク電圧検出値とアーク電流検出
値に基づいて時々刻々変化する真のアーク長を検出し、
アーク長信号Ｌ（ｌ）を出力するアーク長検出器、（12
b）は各溶接過程でアーク長を模擬的に生成しシミュレ
ーションアーク長波形を設定するアーク長波形設定器、
（12c）はアーク長検出値とシミュレーションアーク長
を比較し、差信号ΔＬ（ｌ）を出力する比較器Ａ、（12
d）はアーク電流の基準波形を模擬的に生成しシミュレ
ーション電流波形を設定する電流波形設定器、（12e）
はワイヤ送給速度に従って電流波形周期CBを設定した電
流波形周期CB設定器、（12f）は差信号ΔＬ（ｌ）によ
りシミュレーション電流波形のピーク値、又はパルス幅
を補正する演算器、（12g）は上記各補正結果に従って
パルス電流波形7IPを整形し出力するパルス波形整形
器、（12h）はパルス電流IPに重畳するベース電流を出
力するベース電流出力器、（12i）はベース電流IBをパ
ルス電流IPに重畳しアーク電流I0を比較器Ｂ（12j）へ
出力する加算器である。
る。第１図は本実施例によるアーク溶接装置の全体構成
図である。図において、（１）はパルス電流からなるア
ーク電流を溶接器本体に給電するアーク溶接電源であ
り、その構成として（1a）は三相交流電圧を所定の周波
数に変換してトランス（1c）へ出力するインバータ回
路、（1b）は該インバータ回路を駆動するインバータ駆
動回路、（1d），（1d）は変圧されたインバータ出力を
整流し、パルス電流からなるアーク電流を得るダイオー
ドである。（２）は溶接トーチ、（３）はワイヤリール
から送給ローラによって被溶接物（4b）方向に送給され
る溶接ワイヤ電極（以下、単にワイヤ電極と記載す
る）、（4a）はワイヤ電極（３）と被溶接物（4b）間に
発するアーク、（５）はアーク電圧を検出する電圧検出
器、（６）はアーク電流を検出する電流検出器、（７）
はワイヤ送給速度設定器（８）によって設定された送給
速度でワイヤ電極（３）を送給するワイヤ送給装置、
（９）は被溶接物上の溶接線、溶接位置、溶接トーチ距
離をアーク長変化値に基づいて検出する溶接工程検出
器、（10）は各検出結果に基づいて溶接ビードを制御す
るビード制御部、（11）は各検出結果に基づいて溶接ト
ーチの位置制御を行なうトーチ位置制御部である。又、
（12）はパルス電流波形制御回路であり、その回路構成
として、（12a）はアーク電圧検出値とアーク電流検出
値に基づいて時々刻々変化する真のアーク長を検出し、
アーク長信号Ｌ（ｌ）を出力するアーク長検出器、（12
b）は各溶接過程でアーク長を模擬的に生成しシミュレ
ーションアーク長波形を設定するアーク長波形設定器、
（12c）はアーク長検出値とシミュレーションアーク長
を比較し、差信号ΔＬ（ｌ）を出力する比較器Ａ、（12
d）はアーク電流の基準波形を模擬的に生成しシミュレ
ーション電流波形を設定する電流波形設定器、（12e）
はワイヤ送給速度に従って電流波形周期CBを設定した電
流波形周期CB設定器、（12f）は差信号ΔＬ（ｌ）によ
りシミュレーション電流波形のピーク値、又はパルス幅
を補正する演算器、（12g）は上記各補正結果に従って
パルス電流波形7IPを整形し出力するパルス波形整形
器、（12h）はパルス電流IPに重畳するベース電流を出
力するベース電流出力器、（12i）はベース電流IBをパ
ルス電流IPに重畳しアーク電流I0を比較器Ｂ（12j）へ
出力する加算器である。
次に、上記構成に基づき本実施例の動作を第２図のフ
ローチャートを参照して説明する。先ず、比較器Ａ（12
c）は、アーク長検出器（12a）より時々刻々出力される
アーク長信号Ｌ（ｌ）とアーク長波形設定器（12b）に
おいて予め設定された時々の模擬アーク長値L0とを比較
し、差信号ΔＬをアーク長変動値として演算器（12f）
と溶接行程検出器（９）へ出力する。その差信号ΔＬ
は、予め電流波形設定器（12d）において設定された溶
接電流基準波形を演算器（12f）で補正し、アーク電流
であるパルス電流を生成するのに供する。一方、溶接行
程検出器（９）へ出力される差信号ΔＬは第２図のフロ
ーチャートに示される処理がなされる。この処理として
は、電流波形周期CB設定器（12e）より周期CB毎に出力
