JP2813088B2 - 半導体ウエハカセット - Google Patents

半導体ウエハカセット

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JP2813088B2
JP2813088B2 JP35710691A JP35710691A JP2813088B2 JP 2813088 B2 JP2813088 B2 JP 2813088B2 JP 35710691 A JP35710691 A JP 35710691A JP 35710691 A JP35710691 A JP 35710691A JP 2813088 B2 JP2813088 B2 JP 2813088B2
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semiconductor wafer
wafer
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体ウエハカセッ
トに収納される複数枚のウエハのうち、端部のウエハへ
の異物付着の低減対策に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造工程において、半導体
ウエハの整理、保護、およびFA化対応とするためにテ
フロン製などの半導体ウエハカセットが用いられてい
る。この半導体ウエハカセットは、従来図6または図7
のような形態のものである。図において、1はカセット
のU面、2はH面、3は側面、4は整列用ひだ(仕切)
であり、5は中に収納される半導体ウエハ、g,g
はウエハの間隔を示す。
【0003】次に半導体ウエハの搬送方法について説明
する。最初に半導体ウエハ5の表面5aを図6bに示す
方向にし、整列用ひだ4の溝に矢印のようにH面の方か
ら順次U面1の方へ入れていき(順番のない場合は一度
に)、入れ終わると、カセットバサミまたはロボットの
アームなどによって素手でさわらないように処理装置か
ら別の処理装置へ、あるいは装置内を搬送させる。図6
aにおいて、U面1はUの字に溝1aがあいており、こ
のところから中の半導体ウエハ5の表面5aが見えるよ
うになっている。また図6bにおいて、すきまgは約
1cmで他のすきまgより広い。図7のものにおいて
は、U面1が板で覆われているが、半導体ウエハ5上部
が上方にのぞいており、その板と最終枚目のウエハ5A
とのすきまも約1cmほどある(図6bと同様)。なお、
装置外搬送用のこの種の半導体搬送装置は、大体樹脂製
であり、装置内搬送用は、真空高温に耐えるテフロン製
である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の半導体ウエハカ
セットは以上のように構成されているので、最終枚目の
半導体ウエハ5Aを挿入すると、図6aの如く半導体ウ
エハの表面5aが露出するような形態になる。或いは又
図7のように露出していなくとも、U面と最終枚目の半
導体ウエハ5Aとの間が広いために、人体や搬送系など
から発生するほこりや異物などがU面の前面や上部から
半導体ウエハ表面5aに付着し、半導体装置の歩留りを
低下させる原因となるなどの問題点があった。
【0005】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、簡単な構造にてU面の前面や上
部からの異物の付着量が低減される半導体ウエハカセッ
トを得ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明に係る半導体ウ
エハカセットは、U面をウエハの前面にて全体を沿うよ
うに形成され、かつU面と最終枚目(端部)の半導体ウ
エハとの間隔を他のウエハ間隔と同様に狭く設定したも
のである。
【0007】
【作用】この発明における半導体ウエハカセットは、U
面がウエハの前面にて全体を沿うように形成され、かつ
U面と最終枚目の半導体ウエハの間隔を他のウエハ間隔
と同様に狭くすることで、U面の前面、そして上部から
の異物の付着量が低減される。
【0008】
【実施例】実施例1. 以下、この発明の実施例を図について説明する。なお、
従来例と同一又は相当部分は同一符号を付して説明を省
略する。まず図1において、H面2、側面3、整列用ひ
だ4、半導体ウエハ5については従来と同様であるが、
そのU面は最終枚目の半導体ウエハ5Aの前面にて全体
を沿うように金属板7などをステンレスネジ8などで取
付け、かつその板と最終枚目(端部)のウエハ5A間の
間隔gを他のウエハ間隔g (5±1.5mm)と同等
に設定している。このことにより、U面の前面や上部か
ら浮遊してくる異物は、U面と最終枚目の半導体ウエハ
5A間に入りにくくなり、このため最終枚目の半導体ウ
エハ5Aに付着する異物は低減される。なおここで、U
面に用いる金属板7は、装置内搬送用には真空に耐える
Al、SUSなどがよい。また、洗浄などにより腐食が
起こらないように、Alなどでは、耐薬品性、こすれに
よる異物発生を防ぐためにテフロンコートを施してもよ
い。
【0009】実施例2. なお上記実施例では、U面に金属板7などを使用した
が、図2のように、テフロン製などとした場合、本体と
一体成形できるとともに、耐薬品性、耐真空性、耐摩耗
性に強く、かつ金属板7を用いないので軽量化が図れ
る。
【0010】実施例3. また実施例1では、U面に用いた金属板7の厚さが半導
体ウエハ5を覆っている部分では同じであるが、図3の
ように、この金属板7を薄くし(強度的にはSUSがよ
い)、その上部を7aのように折曲げることで、半導体
ウエハ5とU面間をウエハ間隔としてもよい。この場
合、金属板7の上部が半導体ウエハ5の上部を覆ってい
ないが、金属板7を半導体ウハ5上の半導体装置が見え
ず、かつ半導体ウエハ5を検出するセンサーなどに引っ
掛からない高さになるようにすることで、実施例1と同
様の効果が得られる。なおその効果としては、金属板7
の厚さを薄くすることができるため軽量化ができる。
【0011】実施例4. また実施例1では、U面の全体を金属板7で構成した
が、図4のように一部を金属板7としてもよい。
【0012】実施例5. また図5に示すように、U面の一部を金属板7とし、か
つこの金属板7を薄くするとともに、その上部を7aの
ように折り曲げて、半導体ウエハ5とU面間をウエハ間
隔としてもよい。このようにすると、実施例3よりさら
に軽量化が可能となる。なお金属板7はU面とSUSネ
ジなどで固定する。
【0013】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、半導体
ウエハカセットのU面をウエハの前面にて全体に沿うよ
うに形成し、かつこのU面と最終枚目(端部)の半導体
ウエハとの間隔を他のウエハ間隔と同等になるように狭
く構成したので、U面の前方向や上方向からの異物が入
りにくくなり、半導体ウエハ上の異物が低減され、この
ことにより、製品の歩留りを向上させ、かつ小形軽量化
が図れるという優れた作用効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の一実施例による半導体ウエハカセ
ットの斜視図aと平面図bである。
【図2】 この発明の他の実施例を示す斜視図である。
【図3】 この発明の他の実施例を示す斜視図aとその
U面の側面図bである。
【図4】 この発明の他の実施例を示す斜視図aと平面
図bである。
【図5】 この発明の他の実施例を示す斜視図aとその
U面の側面図bである。
【図6】 従来の半導体ウエハカセットを示す斜視図a
と平面図bである。
【図7】 従来の半導体ウエハカセットを示す斜視図で
ある。
【符号の説明】
1 U面、2 H面、3 側面、4 整列用ひだ、5
半導体ウエハ、7 金属板、g,g ウエハ間隔。

