JP2800580B2 - 可視赤外放射計用全口径校正システム - Google Patents
可視赤外放射計用全口径校正システムInfo
- Publication number
- JP2800580B2 JP2800580B2 JP4225448A JP22544892A JP2800580B2 JP 2800580 B2 JP2800580 B2 JP 2800580B2 JP 4225448 A JP4225448 A JP 4225448A JP 22544892 A JP22544892 A JP 22544892A JP 2800580 B2 JP2800580 B2 JP 2800580B2
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- Japan
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- light
- calibration
- visible
- mirror
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- Expired - Lifetime
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は可視赤外放射計用全口径
校正システムに関し、特に人工衛星等の宇宙航行体に搭
載し、地球などを対象として光学的なパッシブの対物走
査面を行ない、可視及び赤外の放射量を測定光として得
る可視赤外放射計の光学的校正を、受光光学系の全口径
にわたって行なうことを可能とした可視赤外放射計用全
口径校正システムに関する。
校正システムに関し、特に人工衛星等の宇宙航行体に搭
載し、地球などを対象として光学的なパッシブの対物走
査面を行ない、可視及び赤外の放射量を測定光として得
る可視赤外放射計の光学的校正を、受光光学系の全口径
にわたって行なうことを可能とした可視赤外放射計用全
口径校正システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の可視域の放射計の校正では、放射
計の受光光学系の口径の一部分に校正光を放射して行っ
ていた。
計の受光光学系の口径の一部分に校正光を放射して行っ
ていた。
【０００３】また受光系の全口径にわたる校正を行なう
場合は、平板黒体を用いるため赤外域の校正に限定され
ていた。
場合は、平板黒体を用いるため赤外域の校正に限定され
ていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の校正方
式には以下のような欠点がある。
式には以下のような欠点がある。
【０００５】（１）可視域では、受光光学系のある一部
分にしか校正光を放射できないため、受光光学系の局所
的な透過率の劣化等が発生した場合にその校正ができな
い。
分にしか校正光を放射できないため、受光光学系の局所
的な透過率の劣化等が発生した場合にその校正ができな
い。
【０００６】（２）可視域で受光光学系の全口径にわた
る校正を行なうおうとすると、赤外用とは別に配置する
ことが必要なため、寸法が大きくなり実用的でないとい
う欠点がある。
る校正を行なうおうとすると、赤外用とは別に配置する
ことが必要なため、寸法が大きくなり実用的でないとい
う欠点がある。
【０００７】本発明の目的は上述した欠点を除去し、受
光光学系の全口径にわたる光学的校正を著しく容易にし
た可視赤外放射計用全口径校正システムを提供すること
にある。
光光学系の全口径にわたる光学的校正を著しく容易にし
た可視赤外放射計用全口径校正システムを提供すること
にある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の可視赤外放射計
用全口径校正システムは、宇宙航行体をプラットホーム
として搭載し、地球などの走査対象を光学的にパッシブ
走査して可視および赤外の測定光を取得する可視赤外放
射計の受光系を校正光によって校正する校正システムに
おいて、前記測定光を対物面走査により取得する平面鏡
構成の回転走査鏡に対して複数の校正光を平行光として
投光する曲面鏡構成のコリメートミラーとしての反射鏡
と、前記反射鏡の焦点位置に配置し前記反射鏡に対して
複数の光源光を投光し前記複数の校正光を反射出光せし
める光源部とを備え、前記可視赤外放射計の受光系の全
口径にわたる光学的校正を前記回転走査鏡の一回転で行
なうことを可能とした構成を有する。
用全口径校正システムは、宇宙航行体をプラットホーム
として搭載し、地球などの走査対象を光学的にパッシブ
走査して可視および赤外の測定光を取得する可視赤外放
射計の受光系を校正光によって校正する校正システムに
おいて、前記測定光を対物面走査により取得する平面鏡
構成の回転走査鏡に対して複数の校正光を平行光として
投光する曲面鏡構成のコリメートミラーとしての反射鏡
と、前記反射鏡の焦点位置に配置し前記反射鏡に対して
複数の光源光を投光し前記複数の校正光を反射出光せし
める光源部とを備え、前記可視赤外放射計の受光系の全
口径にわたる光学的校正を前記回転走査鏡の一回転で行
なうことを可能とした構成を有する。
【０００９】また本発明の可視赤外放射計用全口径校正
システムは、前記複数の光源光が、可視から赤外までの
各種の波長領域を混在させたものとした構成を有する。
システムは、前記複数の光源光が、可視から赤外までの
各種の波長領域を混在させたものとした構成を有する。
