JP2805259B2

JP2805259B2 - 主としてシックプレイス又はシンプレイスにおける糸欠陥検出装置

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Publication number: JP2805259B2
Application number: JP28075591A
Authority: JP
Inventors: 和彦奥田
Original assignee: Individual
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Priority date: 1991-09-30
Filing date: 1991-09-30
Publication date: 1998-09-30
Anticipated expiration: 2013-09-30
Also published as: JPH0598527A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、紡績工程において、例
えば、精紡機から送り出されワインダにより巻取り中の
糸、或いはその他の紡織工程において走行中の糸の欠
陥、特にシックプレイス又はシンプレイスにおける糸の
欠陥を検出して除去するための装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、精紡された糸は、種々の欠陥
を含んでいることが知られている。このため、精紡機か
ら送り出されワインダにより巻取り中の糸、或いはその
他の紡織工程において走行中の糸の欠陥を検出すると共
に、該欠陥個所を切断して除去することが行われてい
る。この欠陥は、糸の太さに関し、糸の繊維本数、断面
積、重量変動、直径、周長等に関するものである（本明
細書において単に「太さ」と総称する）。

【０００３】ところで、一般的に、糸の欠陥を検出して
該欠陥個所を切断除去するに際しては、従来、リファレ
ンス・レングス方式（ＲｅｆｅｒｅｎｃｅＬｅｎｇｔ
ｈ）と、デビエーション方式（Ｄｅｖｉａｔｉｏｎ）の
二つの方法が公知である。

【０００４】前記リファレンス・レングス方式を実施す
るための装置は、図７に示すように、走行移動中の糸Ｔ
の太さを検出するセンサー手段１と、この太さ検出信号
を増幅せしめる増幅回路２と、増幅された太さ検出信号
を所定長さ範囲で糸の長さ方向に移動平均せしめる移動
平均積分回路３と、この移動平均信号の中から所定感度
レベルを越える欠陥指示信号を識別する比較回路４と、
この欠陥指示信号を検知した比較回路４により作動せし
められるカッター駆動回路５と、該カッター駆動回路５
により駆動せしめられる糸のカッター手段６とから成
る。

【０００５】一方、前記デビエーション方式を実施する
ための装置は、図９に示すように、走行移動中の糸Ｔの
太さを検出するセンサー手段７と、この太さ検出信号を
増幅せしめる増幅回路８と、増幅された太さ検出信号の
中から所定感度レベルを越える異常信号を識別する比較
回路９と、この異常信号を糸の長さ方向にカウントして
欠陥の長さを検知するデジタルカウンタ１０と、異常信
号の中から所定長さを越える欠陥指示信号を識別する比
較回路１１と、この欠陥指示信号を検知した比較回路１
１により作動せしめられるカッター駆動回路１２と、該
カッター駆動回路１２により駆動せしめられる糸のカッ
ター手段１３とから成る。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】前記リファレンス・レ
ングス方式においては、糸の欠陥個所を検出するに際し
て、次のような問題がある。即ち、図８に示すように、
糸上において、仮に、太さを＋３００％、長さを１cmと
した欠陥部分Ｄがあり、その前後に糸むらを有する場合
について考察する。問題点を明瞭ならしめるため、欠陥
部分Ｄは太さ及び長さとも同じであるが、その前後にお
ける糸むらの条件を異にする二つの例及びをあげて
説明する。尚、説明を簡単明瞭にするため、欠陥部分及
び糸むら部分は、何れも矩形波で表している。

【０００７】前述の通り、リファレンス・レングス方式
では、糸の太さ検出信号を移動平均積分回路３により所
定長さ範囲で糸の長さ方向に移動平均し、この移動平均
信号が所定感度レベルを越える欠陥指示信号として検知
されたときカッター手段６を駆動して糸を切断し欠陥を
除去することが行われる。そこで、今、長さ設定手段３
ａ及び感度設定手段４ａ（図７）により、設定感度レベ
ルを＋１５０％、設定長さ範囲を２cmとした条件に基づ
き説明する。

【０００８】図８（Ａ）に示す第一の例において、欠
陥部分Ｄの前後における糸むらは、何れもプラス側のも
のである。このため、この糸太さ検出信号を移動平均し
て行くと、図８（Ｂ）に示すような移動平均信号が得ら
れる。そこで、この移動平均信号は、設定感度レベルと
された＋１５０％を越えているため、前記比較回路４に
より欠陥指示信号であると判断され、カッター駆動回路
５を作動し、カッター手段６により糸の切断と共に除去
される。