される周期信号CBを取り込み（Ｓ−１）、一周期が始ま
ることを示す周期信号CBが“H"レベルであれば（Ｓ−
２）、先ず差信号の積分値ΔLQ＝０として初期設定する
（Ｓ−３）。そして、周期信号CBが次に“H"レベルにな
るまで（Ｓ−７）、差信号ΔＬを取り込み（Ｓ−４）、
ΔLQ＝ΔLQ＋ΔＬの演算処理を行い積分処理をする（Ｓ
−５）。この結果一電流波形周期間における差信号の積
分値ΔＬが演算される。次に一周期の積分値ΔLQが得ら
れたと判定するため、再び電流波形周期信号CBを取り込
み（Ｓ−６）、周期信号CBが“H"となり次の周期に入っ
たかを判定する（Ｓ−７）。この時、周期信号CBが“H"
でないときは更に差信号ΔＬを取り込み積分処理する
（Ｓ−４），（Ｓ−５）。又、差信号ΔLQが“H"である
と判定されると差信号ΔLQを被溶接物の形状変化の判定
値であるＡとその大小関係を調べる（Ｓ−８）。このチ
ェックの結果、ΔLQ＞Ａでなければ溶接トーチ位置は第
３図に示すよう被溶接物の形状変化点“0"を越える地点
まで進んでいないとして、被溶接物形状信号を「Ｌ」と
して、ビード制御部（10）、トーチ位置制御部（11）へ
出力する（Ｓ−10）。又、ΔLQ＞Ａと判定されたならば
溶接トーチ位置は被溶接物の形状変化点“0"を越える地
点まで進んだとして被溶接物形状信号を「Ｈ」とする
（Ｓ−９）。この被溶接物形状信号のレベルにより、ビ
ード制御部（10）では、被溶接物の勾配が急となる形状
変化をした場合、溶接ビードが垂れ落ちるのを防止する
ため１周期CBのアーク電流電荷量Ｑを下げる。又、溶接
行程検出器（９）では、被溶接物の溶接時における時々
の形状変化度を判断する信号としてΔLQの値をＢ・ΔLQ
＝ΔＺとして演算出力することで（Ｓ−11）、溶接トー
チ−被溶接物間距離変動ΔＺとしてビード制御部（1
0）、トーチ位置制御部（11）へ出力している。そして
ビード制御部（10）では被溶接物の形状信号とトーチ−
被溶接物間距離変動信号ΔＺを受けて、現在溶接してい
る点での被溶接物に対する溶接トーチの姿勢を判断し、
その姿勢に適した溶接ビードを得るように溶接電流等を
コントロールする。
ローチャートを参照して説明する。先ず、比較器Ａ（12
c）は、アーク長検出器（12a）より時々刻々出力される
アーク長信号Ｌ（ｌ）とアーク長波形設定器（12b）に
おいて予め設定された時々の模擬アーク長値L0とを比較
し、差信号ΔＬをアーク長変動値として演算器（12f）
と溶接行程検出器（９）へ出力する。その差信号ΔＬ
は、予め電流波形設定器（12d）において設定された溶
接電流基準波形を演算器（12f）で補正し、アーク電流
であるパルス電流を生成するのに供する。一方、溶接行
程検出器（９）へ出力される差信号ΔＬは第２図のフロ
ーチャートに示される処理がなされる。この処理として
は、電流波形周期CB設定器（12e）より周期CB毎に出力
される周期信号CBを取り込み（Ｓ−１）、一周期が始ま
ることを示す周期信号CBが“H"レベルであれば（Ｓ−
２）、先ず差信号の積分値ΔLQ＝０として初期設定する
（Ｓ−３）。そして、周期信号CBが次に“H"レベルにな
るまで（Ｓ−７）、差信号ΔＬを取り込み（Ｓ−４）、
ΔLQ＝ΔLQ＋ΔＬの演算処理を行い積分処理をする（Ｓ
−５）。この結果一電流波形周期間における差信号の積
分値ΔＬが演算される。次に一周期の積分値ΔLQが得ら
れたと判定するため、再び電流波形周期信号CBを取り込
み（Ｓ−６）、周期信号CBが“H"となり次の周期に入っ
たかを判定する（Ｓ−７）。この時、周期信号CBが“H"
でないときは更に差信号ΔＬを取り込み積分処理する
（Ｓ−４），（Ｓ−５）。又、差信号ΔLQが“H"である
と判定されると差信号ΔLQを被溶接物の形状変化の判定
値であるＡとその大小関係を調べる（Ｓ−８）。このチ
ェックの結果、ΔLQ＞Ａでなければ溶接トーチ位置は第
３図に示すよう被溶接物の形状変化点“0"を越える地点
まで進んでいないとして、被溶接物形状信号を「Ｌ」と
して、ビード制御部（10）、トーチ位置制御部（11）へ
出力する（Ｓ−10）。又、ΔLQ＞Ａと判定されたならば
溶接トーチ位置は被溶接物の形状変化点“0"を越える地