【００１０】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【００１１】図１は本発明の一実施例の構成を示す平面
図である。図１に示す実施例は、平面鏡として構成さ
れ、回転軸１０１を中心として３６０度回転する回転走
査鏡１と、光源光を受け、その反射光を平行光として送
光するコリメートミラーとしての反射鏡２と、複数の光
源を有する光源部４と、回転走査鏡１によって反射され
る測定光１０２もしくは反射鏡２によって反射される校
正光１０３を受光する受光光学系を有する放射計光学部
３とを備えた構成を有する。
図である。図１に示す実施例は、平面鏡として構成さ
れ、回転軸１０１を中心として３６０度回転する回転走
査鏡１と、光源光を受け、その反射光を平行光として送
光するコリメートミラーとしての反射鏡２と、複数の光
源を有する光源部４と、回転走査鏡１によって反射され
る測定光１０２もしくは反射鏡２によって反射される校
正光１０３を受光する受光光学系を有する放射計光学部
３とを備えた構成を有する。
【００１２】次に、本実施例の動作について説明する。
【００１３】図１に示すように、測定光１０２は、回転
走査鏡１の波線表示位置で反射され放射計光学部４で測
定される。
走査鏡１の波線表示位置で反射され放射計光学部４で測
定される。
【００１４】一方回転走査鏡１を回転軸１０１の回りに
回転させることにより、光源部４による校正光１０３が
反射鏡２で収束され、実線で示す回転走査鏡１を介して
放射計光学部４に投光される。
回転させることにより、光源部４による校正光１０３が
反射鏡２で収束され、実線で示す回転走査鏡１を介して
放射計光学部４に投光される。
【００１５】コリメートミラーである反射鏡の焦点位置
に光源部５を配置することにより、放射計の受光光学系
の全口径をカバーする光束をもつ平行光が得られる。
に光源部５を配置することにより、放射計の受光光学系
の全口径をカバーする光束をもつ平行光が得られる。
【００１６】反射鏡２は銀、アルミ製の曲面鏡を使用
し、可視から赤外まで高い反射率が確保されるようにし
ている。
し、可視から赤外まで高い反射率が確保されるようにし
ている。
【００１７】光源部４からは、３種類の波長領域の光源
光１０４が反射鏡２に投光され、それぞれ平行光として
の３つの校正光（１）ａ，校正光（２）ｂ，校正光
（３）ｃを含む校正光１０３が反射鏡２から出光する。
光１０４が反射鏡２に投光され、それぞれ平行光として
の３つの校正光（１）ａ，校正光（２）ｂ，校正光
（３）ｃを含む校正光１０３が反射鏡２から出光する。
【００１８】図２は、図１の測定光及び校正光の入射状
況を示す平面図である本実施例では、校正光１０３は互
いに波長領域の異る３種類の校正光（１）ａ，校正光
（２）ｂおよび校正光（３）ｃを利用し、それぞれ反射
鏡２によって異る方向から回転走査鏡２に投光され、反
射して放射計光学部３の受光光学系の受光面に達する
が、このときその全口径をカバーする立体角で受光され
るように設定されている。
況を示す平面図である本実施例では、校正光１０３は互
いに波長領域の異る３種類の校正光（１）ａ，校正光
（２）ｂおよび校正光（３）ｃを利用し、それぞれ反射
鏡２によって異る方向から回転走査鏡２に投光され、反
射して放射計光学部３の受光光学系の受光面に達する
が、このときその全口径をカバーする立体角で受光され
るように設定されている。
【００１９】また、対物面走査による測定光１０２も、
回転する走査鏡２によって反射され放射計光学部３に受
光される。
回転する走査鏡２によって反射され放射計光学部３に受
光される。
【００２０】このようにして、回転走査鏡１を回転軸１
０１の回りに回転させることにより平面上の任意の方向
からの光を放射計光学部３に導くことが出来る。また測
定光１０２も回転走査鏡２を回転させることにより、ほ
ぼ９０度程度の広い範囲から取得することができる。
０１の回りに回転させることにより平面上の任意の方向
からの光を放射計光学部３に導くことが出来る。また測
定光１０２も回転走査鏡２を回転させることにより、ほ
ぼ９０度程度の広い範囲から取得することができる。
【００２１】測定光１０２もほぼ平行光に近いが画角を
もつため、回転走査鏡１の回転角を微小量変化させ放射
計光学部４に導く。
もつため、回転走査鏡１の回転角を微小量変化させ放射
計光学部４に導く。
【００２２】図３は、図１の光源部４の構成を示す平面
図で、反射鏡２を併記して示す。
図で、反射鏡２を併記して示す。
【００２３】図３に示す如く、校正光（１）光源５、校
正光（２）光源６および校正光（３）光源７を用する光
源部４を反射鏡の焦点位置に配置すれば、回転走査鏡１
の回転角を変えることにより複数の光源からの校正光を
一枚の反射鏡２を使って放射計光学部３に照射すること
が可能となる。
正光（２）光源６および校正光（３）光源７を用する光
源部４を反射鏡の焦点位置に配置すれば、回転走査鏡１
の回転角を変えることにより複数の光源からの校正光を
一枚の反射鏡２を使って放射計光学部３に照射すること
が可能となる。
【００２４】校正光（１）光源５，（２）光源６，
（３）光源７には可視域の光源としてハロゲンランプ、
水銀ランプ等の各種光源を、また赤外用の光源としては
空洞黒体等を配置することができる。配置の順は問わな
い。
（３）光源７には可視域の光源としてハロゲンランプ、
水銀ランプ等の各種光源を、また赤外用の光源としては
空洞黒体等を配置することができる。配置の順は問わな
