JPH02231561A - Ultrasonic inspecting device - Google Patents

Ultrasonic inspecting device

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JPH02231561A
JPH02231561A JP1049868A JP4986889A JPH02231561A JP H02231561 A JPH02231561 A JP H02231561A JP 1049868 A JP1049868 A JP 1049868A JP 4986889 A JP4986889 A JP 4986889A JP H02231561 A JPH02231561 A JP H02231561A
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scan
image memory
scanning
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Hiroyuki Nishimori
西森 博幸
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Abstract

PURPOSE:To shorten the inspection time and to improve the accuracy by adding scanning data to data in the same location of an image memory and storing the obtained value in the same storage address every time the scanning data is obtained. CONSTITUTION:An operator inputs respective measurement conditions to a CPU 25 by using a keyboard 16. The CPU 25 sends a start position command to an X, Y, Z motor controller 22 and a contactor 10 makes an X-axial scan N times, then moves by one pitch in a Y-axial direction, and repeats the X-axial scanning operation. The 1st scan is made in the X-axial direction to sample data, which is stored in a corresponding address of the image memory. Data of the 2nd scan is transferred to an addition processor 19 in order. The CPU 25, on the other hand, reads the 1st scan data corresponding to the transferred data out of the memory 20 and the processor 19 adds the transferred data to the read data and stores the sum data in the memory 20 as new data. Above operation is repeated to display an ultrasonic image on a monitor TV 21 according to those data.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は超音波により被検材の検査を行なう超音波検査
装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Field of Application] The present invention relates to an ultrasonic inspection apparatus for inspecting a material to be inspected using ultrasonic waves.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

超音波検査装置は、被検材を破壊することなくその内部
の欠陥を検出することができ、多くの分野において用い
られている。被検材内部の欠陥の有無は、被検材の所定
の範囲についてチェックされることが多く、その場合に
は、被検材表面の上記範囲を探触子で走査してネ★査が
実施される。以下、このような超音波検査装置について
説明する.第3図は従来の超音波検査装置の系統図であ
る.図で、1は検査のための水槽、2は水槽1に入れら
れた水、3は水槽1の底面に載置された被検材である.
4はスキャナを示し、以下の部材より成る.即ち、5は
水槽1を載置するスキャナ台、6はスキャナ台5に固定
されたフレーム、7はフレーム6に装架されたアーム、
8はアーム7に装架されたホルダ、9はホルダ8に装着
されたポール、10は探触子である。フレーム6は図示
しない機構によりアーム7をY軸方向に駆動することが
でき、又、アーム7は図示しない機構によりホノレダ8
をX軸方向に駆動することができ、さらに、ホルダ8は
図示しない機構によりポール9と協働して探触子10を
Z軸方向(X軸およびY軸に直交する方向)に駆動する
ことができる・ 11はバルサ・レシーバであり、探触子10にパルス信
号を印加して被検材3に超音波を放射せしめるとともに
、その反射波を受波した探触子10からの超音波信号(
電気信号)を増幅する。12はパルサレシーバ11の出
力信号に基づいて超音波波形を表示するオシロスコープ
である。13はピーク検出器であり、パルサ・レシーバ
11で増幅された超音波信号の任意の時間の信号のみゲ
ートにより取出し,取出した信号のうちのピーク値をホ
ールドして出力する。14は当該ピーク値をデイジタル
値に変換するA/D変換器である。
Ultrasonic inspection devices are capable of detecting defects inside a material to be inspected without destroying it, and are used in many fields. The presence or absence of defects inside the material to be inspected is often checked for a predetermined range of the material to be inspected, and in that case, the inspection is performed by scanning the above range on the surface of the material to be inspected with a probe. be done. This type of ultrasonic testing device will be explained below. Figure 3 is a system diagram of a conventional ultrasonic inspection device. In the figure, 1 is a water tank for testing, 2 is water placed in the water tank 1, and 3 is a material to be tested placed on the bottom of the water tank 1.
4 indicates the scanner, which consists of the following parts. That is, 5 is a scanner stand on which the aquarium 1 is placed, 6 is a frame fixed to the scanner stand 5, 7 is an arm mounted on the frame 6,
8 is a holder mounted on the arm 7, 9 is a pole mounted on the holder 8, and 10 is a probe. The frame 6 can drive an arm 7 in the Y-axis direction by a mechanism not shown, and the arm 7 can be driven by a mechanism not shown.
Further, the holder 8 can drive the probe 10 in the Z-axis direction (direction perpendicular to the X-axis and Y-axis) in cooperation with the pole 9 by a mechanism not shown. 11 is a balsa receiver, which applies a pulse signal to the probe 10 to cause the sample material 3 to emit ultrasonic waves, and also receives the reflected waves and receives an ultrasonic signal from the probe 10. (
electrical signals). 12 is an oscilloscope that displays an ultrasonic waveform based on the output signal of the pulser receiver 11. Reference numeral 13 denotes a peak detector, which extracts only the signal at a given time of the ultrasonic signal amplified by the pulser/receiver 11 using a gate, and holds and outputs the peak value of the extracted signal. 14 is an A/D converter that converts the peak value into a digital value.

15はA/D変換器14により変換された値に対して所
定の処理を行なうマイクロコンピュータ、16はマイク
ロコンピュータ15にその処理に関する設定条件を入力
するキーボード、17は設定条件や超音波検査装置の全
体制御状態を表示するCRT、18はマイクロコンピュ
ータ15の処理の結果を記憶する外部記憶装置、19は
後述する加算を行なう加算処理器である。20はマイク
ロコンピュータ15により処理さた表示すべきデータを
記憶するとともにこれをモニタテレビジョン(モニタT
V)21に表示させる画像メモリである。22は探触子
10をX軸、Y軸、Z軸方向に駆動するためのモータを
制御するX.Y.Zモータコントローラである。
15 is a microcomputer that performs predetermined processing on the value converted by the A/D converter 14; 16 is a keyboard that inputs setting conditions related to the processing to the microcomputer 15; and 17 is a keyboard that inputs setting conditions and ultrasonic inspection equipment. A CRT displays the overall control status, 18 is an external storage device that stores the results of processing by the microcomputer 15, and 19 is an addition processor that performs addition, which will be described later. 20 stores the data to be displayed processed by the microcomputer 15 and displays it on a monitor television (monitor T).
V) It is an image memory to be displayed on 21. 22 is an X. Y. It is a Z motor controller.