点まで進んだとして被溶接物形状信号を「Ｈ」とする
（Ｓ−９）。この被溶接物形状信号のレベルにより、ビ
ード制御部（10）では、被溶接物の勾配が急となる形状
変化をした場合、溶接ビードが垂れ落ちるのを防止する
ため１周期CBのアーク電流電荷量Ｑを下げる。又、溶接
行程検出器（９）では、被溶接物の溶接時における時々
の形状変化度を判断する信号としてΔLQの値をＢ・ΔLQ
＝ΔＺとして演算出力することで（Ｓ−11）、溶接トー
チ−被溶接物間距離変動ΔＺとしてビード制御部（1
0）、トーチ位置制御部（11）へ出力している。そして
ビード制御部（10）では被溶接物の形状信号とトーチ−
被溶接物間距離変動信号ΔＺを受けて、現在溶接してい
る点での被溶接物に対する溶接トーチの姿勢を判断し、
その姿勢に適した溶接ビードを得るように溶接電流等を
コントロールする。
また、トーチ位置制御部（11）では被溶接物の形状信
号とトーチ−被溶接物間距離変動信号ΔＺを受けて、最
適なトーチ−被溶接物間距離になるように補正する事
や、最適なトーチ姿勢で溶接できるように溶接トーチ姿
勢をコントロールする。
号とトーチ−被溶接物間距離変動信号ΔＺを受けて、最
適なトーチ−被溶接物間距離になるように補正する事
や、最適なトーチ姿勢で溶接できるように溶接トーチ姿
勢をコントロールする。
さらに、溶接線制御では、被溶接物の形状信号を受け
て、溶接方向である溶接線を判断し第３図，第４図には
図示していないが被溶接物の溶接方向に駆動するための
Ｘ−Ｙテーブルに溶接線信号を送って、Ｘ−Ｙテーブル
を被溶接物の溶接方向へ向かって駆動する。
て、溶接方向である溶接線を判断し第３図，第４図には
図示していないが被溶接物の溶接方向に駆動するための
Ｘ−Ｙテーブルに溶接線信号を送って、Ｘ−Ｙテーブル
を被溶接物の溶接方向へ向かって駆動する。
又、他の実施例として第５図に示すように、電流波形
周期CB毎に溶接行程検出器（９）はアーク電流検出値Ｉ
を取り込み、該検出値Ｉに基づいて被溶接物形状信号Δ
LQ、及び溶接トーチと被溶接物間距離変動信号ΔＺを演
算出力してもよい。
周期CB毎に溶接行程検出器（９）はアーク電流検出値Ｉ
を取り込み、該検出値Ｉに基づいて被溶接物形状信号Δ
LQ、及び溶接トーチと被溶接物間距離変動信号ΔＺを演
算出力してもよい。
その詳細な説明として、第７図のフローチャートに示
すよう、電流波形周期信号CBが“H"となり１電流波形周
期が始まったならば、先ずアーク電流検出器の積分値I
Qi＝０として初期設定し（Ｓ−1a）〜（Ｓ−3a）、次に
１つ前の電流波形周期CBで積分演算して得たΔIQiをIQj
と設定する（Ｓ−4a）。以上各値が設定されたならば、
次の電流波形周期CBが始まり、CB＝“H"となるまで、ア
ーク電流検出器Ｉを取り込み、IQi＝IQi＋ΔＩの演算式
に従って積分値IQiを求める（Ｓ−5a）〜（Ｓ−8a）。
１電流波形周期CBが終了したならば、求められた積分値
IQiと１つの前の電流波形周期CBで求められた積分値IQj
との差信号ΔLQ（＝IQi−IQj）を演算する（Ｓ−9a）。
この時差信号ΔLQが規定した信号Ｃ、すなわち被溶接物
の形状変化点を示す値以上になると被溶接物形状信号を
“H"にする（Ｓ−10a），（Ｓ−11a）。又、信号Ｃ以下
であれば被溶接物形状信号を“L"にする（Ｓ−10a），
（Ｓ−12a）。この被溶接物形状信号の論理レベル変化
により、被溶接物形状は第３図、第４図に示すように、
Ａ領域からＢ領域、或はＢ領域からＡ領域に移行したと
判断させる。次に、差信号ΔLQによってトーチ−被溶接
物間距離変動に相当する信号ΔＺを出力させる（Ｓ−13
a）。
すよう、電流波形周期信号CBが“H"となり１電流波形周
期が始まったならば、先ずアーク電流検出器の積分値I
Qi＝０として初期設定し（Ｓ−1a）〜（Ｓ−3a）、次に
１つ前の電流波形周期CBで積分演算して得たΔIQiをIQj
と設定する（Ｓ−4a）。以上各値が設定されたならば、
次の電流波形周期CBが始まり、CB＝“H"となるまで、ア
ーク電流検出器Ｉを取り込み、IQi＝IQi＋ΔＩの演算式
に従って積分値IQiを求める（Ｓ−5a）〜（Ｓ−8a）。
