JP2825422B2 - アンプルの外観検査装置及び検査方法 - Google Patents
アンプルの外観検査装置及び検査方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はアンプル（アンプル剤
を含む）の枝先（又は枝管）の熔封部分の外観形状不良
を自動的に検査するアンプルの外観検査装置及び検査方
法に関するものである。
を含む）の枝先（又は枝管）の熔封部分の外観形状不良
を自動的に検査するアンプルの外観検査装置及び検査方
法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】液体製剤等の容器として用いられるアン
プルは、一般にその枝先上部に設けられた開口から内部
に液体製剤等が注入され、さらに窒素ガス等が封入され
る。その後、枝管中央部を加熱溶融し、枝管上部をピン
チャー等で引っ張って上部の余分な枝管部分を除去する
と共に、枝管下部溶融部が表面張力で丸くなろうとする
力で溶閉され、自然に滑らかにかつドーム状に成形され
る。ところが、実際にはある一定の割合でアンプルの枝
先部の熔封不良が発生する。例えば、枝先部の熔封不良
により先端が尖っている場合、工場の作業者又は一般ユ
ーザーにけがを負わせる原因となる。また、枝先の先端
が偏平になっている場合、ガラス等の厚さの不均一によ
りアンプルの破損の原因となる。そのため、アンプル
（アンプル剤）の製造工程において、アンプルの、特に
枝先部の外観検査を行う必要がある。
プルは、一般にその枝先上部に設けられた開口から内部
に液体製剤等が注入され、さらに窒素ガス等が封入され
る。その後、枝管中央部を加熱溶融し、枝管上部をピン
チャー等で引っ張って上部の余分な枝管部分を除去する
と共に、枝管下部溶融部が表面張力で丸くなろうとする
力で溶閉され、自然に滑らかにかつドーム状に成形され
る。ところが、実際にはある一定の割合でアンプルの枝
先部の熔封不良が発生する。例えば、枝先部の熔封不良
により先端が尖っている場合、工場の作業者又は一般ユ
ーザーにけがを負わせる原因となる。また、枝先の先端
が偏平になっている場合、ガラス等の厚さの不均一によ
りアンプルの破損の原因となる。そのため、アンプル
（アンプル剤）の製造工程において、アンプルの、特に
枝先部の外観検査を行う必要がある。
【０００３】例えば特開昭６１−２２３５４２号公報や
特開平２−４２３４５号公報等に示されているように、
従来よりアンプルの外観部をカメラ等で撮影し、異常が
ないかどうかを検査するアンプルの外観検査装置が種々
提案されている。これら従来のアンプルの外観検査装置
では、アンプルを１個ずつカメラの前面に停止させ、そ
の位置で自転させながらアンプルの全外周面を検査す
る。
特開平２−４２３４５号公報等に示されているように、
従来よりアンプルの外観部をカメラ等で撮影し、異常が
ないかどうかを検査するアンプルの外観検査装置が種々
提案されている。これら従来のアンプルの外観検査装置
では、アンプルを１個ずつカメラの前面に停止させ、そ
の位置で自転させながらアンプルの全外周面を検査す
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来のアンプルの外観
検査装置では、アンプルの自転及び間欠的搬送を行わな
ければならず、アンプルの搬送装置の構造が複雑となる
という問題点を有していた。また、アンプルの搬送方法
が特殊であるため、内容異物検査装置等の他の装置と併
用することは困難であり、アンプルの外観検査行程を別
個独立して設けなければならず、装置の占有スペースや
検査行程が増加するという問題点を有していた。
検査装置では、アンプルの自転及び間欠的搬送を行わな
ければならず、アンプルの搬送装置の構造が複雑となる
という問題点を有していた。また、アンプルの搬送方法
が特殊であるため、内容異物検査装置等の他の装置と併
用することは困難であり、アンプルの外観検査行程を別
個独立して設けなければならず、装置の占有スペースや
検査行程が増加するという問題点を有していた。
【０００５】この発明は以上のような問題点を解決する
ためになされたものであり、他の装置におけるアンプル
の搬送機構部分に設けることができ、アンプルを連続的
に搬送しつつその外観検査を行い得るアンプルの外観検
査装置及び検査方法を提供することを目的としている。
ためになされたものであり、他の装置におけるアンプル
の搬送機構部分に設けることができ、アンプルを連続的
に搬送しつつその外観検査を行い得るアンプルの外観検
査装置及び検査方法を提供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明に係る第１のアンプルの外観検査装置は： アンプルを所定の軌道に沿って連続的に搬送する搬送機
構と； 前記搬送機構の一部分に設けられ、各アンプルを所定方
向に自転させる自転機構と； 前記自転機構の近傍に設けられ、連続して搬送される所
定数のアンプルに対し所定の方向から照明する照明装置
と； 前記照明手段により照明された所定数のアンプルの像を
前記搬送機構の所定の駆動信号に同期して撮影する撮影
装置と；前記撮影装置からの画像信号から、２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化し、前記２値化されたデータを各水平走査線ごとに判
別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に像の
部分であった画素番地を峻別し、前記各走査線ごとに峻
別された２つの画素番地から特定される各アンプルの形
状があらかじめ記憶されている許容形状誤差データの範
囲に入っているか否かにより前記アンプルの形状を認識
する装置と； 前記認識されたアンプルの形状とあらかじめ記憶されて
いる所定の許容形状誤差データとを比較し、前記認識さ
れたアンプルの形状が前記許容形状誤差データの範囲か
ら逸脱している時に外観不良であると判定する判定装置
と；を具備するように構成されている。
め、この発明に係る第１のアンプルの外観検査装置は： アンプルを所定の軌道に沿って連続的に搬送する搬送機
構と； 前記搬送機構の一部分に設けられ、各アンプルを所定方
向に自転させる自転機構と； 前記自転機構の近傍に設けられ、連続して搬送される所
定数のアンプルに対し所定の方向から照明する照明装置
と； 前記照明手段により照明された所定数のアンプルの像を
前記搬送機構の所定の駆動信号に同期して撮影する撮影
装置と；前記撮影装置からの画像信号から、２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化し、前記２値化されたデータを各水平走査線ごとに判
別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に像の
部分であった画素番地を峻別し、前記各走査線ごとに峻
別された２つの画素番地から特定される各アンプルの形
状があらかじめ記憶されている許容形状誤差データの範
囲に入っているか否かにより前記アンプルの形状を認識
する装置と； 前記認識されたアンプルの形状とあらかじめ記憶されて
いる所定の許容形状誤差データとを比較し、前記認識さ
れたアンプルの形状が前記許容形状誤差データの範囲か
ら逸脱している時に外観不良であると判定する判定装置
と；を具備するように構成されている。
【０００７】また、この発明に係る第２のアンプルの外
観検査装置は： アンプルを所定の軌道に沿って連続的に搬送する搬送機
構と； 前記搬送機構の一部分に設けられ、各アンプルを所定方
向に自転させる自転機構と； 前記自転機構の近傍に設けられ、連続して搬送される所
定数のアンプルに対し所定の方向から照明する照明装置
と； 前記照明手段により照明されたアンプルからの反射光の
うち所定方向の光のみを透過させる偏光フィルターと； 前記搬送機構の所定の駆動信号に同期して前記偏光フィ
ルターを透過したアンプルの像を撮影する撮影装置と；前記撮影装置からの画像信号から、２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化し、前記２値化されたデータを各水平走査線ごとに判
別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に像の
部分であった画素番地を峻別し、前記各走査線ごとに峻
別された２つの画素番地から特定される各アンプルの形
状があらかじめ記憶されている許容形状誤差データの範
囲に入っているか否かにより前記アンプルの形状を認識
する装置と； 前記撮影装置からの画像信号データとあらかじめ記憶さ
れている所定の許容形状誤差データとを比較し、前記画
像信号データが前記許容形状誤差データの範囲から逸脱
している時に外観不良であると判定する判定装置と；を
具備するように構成されている。
観検査装置は： アンプルを所定の軌道に沿って連続的に搬送する搬送機
構と； 前記搬送機構の一部分に設けられ、各アンプルを所定方
向に自転させる自転機構と； 前記自転機構の近傍に設けられ、連続して搬送される所
定数のアンプルに対し所定の方向から照明する照明装置
と； 前記照明手段により照明されたアンプルからの反射光の
うち所定方向の光のみを透過させる偏光フィルターと； 前記搬送機構の所定の駆動信号に同期して前記偏光フィ
ルターを透過したアンプルの像を撮影する撮影装置と；前記撮影装置からの画像信号から、２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化し、前記２値化されたデータを各水平走査線ごとに判
別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に像の
部分であった画素番地を峻別し、前記各走査線ごとに峻