【０００９】然しながら、第二の例においては、欠陥
部分Ｄの前後における糸むらが、何れもマイナス側のも
のである。そこで、この糸太さ検出信号を移動平均して
行くと、図８（Ｃ）に示すような移動平均信号が得られ
るが、設定感度レベルに達しないため、前記比較回路４
によって欠陥であることを検知し得ない。

【００１０】このように、従来のリファレンス・レング
ス方式では、二つの例において本来ならば同様に欠
陥であると認識されるべき欠陥部分Ｄが、その前後の糸
むらによる影響を受けるため、一方は欠陥として認識さ
れる反面、他方は欠陥として認識されないという重大な
問題がある。

【００１１】一方、前記デビエーション方式において
は、前記リファレンス・レングス方式におけるような糸
むらの影響を受けるという問題はないが、これとは別の
次のような問題がある。尚、図１０において、前記リフ
ァレンス・レングス方式について説明した場合と同様
に、糸上において、太さを＋３００％、長さを１cmとし
た欠陥部分Ｄがあり、その前後に糸むらを有する場合に
ついて考察する。

【００１２】前述の通り、デビエーション方式では、糸
の太さ検出信号の中から所定感度レベルを越える異常信
号を比較回路９により識別し、この異常信号をデジタル
カウンタ１０により糸の長さ方向にカウントし、所定長
さを越える場合に欠陥指示信号であると認識する。

【００１３】そこで、前記リファレンス・レングス方式
の場合と同様に、感度設定手段９ａ及び長さ設定手段１
１ａ（図９）により、設定感度レベルを＋１５０％、設
定長さ範囲を２cmとした同じ条件に基づき説明すると、
図１０（Ａ）の欠陥部分Ｄは、設定感度レベルを越える
ため比較回路９により異常信号であると認識され、図１
０（Ｂ）（Ｃ）のように、デジタルカウンタ１０により
欠陥長さをカウントされ、欠陥長さ１cmとして検知され
る。そこで、この検知信号は、デジタル比較回路１１に
おいて、図１０（Ｄ）のように、設定長さ２cmに至らな
いものと判断され、その結果、カットされることはな
い。

【００１４】然しながら、図示した欠陥部分Ｄは、糸の
規格に対して＋３００％という顕著な欠陥であるため、
本来、これが欠陥として除去されなければならないとこ
ろ、前述のようにデビエーション方式の下では、これが
カットされない場合がある点に問題を有する。

【００１５】この点について、図例のような欠陥部分Ｄ
をカットするためには、長さ設定手段１１ａにより設定
長さを１cmにすれば良いことがわかる。然しながら、こ
のように設定した場合、今度は、長さが１cmに達する欠
陥は、設定感度レベル＋１５０％を越えれば全て欠陥と
判断されるため、糸の切断を極めて頻繁に行うことにな
り、実情にそぐわない結果を招来する。

【００１６】このように、デビエーション方式の場合、
太さの欠陥が顕著である反面において長さが短いもの
等、本来ならば欠陥として除去すべきものをカットする
ことが困難である。そのため、欠陥の特長に応じた複数
チャンネルを設けることにより対応しているのが現状で
ある。

【００１７】ところで、糸の欠陥は、前述のような節状
の欠陥の他に、シックプレイス又はシンプレイスと称さ
れる欠陥が含まれる。即ち、シックプレイス（Ｔｈｉｃ
ｋＰｌａｃｅ）は、太糸欠陥のことであり、糸の太い部
分が顕著に太くはないが、糸の長さ方向に相当に長い範
囲で続くものである。一方、シンプレイス（Ｔｈｉｎ
Ｐｌａｃｅ）は、細糸欠陥のことであり、糸の細い部分
が顕著に細くはないが、糸の長さ方向に相当に長い範囲
で続くものである。このようなシックプレイス及びシン
プレイスは、その太さのみを見る限り欠陥とされない
が、これが相当の長さにわたり続く場合、欠陥と見なけ
ればならない。或いは、シンプレイスとまではいい難い
が、太さが充分でなく、そのため張力に強度不足を生じ
ると推測されるような部分も欠陥と見なければならない
場合がある。