い。
【００２５】このようにして、走査鏡を一回転する間
に、測定光ｄ，校正光（１）ａ，校正光（２）ｂ，校正
光（３）ｃを放射計光学部３にとりいれる。
に、測定光ｄ，校正光（１）ａ，校正光（２）ｂ，校正
光（３）ｃを放射計光学部３にとりいれる。
【００２６】校正光は、光量の校正を行うものであり、
幾何学的な校正を行うものではない。よって多少の収差
は許容され、校正光の画角は広くとることができる。つ
まり焦点位置としてある程度の大きさをとることがで
き、各種光源が配置できる。
幾何学的な校正を行うものではない。よって多少の収差
は許容され、校正光の画角は広くとることができる。つ
まり焦点位置としてある程度の大きさをとることがで
き、各種光源が配置できる。
【００２７】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、回転走査
鏡を有して対物面走査を行なう可視赤外放射計におい
て、反射光を回転走査鏡に投光する曲面構成の反射鏡
（コリメートミラー）と、この反射鏡に複数の校正光を
投光する複数の光源を設置することにより、可視赤外放
射計の受光光学系の全口径にわたる光学的校正を、各種
光源を用いて走査鏡を一回転させる間に測定を含み行な
うことができ、校正精度を著しく向上させることができ
る効果がある。
鏡を有して対物面走査を行なう可視赤外放射計におい
て、反射光を回転走査鏡に投光する曲面構成の反射鏡
（コリメートミラー）と、この反射鏡に複数の校正光を
投光する複数の光源を設置することにより、可視赤外放
射計の受光光学系の全口径にわたる光学的校正を、各種
光源を用いて走査鏡を一回転させる間に測定を含み行な
うことができ、校正精度を著しく向上させることができ
る効果がある。
【図１】本発明の一実施例の構成を示す平面図である。
【図２】図１の測定光及び校正光の入射状況を示す平面
図である。
図である。
【図３】図１の光源部４の構成を示す平面図である。
１ 回転走査鏡 ２ 反射鏡 ３ 放射計光学部 ４ 光源部 ５ 校正光（１）光源 ６ 校正光（２）光源 ７ 校正光（３）光源 １０１ 回転軸 １０２ 測定光 １０３ 校正光 ａ 校正光（１） ｂ 校正光（２） ｃ 校正光（３）
Claims (2)
- 【請求項１】 宇宙航行体をプラットホームとして搭載
し、地球などの走査対象を光学的にパッシブ走査して可
視および赤外の測定光を取得する可視赤外放射計の受光
系を校正光によって校正する校正システムにおいて、前
記測定光を対物面走査により取得する平面鏡構成の回転
走査鏡に対して複数の校正光を平行光として投光する曲
面鏡構成のコリメートミラーとしての反射鏡と、前記反
射鏡の焦点位置に配置し前記反射鏡に対して複数の光源
光を投光し前記複数の校正光を反射出光せしめる光源部
とを備え、前記可視赤外放射計の受光系の全口径にわた
る光学的校正を前記回転走査鏡の一回転で行なうことを
可能としたことを特徴とする可視赤外放射計用全口径校
正システム。 - 【請求項２】 前記複数の光源光が、可視から赤外まで
の各種の波長領域を混在させたものとして構成したこと
を特徴とする請求項１記載の可視赤外放射形用全口径校
正システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4225448A JP2800580B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 可視赤外放射計用全口径校正システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4225448A JP2800580B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 可視赤外放射計用全口径校正システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0672400A JPH0672400A (ja) | 1994-03-15 |
| JP2800580B2 true JP2800580B2 (ja) | 1998-09-21 |
Family
ID=16829516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4225448A Expired - Lifetime JP2800580B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 可視赤外放射計用全口径校正システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2800580B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8716651B2 (en) * | 2011-08-18 | 2014-05-06 | Raytheon Company | Calibration system for detector |
-
1992
- 1992-08-25 JP JP4225448A patent/JP2800580B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0672400A (ja) | 1994-03-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980609 |