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数枚の半導体ウエハを間隔をあけて収
    納する整列用仕切が配設されている半導体ウエハカセッ
    トにおいて、該半導体カセットのU面は、最終枚目の半
    導体ウエハの前面にて全体を沿うように形成されてお
    り、かつこのU面と上記最終枚目(端部)半導体ウエ
    ハとの間隔を他のウエハ間隔と同等に狭く設定したこと
    を特徴とする半導体ウエハカセット。
  2. 【請求項2】 複数枚の半導体ウエハを間隔をあけて収
    納する整列用仕切が配設されている半導体ウエハカセッ
    トにおいて、該半導体ウエハカセットのU面の全体また
    は一部に金属板を用い、この金属板に内側への折曲げ部
    を設けて、この折曲げ部と端部のウエハとの間隔を他の
    ウエハとの間隔と同等に狭く設定したことを特徴とする
    半導体ウエハカセット。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60174239U (ja) * 1984-04-26 1985-11-19 日本電気株式会社 半導体ウエハ用収納治具
JPS63178541A (ja) * 1987-01-20 1988-07-22 Nec Corp ウエ−ハ収納箱
JPH01139435U (ja) * 1988-03-17 1989-09-22
JPH0273649A (ja) * 1988-09-08 1990-03-13 Nec Corp ウェハーキャリア

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