JP2820544B2 - 銅又は銅合金の抵抗溶接方法及び抵抗溶接用銅又銅合金製電気・電子部品材料 - Google Patents

銅又は銅合金の抵抗溶接方法及び抵抗溶接用銅又銅合金製電気・電子部品材料

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、電気・電子部
品等の組立てにおける銅又は銅合金の抵抗溶接方法、及
び抵抗溶接用銅又銅合金製電気・電子部品材料に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】銅又は銅合金(銅乃至銅合金)は、一般
に導電性、熱伝導性に優れていることから、電気・電子
部品材料として広く使用されている。電気・電子部品の
組立て工程において、抵抗溶接法がよく用いられてい
る。抵抗溶接法は、被溶接材の接合すべき個所に電流を
流し、その電流による抵抗発熱で接合部の温度を上昇さ
せ、加圧下で溶接を行う方法である。したがって、電気
抵抗の小さい銅又は銅合金は抵抗発熱が少ないため抵抗
溶接性が良好でなく、例えば強度的に問題を有してい
た。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、銅又は銅合
金の特性を劣化させることなく、抵抗溶接性を向上させ
る方法を提供することを目的とする。また、本発明は、
銅又は銅合金の特性が劣化することなく、優れた抵抗溶
接性を有する抵抗溶接用銅又は銅合金製電気・電子部品
材料を提供することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の要旨は、
銅又は銅合金からなる被溶接材の双方にNiめっきを
0.1μm以上1μm未満の厚さに施し、次いで、該銅
又は銅合金からなる被溶接材相互の抵抗溶接を行うこと
を特徴とする銅又は銅合金の抵抗溶接方法に存在する。
【0005】本発明の第2の要旨は、銅又は銅合金から
なる一方の被溶接材にNiめっきを0.1μm以上1μ
m未満の厚さに施し、次いで、該Niめっきを施した被
溶接材と銅又は銅合金からなる裸の被溶接材との抵抗溶
接を行うことを特徴とする銅又は銅合金の抵抗溶接方法
に存在する。
【0006】本発明の第3の要旨は、銅又は銅合金から
なる被溶接材の双方にSnめっきを0.1μm以上1μ
m未満の厚さに施し、次いで、該銅又は銅合金からなる
被溶接材相互の抵抗溶接を行うことを特徴とする銅又は
銅合金の抵抗溶接方法に存在する。
【0007】本発明の第4の要旨は、銅又は銅合金から
なる一方の被溶接材にSnめっきを0.1μm以上1μ
m未満の厚さに施し、次いで、該Snめっきを施した被
溶接材と銅又は銅合金からなる裸の被溶接材との抵抗溶
接を行うことを特徴とする銅又は銅合金の抵抗溶接方法
に存在する。
【0008】本発明の第5の要旨は、銅又は銅合金から
なる一方の被溶接材にNiめっきを0.1μm以上1μ
m未満の厚さに施し、銅又は銅合金からなる他方の被溶
接材にSnめっきを0.1以上1μm未満の厚さに施
し、次いで、該Snめっきを施した被溶接材と該Niめ
っきを施した他方の被溶接材との抵抗溶接を行うことを
特徴とする銅又は銅合金の抵抗溶接方法に存在する。
【0009】本発明の第6の要旨は、Snめっき又はN
iめっきを0.1μm以上1μm未満の厚さに施したこ
とを特徴とする抵抗溶接用銅又銅合金製電気・電子部品
材料に存在する。
【0010】
【作用】本発明者は、前述した従来技術の有する課題を
解決するため、幾多の実験を重ねたところ、銅又は銅合
金にNiめっき又はSnめっきを施することによって、
抵抗溶接性が満足すべきほどに向上することを見い出
し、本発明をなすにいたった。本発明に係るNiめっき
又はSnめっき厚さの限定理由について説明する。
【0011】銅又は銅合金にNiめっき又はSnめっき
を施すと、抵抗溶接性が向上する理由は次にあると推測
される。第1の理由は、抵抗溶接時の瞬間的な加熱によ
る銅又は銅合金酸化が低減することである。第2の理由
は、Ni又はSnの電気抵抗が銅又は銅合金よりも高い
ため、抵抗発熱量が多くなることである。第1の理由に
対しては、Niめっき0.1μm以上施することが必要
である。第2の理由に対しては、Niめっき又はSnめ
っきは厚いほど効果があるが、1μmを越える厚さにめ
っきを施しても効果は飽和するだけでなく、コスト増
加、生産性低下、さらには銅の特徴である導電性の低下
をもきたすので好ましくない。よって銅又は銅合金に施
すNiめっきSnめっき厚さは0.1〜1μmとする。
なお、めっき厚と導電率との関係を次ぎのとおりであ
る。 Snめっき 0 μm 102%IACS 0.1μm 99%IACS 0.5μm 94%IACS 0.8μm 90%IACS 1.2μm 74%IACS Niめっき 0 μm 102%IACS 0.1μm 100%IACS 0.5μm 96%IACS 0.8μm 92%IACS 1.2μm 78%IACS
【0012】
【実施例】表1に示す組成および特性の銅又は銅合金に
ついて抵抗溶接性を試験した。
【0013】
【表1】 試料は各々0.4mm厚さの板に調整した。
【0014】次いで、図1に示すような、5mm幅、5
0mm長さの抵抗溶接試験片を作製した。試験片は、裸
材と、Niめっきを0.1μm、1.0μm、10μ
m、および20μm各々施したもの、Snめっきを0.
1μm、1.0μm、10μm、および20μm各々施
したものを用いた。めっきはいずれも無電解めっき法に
よった。
【0015】抵抗溶接試験条件は、溶接エネルギー20
0W・S、加圧力5kgfとし、電極は8mmφのクロ
ム銅電極を用いた。評価は、抵抗溶接後の試験片を図1
に矢印で示す方向に引張った時の引張せん断強度の比較
によって行った。試験数n=5の平均値を表2、表3、
表4に示す。
【0016】
【表2】
【0017】
【表3】
【0018】
【表4】
【0019】さらに、図2には、Niめっき厚さを変え
たFe,P入り銅の抵抗溶接性を、図3には、Snめっ
き厚さを変えたFe,P入り銅の抵抗溶接性を、引張せ
ん断強度の値で示した。表2〜表4および図2、図3か
ら明らかなように、抵抗溶接する2枚の銅又は銅合金の
どちらか一方または両方にNiめっきまたはSnめっき
を施すことにより抵抗溶接性は飛躍的に向上しているこ
とがわかる。
【0020】また、図2、図3より、10μmを越える
NiめっきまたはSnめっきはほとんど効果が飽和して
いることがわかる。
【0021】なお、本実施例では、めっき方法として無
電解めっき法を用いたが、電解めっき、溶融めっきはも
ちろんのこと、他の被覆方法によっても同様の効果が得
られることは容易に推定される。
【0022】また、被溶接材2枚を種類の違う銅又は銅
合金としても同様の効果が得られることも容易に推定さ
れる。
【0023】
【発明の効果】以上述べたように、本発明による方法
で、従来困難とされていた、銅又は銅合金の抵抗溶接性
が飛躍的に向上すると同時に耐食性も向上するものであ
る。この技術は電気・電子部品の組立て工程の簡略化お
よび電気・電子部品の信頼性向上といった要望に応えら
れるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例における試験片の寸法、抵抗溶接位置、
および試験片の引張方向を示す概念図である。
【図2】実施例におけるNiめっき各厚さのFe,P入
り銅の抵抗溶接性を引張せん断強度の値で示したグラフ
である。
【図3】実施例におけるSnめっき厚さのFe,P入り
銅の抵抗溶接性を引張せん断強度の値で示したグラフで
ある。