別された２つの画素番地から特定される各アンプルの形
状があらかじめ記憶されている許容形状誤差データの範
囲に入っているか否かにより前記アンプルの形状を認識
する装置と； 前記撮影装置からの画像信号データとあらかじめ記憶さ
れている所定の許容形状誤差データとを比較し、前記画
像信号データが前記許容形状誤差データの範囲から逸脱
している時に外観不良であると判定する判定装置と；を
具備するように構成されている。
【０００８】上記各構成において、前記自転機構は前記
所定の軌道の両側にそれぞれ設けられ前記各アンプルの
外周面に接触する摩擦部材及び従動ローラーを具備する
ことが好ましい。また、前記照明手段は線状又は面状の
光源、拡散板及び遮光部材を具備することが好ましい。
また、前記所定数をｎ（整数）として、前記撮影装置は
前記各アンプルが３６０／ｎ度回転するごとに少なくと
もｎ回前記各アンプルの像を撮影することが好ましい。
また、前記撮影装置は２次元配列された画素を有するセ
ンサーであることが好ましい。また、前記搬送機構及び
自転機構は、所定の軸を中心として回転し、その外周部
に等角度で設けられたアンプルを保持するための複数の
切欠部を有する搬送ホイールと、前記搬送ホイールの外
周部近傍において隣接する２つの前記切欠部の間にそれ
ぞれ設けられた複数の従動ローラーと、前記搬送ホイー
ルの外周面に対向するガイドレイルの一部分に設けられ
たスポンジ等の摩擦部材とを具備することが好ましい。
また、前記撮影装置は、前記搬送ホイールに設けられた
エンコーダーからの信号に基づいて撮影を開始すること
が好ましい。
所定の軌道の両側にそれぞれ設けられ前記各アンプルの
外周面に接触する摩擦部材及び従動ローラーを具備する
ことが好ましい。また、前記照明手段は線状又は面状の
光源、拡散板及び遮光部材を具備することが好ましい。
また、前記所定数をｎ（整数）として、前記撮影装置は
前記各アンプルが３６０／ｎ度回転するごとに少なくと
もｎ回前記各アンプルの像を撮影することが好ましい。
また、前記撮影装置は２次元配列された画素を有するセ
ンサーであることが好ましい。また、前記搬送機構及び
自転機構は、所定の軸を中心として回転し、その外周部
に等角度で設けられたアンプルを保持するための複数の
切欠部を有する搬送ホイールと、前記搬送ホイールの外
周部近傍において隣接する２つの前記切欠部の間にそれ
ぞれ設けられた複数の従動ローラーと、前記搬送ホイー
ルの外周面に対向するガイドレイルの一部分に設けられ
たスポンジ等の摩擦部材とを具備することが好ましい。
また、前記撮影装置は、前記搬送ホイールに設けられた
エンコーダーからの信号に基づいて撮影を開始すること
が好ましい。
【０００９】一方、この発明に係る第１のアンプルの外
観検査方法は：所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；前記各走
査線ごとに峻別された２つの画素番地から特定される各
アンプルの形状があらかじめ記憶されている許容形状誤
差データの範囲に入っているか否かを判定する行程と；
を具備するように構成されている。
観検査方法は：所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；前記各走
査線ごとに峻別された２つの画素番地から特定される各
アンプルの形状があらかじめ記憶されている許容形状誤
差データの範囲に入っているか否かを判定する行程と；
を具備するように構成されている。
【００１０】また、この発明に係る第２のアンプルの外
観検査方法は：所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；所定の走
査線における峻別された２つの画素番地からアンプルの
中心線を決定する行程と；前記中心線に対して両側にそ
れぞれ所定数のデータのみを取り出し、前記取り出され
たデータから特定されるアンプルの形状があらかじめ記
憶されている許容形状誤差データの範囲に入っているか
否かを判定する行程と；を具備するように構成されてい
る。
観検査方法は：所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；所定の走
査線における峻別された２つの画素番地からアンプルの
中心線を決定する行程と；前記中心線に対して両側にそ
れぞれ所定数のデータのみを取り出し、前記取り出され
たデータから特定されるアンプルの形状があらかじめ記
憶されている許容形状誤差データの範囲に入っているか
否かを判定する行程と；を具備するように構成されてい
る。
【００１１】また、この発明に係る第３のアンプルの外
観検査方法は：所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線の上
から順に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地、す
なわち、アンプルの頂上の位置を峻別する行程と；前記
峻別されたアンプルの頂上の位置があらかじめ記憶され
ている許容高さ誤差データの範囲に入っているか否かを
判定する行程と；を具備するように構成されている。
観検査方法は：所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線の上
から順に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地、す
なわち、アンプルの頂上の位置を峻別する行程と；前記
峻別されたアンプルの頂上の位置があらかじめ記憶され
ている許容高さ誤差データの範囲に入っているか否かを
判定する行程と；を具備するように構成されている。
【００１２】また、この発明に係る第４のアンプルの外
観検査方法は：所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線の上
から順に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地、す
なわち、アンプルの頂上の位置を峻別する行程と；前記
頂上を通る垂直線を中心線とし、前記中心線に対して両
側にそれぞれ所定数のデータのみを取り出し、前記取り
出されたデータがあらかじめ記憶されている許容形状誤
差データの範囲に入っているか否かを判定する行程と；
を具備するように構成されている。
観検査方法は：所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線の上
から順に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地、す
なわち、アンプルの頂上の位置を峻別する行程と；前記
頂上を通る垂直線を中心線とし、前記中心線に対して両
側にそれぞれ所定数のデータのみを取り出し、前記取り
出されたデータがあらかじめ記憶されている許容形状誤
差データの範囲に入っているか否かを判定する行程と；
を具備するように構成されている。
【００１３】また、この発明に係る第５のアンプルの外
観検査方法は：所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；所定の走
査線における峻別された２つの画素番地からアンプルの
中心線を決定する行程と；２値化されたデータを各水平
走査線の上から順に判別し、最初に像の部分が現れた画
素番地、すなわち、アンプルの頂上の位置を峻別する行
程と；前記峻別された頂上とあらかじめ記憶されている
許容形状誤差データの頂上とを同じ高さに揃える行程
と；前記決定された中心線とあらかじめ記憶されている
許容形状誤差データの中心線とを同じ位置に揃える行程
と；前記各走査線ごとに２値化されたデータとあらかじ
め記憶されている許容形状誤差データの各走査線ごとの
データとを比較する行程と；前記比較の結果許容範囲内
に入っていない走査線の数を計数し、その数が所定の許
容数以下であるか否かを判定する行程と；を具備するよ
うに構成されている。
観検査方法は：所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；所定の走
査線における峻別された２つの画素番地からアンプルの
中心線を決定する行程と；２値化されたデータを各水平
走査線の上から順に判別し、最初に像の部分が現れた画
素番地、すなわち、アンプルの頂上の位置を峻別する行
程と；前記峻別された頂上とあらかじめ記憶されている
許容形状誤差データの頂上とを同じ高さに揃える行程
と；前記決定された中心線とあらかじめ記憶されている
許容形状誤差データの中心線とを同じ位置に揃える行程
と；前記各走査線ごとに２値化されたデータとあらかじ
め記憶されている許容形状誤差データの各走査線ごとの
データとを比較する行程と；前記比較の結果許容範囲内
に入っていない走査線の数を計数し、その数が所定の許
容数以下であるか否かを判定する行程と；を具備するよ
うに構成されている。
【００１４】また、この発明に係る第６のアンプルの外
観検査方法は：所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；下からｎ
＋１番目（ｎは整数）の走査線における最初に像の部分
が現れた画素番地から最後に像の部分であった画素番地
までの画素数から、下からｎ番目の走査線における最初
に像の部分が現れた画素番地から最後に像の部分であっ
た画素番地までの画素数を引き算し、引き算した結果が
連続して何回正又は零になるかを計数し、その回数が所
定数以上であるか否かを判定する行程と；を具備するよ
うに構成されている。
観検査方法は：所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；下からｎ
＋１番目（ｎは整数）の走査線における最初に像の部分
が現れた画素番地から最後に像の部分であった画素番地
