JP2765916B2 - Ultrasonic inspection equipment - Google Patents

Ultrasonic inspection equipment

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JP2765916B2
JP2765916B2 JP1049868A JP4986889A JP2765916B2 JP 2765916 B2 JP2765916 B2 JP 2765916B2 JP 1049868 A JP1049868 A JP 1049868A JP 4986889 A JP4986889 A JP 4986889A JP 2765916 B2 JP2765916 B2 JP 2765916B2
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は超音波により被検材の検査を行なう超音波検
査装置に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to an ultrasonic inspection apparatus for inspecting a test material using ultrasonic waves.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

超音波検査装置は、被検材を破壊することなくその内
部の欠陥を検出することができ、多くの分野において用
いられている。被検材内部の欠陥の有無は、被検材の所
定の範囲についてチエツクされることが多く、その場合
には、被検材表面の上記範囲を探触子で走査して検査が
実施される。以下、このような超音波検査装置について
説明する。
An ultrasonic inspection apparatus can detect a defect inside a test material without destroying the test material, and is used in many fields. The presence or absence of a defect inside the test material is often checked in a predetermined range of the test material. In this case, the above range on the surface of the test material is scanned with a probe to perform the inspection. . Hereinafter, such an ultrasonic inspection apparatus will be described.

第3図は従来の超音波検査装置の系統図である。図
で、1は検査のための水槽、2は水槽1に入れられた
水、3は水槽1の底面に載置された被検材である。4は
スキヤナを示し、以下の部材より成る。即ち、5は水槽
1を載置するスキヤナ台、6はスキヤナ台5に固定され
たフレーム、8はフレーム6に装架されたアーム、8は
アーム7に装架されたホルダ、9はホルダ8に装着され
たポール、10は探触子である。フレーム6は図示しない
機構によりアーム7をY軸方向に駆動することができ、
又、アーム7は図示しない機構によりホルダ8をX軸方
向に駆動することができ、さらに、ホルダ8は図示しな
い機構によりポール9と協働して探触子10をZ軸方向
(X軸およびY軸に直交する方向)に駆動することがで
きる。
FIG. 3 is a system diagram of a conventional ultrasonic inspection apparatus. In the figure, 1 is a water tank for inspection, 2 is water put in the water tank 1, and 3 is a test material placed on the bottom surface of the water tank 1. Reference numeral 4 denotes a scanner, which comprises the following members. That is, 5 is a scanner table on which the water tank 1 is placed, 6 is a frame fixed to the scanner table 5, 8 is an arm mounted on the frame 6, 8 is a holder mounted on the arm 7, and 9 is a holder 8 The pole, 10 is a probe. The frame 6 can drive the arm 7 in the Y-axis direction by a mechanism not shown,
The arm 7 can drive the holder 8 in the X-axis direction by a mechanism (not shown). Further, the holder 8 cooperates with the pole 9 by using a mechanism (not shown) to move the probe 10 in the Z-axis direction (X-axis and (A direction orthogonal to the Y axis).

11はパルサ・レシーバであり、探触子10にパルス信号
を印加して被検材3に超音波を放射せしめるとともに、
その反射波を受波した探触子10からの超音波信号(電気
信号)を増幅する。12はパルサレシーバ11の出力信号に
基づいて超音波波形を表示するオシロスコープである。
13はピーク検出器であり、パルサ・レシーバ11で増幅さ
れた超音波信号の任意の時間の信号のみゲートにより取
出し,取出した信号のうちのピーク値をホールドして出
力する。14は当該ピーク値をデイジタル値に変換するA/
D変換器である。
Reference numeral 11 denotes a pulsar receiver, which applies a pulse signal to the probe 10 to radiate an ultrasonic wave to the test material 3 and
The ultrasonic signal (electric signal) from the probe 10 that has received the reflected wave is amplified. Reference numeral 12 denotes an oscilloscope that displays an ultrasonic waveform based on an output signal of the pulsar receiver 11.
Reference numeral 13 denotes a peak detector which takes out only the signal of the ultrasonic signal amplified by the pulser / receiver 11 at an arbitrary time by a gate, holds the peak value of the taken out signal, and outputs it. A / A 14 converts the peak value into a digital value.
D converter.