【００１８】前述の通り、従来のリファレンス・レング
ス方式及びデビエーション方式は、何れも糸欠陥検出の
ために幾つかの欠点を有する。即ち、上述の通り、従来
のリファレンス・レングス方式においては、所定長さ
（例えば２cm）の範囲で移動平均をとる方法であるた
め、シックプレイス又はシンプレイスの判定を確実に行
うことができない。また、従来のデビエーション方式に
おいても、太さの増減に関する評価を行わないため、や
はりシックプレイス又はシンプレイスの判定を確実に行
うことができない。即ち、このようなシックプレイス又
はシンプレイスの欠陥を判定するためには、長く続く太
い部分又は細い部分を全体として総合的に評価すること
が必要であるのに対して、従来の両方式では、このよう
な全体的な総合評価ができない点に致命的な欠点があ
る。

【００１９】

【課題を解決するための手段】本発明者は、永年にわた
り種々研究した結果、糸の欠陥、特に、シックプレイス
又はシンプレイスにおける糸欠陥を検出するに際して
は、糸の太い又は細い各むら部分を局部的に判定するの
ではなく、これらの連続するシック部分又はシン部分を
所定長さにわたり全体的に観察し総合的に評価すること
が必要であることを知見し、その結果、本発明を案出す
るに至ったものである。

【００２０】そこで、本発明が第一の手段として構成し
たところは、走行移動中の糸の太さを検出するセンサー
手段と、前記太さ検出信号の中から所定感度レベルを外
れた異常信号を識別し検査信号として取出す取出手段
と、取出された検査信号を複数波形にわたり積算状態で
積分するように各波形を積分後に直ちにリセットするこ
となく一定時間比率で減算する積分処理手段と、前記積
分処理手段により変換された積分信号が所定感度レベル
を外れた欠陥指示信号であるかどうかを識別する欠陥判
別手段と、欠陥判別手段により制御され糸のカッター手
段を駆動せしめるカッター駆動手段とから成る点にあ
る。

【００２１】また、本発明が第二の手段として構成した
ところは、走行移動中の糸の太さを検出するセンサー回
路と、前記太さ検出信号の中から所定感度レベルを外れ
た異常信号を識別する第一の比較回路と、第一の比較回
路により制御され前記異常信号だけを通過せしめるスイ
ッチ回路と、前記異常信号の複数波形にわたり積算状態
で積分するように各波形を積分後に直ちにリセットする
ことなく一定時間比率で減算する完全積分回路と、前記
完全積分回路により変換された積分信号が所定感度レベ
ルを外れた欠陥指示信号であるかどうかを判定する第二
の比較回路と、第二の比較回路により制御され糸のカッ
ター手段を駆動せしめる駆動回路とから成る点にある。

【００２２】また、本発明が第三の手段として構成した
ところは、走行移動中の糸の太さを検出するセンサー回
路と、前記太さ検出信号を所定感度レベルでクリップす
るクリップ回路と、前記クリップ信号を複数波形にわた
り積算状態で積分するように各波形を積分後に直ちにリ
セットすることなく一定時間比率で減算する完全積分回
路と、前記完全積分回路により変換された積分信号が所
定感度レベルを外れた欠陥指示信号であるかどうかを判
定する第二の比較回路と、第二の比較回路により制御さ
れ糸のカッター手段を駆動せしめる駆動回路とから成る
点にある。

【００２３】更に、本発明が第四の手段として構成した
ところは、走行移動中の糸の太さを検出するセンサー回
路と、前記太さ検出信号の中から所定感度レベルを外れ
た異常信号を識別する第一の比較回路と、第一の比較回
路が異常信号を検知したとき作動するタイマーと、前記
タイマーが作動中に前記異常信号を含む太さ検出信号を
検査信号として通過せしめるスイッチ回路と、前記検査
信号を複数波形にわたって積算状態で完全積分された積
分信号に変換する完全積分回路と、前記タイマーの停止
に連動して前記積分信号から得られる最終積分値を記憶
する積分値記憶回路と、記憶された積分値が所定感度レ
ベルを外れた欠陥指示信号であるかどうかを判定する第
二の比較回路と、第二の比較回路により制御され糸のカ
ッター手段を駆動せしめる駆動回路とから成る点にあ
る。