１電流波形周期CBが終了したならば、求められた積分値
IQiと１つの前の電流波形周期CBで求められた積分値IQj
との差信号ΔLQ（＝IQi−IQj）を演算する（Ｓ−9a）。
この時差信号ΔLQが規定した信号Ｃ、すなわち被溶接物
の形状変化点を示す値以上になると被溶接物形状信号を
“H"にする（Ｓ−10a），（Ｓ−11a）。又、信号Ｃ以下
であれば被溶接物形状信号を“L"にする（Ｓ−10a），
（Ｓ−12a）。この被溶接物形状信号の論理レベル変化
により、被溶接物形状は第３図、第４図に示すように、
Ａ領域からＢ領域、或はＢ領域からＡ領域に移行したと
判断させる。次に、差信号ΔLQによってトーチ−被溶接
物間距離変動に相当する信号ΔＺを出力させる（Ｓ−13
a）。
上記実施例では、アーク電流検出値に基づいて被溶接
物形状信号及びトーチ−被溶接物間距離変動信号を求め
たが、第６図に示すようアーク電流出力値I0に基づいて
各信号を求めてもよい。
物形状信号及びトーチ−被溶接物間距離変動信号を求め
たが、第６図に示すようアーク電流出力値I0に基づいて
各信号を求めてもよい。
以上のように、この第１の発明によればアーク長検出
信号と予め設定した模擬アーク長との差信号をアーク溶
接過程周期に亘って検出し、この差信号に基づいて被溶
接物の形状が変曲する点を求め溶接トーチの姿勢制御及
び溶接トーチの位置制御を行なうようにしたので、形状
の変曲点が異なる被溶接物であっても予め変曲が生じる
時点を想定して置く必要がないため被溶接物の形状変化
に拘りなく溶接トーチの動作制御を容易に行える効果が
ある。
信号と予め設定した模擬アーク長との差信号をアーク溶
接過程周期に亘って検出し、この差信号に基づいて被溶
接物の形状が変曲する点を求め溶接トーチの姿勢制御及
び溶接トーチの位置制御を行なうようにしたので、形状
の変曲点が異なる被溶接物であっても予め変曲が生じる
時点を想定して置く必要がないため被溶接物の形状変化
に拘りなく溶接トーチの動作制御を容易に行える効果が
ある。
また、この第２の発明によれば、溶接電流の変動量を
検出し、この変動量に基づいて被溶接物の形状が変曲す
る点を求めるようにしたので、容易に変曲点が求めら
れ、被溶接物の形状変化に拘りなく溶接トーチの動作制
御を容易に行なえる効果がある。
検出し、この変動量に基づいて被溶接物の形状が変曲す
る点を求めるようにしたので、容易に変曲点が求めら
れ、被溶接物の形状変化に拘りなく溶接トーチの動作制
御を容易に行なえる効果がある。
第１図は第１の発明の一実施例によるアーク溶接装置の
構成図、第２図は第１の発明の一実施例の動作を説明す
るフローチャート、第３図（ａ）〜（ｃ），第４図
（ａ）〜（ｃ）は溶接トーチの位置及び距離制御を説明
する図、第５図，第６図は第２の発明の各実施例による
アーク溶接装置の構成図、第７図は第２の発明の一実施
例の動作を説明するフローチャート、第８図は従来のア
ーク溶接装置の構成図である。 図において、（２）はトーチ、（３）はワイヤ電極、
（4a）はアーク、（4b）は被溶接物、（６）は電流検出
器、（９）は溶接行程検出器、（10）はビード制御部、
（11）はトーチ位置制御部（12a）はアーク長検出器、
（12b）はアーク長波形設定器、（12c）は比較器Ａ、
（12e）は電流波形周期CB設定器。 なお、各図中同一符号は同一又は相当部分を示す。
構成図、第２図は第１の発明の一実施例の動作を説明す
るフローチャート、第３図（ａ）〜（ｃ），第４図
（ａ）〜（ｃ）は溶接トーチの位置及び距離制御を説明
する図、第５図，第６図は第２の発明の各実施例による
アーク溶接装置の構成図、第７図は第２の発明の一実施
例の動作を説明するフローチャート、第８図は従来のア
ーク溶接装置の構成図である。 図において、（２）はトーチ、（３）はワイヤ電極、
（4a）はアーク、（4b）は被溶接物、（６）は電流検出
器、（９）は溶接行程検出器、（10）はビード制御部、
（11）はトーチ位置制御部（12a）はアーク長検出器、
（12b）はアーク長波形設定器、（12c）は比較器Ａ、
（12e）は電流波形周期CB設定器。 なお、各図中同一符号は同一又は相当部分を示す。