までの画素数から、下からｎ番目の走査線における最初
に像の部分が現れた画素番地から最後に像の部分であっ
た画素番地までの画素数を引き算し、引き算した結果が
連続して何回正又は零になるかを計数し、その回数が所
定数以上であるか否かを判定する行程と；を具備するよ
うに構成されている。
【００１５】また、この発明に係る第７のアンプルの外
観検査方法は：所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；所定の走
査線における峻別された２つの画素番地からアンプルの
中心線を決定する行程と；２値化されたデータを各水平
走査線の上から順に判別し、最初に像の部分が現れた画
素番地、すなわち、アンプルの頂上の位置を峻別する行
程と；前記峻別された頂上とあらかじめ記憶されている
許容形状誤差データの頂上とを同じ高さに揃える行程
と；前記決定された中心線とあらかじめ記憶されている
許容形状誤差データの中心線とを同じ位置に揃える行程
と；前記各走査線ごとに２値化されたデータとあらかじ
め記憶されている許容形状誤差データの各走査線ごとの
データとを比較する行程と；前記比較の結果許容範囲内
に入っていない走査線の数を計数し、その数が所定の許
容数以下であるか否かを判定する行程と；下からｎ＋１
番目（ｎは整数）の走査線における最初に像の部分が現
れた画素番地から最後に像の部分であった画素番地まで
の画素数から、下からｎ番目の走査線における最初に像
の部分が現れた画素番地から最後に像の部分であった画
素番地までの画素数を引き算し、引き算した結果が連続
して何回正又は零になるかを計数し、その回数が所定数
以上であるか否かを判定する行程と；を具備するように
構成されている。
観検査方法は：所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；所定の走
査線における峻別された２つの画素番地からアンプルの
中心線を決定する行程と；２値化されたデータを各水平
走査線の上から順に判別し、最初に像の部分が現れた画
素番地、すなわち、アンプルの頂上の位置を峻別する行
程と；前記峻別された頂上とあらかじめ記憶されている
許容形状誤差データの頂上とを同じ高さに揃える行程
と；前記決定された中心線とあらかじめ記憶されている
許容形状誤差データの中心線とを同じ位置に揃える行程
と；前記各走査線ごとに２値化されたデータとあらかじ
め記憶されている許容形状誤差データの各走査線ごとの
データとを比較する行程と；前記比較の結果許容範囲内
に入っていない走査線の数を計数し、その数が所定の許
容数以下であるか否かを判定する行程と；下からｎ＋１
番目（ｎは整数）の走査線における最初に像の部分が現
れた画素番地から最後に像の部分であった画素番地まで
の画素数から、下からｎ番目の走査線における最初に像
の部分が現れた画素番地から最後に像の部分であった画
素番地までの画素数を引き算し、引き算した結果が連続
して何回正又は零になるかを計数し、その回数が所定数
以上であるか否かを判定する行程と；を具備するように
構成されている。
【００１６】
【作用】搬送機構は直線、円又は任意の軌道に沿ってア
ンプルを連続的に搬送し得る機構であればよく、アンプ
ルの内容異物検査装置や熔封不良を検査するためのいわ
ゆるピンホール検査装置等の搬送機構を流用する。すな
わち、この発明のアンプルの外観検査装置は他の検査装
置等に併設される。自転機構は、例えば搬送機構のガイ
ドレイル部分に取り付けられたスポンジゴム等の柔軟な
摩擦部材及びアンプルの外周面に接触しアンプルを摩擦
部材に押しつけるための従動ローラー等で構成されてい
る。アンプルが摩擦部材に押しつけられると、アンプル
と摩擦部材との間に作用する摩擦力によってアンプルが
自転する。第１のアンプルの外観検査装置に適する照明
装置は、線状又は面状の光源、光源からの光を拡散する
拡散板、他からの光を遮蔽する遮光部材等で構成されて
いる。照明装置により、アンプルには背光照明が施さ
れ、撮影装置はアンプルの形状をシルエット化して測定
する。撮影装置は、２次元配列された画素を有するＣＣ
Ｄ等のセンサー又はカメラであり、同時に複数のアンプ
ルを撮影できるだけの視野を有する。撮影装置の視野中
で１本のアンプルが１回転するように視野を調整する。
撮影装置は、搬送機構、例えばアンプルを搬送するため
の搬送ホイールに設けられたエンコーダー等からの同期
信号に基づいて、アンプルが３６０／ｎ度回転するごと
にｎ回アンプルの像を撮影する。撮影装置から出力され
る画像信号（輝度信号）には、アンプルの像（暗い部
分）に相当する信号（輝度の低い信号）と背景（明るい
部分）に相当する信号（輝度の高い信号）とが含まれ
る。判定装置は、これらの輝度信号を所定のしきい値、
例えば（（画面右隅の画素の明度＋画面左隅の画素の明
度）／２−α（αは任意に設定））に基づいてしきい値
よりも輝度の高い信号を明信号とし、しきい値よりの輝
度の低い信号を暗信号として２値化する。さらに、判定
装置は撮影装置の１画面分の撮影データからそれぞれの
アンプルが写っている部分を所定のウインドーに切取
り、各ウインドーについて各走査線ごとに各画素のデー
タ信号が暗信号か明信号かを判断し、最初に暗信号が現
れた画素及び最後に暗信号であった画素の番地を峻別す
る。各走査線ごとのこれらの画素の番地を辿って行く
と、アンプルの外形が得られる。得られたアンプルの外
形をあらかじめ記憶されている許容形状誤差データと比
較し、所定の許容形状誤差範囲から逸脱している場合に
外観不良と判定する。この判定は、１本のアンプルにつ
いて得られたｎ枚の画像の全てについて行われる。ただ
し、１枚でも不良の画像がある場合、当該アンプルは外
観不良と判定されるので、それ以後の画像の判定は不要
である。なお、第２のアンプルの外観検査装置は、アン
プルの表面を直接撮影するものであり、アンプルの表面
からの不要な反射光をカットするために偏光フィルター
を用いる。その他の機能は上記第１のアンプルの外観検
査装置と同様である。
ンプルを連続的に搬送し得る機構であればよく、アンプ
ルの内容異物検査装置や熔封不良を検査するためのいわ
ゆるピンホール検査装置等の搬送機構を流用する。すな
わち、この発明のアンプルの外観検査装置は他の検査装
置等に併設される。自転機構は、例えば搬送機構のガイ
ドレイル部分に取り付けられたスポンジゴム等の柔軟な
摩擦部材及びアンプルの外周面に接触しアンプルを摩擦
部材に押しつけるための従動ローラー等で構成されてい
る。アンプルが摩擦部材に押しつけられると、アンプル
と摩擦部材との間に作用する摩擦力によってアンプルが
自転する。第１のアンプルの外観検査装置に適する照明
装置は、線状又は面状の光源、光源からの光を拡散する
拡散板、他からの光を遮蔽する遮光部材等で構成されて
いる。照明装置により、アンプルには背光照明が施さ
れ、撮影装置はアンプルの形状をシルエット化して測定
する。撮影装置は、２次元配列された画素を有するＣＣ
Ｄ等のセンサー又はカメラであり、同時に複数のアンプ
ルを撮影できるだけの視野を有する。撮影装置の視野中
で１本のアンプルが１回転するように視野を調整する。
撮影装置は、搬送機構、例えばアンプルを搬送するため
の搬送ホイールに設けられたエンコーダー等からの同期
信号に基づいて、アンプルが３６０／ｎ度回転するごと
にｎ回アンプルの像を撮影する。撮影装置から出力され
る画像信号（輝度信号）には、アンプルの像（暗い部
分）に相当する信号（輝度の低い信号）と背景（明るい
部分）に相当する信号（輝度の高い信号）とが含まれ
る。判定装置は、これらの輝度信号を所定のしきい値、
例えば（（画面右隅の画素の明度＋画面左隅の画素の明
度）／２−α（αは任意に設定））に基づいてしきい値
よりも輝度の高い信号を明信号とし、しきい値よりの輝
度の低い信号を暗信号として２値化する。さらに、判定
装置は撮影装置の１画面分の撮影データからそれぞれの
アンプルが写っている部分を所定のウインドーに切取
り、各ウインドーについて各走査線ごとに各画素のデー
タ信号が暗信号か明信号かを判断し、最初に暗信号が現
れた画素及び最後に暗信号であった画素の番地を峻別す
る。各走査線ごとのこれらの画素の番地を辿って行く
と、アンプルの外形が得られる。得られたアンプルの外
形をあらかじめ記憶されている許容形状誤差データと比
較し、所定の許容形状誤差範囲から逸脱している場合に
外観不良と判定する。この判定は、１本のアンプルにつ
いて得られたｎ枚の画像の全てについて行われる。ただ
し、１枚でも不良の画像がある場合、当該アンプルは外
観不良と判定されるので、それ以後の画像の判定は不要
である。なお、第２のアンプルの外観検査装置は、アン
プルの表面を直接撮影するものであり、アンプルの表面
からの不要な反射光をカットするために偏光フィルター
を用いる。その他の機能は上記第１のアンプルの外観検
査装置と同様である。
【００１７】なお、アンプルの搬送速度と撮影装置の撮
影開始のタイミングによって、各アンプルの画像に位置
が若干左右にずれることがある。そのため、ウインドー
は余裕をもって大きめに設定されている。すなわち、必
ずしもウインドーの全ての画素についてそのデータを判
定する必要はない。一方、アンプルの外観不良は主に枝
先の先端部分で発生し、枝先の根元部分は安定してい
る。そこで、所定の走査線例えば画面の最下部の走査線
おける峻別された画素番地データからアンプルの中心線
を決定する。判定装置は、決定された中心線に対して左
右それぞれに所定数の画素のデータだけを取りだし、こ
れらのデータに基づいてアンプルの外形を得る。その結
果、不要なデータについて判定をする必要がなくなり、
演算処理速度が向上する。また、判定装置において必要
とされるメモリー容量が小さくなる。
影開始のタイミングによって、各アンプルの画像に位置
が若干左右にずれることがある。そのため、ウインドー
は余裕をもって大きめに設定されている。すなわち、必
ずしもウインドーの全ての画素についてそのデータを判
定する必要はない。一方、アンプルの外観不良は主に枝
先の先端部分で発生し、枝先の根元部分は安定してい
る。そこで、所定の走査線例えば画面の最下部の走査線
おける峻別された画素番地データからアンプルの中心線
を決定する。判定装置は、決定された中心線に対して左
右それぞれに所定数の画素のデータだけを取りだし、こ
れらのデータに基づいてアンプルの外形を得る。その結
果、不要なデータについて判定をする必要がなくなり、
演算処理速度が向上する。また、判定装置において必要
とされるメモリー容量が小さくなる。
【００１８】前述したように、アンプルの外観不良は主
に枝先の先端部分で発生する。すなわち、溶融したガラ
スが引き伸ばされて先端が尖っている場合、正常なアン
プルの高さよりも背が高くなっている。また、先端が偏
平になっている場合は正常なアンプルよりも背が低くな
っている。そこで、アンプルの背の高さ、すなわち撮影
されたアンプルの像の頂上の位置を判定することによっ
てもアンプルの外観不良を判定することが可能である。
判定装置は、各ウインドーごとに上から順に各走査線上
の画素データを判定し、最初に暗信号が現れる位置、す
なわちアンプルの頂上の位置を探す。得られた頂上の高
さが所定の許容高さ誤差データ範囲から逸脱している場
合、すなわち許容高さ誤差範囲よりも高い場合及び低い
場合に外観不良と判定する。なお、アンプルの外観不良
は数万本に１本程度しか発生しないため、このようにし
て得られた頂上を通る垂直線をアンプルの中心線とみな
し、この中心線に対して左右それぞれに所定数の画素の
データだけを取りだし、これらのデータに基づいてアン
プルの外形を得るようにしても、実用上問題はない。
に枝先の先端部分で発生する。すなわち、溶融したガラ
スが引き伸ばされて先端が尖っている場合、正常なアン
プルの高さよりも背が高くなっている。また、先端が偏
平になっている場合は正常なアンプルよりも背が低くな
っている。そこで、アンプルの背の高さ、すなわち撮影
されたアンプルの像の頂上の位置を判定することによっ
てもアンプルの外観不良を判定することが可能である。
判定装置は、各ウインドーごとに上から順に各走査線上
の画素データを判定し、最初に暗信号が現れる位置、す
なわちアンプルの頂上の位置を探す。得られた頂上の高
さが所定の許容高さ誤差データ範囲から逸脱している場
合、すなわち許容高さ誤差範囲よりも高い場合及び低い
場合に外観不良と判定する。なお、アンプルの外観不良
は数万本に１本程度しか発生しないため、このようにし
て得られた頂上を通る垂直線をアンプルの中心線とみな
し、この中心線に対して左右それぞれに所定数の画素の
データだけを取りだし、これらのデータに基づいてアン
プルの外形を得るようにしても、実用上問題はない。
【００１９】撮影装置からの各画素のデータ、すなわち
輝度信号を２値化する場合、中間輝度の信号を明信号と
するか暗信号とするか判断が困難である場合が少なくな
い。そのため、アンプルの表面は実際には滑らかであっ
ても、判定装置により得られたアンプルの形状に凹凸が
生じている場合がある。このような輝度信号を２値化す
る際の誤差により、得られたアンプルの形状が所定の許
容形状誤差データ範囲を逸脱したとしても、それをただ
ちに外観不良であると判断するのは妥当ではない。そこ
で、各走査線ごとにデータを比較し、許容形状誤差デー
タ範囲から逸脱している走査線の数を計数し、その数が
許容数以下である場合は外観不良とは判定しない。これ
により、信号変換誤差等による誤判定を防止する。
輝度信号を２値化する場合、中間輝度の信号を明信号と
するか暗信号とするか判断が困難である場合が少なくな
い。そのため、アンプルの表面は実際には滑らかであっ
ても、判定装置により得られたアンプルの形状に凹凸が
生じている場合がある。このような輝度信号を２値化す
る際の誤差により、得られたアンプルの形状が所定の許
容形状誤差データ範囲を逸脱したとしても、それをただ
ちに外観不良であると判断するのは妥当ではない。そこ
で、各走査線ごとにデータを比較し、許容形状誤差デー
タ範囲から逸脱している走査線の数を計数し、その数が
許容数以下である場合は外観不良とは判定しない。これ
により、信号変換誤差等による誤判定を防止する。
【００２０】一般に、正常なアンプルの枝先は先端に近
いほどその幅が狭い。そのため、各走査線におけるアン
プルの像の幅を順に比較することにより、例えば先端が
ふくらんで太くなっているような外観不良を検出するこ
とが可能である。例えば、下からｎ＋１番目の走査線に
おけるアンプルの幅から、同じく下からｎ番目の走査線
におけるアンプルの幅を引き算する。アンプルの形状が
正常な場合、引き算した結果は負になる。ところが、先
端に近付くにつれて幅が太くなっている場合、引き算し
た結果は正又は零になる。前述した信号変換誤差による
誤判定を防止すべく、連続して正又は零になる回数が所
定回数を上回った場合に外観不良と判定する。
いほどその幅が狭い。そのため、各走査線におけるアン
プルの像の幅を順に比較することにより、例えば先端が
ふくらんで太くなっているような外観不良を検出するこ
とが可能である。例えば、下からｎ＋１番目の走査線に
おけるアンプルの幅から、同じく下からｎ番目の走査線
におけるアンプルの幅を引き算する。アンプルの形状が
正常な場合、引き算した結果は負になる。ところが、先
端に近付くにつれて幅が太くなっている場合、引き算し
た結果は正又は零になる。前述した信号変換誤差による
誤判定を防止すべく、連続して正又は零になる回数が所
定回数を上回った場合に外観不良と判定する。
【００２１】
【実施例】この発明に係るアンプルの外観検査装置の一
実施例の構成を図１、図２及び図３を用いて説明する。
図１はこの実施例に係るアンプルの外観検査装置の構成
を示す斜視図であり、図２はその側部断面図である。ま
た、図３は撮影装置の視野を示す図である。図１及び図
２において、アンプル搬送機構は、テーブル２０の上に
モーター２１の軸２１ａを中心として回転し、外周部に
等角度で設けられた切欠２３ｂを有する搬送ホイール２
３と、搬送ホイール２３の外周部２３ａに対して所定の
間隔を隔てて設けられたガイドレイル２５とで構成され
ている。アンプル１はホイールの切欠２３ｂに係合し、
搬送ホイール２３の回転により円軌道上を搬送される。
この搬送ホイール２３は既存の内容異物検査装置やピン
ホール検査装置の搬送機構を流用してもよい。アンプル
自転機構は、ガイドレイル２５の一部分に設けられたス
ポンジゴム等の摩擦部材２６と、搬送ホイール２３の外
周部近傍において等角度で設けられた複数の従動ローラ
ー２４とで構成されている。アンプル１が従動ローラー
２４により柔軟な摩擦部材２６に押しつけられ、搬送ホ
イール２３の駆動力がアンプル１と摩擦部材２６との間
に摩擦力として働き、アンプル１は図１中矢印で示す方
向に自転する。従動ローラー２４はアンプル１の自転を
助ける役目も果たす。
実施例の構成を図１、図２及び図３を用いて説明する。
図１はこの実施例に係るアンプルの外観検査装置の構成
を示す斜視図であり、図２はその側部断面図である。ま
た、図３は撮影装置の視野を示す図である。図１及び図
２において、アンプル搬送機構は、テーブル２０の上に
モーター２１の軸２１ａを中心として回転し、外周部に
等角度で設けられた切欠２３ｂを有する搬送ホイール２
３と、搬送ホイール２３の外周部２３ａに対して所定の
間隔を隔てて設けられたガイドレイル２５とで構成され
ている。アンプル１はホイールの切欠２３ｂに係合し、
搬送ホイール２３の回転により円軌道上を搬送される。
この搬送ホイール２３は既存の内容異物検査装置やピン
ホール検査装置の搬送機構を流用してもよい。アンプル
自転機構は、ガイドレイル２５の一部分に設けられたス
ポンジゴム等の摩擦部材２６と、搬送ホイール２３の外
周部近傍において等角度で設けられた複数の従動ローラ
ー２４とで構成されている。アンプル１が従動ローラー
２４により柔軟な摩擦部材２６に押しつけられ、搬送ホ
イール２３の駆動力がアンプル１と摩擦部材２６との間
に摩擦力として働き、アンプル１は図１中矢印で示す方
向に自転する。従動ローラー２４はアンプル１の自転を
助ける役目も果たす。
【００２２】照明装置１０は、アンプル自転機構の上部
近傍に設けられており、線状又は面状の光源１１と、白
色拡散板１２と、遮光部材（遮光箱）１３とで構成され
ている。遮光部材１３の先端部には上部遮光板１４が設
けられている。この照明装置１０は、アンプル１に背光
（バックライト）を施すためのものであり、遮光部材１
３は他の方向からの光を遮蔽する。搬送ホイール２３を
隔てて照明装置１０と対向する位置には、撮影装置２が
設けられている。撮影装置２は、白色の拡散板１２を背
景として、アンプル１の影を観察していることになる。
図２に示すように、搬送ホイール２３又はモーター２１
にはエンコーダー２２が接続されている。撮影装置２、
モーター２１、エンコーダー２２、光源１１等は画像処
理装置（判定装置）３０に接続されている。光源１１に
は光量の安定性に優れた直流ハロゲンランプ等を用い
る。また、拡散板１２には乳白色のアクリル板等を用い
る。画像処理装置３０には、撮影装置２により撮影され
た生のアンプルの画像を表示するためのモニターや、所
定の許容形状誤差データ等を入力するためのキーボード
等が設けられている（自明につき図示せず）。
近傍に設けられており、線状又は面状の光源１１と、白
色拡散板１２と、遮光部材（遮光箱）１３とで構成され
ている。遮光部材１３の先端部には上部遮光板１４が設
けられている。この照明装置１０は、アンプル１に背光
（バックライト）を施すためのものであり、遮光部材１