【００２４】尚、前記第四の手段において、第二の比較
回路が、シックプレイスを判定する大比較回路と、不充
分な太さの部分及び／又はシンプレイスを判定する小比
較回路とを構成しておけば、これによりシックプレイス
と不充分な太さの部分及び／又はシンプレイスを同時に
判定することが可能になる。

【００２５】

【実施例】以下図面に基づいて本発明の実施例を詳述す
る。

【００２６】（第１実施例）本発明の第１実施例を図１
及び図２に示している。

【００２７】図１に示すように、本発明の第１実施例
は、走行移動中の糸Ｔの太さを検出するセンサー回路１
４と、この太さ検出信号を増幅せしめる増幅回路１５
と、増幅された太さ検出信号の中から所定感度レベルを
越える異常信号を識別する第一の比較回路１６と、第一
の比較回路１６により制御されると共に、前記太さ検出
信号の中から異常信号だけを複数波形の検査信号として
通過せしめるスイッチ回路１７と、前記スイッチ回路１
７を経た検査信号を糸の所定長さ範囲で糸の長さ方向に
対して、複数波形にわたって積算状態で完全積分する完
全積分回路１８と、前記完全積分された積分値が所定感
度レベルを外れた欠陥指示信号であるかどうかを判定す
る第二の比較回路２０と、この欠陥指示信号を検知した
第二の比較回路２０により作動せしめられるカッター駆
動回路２１と、このカッター駆動回路２１により駆動せ
しめられ糸から欠陥部分を除去するために糸を切断する
カッター手段２２とから成る。

【００２８】前記第一の比較回路１６には、異常信号識
別のための感度を調整し設定するための感度設定手段１
６ａが付設されている。また、前記積分回路１８には、
後述するように検査信号として入力された異常信号の各
波形を積分した後に瞬時にリセットすることなく一定時
間比率で減算して行くための手段を備え、好ましくは、
このような減算時間比率を調整設定できる減算時間比率
設定手段１８ａを付設している。更に、前記第二の比較
回路２０には、カット感度レベルを設定するためのカッ
ト感度設定手段２０ａが付設されている。

【００２９】この第１実施例に基づく作用を図２に示し
ている。図２（Ａ）は、センサー回路１４により検出さ
れた太さ検出信号を示しており、シックプレイスを現し
ている。このシックプレイスを、例えば、設定感度＋３
０％で検知すると、第一の太い欠陥Ｄ１と、第二の太い
欠陥Ｄ２と、第三の太い欠陥Ｄ３の三つの太い欠陥部分
を有することになる。然しながら、このような糸の欠陥
は、現実に人間の肉眼で目視した場合、全体として長い
一個の欠陥に見えるものである。尚、説明の便宜上、信
号は矩形波で表している（以下の実施例においても同様
である）。

【００３０】そこで、図例の場合、第一の比較回路１６
の感度レベルは、＋３０％に設定されており、この感度
レベル以上の信号を異常信号として識別する。従って、
第一の比較回路１６が前記第一ないし第三の太い欠陥Ｄ
１ないしＤ３のそれぞれを検知すると、その度にスイッ
チ回路１７をＯＮ−ＯＦＦし、その結果、スイッチ回路
１７を通過して完全積分回路１８に入力される検査信号
（スイッチ回路通過信号）は、図２（Ｂ）の通りとな
る。

【００３１】前記検査信号を完全積分回路１８において
積分するに際し、各波形を個別に積分すると図２（Ｃ）
の破線に示すような結果となる。即ち、図例の場合、第
一ないし第三の太い欠陥Ｄ１ないしＤ３を各別に積分す
ると、単に三個の欠陥を個別に三回積分しただけのこと
に終わり、シックプレイスの欠陥を判定できないことに
なる。

【００３２】これに対して、本発明における完全積分回
路１８は、スイッチ回路１７（取出手段）から入力され
た検査信号のうちの複数波形を積算状態で積分すること
に特徴がある。従って、この第１実施例の場合、図２
（Ｂ）に示すような三つの波形Ｄ１ないしＤ３を有する
検査信号に関して、完全積分回路１８は、先ず第一の波
形Ｄ１を積分するが、積分終了後に瞬時にはリセットせ
ず、一定の時間比率で減算して行き、その減算中に第二
の波形Ｄ２が来ると、その減算中の値から再び積分を行
い、以後、第三の波形Ｄ３についても同様の積分を行う
ので、図例のような三つの波形Ｄ１ないしＤ３を、図２
（Ｃ）の実線に示すような積算された連続的な一つの積
分信号に変換することになる。

【００３３】而して、前述のように変換された図２
（Ｃ）の積分信号は、好ましくは、常時最終積分値を積
分記憶回路１９に記憶せしめ、その最終積分値を第二の
比較回路２０により判定される。図例の場合、連続的に
積算された最終積分値は、カット感度を越えるため、欠
陥指示信号であると評価される。即ち、欠陥のあるシッ
クプレイスであると判断されカットされる。

【００３４】尚、完全積分回路１８は、前記第三の波形
Ｄ３を積分終了した後は、同様に一定時間比率で減算し
て行き、次の異常信号が入力されなければレベル±０ま
で減算される。

【００３５】因みに、上記においては、欠陥部分がプラ
ス側に位置するシックプレイスについてのみ説明した
が、マイナス側に位置するシンプレイスの欠陥評価につ
いても同様に適用できることを了解されたい。

【００３６】（第２実施例）本発明の第２実施例を図３
及び図４に示している。

【００３７】図３に示すように、本発明の第２実施例
は、上記第１実施例と基本的に同様の構成であり、同様
の構成部分は同じ符号で示しているが、次の点で異な
る。即ち、上記第１実施例が第一の比較回路及びスイッ
チ回路により検査信号の取出手段を構成したのに対し
て、第２実施例では、これに代えてクリップ回路２３を
設け、このクリップ回路２３により検査信号の取出手段
を構成している。尚、クリップ回路２３には、クリップ
感度設定手段２３ａが付設されている。

【００３８】この第２実施例に基づく作用を図４に示し
ている。図４（Ａ）は、センサー回路１４により検出さ
れた太さ検出信号であり、シックプレイスを現してい
る。理解を容易ならしめるため、このシックプレイス
は、第１実施例について説明した図２（Ａ）と全く同様
の、第一の太い欠陥Ｄ１と、第二の太い欠陥Ｄ２と、第
三の太い欠陥Ｄ３の三つの太い欠陥部分を有している。

【００３９】そこで、図例の場合、クリップ回路２３の
クリップ感度レベルは、＋３０％に設定されており、こ
の感度レベル以上の信号を異常信号としてクリップす
る。従って、クリップされた信号は、図４（Ｂ）の通り
となる。

【００４０】前記クリップされた信号を検査信号として
完全積分回路１８において積分するに際し、各波形を個
別に積分すると図４（Ｃ）の破線に示すような結果とな
り、シックプレイスの欠陥を判定できないことになる。
これに対して、本発明における完全積分回路１８は、第
１実施例に基づき上述した通り、検査信号のうちの複数
波形を積算状態で積分することに特徴があり、一つの波
形の積分が終了しても一定時間比率で減算して行くた
め、図例のような三つの波形Ｄ１ないしＤ３を、図４
（Ｃ）の実線に示すような積算された連続的な一つの積
分信号に変換する。その結果、連続的に積算された最終
積分値がカット感度を越えるため、欠陥指示信号である
と評価され、欠陥状態のシックプレイスと判断されカッ
トされる。

【００４１】尚、図例では、欠陥部分がプラス側に位置
するシックプレイスについてのみ説明したが、マイナス
側に位置するシンプレイスの欠陥評価についても同様に
適用できることを了解されたい。

【００４２】（第３実施例）本発明の第３実施例を図５
及び図６に示している。尚、図５において、上記第１実
施例と共通する構成部分は、同じ符号を付している。

【００４３】図５に示すように、本発明の第３実施例
は、走行移動中の糸Ｔの太さを検出するセンサー回路１
４と、この太さ検出信号を増幅せしめる増幅回路１５
と、増幅された太さ検出信号の中から所定感度レベルを
越える異常信号を識別する第一の比較回路１６と、第一
の比較回路１６が異常信号を検知したとき作動するタイ
マー２４と、前記タイマー２４が作動中に前記異常信号
を含む太さ検出信号を糸の所定長さにわたり検査信号と
して通過せしめるスイッチ回路１７と、前記スイッチ回
路１７を経た検査信号を糸の所定長さ範囲で糸の長さ方
向に対して、複数波形にわたって積算状態で完全積分す
る完全積分回路１８と、前記タイマー２４がＯＦＦした
ときに連動して前記完全積分された積分値を記憶する記
憶回路１９と、前記記憶された積分値が所定感度レベル
を外れた欠陥指示信号であるかどうかを判定する第二の
比較回路２０と、この欠陥指示信号を検知した第二の比
較回路２０により作動せしめられるカッター駆動回路２
１と、このカッター駆動回路２１により駆動せしめられ
糸から欠陥部分を除去するために糸を切断するカッター
手段２２とから成る。