フロントページの続き (72)発明者 植田 至宏 兵庫県尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三菱電機株式会社中央研究所内 (72)発明者 水野 正紀 愛知県名古屋市東区矢田南５丁目１番14 号 三菱電機株式会社名古屋製作所内 (72)発明者 加藤 義明 愛知県名古屋市東区矢田南５丁目１番14 号 三菱電機株式会社名古屋製作所内 (72)発明者 長野 修 愛知県名古屋市東区矢田南５丁目１番14 号 三菱電機株式会社名古屋製作所内 (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) B23K 9/127
Claims (2)
- 【請求項１】被溶接物に対して送給されるワイヤ電極と
前記被溶接物との間に溶接電流を給電し、前記ワイヤ電
極の先端に成長した溶融塊を被溶接部位へ移行して溶接
を行なうアーク溶接装置において、前記ワイヤ電極先端
と被溶接物との間のアーク長変化を時々刻々検出し、ア
ーク長変化を示すアーク長信号を出力するアーク長検出
器と、溶接過程の移行に従った時々刻々のアーク長変化
を示すアーク長波形を模擬設定したアーク長設定器と、
溶接過程の移行に沿った時々のアーク長検出値と模擬ア
ーク長設定値とを比較し、差信号を出力する比較器と、
この差信号を予め定めた溶接過程周期に亘って積分して
得た差信号積分値と予め被溶接部位の形状に対応して設
定した設定値との比較結果に基づいて被溶接部位の形状
の変曲を判断する形状変化判断手段と、上記差信号積分
値に基づいて溶接トーチと被溶接物との間の距離変動を
検出する距離変動検出手段とを備えたことを特徴とする
アーク溶接装置。 - 【請求項２】被溶接物に対して送給されるワイヤ電極と
前記被溶接物との間に溶接電流を給電し、前記ワイヤ電
極の先端に成長した溶融塊を被溶接部位へ移行して溶接
を行なうアーク溶接装置において、上記溶接電流の変化
値を予め定めた溶接過程周期に亘って積分し、この積分
値と被溶接部位の形状に対応して設定した設定値との比
較結果より被溶接部位の形状の変曲を判断する形状変化
判断手段と、上記積分値に基づいて溶接トーチと被溶接
物との間の距離変動を検出する距離変動検出手段とを備
えたことを特徴とするアーク溶接装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18403689A JP2836105B2 (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | アーク溶接装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18403689A JP2836105B2 (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | アーク溶接装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0347679A JPH0347679A (ja) | 1991-02-28 |
| JP2836105B2 true JP2836105B2 (ja) | 1998-12-14 |
Family
ID=16146241
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18403689A Expired - Fee Related JP2836105B2 (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | アーク溶接装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2836105B2 (ja) |
-
1989
- 1989-07-17 JP JP18403689A patent/JP2836105B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0347679A (ja) | 1991-02-28 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |