JP2784155B2 - 光ファイバ高速繰り出し試験装置 - Google Patents

光ファイバ高速繰り出し試験装置

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JP2784155B2
JP2784155B2 JP7042310A JP4231095A JP2784155B2 JP 2784155 B2 JP2784155 B2 JP 2784155B2 JP 7042310 A JP7042310 A JP 7042310A JP 4231095 A JP4231095 A JP 4231095A JP 2784155 B2 JP2784155 B2 JP 2784155B2
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optical fiber
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哲郎 小嶋
満 柴田
靖 脇田
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Kawasaki Motors Ltd
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Kawasaki Jukogyo KK
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/08Testing mechanical properties
    • G01M11/088Testing mechanical properties of optical fibres; Mechanical features associated with the optical testing of optical fibres

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、飛しょう体などの高速
移動体と発射機との間の光信号データリンクを行うため
の細径かつ長尺の光ファイバリールの高速繰り出し性能
を、実射撃を模擬して移動体搭載部分を地上に固定して
光ファイバ端末を高速で巻き取り試験する光ファイバ繰
り出し試験装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光ファイバの伝送損失の計測手段は、一
端から基準光を入射させて光ファイバを透過させ、他端
から透過光を検出する方法が一般に用いられている。関
連する先行技術文献として特開平5−273079号が
ある。しかし光ファイバ端末を高速で巻き取る方法にお
いては、光の取り出し側の装置実装が不可能であり、光
ファイバリールの地上での高速繰り出し試験中の伝送損
失計測手段は確立されていない。短尺の機械的繰り出し
試験は、線材端末を高速で巻き取る方式を採用している
飛しょう体誘導用ピアノ線ワイヤの高速繰り出し試験装
置によって実施可能であった。しかし、その装置はピア
ノ線ワイヤの特性上、繰り出し挙動中の電気的導通を計
測するものであり、導通は巻き取り後の形状に依存しな
いため、乱雑な巻き取り形状を許容されている。従っ
て、巻き取りドラムにランダムに数10ターン巻き付け
られると、巻き付け曲げによる光ファイバ線材のマイク
ロベンディングによって過大な伝送損失が発生するた
め、繰り出し中の損失変化を計測することは不可能であ
る。巻き取りドラムへの長尺にわたる巻き付けは、ピア
ノ線の場合、所要のボリュウム溝幅を設けたドラムの中
央部付近に、ガイド孔で誘導することによって、ランダ
ムに均等に巻き重ねられ、所用量を連続して試験できる
ものとなっている。しかし光ファイバをこれに適用した
場合、一見ランダムではあるが、ミクロには小さな巻き
重ね部分の崩れ発生によって、光ファイバのガラスが破
断し、高速でのドラムへの長尺にわたる巻き付けは不可
能である。これは、試験評価しようとする試験体の金属
材料と脆性破壊材料の特性の大きな相違によるものであ
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】そこで本発明は、上述
したような光ファイバ高速繰り出し試験において、繰り
出し中の線材屈曲による伝送損失発生量を計測すること
ができると共にそれを所要の長尺にわたって連続して実
施することができる光ファイバ高速繰り出し試験装置を
提供しようとするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明の光ファイバ高速繰り出し試験装置は、光ファ
イバリールを固定設置した取り付け架台と、光ファイバ
巻き取りドラムと、その巻き取りドラムの回転駆動部
と、その回転駆動部を所要の巻き取り速度に制御する試
験機制御部と、光ファイバを巻き取りドラムの巻き取り
位置にガイドする巻き取りガイドトラバーサと、光ファ
イバ巻き取りドラムの側端で光ファイバの端末に設けら
れ入射光を反射する反射ミラーと、レーザー発光部から
方向性光合分岐器を介して光ファイバリール地上側固定
端から繰り出し中の光ファイバ内にレーザー光を入射さ
せ、他端の光ファイバ巻き取りドラムの側端の反射ミラ
ーでレーザー光を反射させ、方向性光合分岐器で反射光
のみを分岐し、レーザー光パワーを検出し、光ファイバ
の屈曲などによる伝送損失の変化を計測する光ファイバ
伝送損失計測部とよりなる光ファイバ高速繰り出し試験
装置において、光ファイバ巻き取りドラムが、光ファイ
バを精密に密着整列して巻き付けられるように円筒平行
で両端に鍔を備えたものであり、巻き取りガイドトラバ
ーサが、前記光ファイバ巻き取りドラムの円筒平行部に
隣接対面して配置され、繰り出し挙動によるヘリカル形
状の横方向振動を伴いながら引き寄せられる光ファイバ
の横方向振動を減衰させる円錐形状の摩擦ガイドと、摩
擦ガイドでは完全に除去できなかった光ファイバの横方
向振動を完全に除去するフェルト挾み込みガイドと、ト
ラバーサ駆動部とよりなるものである。
【0005】
【作用】上記のように構成された本発明の光ファイバ高
速繰り出し試験装置により光ファイバ線材を高速で繰り
出して、その間の伝送損失変動を計測するには、光ファ
イバリールの取り付け架台側固定端から方向性光合分岐
器を介してレーザー光を入射させ、光ファイバ線材内の
損失発生部分を通過させて光量変化したレーザー光を、
光ファイバ巻き取りドラム側端で高速で回転する光ファ
イバ線材の端末に設けられた反射ミラーで反射させ、再
度光ファイバ線材内を透過させて入射側へ戻し、方向性
光合分岐器により反射光のみを分岐する。かくして、光
ファイバ線材の内部で発生する伝送損失変化は正確に検
出することができる。
【0006】 上記の伝送損失変動の計測において、反射
ミラーを、試験する光ファイバの線材と同じ線材を短尺
に切断した状態で端面を直角に切断し金属を蒸着して作
成し、光ファイバの線材の端末に融着接続したミラーと
した場合、反射面は効率良く反射し、損失計測のダイナ
ミックレンジ及びリニアリティを確保することができ
る。
【0007】 本発明の光ファイバ高速繰り出し試験装置
は、 光ファイバ巻き取りドラムを、円筒平行で両端に鍔
を備えたものにしているので、上記の伝送損失変動の計
測において、巻き取りドラムの回転に応じて光ファイバ
線材の移動位置制御を巻き取りガイドトラバーサにより
行うことができ、高速巻き取りにおいても巻き取りドラ
ム上に光ファイバ線材を密着ピッチで精密に整列して巻
き付けることができ、円筒端部に巻き付けが到達すると
トラバーサが即座に反転挙動し、巻き取りドラムへの密
着整列巻き付けが多層にわたって実現でき、従って光フ
ァイバ線材の一端を固定して張力を加わった状態でドラ
ムに巻き付ける際の伝送損失の発生を極力低減すること
ができ、しかもマイクロベンディングロス発生を抑制す
ることができる。
【0008】 また、本発明の光ファイバ高速繰り出し試
験装置は、 巻き取りガイドトラバーサを、円錐形状の摩
擦ガイドとフェルト挟み込みガイドとトラバーサ駆動部
とにより構成しているので、上記の伝送損失変動の計測
において、光ファイバリールから高速で繰り出され、ヘ
リカル形状の横方向振動を伴いながら引き寄せられる光
ファイバ線材が円錐形状の摩擦ガイドにより横方向振
動が減衰せしめられ、さらにフェルト挟み込みガイドに
より光ファイバ線材の横方向振動が完全に除去せしめら
れる。
【0009】
【実施例】本発明の光ファイバ高速繰り出し試験装置の
一実施例を図によって説明すると、図1において、1は
光ファイバリール、2は光ファイバリール1から繰り出
された光ファイバ線材Wを巻き取る光ファイバ巻き取り
ドラム、3は光ファイバ巻き取りドラム2を回転させる
回転駆動部、4は回転駆動部3を所要の巻き取り速度に
制御する試験機制御部、5は光ファイバ線材Wのドラム
2への巻き付け位置をガイドする巻き取りガイドトラバ
ーサ、6は巻き取りガイドトラバーサ5の位置を制御す
るトラバーサ制御部である。7は繰り出し中の光ファイ
バ線材Wの伝送損失の変動を計測する光ファイバ伝送損
失計測部、8は光ファイバ巻き取りドラム2の側端で光
ファイバ線材Wの端末に設けられ伝送損失計測のための
入射光を反射させる反射ミラー、9は前記光ファイバリ
ール1を光ファイバ巻き取りドラム2から数10メート
ル離れた位置に固定設置する光ファイバリール取り付け
架台で、この取り付け架台9は架台部9aとロードセル
9bとからなり、光ファイバ線材Wの繰り出し反力を検
出できるようにしてある。
【0010】 前記光ファイバ伝送損失計測部7は、レー
ザー発光部7aと方向性光合分岐器7bと受光検出部7
cと計測記録部7dとにより構成され、前記光ファイバ
リール1の端末に取り付けてある光コネクタ10と結合
され、伝送損失の計測を行うようになっている。この光
ファイバ伝送損失計測部7の方向性光合分岐器7bは、
高アイソレーション且つ低透過損失特性を持つエバネッ
セントタイプカプラが適している。また計測記録部7d
は、応答性能が高く且つダイナミックレンジの広いデジ
タルレコーダとし、多チャンネル化して、受光検出部7
cで検出される伝送損失変化データと併せて、試験機制
御部4の出力モニタ信号の速度データと光ファイバリー
ル取り付け架台9のロードセル9bからの繰り出し反力
データ及びトラバーサ位置制御データを収録することに
より、繰り出し状態・装置状態などとの関連も評価でき
るようにしてある。
【0011】 前記光ファイバ巻き取りドラム2は、図2
に示すように表面を精密に平滑に仕上げた円筒平行部2
aと、それの両端に直角に立ち上がる鍔2bを備え、高
速密着整列巻き付けに適した形状とし、回転軸ずれによ
る揺れが極めて微小となる軸受構造を採用している。
【0012】 前記巻き取りガイドトラバーサ5は、図2
に示すように高精度に加工を施した光ファイバ巻き取り
ドラム2の円滑平行部2aに隣接対面して配置され、繰
り出し挙動によるヘリカル形状の横方向振動を伴いなが
ら寄せられる光ファイバ線材Wの横方向振動を減衰させ
る円錐形状の摩擦ガイド5aと、摩擦ガイド5aでは完
全に除去できなかった光ファイバ線材Wの横方向振動を
完全に除去するフェルト挟み込みガイド5bと、トラバ
ーサ駆動部5cとよりなる。
【0013】 上記のように構成された実施例の光ファイ
バ高速繰り出し試験装置により、飛しょう体飛しょう速
度相当の高速度で光ファイバ線材Wを繰り出して、その
間の伝送損失変動を計測する場合について説明する。
【0014】 光ファイバリール1の取り付け架台9側固
定端から方向性光合分岐器7bを介してレーザー光を入
射させ、光ファイバ線材W内の損失発生部分を通過させ
て光量変化をしたレーザー光を、光ファイバ巻き取りド
ラム2の側端で高速で回転する光ファイバ線材Wの端末
に設けられた反射ミラー8で反射させ、再度光ファイバ
線材W内を透過させて入射側へ戻し、方向性光合分岐器
7bにより反射光のみを分岐することによって、光ファ
イバ線材Wの内部で発生する伝送損失変化を、2倍の変
化量でもって正確に検出することができた。
【0015】 また、上記伝送損失変動の計測において、
反射ミラー8を、試験する光ファイバ線材Wと同等素材
の図3に示す光ファイバ線材11を短尺で準備し、その
後端面を直角に切断し、その切断部近傍の被覆樹脂12
を剥離して光ファイバクラッド13、光ファイバコア1
4の切断面15を研摩の上、その研摩面に直接金を蒸着
させて金蒸着膜16の反射面を形成し、その後切断部近
傍外周に前記被覆樹脂12と同様の保護樹脂17を二点
鎖線に示す如く被覆した上、光ファイバ線材11の前端
部と光ファイバ線材Wの後端部の被覆樹脂12を剥離
し、両線材の光ファイバクラッド13、光ファイバコア
14の前端面と後端面を融着接続し、その接続部の外周
に保護樹脂17を被覆して構成したミラーとしたことに
より、金蒸着膜16の反射面は入射光を効率良く反射
し、反射光をファイバ線材W内を透過させて確実に入射
側に戻すことができたので、損失計測のダイナミックレ
ンジ及びリニアリティを確保することができた。
【0016】 さらに、光ファイバ巻き取りドラム2の溝
形状を図2に示すように円筒平行部2aとし、両端に直
角に立つ鍔2bを備えているので、巻き取りドラム2の
回転に応じて光ファイバ線材Wの直径部の移動位置制御
を巻き取りガイドトラバーサ5により行うことができ、
高速巻き取りにおいても巻き取りドラム2上に光ファイ
バ線材Wを密着ピッチで精密に整列して巻き付けること
ができ、円筒端部に巻き付けが到達すると、トラバーサ
5は即座に反転挙動し、巻き取りドラム2への密着整列
巻き付けが多層にわたって実現できたので、光ファイバ
線材Wの一端を固定して張力が加わった状態でドラム2
に巻き付ける際の伝送損失の発生を極力低減することが