３は他の方向からの光を遮蔽する。搬送ホイール２３を
隔てて照明装置１０と対向する位置には、撮影装置２が
設けられている。撮影装置２は、白色の拡散板１２を背
景として、アンプル１の影を観察していることになる。
図２に示すように、搬送ホイール２３又はモーター２１
にはエンコーダー２２が接続されている。撮影装置２、
モーター２１、エンコーダー２２、光源１１等は画像処
理装置（判定装置）３０に接続されている。光源１１に
は光量の安定性に優れた直流ハロゲンランプ等を用い
る。また、拡散板１２には乳白色のアクリル板等を用い
る。画像処理装置３０には、撮影装置２により撮影され
た生のアンプルの画像を表示するためのモニターや、所
定の許容形状誤差データ等を入力するためのキーボード
等が設けられている（自明につき図示せず）。
【００２３】図１に示すように、照明装置１０は同時に
複数のアンプル１を照明し、撮影装置２も１視野（又は
画面）中に複数（例えば、５〜６本）のアンプル１を写
し込む。各アンプル１は照明装置１０（又は遮光部材１
３）の前方を通過する間に少なくとも１回転するように
搬送される。そして、各アンプル１は、例えば９０度自
転するごとに４回撮影される。アンプル１の自転角度又
は搬送ホイール２３の回転角度はエンコーダー２２の出
力に基づいて検出され、撮影装置２はこれをトリガー信
号として撮影を行う。撮影装置２は２次元マトリクス状
に配列された画素を有し、各画素ごとに番地が割り当て
られている。撮影装置２の視野１００には、図３（ａ）
に示すように、例えば５本のアンプルＡ〜Ｅが写し込ま
れている。画像処理装置３０は撮影装置２の視野１００
から、各アンプルＡ〜Ｅの枝先の先端附近が写っている
範囲をウインドーＷ１〜Ｗ５として切取り、各ウインド
ーＷ１〜Ｗ５ごとに写し込まれたアンプルの枝先の形状
が所定の許容形状誤差データ範囲内に入っているか否か
を判定する。次に、アンプルＡ〜Ｅが所定距離搬送さ
れ、各アンプルが９０度自転すると、エンコーダー２２
から所定のトリガー信号が出力される。撮影装置２はト
リガー信号に基づいて、図３（ｂ）に示す次の画面を撮
影する。図３（ｂ）では、図３（ａ）に写っていたアン
プルＡが視野１００の外に去り、新たにアンプルＦが視
野１００に入る。アンプルの搬送速度と撮影装置２の撮
影のタイミングは必ずしも一致しないため、撮影装置２
の視野１００におけるアンプルの位置は多少ずれる。そ
のため、各ウインドーＷ１〜Ｗ５の位置も若干補正され
る。このような撮影を繰り返すことにより、１本のアン
プルが撮影装置２の視野１００（又は照明装置１０の前
方）を通過する間に、９０度自転するごとに少なくとも
４回撮影される。１本のアンプルについて、撮影する角
度を細かくすればするほど判定精度は向上するが、その
分判定に要する時間が増加し、搬送速度の低下や検査に
要するコストが増加する。実際のところ、アンプルが９
０度自転するごとに４回撮影すれば、ほとんどの外観不
良を検出することができる。
複数のアンプル１を照明し、撮影装置２も１視野（又は
画面）中に複数（例えば、５〜６本）のアンプル１を写
し込む。各アンプル１は照明装置１０（又は遮光部材１
３）の前方を通過する間に少なくとも１回転するように
搬送される。そして、各アンプル１は、例えば９０度自
転するごとに４回撮影される。アンプル１の自転角度又
は搬送ホイール２３の回転角度はエンコーダー２２の出
力に基づいて検出され、撮影装置２はこれをトリガー信
号として撮影を行う。撮影装置２は２次元マトリクス状
に配列された画素を有し、各画素ごとに番地が割り当て
られている。撮影装置２の視野１００には、図３（ａ）
に示すように、例えば５本のアンプルＡ〜Ｅが写し込ま
れている。画像処理装置３０は撮影装置２の視野１００
から、各アンプルＡ〜Ｅの枝先の先端附近が写っている
範囲をウインドーＷ１〜Ｗ５として切取り、各ウインド
ーＷ１〜Ｗ５ごとに写し込まれたアンプルの枝先の形状
が所定の許容形状誤差データ範囲内に入っているか否か
を判定する。次に、アンプルＡ〜Ｅが所定距離搬送さ
れ、各アンプルが９０度自転すると、エンコーダー２２
から所定のトリガー信号が出力される。撮影装置２はト
リガー信号に基づいて、図３（ｂ）に示す次の画面を撮
影する。図３（ｂ）では、図３（ａ）に写っていたアン
プルＡが視野１００の外に去り、新たにアンプルＦが視
野１００に入る。アンプルの搬送速度と撮影装置２の撮
影のタイミングは必ずしも一致しないため、撮影装置２
の視野１００におけるアンプルの位置は多少ずれる。そ
のため、各ウインドーＷ１〜Ｗ５の位置も若干補正され
る。このような撮影を繰り返すことにより、１本のアン
プルが撮影装置２の視野１００（又は照明装置１０の前
方）を通過する間に、９０度自転するごとに少なくとも
４回撮影される。１本のアンプルについて、撮影する角
度を細かくすればするほど判定精度は向上するが、その
分判定に要する時間が増加し、搬送速度の低下や検査に
要するコストが増加する。実際のところ、アンプルが９
０度自転するごとに４回撮影すれば、ほとんどの外観不
良を検出することができる。
【００２４】次に、各画素の輝度信号に基づいて２値化
する手順を図４を用いて説明する。図４は１つのウイン
ドー、例えばＷ１をｍ×ｎの画素に分割した状態を示し
ている。各画素を左上から右下にかけて（１−１）・・
（１−ｎ）・・（２−１）・・（２−ｎ）・・（ｍ−
ｎ）の順に仮番地を割り当てる。図１に示すように、照
明装置１０は、線状又は面状の光源１１及び拡散板１２
を用いて均一に各アンプル１を照明するが、実際には多
少の明るさのばらつきが生じる。そこで、各ウインドー
Ｗ１〜Ｗ５ごとに明るさのばらつきを補正するために、
例えば左上の画素（１−１）の明るさＶ1及び右上の画
素（１−ｎ）の明るさＶ2の平均を求め、それを基準と
してしきい値Ｔをもとめる。すなわち、 Ｔ＝（Ｖ1＋Ｖ2）／２−α とする。ここで、αは相対しきい値（設定値）である。
各画素における輝度としきい値Ｔとを比較し、しきい値
Ｔよりも明るい場合を明信号とし、例えば”１”を割り
当てる。また、しきい値Ｔよりも暗い場合を暗信号と
し、”０”を割り当てる。この手順により、全ての画素
のデータが”０”か”１”かの２値化される。なお、例
えば画素Ａ及びＢ等は、しきい値の設定の仕方によって
は”０”になるか”１”になるか微妙である。
する手順を図４を用いて説明する。図４は１つのウイン
ドー、例えばＷ１をｍ×ｎの画素に分割した状態を示し
ている。各画素を左上から右下にかけて（１−１）・・
（１−ｎ）・・（２−１）・・（２−ｎ）・・（ｍ−
ｎ）の順に仮番地を割り当てる。図１に示すように、照
明装置１０は、線状又は面状の光源１１及び拡散板１２
を用いて均一に各アンプル１を照明するが、実際には多
少の明るさのばらつきが生じる。そこで、各ウインドー
Ｗ１〜Ｗ５ごとに明るさのばらつきを補正するために、
例えば左上の画素（１−１）の明るさＶ1及び右上の画
素（１−ｎ）の明るさＶ2の平均を求め、それを基準と
してしきい値Ｔをもとめる。すなわち、 Ｔ＝（Ｖ1＋Ｖ2）／２−α とする。ここで、αは相対しきい値（設定値）である。
各画素における輝度としきい値Ｔとを比較し、しきい値
Ｔよりも明るい場合を明信号とし、例えば”１”を割り
当てる。また、しきい値Ｔよりも暗い場合を暗信号と
し、”０”を割り当てる。この手順により、全ての画素
のデータが”０”か”１”かの２値化される。なお、例
えば画素Ａ及びＢ等は、しきい値の設定の仕方によって
は”０”になるか”１”になるか微妙である。
【００２５】次に、２値化されたデータに基づいてアン
プルの（枝先の）形状を特定する。例えば図４におい
て、各走査線（１〜ｍ）上の画素（１−１）・・・（ｍ
−ｎ）を例えば左から右に順にデータが”０”か”１”
かを判別してゆく。そして、各走査線ごとに最初に暗信
号に相当する”０”が現れた画素の番地（例えばＣ）及
び最後に”０”であった画素の番地（例えばＤ）を峻別
（特定）する。各走査線ごとに特定された２つの画素の
番地を順に辿って行くと、アンプルの形状が得られる。
しかし、アンプルの搬送速度と撮影装置の撮影開始のタ
イミングによって、各アンプルの像の位置が若干左右に
ずれることがあり、ウインドーは余裕をもって大きめに
設定されている。従って、ウインドーの各画素のデータ
にはアンプルの形状の判定には直接用いられない不必要
なデータも含まれている。もし、これらの不必要なデー
タも全て判定の対象にすると、判定に要する演算処理時
間が増加し、結果的に単位時間当たりに検査し得るアン
プルの数が減少する。そのため、前述のアンプルの形状
を得る行程の前に、あらかじめ不必要なデータを整理す
る。まず、２値化されたデータからアンプルの中心線を
求める。一般に、アンプルの外観不良（形状不良）は枝
先の先端部分で発生する。一方、枝先の根元に近い部分
の形状は比較的安定している。そのため、ウインドーの
下の方の所定の走査線のデータに着目し、その走査線上
で最初に暗信号に相当する”０”が現れた画素と最後
に”０”であった画素のちょうど中間に位置する画素を
通る垂直線をアンプルの中心線として決定する。各走査
線について、この中心線から左右に所定数の画素のデー
タだけを抽出する。抽出される画素数は、良品のアンプ
ルの平均的な幅をカバーし得る数である。
プルの（枝先の）形状を特定する。例えば図４におい
て、各走査線（１〜ｍ）上の画素（１−１）・・・（ｍ
−ｎ）を例えば左から右に順にデータが”０”か”１”
かを判別してゆく。そして、各走査線ごとに最初に暗信
号に相当する”０”が現れた画素の番地（例えばＣ）及
び最後に”０”であった画素の番地（例えばＤ）を峻別
（特定）する。各走査線ごとに特定された２つの画素の
番地を順に辿って行くと、アンプルの形状が得られる。
しかし、アンプルの搬送速度と撮影装置の撮影開始のタ
イミングによって、各アンプルの像の位置が若干左右に
ずれることがあり、ウインドーは余裕をもって大きめに
設定されている。従って、ウインドーの各画素のデータ
にはアンプルの形状の判定には直接用いられない不必要
なデータも含まれている。もし、これらの不必要なデー
タも全て判定の対象にすると、判定に要する演算処理時
間が増加し、結果的に単位時間当たりに検査し得るアン
プルの数が減少する。そのため、前述のアンプルの形状
を得る行程の前に、あらかじめ不必要なデータを整理す
る。まず、２値化されたデータからアンプルの中心線を
求める。一般に、アンプルの外観不良（形状不良）は枝
先の先端部分で発生する。一方、枝先の根元に近い部分
の形状は比較的安定している。そのため、ウインドーの
下の方の所定の走査線のデータに着目し、その走査線上
で最初に暗信号に相当する”０”が現れた画素と最後
に”０”であった画素のちょうど中間に位置する画素を
通る垂直線をアンプルの中心線として決定する。各走査
線について、この中心線から左右に所定数の画素のデー
タだけを抽出する。抽出される画素数は、良品のアンプ
ルの平均的な幅をカバーし得る数である。
【００２６】前述のように、アンプルの外観不良はアン
プルの枝先の先端部分に集中して発生し、先端が尖って
いる場合はアンプルの頂上が平均的なアンプルの頂上の
高さよりも高く、また偏平の場合は頂上は低い。そのた
め、アンプルの枝先の頂上を特定し、頂上附近のデータ
を比較するだけでアンプルの外観不良を発見し得る場合
も少なくない。そこで、抽出されたデータを上の走査線
から順に判定して行き、最初に暗信号すなわち”０”が
現れた画素の位置、又は最初に暗信号が現れた走査線上
のアンプルの中心位置を特定し、これらの位置をアンプ
ルの頂上とみなす。特定されたアンプルの頂上が所定の
許容誤差範囲よりも高い場合及び低い場合、他の形状デ
ータ等を比較するまでもなく、アンプルの形状不良であ
ると判定する。一方、アンプルの頂上が所定の許容誤差
範囲内にある場合は、アンプルの頂上の画素番地とあら
かじめ記憶されている許容形状誤差データの頂上の番地
とを一致させ、２値化して得られたアンプルの形状デー
タが許容形状誤差データ範囲に入っているか否かを判定
する。なお、前述のように撮影装置からの各画素の輝度
信号を２値化する場合、例えば図４における画素Ａ又は
Ｂのように、中間輝度の信号を明信号とするか暗信号と
するか判断が困難である場合が少なくない。そのため、
アンプルの表面は実際には滑らかであっても、２値化さ
れたデータから得られたアンプルの形状に凹凸が生じて
いる場合がある。このような輝度信号を２値化する際の
誤差により、得られたアンプルの形状が所定の許容形状
誤差データ範囲を逸脱したとしても、それをただちに外
観不良であると判断するのは妥当ではない。そこで、各
走査線ごとにデータを比較し、許容形状誤差データ範囲
から逸脱している走査線の数を計数し、その数が許容数
以下である場合は外観不良とは判定しない。これによ
り、信号変換誤差等による誤判定を防止する。また、一
般に、アンプルの外観不良は数万本に１本程度しか発生
しないため、アンプルの頂上を通る垂直線をアンプルの
中心線とみなし、この中心線に対して左右それぞれに所
定数の画素のデータだけを取りだし、これらのデータに
基づいてアンプルの形状を得るようにしてもよい。
プルの枝先の先端部分に集中して発生し、先端が尖って
いる場合はアンプルの頂上が平均的なアンプルの頂上の
高さよりも高く、また偏平の場合は頂上は低い。そのた
め、アンプルの枝先の頂上を特定し、頂上附近のデータ
を比較するだけでアンプルの外観不良を発見し得る場合
も少なくない。そこで、抽出されたデータを上の走査線
から順に判定して行き、最初に暗信号すなわち”０”が
現れた画素の位置、又は最初に暗信号が現れた走査線上
のアンプルの中心位置を特定し、これらの位置をアンプ
ルの頂上とみなす。特定されたアンプルの頂上が所定の
許容誤差範囲よりも高い場合及び低い場合、他の形状デ
ータ等を比較するまでもなく、アンプルの形状不良であ
ると判定する。一方、アンプルの頂上が所定の許容誤差
範囲内にある場合は、アンプルの頂上の画素番地とあら
かじめ記憶されている許容形状誤差データの頂上の番地
とを一致させ、２値化して得られたアンプルの形状デー
タが許容形状誤差データ範囲に入っているか否かを判定
する。なお、前述のように撮影装置からの各画素の輝度
信号を２値化する場合、例えば図４における画素Ａ又は
Ｂのように、中間輝度の信号を明信号とするか暗信号と
するか判断が困難である場合が少なくない。そのため、
アンプルの表面は実際には滑らかであっても、２値化さ
れたデータから得られたアンプルの形状に凹凸が生じて
いる場合がある。このような輝度信号を２値化する際の
誤差により、得られたアンプルの形状が所定の許容形状
誤差データ範囲を逸脱したとしても、それをただちに外
観不良であると判断するのは妥当ではない。そこで、各
走査線ごとにデータを比較し、許容形状誤差データ範囲
から逸脱している走査線の数を計数し、その数が許容数
以下である場合は外観不良とは判定しない。これによ
り、信号変換誤差等による誤判定を防止する。また、一
般に、アンプルの外観不良は数万本に１本程度しか発生
しないため、アンプルの頂上を通る垂直線をアンプルの
中心線とみなし、この中心線に対して左右それぞれに所
定数の画素のデータだけを取りだし、これらのデータに
基づいてアンプルの形状を得るようにしてもよい。
【００２７】得られたアンプルの形状及びあらかじめ記
憶されている許容形状誤差データ範囲との関係を図５及
び図６に示す。図５及び図６において、１点鎖線５０は
良品アンプルの平均的な形状を示し、細い実線５１及び
５２は許容形状誤差データの限界を示す。太い実線５３
及び５４はそれぞれ２値化されたデータから得られた実
際のアンプルの形状を示す。図５はアンプルの枝先の先
端が尖っている場合を示している。この場合、実際のア
ンプルの形状５３は明らかに許容形状誤差データ範囲５
１及び５２から逸脱している。一方、図６はアンプルの
枝先の先端がやや偏平になっている場合を示している。
この場合、実際のアンプルの形状５４は一応許容形状誤
差データ範囲５１及び５２に入っている。しかし、図中
５５で示す部分において、アンプルの枝先に近づくにつ
れて幅が太くなっていることを示している。一般に、こ
のような部分ではガラスの厚さが標準よりも薄くなって
いる場合が多く、アンプルの破損の原因となる。従っ
て、このようなアンプルも外観不良として排除する必要
がある。本来、正常なアンプルの枝先は先端に近いほど
その幅が狭い。そのため、各走査線におけるアンプルの
像の幅を順に比較することにより、例えば先端がふくら
んで太くなっているような外観不良を検出することが可
能である。例えば、下からｎ＋１番目の走査線における
アンプルの幅から、同じく下からｎ番目の走査線におけ
るアンプルの幅を引き算する。アンプルの形状が正常な
場合、引き算した結果は負になる。ところが、先端に近
付くにつれて幅が太くなっている場合、引き算した結果
は正又は零になる。なお、前述した信号変換誤差による
誤判定を防止すべく、連続して正又は零になる回数が所
定回数を上回った場合に外観不良と判定する。
憶されている許容形状誤差データ範囲との関係を図５及
び図６に示す。図５及び図６において、１点鎖線５０は
良品アンプルの平均的な形状を示し、細い実線５１及び
５２は許容形状誤差データの限界を示す。太い実線５３
及び５４はそれぞれ２値化されたデータから得られた実
際のアンプルの形状を示す。図５はアンプルの枝先の先
端が尖っている場合を示している。この場合、実際のア
ンプルの形状５３は明らかに許容形状誤差データ範囲５
１及び５２から逸脱している。一方、図６はアンプルの
枝先の先端がやや偏平になっている場合を示している。
この場合、実際のアンプルの形状５４は一応許容形状誤
差データ範囲５１及び５２に入っている。しかし、図中
５５で示す部分において、アンプルの枝先に近づくにつ
れて幅が太くなっていることを示している。一般に、こ
のような部分ではガラスの厚さが標準よりも薄くなって
いる場合が多く、アンプルの破損の原因となる。従っ
て、このようなアンプルも外観不良として排除する必要
がある。本来、正常なアンプルの枝先は先端に近いほど
その幅が狭い。そのため、各走査線におけるアンプルの
像の幅を順に比較することにより、例えば先端がふくら
んで太くなっているような外観不良を検出することが可
能である。例えば、下からｎ＋１番目の走査線における
アンプルの幅から、同じく下からｎ番目の走査線におけ
るアンプルの幅を引き算する。アンプルの形状が正常な
場合、引き算した結果は負になる。ところが、先端に近
付くにつれて幅が太くなっている場合、引き算した結果
は正又は零になる。なお、前述した信号変換誤差による
誤判定を防止すべく、連続して正又は零になる回数が所
定回数を上回った場合に外観不良と判定する。
【００２８】上記実施例において、照明装置１０はアン
プルに背光照明（バックライト）を施し、撮影装置２は
アンプル１の影を撮影するように構成したが、アンプル
１を直接照明し、アンプル１からの反射光を撮影装置２
により撮影するように構成しても同様の効果を得ること
ができる。この場合、ハレーションを防止し、アンプル
の輪郭を明瞭にするために、偏光フィルターを併用する
ことが好ましい（自明につき図示せず）。また、上記実
施例はアンプルの外観検査を行う場合について説明した
が、バイアル等の他の容器の密閉部分の熔封検査に使用
することができることは言うまでもない。
プルに背光照明（バックライト）を施し、撮影装置２は
アンプル１の影を撮影するように構成したが、アンプル
１を直接照明し、アンプル１からの反射光を撮影装置２
により撮影するように構成しても同様の効果を得ること
ができる。この場合、ハレーションを防止し、アンプル
の輪郭を明瞭にするために、偏光フィルターを併用する
ことが好ましい（自明につき図示せず）。また、上記実
施例はアンプルの外観検査を行う場合について説明した
が、バイアル等の他の容器の密閉部分の熔封検査に使用
することができることは言うまでもない。
【００２９】
【発明の効果】以上のように、この発明に係るアンプル
の外観検査装置及び検査方法によれば、所定の軌道に沿
ってアンプルを搬送する搬送機構の一部分にアンプルを
自転させるために自転機構を設け、自転する複数のアン
プルに同時に照明を施し、各アンプルが所定の角度自転
するごとにその像を撮影し、撮影された画像を処理して
得られたアンプルの枝先の形状とあらかじめ記憶されて
いる許容形状誤差データとを比較してアンプルの形状の
良否を判定するので、他の装置におけるアンプルの搬送
機構部分に設けることができ、アンプルを連続的に搬送
しつつその外観検査を行うことができる。また、所定の
走査線における峻別された画素番地データからアンプル
の中心線を決定し、中心線に対して左右それぞれに所定
数の画素のデータだけを取りだし、これらのデータに基
づいてアンプルの形状を得るように構成したので、形状
の良否判定に不必要なデータについて判定をする必要が
なくなり、演算処理速度が向上し、必要とするメモリー
容量を小さくすることができる。さらに、アンプルの像
の頂上の位置を特定し、その位置が所定の許容誤差範囲
を逸脱している場合にアンプルの外観不良と判定するよ
うに構成したので、頂上の位置が異常な場合は他の形状
データ等を比較するまでもなく、判定に要する演算処理
時間を短縮することができる。また、頂上を通る垂直線
をアンプルの中心線とみなし、この中心線に対して左右
それぞれに所定数の画素のデータだけを取りだし、これ
らのデータに基づいてアンプルの外形を得るようにして
も同様の効果を有する。さらに、各走査線ごとにデータ
を比較し、許容形状誤差データ範囲から逸脱している走
査線の数を計数し、その数が許容数以下である場合は外
観不良とは判定しないように構成したので、輝度信号を
２値化する際の誤差によるアンプルの形状の所定の許容
形状誤差データ範囲の逸脱を区別することができ、信号
変換誤差等による誤判定を防止することができる。さら
に、各走査線におけるアンプルの像の幅を順に比較し、
例えば、下からｎ＋１番目の走査線におけるアンプルの
幅から、同じく下からｎ番目の走査線におけるアンプル
の幅を引き算するように構成したので、アンプルの形状
が許容形状誤差データ範囲に入っている場合であって、
先端に近付くにつれて幅が太くなっているような形状不
良も発見することができる。
の外観検査装置及び検査方法によれば、所定の軌道に沿
ってアンプルを搬送する搬送機構の一部分にアンプルを
自転させるために自転機構を設け、自転する複数のアン
プルに同時に照明を施し、各アンプルが所定の角度自転
するごとにその像を撮影し、撮影された画像を処理して
得られたアンプルの枝先の形状とあらかじめ記憶されて
いる許容形状誤差データとを比較してアンプルの形状の
良否を判定するので、他の装置におけるアンプルの搬送
機構部分に設けることができ、アンプルを連続的に搬送
しつつその外観検査を行うことができる。また、所定の
走査線における峻別された画素番地データからアンプル
の中心線を決定し、中心線に対して左右それぞれに所定
数の画素のデータだけを取りだし、これらのデータに基
づいてアンプルの形状を得るように構成したので、形状
の良否判定に不必要なデータについて判定をする必要が
なくなり、演算処理速度が向上し、必要とするメモリー
容量を小さくすることができる。さらに、アンプルの像
の頂上の位置を特定し、その位置が所定の許容誤差範囲
を逸脱している場合にアンプルの外観不良と判定するよ
うに構成したので、頂上の位置が異常な場合は他の形状
データ等を比較するまでもなく、判定に要する演算処理
時間を短縮することができる。また、頂上を通る垂直線
をアンプルの中心線とみなし、この中心線に対して左右
それぞれに所定数の画素のデータだけを取りだし、これ
らのデータに基づいてアンプルの外形を得るようにして
も同様の効果を有する。さらに、各走査線ごとにデータ
を比較し、許容形状誤差データ範囲から逸脱している走
査線の数を計数し、その数が許容数以下である場合は外
観不良とは判定しないように構成したので、輝度信号を
２値化する際の誤差によるアンプルの形状の所定の許容
形状誤差データ範囲の逸脱を区別することができ、信号
変換誤差等による誤判定を防止することができる。さら
に、各走査線におけるアンプルの像の幅を順に比較し、
例えば、下からｎ＋１番目の走査線におけるアンプルの
幅から、同じく下からｎ番目の走査線におけるアンプル
の幅を引き算するように構成したので、アンプルの形状
が許容形状誤差データ範囲に入っている場合であって、
先端に近付くにつれて幅が太くなっているような形状不
良も発見することができる。
【図１】この発明に係るアンプルの外観検査装置の一実
施例の構成を示す斜視図
施例の構成を示す斜視図
【図２】図１に示すアンプルの外観検査装置の一実施例
の構成を示す側部断面図
の構成を示す側部断面図
【図３】上記一実施例における撮影装置２の視野を示す
図
図
【図４】図３に示すウインドーＷ１の画素の番地を示す
図
図
【図５】アンプルの外形及びあらかじめ記憶されている
許容形状誤差データ範囲との関係を示す図
許容形状誤差データ範囲との関係を示す図
【図６】アンプルの外形及びあらかじめ記憶されている
許容形状誤差データ範囲との関係を示す図
許容形状誤差データ範囲との関係を示す図
１ ：アンプル ２ ：撮影装置 １０：照明装置 １１：光源 １２：拡散板 １３：遮光部材 １４：遮光板 ２０：テーブル ２１：モーター ２２：エンコーダー ２３：搬送ホイール ２４：従動ローラー ２５：ガイドレイル ２６：摩擦部材 ３０：画像処理装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川村 賢二 大阪府大阪市東淀川区南江口３−９−２ サンメール403号 (56)参考文献 特開 平２−42345（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−207607（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−201839（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−12545（ＪＰ，Ａ) 実開 平１−103626（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭53−79587（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01B 11/00 - 11/30 102 G01N 21/84 - 21/91 A61J 1/06 H04N 7/18
Claims (15)
- 【請求項１】 アンプルを所定の軌道に沿って連続的に
搬送する搬送機構と； 前記搬送機構の一部分に設けられ、各アンプルを所定方
向に自転させる自転機構と； 前記自転機構の近傍に設けられ、連続して搬送される所
定数のアンプルに対し所定の方向から照明する照明装置
と； 前記照明手段により照明された所定数のアンプルの像を
前記搬送機構の所定の駆動信号に同期して撮影する撮影
装置と；前記撮影装置からの画像信号から、２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化し、前記２値化されたデータを各水平走査線ごとに判
別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に像の
部分であった画素番地を峻別し、前記各走査線ごとに峻
別された２つの画素番地から特定される各アンプルの形
状があらかじめ記憶されている許容形状誤差データの範
囲に入っているか否かにより前記アンプルの形状を認識
する装置と； 前記認識されたアンプルの形状とあらかじめ記憶されて
いる所定の許容形状誤差データとを比較し、前記認識さ
れたアンプルの形状が前記許容形状誤差データの範囲か
ら逸脱している時に外観不良であると判定する判定装置
と；を具備するアンプルの外観検査装置。 - 【請求項２】 アンプルを所定の軌道に沿って連続的に
搬送する搬送機構と； 前記搬送機構の一部分に設けられ、各アンプルを所定方
向に自転させる自転機構と； 前記自転機構の近傍に設けられ、連続して搬送される所
定数のアンプルに対し所定の方向から照明する照明装置
と； 前記照明手段により照明されたアンプルからの反射光の
うち所定方向の光のみを透過させる偏光フィルターと； 前記搬送機構の所定の駆動信号に同期して前記偏光フィ
ルターを透過したアンプルの像を撮影する撮影装置と；前記撮影装置からの画像信号から、２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化し、前記２値化されたデータを各水平走査線ごとに判
別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に像の
部分であった画素番地を峻別し、前記各走査線ごとに峻
別された２つの画素番地から特定される各アンプルの形
状があらかじめ記憶されている許容形状誤差データの範
囲に入っているか否かにより前記アンプルの形状を認識
する装置と； 前記撮影装置からの画像信号データとあらかじめ記憶さ
れている所定の許容形状誤差データとを比較し、前記画
像信号データが前記許容形状誤差データの範囲から逸脱
している時に外観不良であると判定する判定装置と；を
具備するアンプルの外観検査装置。 - 【請求項３】 前記自転機構は前記所定の軌道の両側に
それぞれ設けられ前記各アンプルの外周面に接触する摩
擦部材及び従動ローラーを具備することを特徴とする請
求項１又は２記載のアンプルの外観検査装置。 - 【請求項４】 前記照明手段は線状又は面状の光源、拡
散板及び遮光部材を具備することを特徴とする請求項１
記載のアンプルの外観検査装置。 - 【請求項５】 前記所定数をｎ（整数）として、前記撮
影装置は前記各アンプルが３６０／ｎ度回転するごとに
少なくともｎ回前記各アンプルの像を撮影することを特
徴とする請求項１又は２記載のアンプルの外観検査装
置。 - 【請求項６】 前記撮影装置は２次元配列された画素を
有するセンサーであることを特徴とする請求項５記載の
アンプルの外観検査装置。 - 【請求項７】 前記搬送機構及び自転機構は、所定の軸
を中心として回転し、その外周部に等角度で設けられた
アンプルを保持するための複数の切欠部を有する搬送ホ
イールと、前記搬送ホイールの外周部近傍において隣接
する２つの前記切欠部の間にそれぞれ設けられた複数の
従動ローラーと、前記搬送ホイールの外周面に対向する
ガイドレイルの一部分に設けられたスポンジ等の摩擦部
材とを具備することを特徴とする請求項１又は２記載の
アンプルの外観検査装置。 - 【請求項８】 前記撮影装置は、前記搬送ホイールに設
けられたエンコーダーからの信号に基づいて撮影を開始
することを特徴とする請求項７記載のアンプルの外観検
査装置。 - 【請求項９】 所定の軌道に沿って自転しつつ連続的に
搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；前記各走
査線ごとに峻別された２つの画素番地から特定される各
アンプルの形状があらかじめ記憶されている許容形状誤
差データの範囲に入っているか否かを判定する行程と；
を具備するアンプルの外観検査方法。 - 【請求項１０】 所定の軌道に沿って自転しつつ連続的
に搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；所定の走
査線における峻別された２つの画素番地からアンプルの
中心線を決定する行程と；前記中心線に対して両側にそ
れぞれ所定数のデータのみを取り出し、前記取り出され
たデータから特定されるアンプルの形状があらかじめ記
憶されている許容形状誤差データの範囲に入っているか
否かを判定する行程と；を具備するアンプルの外観検査
方法。 - 【請求項１１】 所定の軌道に沿って自転しつつ連続的
に搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線の上
から順に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地、す
なわち、アンプルの頂上の位置を峻別する行程と；前記
峻別されたアンプルの頂上の位置があらかじめ記憶され
ている許容高さ誤差データの範囲に入っているか否かを
判定する行程と；を具備するアンプルの外観検査方法。 - 【請求項１２】 所定の軌道に沿って自転しつつ連続的
に搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線の上
から順に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地、す
なわち、アンプルの頂上の位置を峻別する行程と；前記
頂上を通る垂直線を中心線とし、前記中心線に対して両
側にそれぞれ所定数のデータのみを取り出し、前記取り
出されたデータから特定されるアンプルの形状があらか
じめ記憶されている許容形状誤差データの範囲に入って
いるか否かを判定する行程と；を具備するアンプルの外
観検査方法。 - 【請求項１３】 所定の軌道に沿って自転しつつ連続的
に搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；所定の走
査線における峻別された２つの画素番地からアンプルの
中心線を決定する行程と；２値化されたデータを各水平
走査線の上から順に判別し、最初に像の部分が現れた画
素番地、すなわち、アンプルの頂上の位置を峻別する行
程と；前記峻別された頂上とあらかじめ記憶されている
許容形状誤差データの頂上とを同じ高さに揃える行程
と；前記決定された中心線とあらかじめ記憶されている
許容形状誤差データの中心線とを同じ位置に揃える行程
と；前記各走査線ごとに２値化されたデータとあらかじ
め記憶されている許容形状誤差データの各走査線ごとの
データとを比較する行程と；前記比較の結果許容形状誤
差データの範囲に入っていない走査線の数を計数し、そ
の数が所定の許容数以下であるか否かを判定する行程
と；を具備するアンプルの外観検査方法。 - 【請求項１４】 所定の軌道に沿って自転しつつ連続的
に搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；下からｎ
＋１番目（ｎは整数）の走査線における最初に像の部分
が現れた画素番地から最後に像の部分であった画素番地
までの画素数から、下からｎ番目の走査線における最初
に像の部分が現れた画素番地から最後に像の部分であっ
た画素番地までの画素数を引き算し、引き算した結果が
連続して何回正又は零になるかを計数し、その回数が所
定数以上であるか否かを判定する行程と；を具備するア
ンプルの外観検査方法。 - 【請求項１５】 所定の軌道に沿って自転しつつ連続的
に搬送される複数のアンプルに背光照明を照射する行程
と；背光照明を照射された複数のアンプルを所定の自転
角度ごとにその像を２次元配列された画素を有するセン
サーにより同時に撮影する行程と；２次元配列された各
画素ごとの撮影データを各アンプルごとに所定の固定ウ
インドーに切取り、各画素ごとのデータを所定のしきい
値に基づいてアンプルの像の部分と背景の部分とに２値
化する行程と；２値化されたデータを各水平走査線ごと
に判別し、最初に像の部分が現れた画素番地及び最後に
像の部分であった画素番地を峻別する行程と；所定の走
査線における峻別された２つの画素番地からアンプルの
中心線を決定する行程と；２値化されたデータを各水平
走査線の上から順に判別し、最初に像の部分が現れた画
素番地、すなわち、アンプルの頂上の位置を峻別する行
程と；前記峻別された頂上とあらかじめ記憶されている
許容形状誤差データの頂上とを同じ高さに揃える行程
と；前記決定された中心線とあらかじめ記憶されている
許容形状誤差データの中心線とを同じ位置に揃える行程
と；前記各走査線ごとに２値化されたデータとあらかじ
め記憶されている許容形状誤差データの各走査線ごとの
データとを比較する行程と；前記比較の結果許容範囲内
に入っていない走査線の数を計数し、その数が所定の許
容数以下であるか否かを判定する行程と；下からｎ＋１
番目（ｎは整数）の走査線における最初に像の部分が現
れた画素番地から最後に像の部分であった画素番地まで
の画素数から、下からｎ番目の走査線における最初に像
の部分が現れた画素番地から最後に像の部分であった画
素番地までの画素数を引き算し、引き算した結果が連続
して何回正又は零になるかを計数し、その回数が所定数
以上であるか否かを判定する行程と；を具備するアンプ
ルの外観検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5221533A JP2825422B2 (ja) | 1993-09-07 | 1993-09-07 | アンプルの外観検査装置及び検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5221533A JP2825422B2 (ja) | 1993-09-07 | 1993-09-07 | アンプルの外観検査装置及び検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0771935A JPH0771935A (ja) | 1995-03-17 |
| JP2825422B2 true JP2825422B2 (ja) | 1998-11-18 |
Family
ID=16768214
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5221533A Expired - Fee Related JP2825422B2 (ja) | 1993-09-07 | 1993-09-07 | アンプルの外観検査装置及び検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2825422B2 (ja) |
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| JP2009216698A (ja) * | 2008-02-07 | 2009-09-24 | Camtek Ltd | 対象物の複数の側面を画像化するための装置および方法 |
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|---|---|---|---|---|
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| JPH01207607A (ja) * | 1988-02-15 | 1989-08-21 | Fuji Electric Co Ltd | 外観検査装置 |
-
1993
- 1993-09-07 JP JP5221533A patent/JP2825422B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0771935A (ja) | 1995-03-17 |
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