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 銅又は銅合金からなる被溶接材の双方に
    Niめっきを0.1μm以上1μm未満の厚さに施し、
    次いで、該銅又は銅合金からなる被溶接材相互の抵抗溶
    接を行うことを特徴とする銅又は銅合金の抵抗溶接方
    法。
  2. 【請求項2】 銅又は銅合金からなる一方の被溶接材に
    Niめっきを0.1μm以上1μm未満の厚さに施し、
    次いで、該Niめっきを施した被溶接材と銅又は銅合金
    からなる裸の被溶接材との抵抗溶接を行うことを特徴と
    する銅又は銅合金の抵抗溶接方法。
  3. 【請求項3】 銅又は銅合金からなる被溶接材の双方に
    Snめっきを0.1μm以上1μm未満の厚さに施し、
    次いで、該銅又は銅合金からなる被溶接材相互の抵抗溶
    接を行うことを特徴とする銅又は銅合金の抵抗溶接方
    法。
  4. 【請求項4】 銅又は銅合金からなる一方の被溶接材に
    Snめっきを0.1μm以上1μm未満の厚さに施し、
    次いで、該Snめっきを施した被溶接材と銅又は銅合金
    からなる裸の被溶接材との抵抗溶接を行うことを特徴と
    する銅又は銅合金の抵抗溶接方法。
  5. 【請求項5】 銅又は銅合金からなる一方の被溶接材に
    Niめっきを0.1μm以上1μm未満の厚さに施し、
    銅又は銅合金からなる他方の被溶接材にSnめっきを
    0.1μm以上1μm未満の厚さに施し、次いで、該S
    nめっきを施した被溶接材と該Niめっきを施した他方
    の被溶接材との抵抗溶接を行うことを特徴とする銅又は
    銅合金の抵抗溶接方法。
  6. 【請求項6】 Snめっき又はNiめっきを0.1μm
    以上1μm未満の厚さに施したことを特徴とする抵抗溶
    接用銅又は銅合金製電気・電子部品材料。
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