でき、しかもマイクロベンディングロス発生を抑制する
ことができた。
【0017】 さらにまた、巻き取りガイドトラバーサ5
が、円錐形状の摩擦ガイド5aと、フェルト挟み込みガ
イド5bと、トラバーサ駆動部5bよりなるので、光フ
ァイバリール1から高速で繰り出され、ヘリカル形状の
横方向振動を伴いながら引き寄せられる光ファイバ線材
Wは、円錐形状の摩擦ガイド5aにより横方向振動が減
衰せしめられ、さらにフェルト挟み込みガイド5bによ
り光ファイバ線材Wの横方向振動を完全に除去すること
ができた。
【0018】
【発明の効果】以上の説明で判るように本発明の光ファ
イバ高速繰り出し試験装置によれば、所要長さの光ファ
イバ線材を高速で連続して巻き付け繰り出し試験できる
と共に巻き付け内部損失発生を抑制し、反射光検出方式
の損失変動計測(0.01dB単位でマイクロセコンド
単位の変動計測)を実現することができ、従って、飛し
ょう体飛しょう速度相当の高速度の光ファイバ繰り出し
試験において、連続的に長尺にわたる機械的挙動並びに
破断などの評価と、繰り出し挙動における光学的損失変
動を計測し試験評価することの、双方を実現することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光ファイバ高速繰り出し試験装置の構
成と計測系統の一例を示す図である。
【図2】本発明の光ファイバ高速繰り出し試験装置にお
ける光ファイバ巻き取りドラムと巻き取りガイドトラバ
ーサの拡大詳細図である。
【図3】本発明の光ファイバ高速繰り出し試験装置にお
ける反射ミラーを示す図である。
【符号の説明】
1 光ファイバリール 2 光ファイバ巻き取りドラム 2a 円筒平行部 2b 鍔 3 回転駆動部 4 試験機制御部 5 巻き取りガイドトラバーサ 5a 摩擦ガイド 5b フェルト挟み込みガイド 5c トラバーサ駆動部 6 トラバーサ制御部 7 光ファイバ伝送損失計測部 7a レーザー発光部 7b 方向性光合分岐器 7c 受光検出部 7d 計測記録部 8 反射ミラー 9 光ファイバリール取り付け架台 9a 架台部 9b ロードセル 10 光コネクタ 11 反射ミラー用光ファイバ線材 12 被覆樹脂 13 光ファイバクラッド 14 光ファイバコア 15 切断面 16 金蒸着膜 17 保護樹脂 W 光ファイバ線材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭58−100733(JP,A) 特開 平3−180738(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01M 11/00 G01M 11/02

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光ファイバリールを固定設置した取り付
    け架台と、光ファイバ巻き取りドラムと、その巻き取り
    ドラムの回転駆動部と、その回転駆動部を所要の巻き取
    り速度に制御する試験機制御部と、光ファイバを巻き取
    りドラムの巻き取り位置にガイドする巻き取りガイドト
    ラバーサと、光ファイバ巻き取りドラムの側端で光ファ
    イバの端末に設けられ入射光を反射する反射ミラーと、
    レーザー発光部から方向性光合分岐器を介して光ファイ
    バリール地上側固定端から繰り出し中の光ファイバ内に
    レーザー光を入射させ、他端の光ファイバ巻き取りドラ
    ムの側端の反射ミラーでレーザー光を反射させ、方向性
    光合分岐器で反射光のみを分岐し、レーザー光パワーを
    検出し、光ファイバの屈曲などによる伝送損失の変化を
    計測する光ファイバ伝送損失計測部とよりなる光ファイ
    バ高速繰り出し試験装置において、光ファイバ巻き取り
    ドラムが、光ファイバを精密に密着整列して巻き付けら
    れるように円筒平行で両端に鍔を備えたものであり、巻
    き取りガイドトラバーサが、前記光ファイバ巻き取りド
    ラムの円筒平行部に隣接対面して配置され、繰り出し挙
    動によるヘリカル形状の横方向振動を伴いながら引き寄
    せられる光ファイバの横方向振動を減衰させる円錐形状
    の摩擦ガイドと、摩擦ガイドでは完全に除去できなかっ
    た光ファイバの横方向振動を完全に除去するフェルト挟
    み込みガイドと、トラバーサ駆動部とよりなるものであ
    ることを特徴とする光ファイバ高速繰り出し試験装置。
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