【００４４】前記第二の比較回路２０は、所望の太さよ
りも太い部分（シックプレイスの場合と、シックプレイ
スとはいい難いが所望の太さよりも太い場合を含む）を
判定するための大比較回路２５と、所望の太さよりも細
い部分（シンプレイスの場合と、シンプレイスとはいい
難いが所望の太さよりも細い場合を含む）を判定するた
めの小比較回路２６とから構成されている。

【００４５】前記第一の比較回路１６には、タイマーの
トリガー感度レベルを設定するためのトリガー感度設定
手段１６ａが付設されている。また、前記タイマー２４
には、タイマー設定手段２４ａが付設されており、この
タイマー設定手段２４ａは、タイマーの時間を設定する
ものとしても良いが、走行移動中の糸の長さを設定する
ものとしても良い。更に、前記第二の比較回路２０を構
成する大比較回路２５及び小比較回路２６には、それぞ
れカット感度レベルを設定するためのカット感度設定手
段２５ａ、２６ａが付設されている。

【００４６】この第３実施例に基づく作用を図６に示し
ている。図６（Ａ）は、説明の便宜上、センサー回路１
４により検出された二つの太さ検出信号を並記してい
る。即ち、図６（Ａ）の上側に示す原信号Ｓ１は、シッ
クプレイスに類似する欠陥であり、二つの山部分Ｄ１及
びＤ３と、両山間の中高部分Ｄ２とを表している。一
方、図６（Ａ）の下側に示す原信号Ｓ２は、二つの山部
分Ｄ１ａ及びＤ３ａと、両山間の谷部分Ｄ２ａとを表し
ている。この谷部分Ｄ２ａは、当該糸の所望の太さより
も細い部分を示している。

【００４７】そこで、図例の場合、第一の比較回路１６
は、感度レベルを＋１００％に設定され、原信号Ｓ１に
ついては第一の山部分Ｄ１を検知し、原信号Ｓ２につい
ては第一の山部分Ｄ１ａを検知すると、タイマー２４を
トリガーする。図例の場合、タイマー２４は、糸長に換
算して３cm相当の時間だけＯＮするように設定されてお
り、原信号Ｓ１、原信号Ｓ２の何れも、前記３cmに相当
する長さにわたりスイッチ回路１７を通過せしめらる。
その結果、図６（Ｂ）に示すように、原信号Ｓ１の場
合、太さ検出信号のうちから、一対の山部分Ｄ１及びＤ
３並びに両山間の中高部分Ｄ２を含む検査信号だけが完
全積分回路１８に入力される。また、原信号Ｓ２の場
合、太さ検出信号のうち、一対の山部分Ｄ１ａ及びＤ３
ａ並びに両山間の谷部分Ｄ２ａを含む検査信号だけが完
全積分回路１８に入力される。

【００４８】完全積分回路１８は、前記入力された検査
信号を複数波形にわたって積算状態で完全積分された積
分信号に変換する。即ち、前記原信号Ｓ１から取出され
た検査信号と、前記原信号Ｓ２から取出された検査信号
は、図６（Ｃ）に示すような積分信号に変換される。こ
の変換された積分信号の最終積分値は、前記タイマー２
４のＯＦＦのタイミングで積分値記憶回路１９に記憶さ
れる。

【００４９】而して、積分値記憶回路１９に記憶された
最終積分値は、ハイレベルのカット感度（ａ）とローレ
ベルのカット感度（ｂ）を設定された大比較回路２５及
び小比較回路２６により判定され、図６（Ｃ）に示すよ
うに、ハイレベルの感度Ｈを上回る場合、又はローレベ
ルの感度Ｌを下回る場合に、欠陥指示信号であると判定
されカットされる。即ち、前記原信号Ｓ１の積分信号値
は、ハイレベルの感度Ｈを上回るものとしてカットの対
象とされ、前記原信号Ｓ２の積分信号値は、ローレベル
の感度Ｌを下回るものとしてカットの対象とされる。
尚、最終積分値がハイレベルの感度Ｈとローレベルの感
度Ｌの間に位置する場合は、正常（欠陥なし）と判定
し、カットしない。

【００５０】このように、この第３実施例によれば、原
信号Ｓ１は、所望の太さよりも太い部分であると判定
し、また、原信号Ｓ２は、所望の太さよりも細い部分で
あると判定し、何れの場合も、欠陥部分を全体として総
合的に評価し、適切にカットすることができる。

【００５１】ところで、この第３実施例に基づく本発明
は、上述したようなシックプレイス又はシンプレイス或
いはこれらに類似する欠陥の判定の他、糸の接合部分の
欠陥判定のためにも効果的に適用できる。即ち、切断さ
れた糸は、切断端において糸の撚りを解き、対向せしめ
られると共に継ぎ合わせることによりスプライスされ、
該スプライス部分に撚りをかけることにより接合され
る。従って、このスプライス部分は、必然的に糸上に節
を形成する。そこで、このスプライス部分が許容できる
程度の節であるかどうか、即ち、許容できない節状の欠
陥であればそれを検出し、糸を切断して該欠陥部分を除
去し、再度スプライスすることにより改めて接合部分を
形成することが行われている。然しながら、このスプラ
イス部分の欠陥を判定するに際しては、前述したシック
プレイス又はシンプレイスの場合と同様に、評価すべき
糸の部分全体を複数波形にわたり積算状態で積分するこ
とが有利である。換言すれば、一般的に、スプライス部
分は、スプライスされた部分が全体にわたり糸径を太く
せしめられるが、両端部分において顕著に太い節を有す
る。そこで、両端に位置する太い節を含んで全体が過度
に太径で長く続くものである場合には、前述したシック
プレイスと同様に、これを欠陥とみなす必要がある反
面、二つの節にわたるスプライス部分の全体が総合的に
細径に過ぎる場合にも、これを欠陥とみなす必要があ
る。蓋し、後者のように、スプライス部分が全体的に見
て所望の径よりも細い場合は、スプライスが良好でな
く、接合部分が充分に張力を有しないと判断できるから
である。この点について、前述の第３実施例によれば、
図６における原信号Ｓ１のような全体として太過ぎるス
プライス部分と、原信号Ｓ２のような全体として細過ぎ
るスプライス部分を検出して欠陥と判断することができ
る。

【００５２】

【発明の効果】本発明によれば、取出された検査信号
を、各波形を個別に評価することなく、複数波形にわた
り積算状態で積分することにより、全体として総合的に
評価するものであるから、シックプレイス又はシンプレ
イスのような所定長さで続く全体的に太い又は細い糸上
の欠陥を適切に判定できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施例を示すブロック図である。

【図２】本発明の第１実施例の作用を示す信号の波形図
であり、（Ａ）は太さ検出信号の波形図、（Ｂ）はスイ
ッチ回路により太さ検出信号から抽出された検査信号の
波形図、（Ｃ）は検査信号を複数波形にわたり完全積分
した積分信号の波形図である。

【図３】本発明の第２実施例を示すブロック図である。

【図４】本発明の第２実施例の作用を示す信号の波形図
であり、（Ａ）は太さ検出信号の波形図、（Ｂ）はクリ
ップ回路により太さ検出信号からクリップされた検査信
号の波形図、（Ｃ）は検査信号を複数波形にわたり完全
積分した積分信号の波形図である。

【図５】本発明の第３実施例を示すブロック図である。

【図６】本発明の第３実施例の作用を示す信号の波形図
であり、シックプレイスとシンプレイスを示す二つの波
形を並記して示しており、（Ａ）は二つの太さ検出信号
の波形図、（Ｂ）はタイマーにより制御されるスイッチ
回路により太さ検出信号から抽出された二つの検査信号
を示す波形図、（Ｃ）は複数波形にわたり完全積分され
た二つの積分信号の波形図である。

【図７】従来のリファレンス・レングス方式に基づく装
置を示すブロック図である。

【図８】リファレンス・レングス方式の作用を示す波形
図であり、（Ａ）は欠陥部分の前後に異なる糸むら状態
を有する二つの太さ検出信号を示す波形図、（Ｂ）は一
方の太さ検出信号を移動平均した平均信号の波形図、
（Ｃ）は他方の太さ検出信号を移動平均した平均信号の
波形図である。

【図９】従来のデビエーション方式に基づく装置を示す
ブロック図である。

【図１０】デビエーション方式の作用を示す波形図であ
り、（Ａ）は欠陥部分の前後に異なる糸むら状態を有す
る二つの太さ検出信号を示す波形図、（Ｂ）はスイッチ
回路により太さ検出信号から抽出された異常信号の波形
図、（Ｃ）は異常信号のカウントを示す説明図、（Ｄ）
はデジタル比較回路により判断される欠陥信号の波形図
である。

【符号の説明】

１４センサー回路１６第一の比較回路１７スイッチ回路（取出手段）１８完全積分回路（積分処理手段）１９積分値記憶回路２０第二の比較回路（欠陥判別手段）２１カッター駆動回路２２カッター手段２３クリップ回路２４タイマー２５大比較回路２６小比較回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) D01H 13/22 D01H 13/16 D01H 13/32

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】走行移動中の糸の太さを検出するセンサ
ー手段と、前記太さ検出信号の中から所定感度レベルを
外れた異常信号を識別し検査信号として取出す取出手段
と、取出された検査信号を複数波形にわたり積算状態で
積分するように各波形を積分後に直ちにリセットするこ
となく一定時間比率で減算する積分処理手段と、前記積
分処理手段により変換された積分信号が所定感度レベル
を外れた欠陥指示信号であるかどうかを識別する欠陥判
別手段と、欠陥判別手段により制御され糸のカッター手
段を駆動せしめるカッター駆動手段とから成ることを特
徴とする主としてシックプレイス又はシンプレイスにお
ける糸欠陥検出装置。
【請求項２】走行移動中の糸の太さを検出するセンサ
ー回路と、前記太さ検出信号の中から所定感度レベルを
外れた異常信号を識別する第一の比較回路と、第一の比
較回路により制御され前記異常信号だけを通過せしめる
スイッチ回路と、前記異常信号の複数波形にわたり積算
状態で積分するように各波形を積分後に直ちにリセット
することなく一定時間比率で減算する完全積分回路と、
前記完全積分回路により変換された積分信号が所定感度
レベルを外れた欠陥指示信号であるかどうかを判定する
第二の比較回路と、第二の比較回路により制御され糸の
カッター手段を駆動せしめる駆動回路とから成ることを
特徴とする主としてシックプレイス又はシンプレイスに
おける糸欠陥検出装置。
【請求項３】走行移動中の糸の太さを検出するセンサ
ー回路と、前記太さ検出信号を所定感度レベルでクリッ
プするクリップ回路と、前記クリップ信号を複数波形に
わたり積算状態で積分するように各波形を積分後に直ち
にリセットすることなく一定時間比率で減算する完全積
分回路と、前記完全積分回路により変換された積分信号
が所定感度レベルを外れた欠陥指示信号であるかどうか
を判定する第二の比較回路と、第二の比較回路により制
御され糸のカッター手段を駆動せしめる駆動回路とから
成ることを特徴とする主としてシックプレイス又はシン
プレイスにおける糸欠陥検出装置。
【請求項４】走行移動中の糸の太さを検出するセンサ
ー回路と、前記太さ検出信号の中から所定感度レベルを
外れた異常信号を識別する第一の比較回路と、第一の比
較回路が異常信号を検知したとき作動するタイマーと、
前記タイマーが作動中に前記異常信号を含む太さ検出信
号を検査信号として通過せしめるスイッチ回路と、前記
検査信号を複数波形にわたって積算状態で完全積分され
た積分信号に変換する完全積分回路と、前記タイマーの
停止に連動して前記積分信号から得られる最終積分値を
記憶する積分値記憶回路と、記憶された積分値が所定感
度レベルを外れた欠陥指示信号であるかどうかを判定す
る第二の比較回路と、第二の比較回路により制御され糸
のカッター手段を駆動せしめる駆動回路とから成ること
を特徴とする主としてシックプレイス又はシンプレイス
における糸欠陥検出装置。
【請求項５】第二の比較回路が、シックプレイスを判
定する大比較回路と、不充分な太さ部分及び／又はシン
プレイスを判定する小比較回路とから構成されて成るこ
とを特徴とする請求項４に記載の主としてシックプレイ
ス又はシンプレイスにおける糸欠陥検出装置。