15はA/D変換器14により変換された値に対して所定の
処理を行なうマイクロコンピユータ、16はマイクロコン
ピユータ15にその処理に関する設定条件を入力するキー
ボード、17は設定条件や超音波検査装置の全体制御状態
を表示するCRT、18はマイクロコンピユータ15の処理の
結果を記憶する外部記憶装置、19は後述する加算を行な
う加算処理器である。20はマイクロコンピユータ15によ
り処理さた表示すべきデータを記憶するとともにこれを
モニタテレビジヨン(モニタTV)21に表示させる画像メ
モリである。22は探触子10をX軸、Y軸、Z軸方向に駆
動するためのモータを制御するX,Y,Zモータコントロー
ラである。
Reference numeral 15 denotes a microcomputer for performing predetermined processing on the value converted by the A / D converter 14, 16 a keyboard for inputting setting conditions relating to the processing to the microcomputer 15, 17 a setting condition and an ultrasonic inspection device. A CRT 18 for displaying the overall control state is an external storage device for storing the result of processing by the microcomputer 15, and 19 is an addition processor for performing addition, which will be described later. Reference numeral 20 denotes an image memory for storing data to be displayed processed by the microcomputer 15 and displaying the data on a monitor television (monitor TV) 21. An X, Y, Z motor controller 22 controls a motor for driving the probe 10 in the X-axis, Y-axis, and Z-axis directions.

次に、この超音波検査装置の動作を第4図を参照しな
がら説明する。第4図は被検材3の平面図である。図
中、被検材3上に複数個示されている黒点は超音波デー
タを採取するためのサンプリング点の一部であり、端部
のサンプリング点のみ括弧でその座標が示されている。
又、XR,YRはそれぞれX軸方向、Y軸方向の測定範囲、
pは測定ピツチ(サンプリングピツチ)である。なお、
図では測定ピツチpをX軸,Y軸とも等しくとつたが、X
軸,Y軸毎に任意のピツチに選定することができるのは当
然である。
Next, the operation of the ultrasonic inspection apparatus will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a plan view of the test material 3. In the drawing, a plurality of black points shown on the test material 3 are a part of sampling points for collecting ultrasonic data, and only the end sampling points are indicated in parentheses by coordinates.
Further, X R, Y R is X axis direction, Y axis direction of the measurement range,
p is a measurement pitch (sampling pitch). In addition,
In the figure, the measurement pitch p is set equal for both the X axis and the Y axis.
Naturally, any pitch can be selected for each axis and Y axis.

マイクロコンピユータ15は、まずX,Y,Zモータコント
ローラ22に指令を与え探触子10を測定開始位置であるサ
ンプリング点(X0,Y0)上に位置せしめ、パルサレシー
バ11からパルスを出力させる。これにより探触子10は被
検材3に超音波を放射するとともにその反射波をこれに
応じた電気信号(超音波信号)に変換して出力する。パ
ルサレシーバ11はこの超音波信号を増幅してピーク検出
器13に出力する。ピーク検出器13には時間的なゲートが
設けられており、超音波信号のうちある時間内の信号
(この信号は被検材3の表面から所定深さにある検査部
位からの信号である。)のみとり出し、そのうちの最大
値の信号がピーク検出器13から出力される。この最大値
の信号はA/D変換器14により対応するデイジタル値に変
換され、マイクロコンピユータ15に入力される。マイク
ロコンピユータ15は、定められた手順にしたがつて上記
変換された信号(サンプリングデータ)を画像メモリ20
の所定のアドレスに格納する。この格納処理が終了する
と、マイクロコンピユータ15はX,Y,Zモータコントロー
ラ22に指令を出力し、探触子10を測定ピツチpだけX軸
方向に移動させ、その新たなサンプリングポイント
(X1,X0)において再び上記と同様の動作でサンプリン
グデータが採取され画像メモリ20に格納される。
The micro computer 15 first gives a command to the X, Y, Z motor controller 22 to position the probe 10 on the sampling point (X 0 , Y 0 ) which is the measurement start position, and causes the pulser receiver 11 to output a pulse. . As a result, the probe 10 emits ultrasonic waves to the test material 3 and converts the reflected waves into electric signals (ultrasonic signals) corresponding to the ultrasonic waves and outputs the electric signals. The pulsar receiver 11 amplifies the ultrasonic signal and outputs it to the peak detector 13. The peak detector 13 is provided with a temporal gate, and a signal within a certain time period among the ultrasonic signals (this signal is a signal from an inspection site at a predetermined depth from the surface of the test material 3). ), And the signal of the maximum value is output from the peak detector 13. The signal of the maximum value is converted into a corresponding digital value by the A / D converter 14 and input to the micro computer 15. The micro computer 15 stores the converted signal (sampling data) in the image memory 20 according to a predetermined procedure.
At a predetermined address. When the storing process is completed, the microcomputer 15 outputs a command to the X, Y, Z motor controller 22, moves the probe 10 by the measuring pitch p in the X-axis direction, and sets the new sampling point (X 1 , At X 0 ), sampling data is collected again by the same operation as described above and stored in the image memory 20.

このようにして、サンプリング点(Xi,Y0)のデータ
が格納されて探触子10によるX軸方向の第1番目の走査
が終了すると、今度は探触子10はY軸方向に測定ピツチ
pだけ移動せしめられ、サンプリング点(Xi,Y1)に位
置せしめられる。探触子10はこのサンプリング点からX
軸上において上記とは逆方向に走査され、サンプリング
点(X0,Y1)に至つてX軸方向第2回目の走査が終了す
る。探触子10はこのように蛇行状に走査されて被検材3
の第1回目の走査を終了する。なお、この間、X軸方向
の走査は(j+1)回行なわれる。上記第1回目の走査
においてサンプリングされたデータはいつたん画像メモ
リ20に記憶し、第1回目走査終了後、すべて外部記憶装
置18に格納される。
In this way, when the data of the sampling point (X i , Y 0 ) is stored and the first scanning in the X-axis direction by the probe 10 is completed, the probe 10 measures in the Y-axis direction. It is moved by the pitch p and positioned at the sampling point (X i , Y 1 ). The probe 10 moves X from this sampling point.
Scanning is performed in the opposite direction on the axis, and the second scanning in the X-axis direction ends at the sampling point (X 0 , Y 1 ). The probe 10 is scanned in a meandering manner in this manner, and
Ends the first scan. Meanwhile, scanning in the X-axis direction is performed (j + 1) times. The data sampled in the first scan is temporarily stored in the image memory 20, and is completely stored in the external storage device 18 after the first scan.

上記探触子10による被検材3のデータ採取のための走
査は、1回だけでなく、所定の回数(n回)実行され、
このn回の走査によつて採取されたデータはすべて外部
記憶装置18に格納される。そして、所定回数n回の走査
が終了すると、マイクロコンピユータ15は外部記憶装置
18のn回の走査データについて、各サンプリング点毎に
そのn個のデータを取出し、これらを加算処理器19によ
り加算する。加算された値は画像メモリ20に入力され、
所定の処理を経た後、モニタTV21に表示される。このよ
うに、同一サンプリング点についてn回データを採取
し、これらを加算した表示を行なうので、被検材3に欠
陥が存在する場合、モニタTV21上には、当該欠陥が強調
されて表示され検査を容易に行なうことができる。
Scanning for data collection of the test material 3 by the probe 10 is performed not only once but also a predetermined number of times (n times).
All data collected by the n scans are stored in the external storage device 18. Then, when the predetermined number of scans n are completed, the microcomputer 15 is connected to the external storage device.
With respect to the n scan data of 18 times, n data are taken out at each sampling point, and these are added by the adder 19. The added value is input to the image memory 20,
After a predetermined process, it is displayed on the monitor TV21. As described above, data is collected n times for the same sampling point and the display is performed by adding the data. If a defect exists in the test material 3, the defect is highlighted and displayed on the monitor TV 21 for inspection. Can be easily performed.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

ところで、上記超音波検査装置による検査は、n回走
査を繰返すことにより被検材3の欠陥を強調して表示す
ることができる反面、検査開始から被検材3の超音波像
を表示するまでに相当の時間を要するという問題があつ
た。又、欠陥をより一層強調して表示したい場合には、
上記走査回数を増加すればよいが、この走査回数はデー
タを格納する外部記憶装置18の記憶容量により制限さ
れ、任意に走査回数を増加することはできず、所期の表
示を得ることができないという問題もあつた。さらに、
探触子10は、1回の走査終了毎に走査終了点(Xi,Yj
から走査開始点(X0,Y0)に移動するので、複数回の走
査の間に各走査回における各サンプリング点に僅かなが
ら位置ずれを生じ、正確な超音波像を得ることができな
くなるおそれがあつた。
By the way, in the inspection by the ultrasonic inspection apparatus, the defect of the test material 3 can be emphasized and displayed by repeating the scan n times, but from the start of the test to the display of the ultrasonic image of the test material 3. Has the problem that it takes a considerable amount of time. Also, if you want to emphasize the defects even more,
The number of scans may be increased, but the number of scans is limited by the storage capacity of the external storage device 18 for storing data, and the number of scans cannot be arbitrarily increased, and a desired display cannot be obtained. There was also a problem. further,
The probe 10 sets a scanning end point (X i , Y j ) every time one scanning ends.
To the scanning start point (X 0 , Y 0 ), a slight displacement occurs at each sampling point in each scan during a plurality of scans, and an accurate ultrasonic image may not be obtained. There was.

本発明の目的は、上記従来技術における課題を解決
し、検査時間を短縮するとともに任意回数の走査を行な
うことができ、又、精度の良い超音波像を得ることがで
きる超音波検査装置を提供するにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an ultrasonic inspection apparatus which solves the above-mentioned problems in the prior art, shortens the inspection time, can perform an arbitrary number of scans, and can obtain an accurate ultrasonic image. To be.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

上記の目的を達成するために、本発明は、第1の方向
および第2の方向で規定される平面で被検材を前記各方
向毎に所定の測定ピッチおよび画素数で規定される平面
範囲を超音波により所定回数機械走査し、これら各回の
走査により得られた各走査データを各位置毎に加算し、
当該各位置毎の総加算値を画像メモリを介して表示部に
表示する超音波検査装置において、前記各走査データの
採取の都度直ちに当該走査データを前記画像メモリに格
納された同位置のデータと加算する加算手段と、この加
算手段により得られた値を前記画像メモリの前記同位置
の格納アドレスに格納する手段を設けるとともに、前記
走査データの採取は、前記第1の方向を連続して前記所
定回数機械走査し、後に第2の方向に所定の測定ピッチ
で機械走査しその位置でさらに前記第1の方向を連続し
て前記所定回数機械走査することを繰り返し行うことを
特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention relates to a method in which a test material is placed on a plane defined by a first direction and a second direction by a plane range defined by a predetermined measurement pitch and the number of pixels in each of the directions. Is mechanically scanned by ultrasonic waves a predetermined number of times, and each scan data obtained by each of these scans is added for each position,
In the ultrasonic inspection apparatus that displays the total added value for each position on the display unit via the image memory, the scan data is immediately stored in the image memory with the data at the same position each time the scan data is collected. Adding means for adding, and means for storing the value obtained by the adding means at the storage address at the same position in the image memory; and collecting the scan data is performed continuously in the first direction. Mechanical scanning is performed a predetermined number of times, followed by mechanical scanning at a predetermined measurement pitch in a second direction, and further mechanical scanning is continuously performed at the position in the first direction a predetermined number of times.

〔作 用〕(Operation)

第1回目の走査により得られたデータは、外部記憶装
置に一旦格納されることなく、直ちに画像メモリに格納
される。次いで、第2回目の走査により得られたデータ
は、同じく外部記憶装置に格納されることなく加算処理
器に入力される。そして、順次、画像メモリに格納され
ている第1回目のデータのうちの対応するデータと加算
され、その加算値は第1回目のデータに代えて画像メモ
リに格納される。以後の各走査において同様の処理が実
行される。所定回数の走査が終了した時点で、走査の各
回の加算値は画像メモリに格納されている。又、本発明
では、上記の処理において、第1の方向の走査を所定回
数連続して行ない、次いで第2の方向に1ピツチ移動し
て再び第1の方向の走査を所定回数連続して行ない、こ
のような走査を第2の方向の最終ピツチまで行なう。
The data obtained by the first scan is immediately stored in the image memory without being temporarily stored in the external storage device. Next, the data obtained by the second scan is input to the addition processor without being stored in the external storage device. Then, the data is sequentially added to the corresponding data among the first data stored in the image memory, and the added value is stored in the image memory instead of the first data. Similar processing is performed in each subsequent scan. When the predetermined number of scans is completed, the added value of each scan is stored in the image memory. Further, in the present invention, in the above processing, scanning in the first direction is continuously performed a predetermined number of times, and then one pitch is moved in the second direction and scanning in the first direction is continuously performed a predetermined number of times again. Such scanning is performed up to the final pitch in the second direction.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。 Hereinafter, the present invention will be described with reference to the illustrated embodiments.

第1図は本発明の実施例に係る超音波検査装置の系統
図である。図で、第3図に示す部分と同一部分には同一
符号を付して説明を省略する。24は外部記憶装置、25は
マイクロコンピユータである。従来の装置における外部
記憶装置18が、各回の走査により得られたデータをすべ
て格納するのに用いられているのに対して、本実施例の
外部記憶装置24は当該データを加算してモニタTVに表示
する処理には全く使用されず、したがつて、他の用途に
使用されない場合には不要である。又、マイクロコンピ
ユータ25は、従来装置のマイクロコンピユータ15とは処
理内容を異にする。本実施例の他の構成は、第3図に示
す従来装置の構成と同じである。
FIG. 1 is a system diagram of an ultrasonic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. In the figure, the same parts as those shown in FIG. 24 is an external storage device, and 25 is a microcomputer. Whereas the external storage device 18 in the conventional device is used to store all data obtained by each scan, the external storage device 24 of this embodiment adds Is not used at all in the process of displaying the information, and is unnecessary when it is not used for other purposes. The processing content of the microcomputer 25 is different from that of the microcomputer 15 of the conventional device. The other configuration of the present embodiment is the same as the configuration of the conventional device shown in FIG.

次に、本実施例の動作を第2図(a),(b)に示す
フローチヤートを参照しながら説明する。まず、オペレ
ータはキーボード16を用いてマイクロコンピユータ25に
各測定条件を入力する(第2図(a)に示す手順S1)。
即ち、第4図に示す測定開始位置の座標X0,Y0、測定範
囲XR,YR、測定ピツチp、および定められた加算回数n
が入力される。次いで、上記入力値に基づき、モニタTV
21で用いられる画素数が演算され、又、画像メモリ20の
データ領域の設定とデータクリアがなされる(手順
S2)。画素数の計算は、X軸方向の画素数をXm,Y軸方向
の画素数をYmとすると次式で求められる。
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to the flowcharts shown in FIGS. 2 (a) and 2 (b). First, the operator inputs each measurement condition to the micro computer 25 using the keyboard 16 (procedure S 1 shown in FIG. 2 (a)).
That is, the coordinates X 0 , Y 0 of the measurement start position, the measurement range X R , Y R , the measurement pitch p, and the predetermined number of additions n shown in FIG.
Is entered. Next, based on the input values, the monitor TV
The number of pixels used in 21 is calculated, and a data area of the image memory 20 is set and data is cleared (procedure).
S 2). The number of pixels is calculated by the following equation, where X m is the number of pixels in the X-axis direction and Y m is the number of pixels in the Y-axis direction.

そして、上記画素数に基づいて画像メモリ20のデータ
領域が設定される。さらに、画像データとして、P0(x,
y)=0と定めデータクリアを行なう。ただし、上記x
は、1≦x≦Xm,上記yは、1≦y≦Ymの範囲内にあ
り、x,yとも1から始まる正の整数である。さらに又、
X軸方向の走査回数を符号I、Y軸方向の各ピツチの番
号をyAと置き、上記手順S2におちいて、符号Iを1と
し、番号yAを1番とする。
Then, the data area of the image memory 20 is set based on the number of pixels. Further, P 0 (x,
y) = 0 and clear data. Where x
Is 1 ≦ x ≦ X m , y is in the range of 1 ≦ y ≦ Y m , and both x and y are positive integers starting from 1. Furthermore,
X-axis direction of the number of scans the code I, the number of each pitch in the Y-axis direction every and y A, Ochiite the above procedure S 2, the reference numerals I and 1, and No. 1 to No. y A.

マイクロコンピユータ25は、X,Y,Zモータコントロー
ラ22に対し手順S1で定めた測定開始位置(X0,Y0)を指
令し、探触子10はこれに対応した位置に移動せしめられ
る。以後、超音波走査が開始されるが、この走査は前述
したように、X軸方向の走査を連続してn回行なつた後
Y軸方向に1ピツチpだけ移動し、この位置で再びX軸
方向の走査を連続してn回行なうという方法を繰返す。
まず、Y軸方向の1番の位置において、X軸方向の第1
回の走査を行ないデータを採取する(手順S3)。この走
査により得られた各サンプリング点のデータP1(x)
は、外部記憶装置24に入力されることなく、直ちに画像
メモリ20の対応するアドレスに格納される(手順S4)。
そして、上記X軸方向の第1回の走査が終了すると、符
号Iに数値1を加え(手順S5)、第2回目(I=2)の
X軸方向の走査を実施してそのデータP2(x)を採取す
る(手順S6)。なお、この第2回目の走査は、第1回目
の走査最終の位置から逆方向に行なつてもよいし、又は
当該最終位置から最初の位置に戻つて同一方向に行なつ
てもよい。
Microcomputer 25, X, Y, instructs the Z measurement start position set in step S 1 to the motor controller 22 (X 0, Y 0) , the probe 10 is moved to a position corresponding thereto. Thereafter, the ultrasonic scanning is started. As described above, the scanning is performed by n pitches continuously in the X-axis direction, then moved by one pitch p in the Y-axis direction. The method of continuously performing the scanning in the axial direction n times is repeated.
First, at the first position in the Y-axis direction, the first position in the X-axis direction
To collect the data performs a round of scanning (Step S 3). Data P 1 (x) of each sampling point obtained by this scanning
Is immediately stored in the corresponding address of the image memory 20 without being input to the external storage device 24 (step S 4 ).
When the first scan of the X-axis direction is completed, the numerical value 1 is added to the code I (Step S 5), the second (I = 2) the data P to implement scanning of the X-axis direction 2 Collect (x) (Step S 6 ). The second scan may be performed in the opposite direction from the last position of the first scan, or may be performed in the same direction from the last position to the first position.

手順S6の処理で採取された第2回目の走査の各データ
P2(x)は、今度は加算処理器19に順次転送される。一
方、マイクロコンピユータ25は、転送されたデータP
2(x)と対応する(同じサンプリング点の)第1回走
査によるデータP1(x)を画像メモリから取出す。この
取出されたデータP1(x)は画像メモリの所定アドレス
に格納されているデータP0(x,yA)である。加算処理器
19では、転送されたデータP2(x)と取出されたデータ
P0(x,yA)とが加算され、この加算値は画像メモリ20の
上記所定のアドレスに新らしいデータとして格納される
(手順S7)。即ち、走査ライン上のあるサンプリング点
についてみると、第1回の走査におけるそのサンプリン
グ点のデータは画像メモリ20の所定アドレスに格納さ
れ、第2回の走査における当該サンプリング点のデータ
は加算処理器19に転送され画像メモリ20の上記所定アド
レスから取出された第1回の走査のデータと加算され、
その加算値は画像メモリ20の上記所定アドレスに新らし
い値として格納されることになる。上記手順S7の処理
は、探触子10が1つのサンプリング点から次のサンプリ
ング点に移動する間に実行される。
Each data of the second scan taken in the processing of Step S 6
This time, P 2 (x) is sequentially transferred to the addition processor 19. On the other hand, the micro computer 25 stores the transferred data P
The data P 1 (x) from the first scan (of the same sampling point) corresponding to 2 (x) is fetched from the image memory. The extracted data P 1 (x) is data P 0 (x, y A ) stored at a predetermined address in the image memory. Addition processor
In 19, the transferred data P 2 (x) and the extracted data
P 0 (x, y A ) is added, and the added value is stored as new data at the predetermined address of the image memory 20 (step S 7 ). That is, with respect to a certain sampling point on a scanning line, the data of the sampling point in the first scan is stored at a predetermined address in the image memory 20, and the data of the sampling point in the second scan is added to the adder. 19 and is added to the data of the first scan taken out from the predetermined address of the image memory 20.
The added value is stored as a new value at the predetermined address in the image memory 20. Processing in steps S 7, the probe 10 is performed while moving from one sampling point to next sampling point.

第二回目の走査における最終サンプリング点について
の手順S7の処理が終了すると、マイクロコンピユータ25
は現在の符号Iが設定された加算回数nに等しいか否か
判断し(第2図(b)に示す手順S8)、等しくない場
合、処理は再び手順S5に戻される。かくして、手順S5
S8の処理が繰返され、手順S8でI=nと判断されたと
き、Y軸方向の第1番目の位置(yA=1)におけるX軸
方向の所定回数の走査が終了し、その走査ライン上の各
サンプリング点についてのn個のデータの積算値は上記
各サンプリング点に対応する画像メモリ20の各所定のア
ドレスに格納された状態となる。
When the processing of Step S 7 for the final sampling point in the second time scan is completed, the microcomputer 25
Determines whether equal to the addition number n of current code I has been set (Step S 8 shown in FIG. 2 (b)), if not equal, the process returns to step S 5 again. Thus, steps S 5 ~
Processing of S 8 are repeated, when it is determined that I = n in step S 8, Y-axis 1st position in a direction (y A = 1) scanning a predetermined number of X-axis direction is terminated at its The integrated value of the n data for each sampling point on the scanning line is stored in each predetermined address of the image memory 20 corresponding to each sampling point.

手順S8で、I=nと判断されると、次に、yA=ym(Y
軸方向の位置がm番目か否か)が判断され(手順S9)、
yAがymに達していない場合には、マイクロコンピユータ
25は、X,Y,Zモータコントローラ22に指令を出力し、探
触子10をY軸方向に1ピツチpだけ移動させ、yAに1を
加え(手順S10)、処理は再び手順S3に戻され、Y軸方
向における新らしい位置でのX軸方向の走査が開始され
る。以上の動作が繰返され、手順S9で、yA=Ymと判断さ
れたとき、動作が完了する。このとき、画像メモリ20に
は、被検材3の各サンプリング点毎の超音波データの積
算値が格納された状態となる。そして、これらデータに
基づき、画像メモリ20はモニタTV21に被検材3の超音波
像を表示する。
In Step S 8, it is determined that I = n, then, y A = y m (Y
It is determined whether or not the position in the axial direction is the m-th position (step S 9 ),
If the y A does not reach the y m is the microcomputer
25, X, Y, and outputs a command to the Z motor controller 22, the probe 10 is moved by one pitch p in the Y-axis direction, 1 is added to y A (Step S 10), processing again Procedure S It returns to 3 , and scanning in the X-axis direction at a new position in the Y-axis direction is started. The above operation is repeated, in step S 9, when it is judged that y A = Y m, operation is completed. At this time, the image memory 20 is in a state where the integrated value of the ultrasonic data at each sampling point of the test material 3 is stored. Then, based on these data, the image memory 20 displays an ultrasonic image of the test material 3 on the monitor TV 21.

このように、本実施例では、走査により得られたデー
タを外部記憶装置24に格納せず、直ちに前回までの走査
のデータの積算値に加算し、その加算値を画像メモリに
格納するようにしたので、すべてのデータを一旦外部記
憶装置18に記憶していた従来装置に比較して、検査時間
を短縮することができる。又、外部記憶装置24を使用し
ないので、その容量によつて加算回数に制限を受けるこ
とはなく、加算回数を自由に選定することができる。さ
らに、最終のサンプリング点から最初のサンプリング点
への移動がないので、各回の走査毎に当該移動を行なう
従来の装置に比較し、画像の精度を向上させることがで
きる。
As described above, in the present embodiment, the data obtained by scanning is not stored in the external storage device 24, but is immediately added to the integrated value of the data of the previous scanning, and the added value is stored in the image memory. As a result, the inspection time can be reduced as compared with a conventional device in which all data is temporarily stored in the external storage device 18. Further, since the external storage device 24 is not used, the number of additions is not limited by the capacity thereof, and the number of additions can be freely selected. Furthermore, since there is no movement from the last sampling point to the first sampling point, the accuracy of an image can be improved as compared with a conventional apparatus which performs the movement for each scan.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上述べたように、本発明では、採取された走査デー
タを外部記憶装置に格納せず、直ちに画像メモリの同位
置の走査データの積算値に加算するようにしたので、従
来装置に比較して検査時間を短縮することができるとと
もに、加算回数を自由に選定することができる。又、第
1の方向の機械走査を所定回数連続して行い、その後に
第2の方向に所定の測定ピッチで機械走査し、その位置
で第1の方向に所定回数連続して機械走査することを繰
り返すようにしたので、各走査毎の各サンプリング点に
おける位置ずれを防止でき、超音波像の精度を大幅に向
上させることができるとともに、走査に要する時間を短
縮することができる。
As described above, in the present invention, the collected scan data is not stored in the external storage device, but is immediately added to the integrated value of the scan data at the same position in the image memory. The inspection time can be reduced, and the number of additions can be freely selected. In addition, mechanical scanning in the first direction is performed continuously for a predetermined number of times, and thereafter, mechanical scanning is performed in the second direction at a predetermined measurement pitch, and mechanical scanning is continuously performed in the first direction for a predetermined number of times at that position. Is repeated, it is possible to prevent a displacement at each sampling point for each scan, to greatly improve the accuracy of an ultrasonic image, and to shorten the time required for scanning.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の実施例に係る超音波検査装置の系統
図、第2図(a),(b)は第1図に示す装置の動作を
説明するフローチヤート、第3図は従来の超音波検査装
置の系統図、第4図は被検材の平面図である 3……被検材、10……探触子、11……パルサレシーバ、
14……A/D変換器、19……加算処理器、20……画像メモ
リ、21……モニタTV、25……マイクロコンピユータ。
FIG. 1 is a system diagram of an ultrasonic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, FIGS. 2 (a) and 2 (b) are flow charts for explaining the operation of the apparatus shown in FIG. 1, and FIG. Fig. 4 is a plan view of the test material, Fig. 4 is a plan view of the test material, 3 ... test material, 10 ... probe, 11 ... pulser receiver,
14 ... A / D converter, 19 ... Addition processor, 20 ... Image memory, 21 ... Monitor TV, 25 ... Microcomputer.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】第1の方向および第2の方向で規定される
平面で被検材を前記各方向毎に所定の測定ピッチおよび
画素数で規定される平面範囲を超音波により所定回数機
械走査し、これら各回の走査により得られた各走査デー
タを各位置毎に加算し、当該各位置毎の総加算値を画像
メモリを介して表示部に表示する超音波検査装置におい
て、 前記各走査データの採取の都度直ちに当該走査データを
前記画像メモリに格納された同位置のデータと加算する
加算手段と、この加算手段により得られた値を前記画像
メモリの前記同位置の格納アドレスに格納する手段を設
けるとともに、 前記走査データの採取は、前記第1の方向を連続して前
記所定回数機械走査し、後に第2の方向に所定の測定ピ
ッチで機械走査しその位置でさらに前記第1の方向を連
続して前記所定回数機械走査することを繰り返し行って
採取することを特徴とする超音波検査装置。
An object is mechanically scanned by ultrasonic waves a predetermined number of times over a plane range defined by a predetermined measurement pitch and a predetermined number of pixels for each direction in a plane defined by a first direction and a second direction. In the ultrasonic inspection apparatus which adds each scan data obtained by each of these scans for each position and displays a total addition value for each position on a display unit via an image memory, Adding means for immediately adding the scan data to the data at the same position stored in the image memory each time sampling is performed, and means for storing the value obtained by the adding means at the storage address at the same position in the image memory And collecting the scanning data, the mechanical scanning is continuously performed the predetermined number of times in the first direction, and then the mechanical scanning is performed in the second direction at a predetermined measurement pitch. Continuously ultrasonic inspection apparatus and recovering repeatedly performed to the predetermined number of times mechanical scanning.
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