次に、この超音波検査装置の動作を第4図を参照しなが
ら説明する。第4図は被検材3の平面図である。図中、
被検材3上に複数個示されている黒点は超音波データを
採取するためのサンプリング点の一部であり、端部のサ
ンプリング点のみ括弧でその座標が示されている.又、
X* ,Y*はそれぞれX軸方向、Y軸方向の測定範囲
、pは測定ピッチ(サンプリングピッチ)である.なお
、図では測定ピツチpをX軸,Y軸とも等しくとつたが
・X軸.Y軸毎に任意のピッチに選定することができる
のは当然である. マイクロコンピュータ15は、まfX,Y,Zモータコ
ントローラ22に指令を与え探触子10を測定開始位置
であるサンプリング点(Xo1Yo)上に位置せしめ、
パルサレシーバ11からパルスを出力させる.これによ
り探触子10は被検材3に超音波を放射するとともにそ
の反射波をこれに応じた電気信号(超音波信号)に変換
して出力する。バルサレシーバ11はこの超音波信号を
増幅してピーク検出器13に出力する。ピーク検出器1
3には時間的なゲートが設けられており、超音波信号の
うちある時間内の信号(この信号は被検材3の表面から
所定深さにある検査部位からの信号である.)のみとり
出し、そのうちの最大値の信号がピーク検出器13から
出力される。この最大値の信号はA/D変換器14によ
り対応するデイジタル値に変換され、マイクロコンピュ
ータ15に入力される.マイクロコンピュータ15は、
定められた手順にしたがって上記変換された信号(サン
プリングデータ)を画像メモリ20の所定のアドレスに
格納する.この格納処理が終了すると、マイクロコンピ
ュータ15はx,y,zモータコントローラ22に指令
を出力し、探触子10を測定ピツチpだけX軸方向に移
動させ、その新たなサンプリングポイント(X+ ,Y
o )において再び上記と同様の動作でサンプリングデ
ータが採取され画像メモリ20に格納される. このようにして、サンプリング点(X{ ,Yo)のデ
ータが格納されて探触子10によるX軸方向の第1番目
の走査が終了すると、今度は探触子10はY軸方向に測
定ピツチpだけ移動せしめられ、サンプリング点(Xi
 ,Y+ )に位置せしめられる.探触子10はこのサ
ンプリング点からX軸上において上記とは逆方向に走査
され、サンプリング点(xo , Yl )に至ってX
軸方向第2回目の走査が終了する。探触子10はこのよ
うに蛇行状に走査されて被検材3の第1回目の走査を終
了する。なお、この間、X軸方向の走査は(j+1)回
行なわれる。上記第1回目の走査においてサンブリング
されたデータはいったん画像メモリ20に記憶し、第1
回目走査終了後、すべて外部記憶装置18に格納される
. 上記探触子10による被検材3のデータ採取のための走
査は、1回だけでなく、所定の回数(n回)実行され、
このn回の走査によって採取されたデータはすべて外部
記憶装218に格納される.そして、所定回数n回の走
査が終了すると、マイクロコンピュータ15は外部記憶
装置18のn回の走査データについて、各サンプリング
点毎にそのn個のデータを取出し、これらを加算処理器
l9により加算する.加算された値は画像メモリ20に
入力され、所定の処理を経た後、モニタTV21に表示
される.このように、同一サンプリング点についてn回
データを採取し、これらを加算した表示を行なうので、
被検材3に欠陥が存在する場合、モニタTV21上には
、当該欠陥が強調されて表示され検査を容易に行なうこ
とができる.〔発明が解決しようとする課題〕 ところで、上記超音波検査装置による検査は、n回走査
を繰返すことにより被検材3の欠陥を強調して表示する
ことができる反面、検査開始から被検材3の超音波像を
表示するまでに相当の時間を要するという問題があった
。又、欠陥をより一層強調して表示したい場合には、上
記走査回数を増加すればよいが、この走査回数はデータ
を格納する外部記憶装置18の記憶容量により制限され
、任意に走査回数を増加することはできず、所期の表示
を得ることができないという問題もあった。
Next, the operation of this ultrasonic inspection apparatus will be explained with reference to FIG. 4. FIG. 4 is a plan view of the specimen 3. In the figure,
The multiple black dots shown on the test material 3 are some of the sampling points for collecting ultrasonic data, and the coordinates of only the sampling points at the ends are shown in parentheses. or,
X* and Y* are the measurement ranges in the X-axis direction and Y-axis direction, respectively, and p is the measurement pitch (sampling pitch). Note that in the figure, the measurement pitch p is the same for both the X and Y axes, but the X axis. It goes without saying that any pitch can be selected for each Y-axis. The microcomputer 15 gives a command to the X, Y, Z motor controller 22 to position the probe 10 on the sampling point (Xo1Yo), which is the measurement start position,
Output pulses from the pulser receiver 11. As a result, the probe 10 emits an ultrasonic wave to the specimen 3, and converts the reflected wave into a corresponding electric signal (ultrasonic signal) and outputs it. The balsa receiver 11 amplifies this ultrasonic signal and outputs it to the peak detector 13. Peak detector 1
3 is provided with a temporal gate, and only a signal within a certain time period (this signal is a signal from an inspection site located at a predetermined depth from the surface of the specimen 3) out of the ultrasonic signals is detected. The peak detector 13 outputs the signal with the maximum value. This maximum value signal is converted into a corresponding digital value by the A/D converter 14 and input to the microcomputer 15. The microcomputer 15 is
The converted signal (sampling data) is stored at a predetermined address in the image memory 20 according to a predetermined procedure. When this storage process is completed, the microcomputer 15 outputs a command to the x, y, z motor controller 22 to move the probe 10 by the measurement pitch p in the X-axis direction and select the new sampling point (X+, Y
o), sampling data is again acquired in the same manner as above and stored in the image memory 20. In this way, when the data of the sampling point (X{ ,Yo) is stored and the first scan in the X-axis direction by the probe 10 is completed, the probe 10 moves to the measurement pitch in the Y-axis direction. The sampling point (Xi
, Y+). The probe 10 is scanned from this sampling point on the X axis in the opposite direction to the above, and reaches the sampling point (xo, Yl), where the
The second scan in the axial direction is completed. The probe 10 is thus scanned in a meandering manner, and the first scan of the specimen 3 is completed. Note that during this time, scanning in the X-axis direction is performed (j+1) times. The data sampled in the first scan is temporarily stored in the image memory 20, and
After the first scan, all data are stored in the external storage device 18. The scanning for data collection of the test material 3 by the probe 10 is executed not only once but a predetermined number of times (n times),
All data collected through these n scans are stored in the external storage device 218. Then, when the predetermined number of scans is completed, the microcomputer 15 extracts n pieces of data for each sampling point from the n times of scan data from the external storage device 18, and adds these pieces of data by the addition processor l9. .. The added value is input to the image memory 20, and after undergoing predetermined processing, is displayed on the monitor TV 21. In this way, data is collected n times from the same sampling point and the sum of these data is displayed.
If a defect exists in the material 3 to be inspected, the defect is highlighted and displayed on the monitor TV 21, allowing for easy inspection. [Problems to be Solved by the Invention] By the way, in the inspection using the above-mentioned ultrasonic inspection device, defects in the material to be inspected 3 can be highlighted and displayed by repeating scanning n times. There was a problem in that it took a considerable amount of time to display the ultrasound image of No. 3. In addition, if you want to display defects with greater emphasis, you can increase the number of scans, but this number of scans is limited by the storage capacity of the external storage device 18 that stores data, so you can increase the number of scans arbitrarily. There was also the problem that the desired display could not be obtained.

さらに、探触子10は、1回の走査終了毎に走査終了点
(X;, Yj)から走査開始点(Xo , Yo )
に移動するので、複数回の走査の間に各走査回における
各サンプリング点に僅かながら位置ずれを生じ、正確な
超音波像を得ることができなくなるおそれがあった。
Furthermore, the probe 10 moves from the scan end point (X;, Yj) to the scan start point (Xo, Yo) every time one scan is completed.
Therefore, during a plurality of scans, there is a possibility that each sampling point in each scan will be slightly shifted in position, making it impossible to obtain an accurate ultrasound image.

本発明の目的は、上記従来技術における課題を解決し、
検査時間を短縮するとともに任意回数の走査を行なうこ
とができ、又、精度の良い超音波像を得ることができる
超音波検査装置を提供するにある。
The purpose of the present invention is to solve the problems in the above-mentioned prior art,
An object of the present invention is to provide an ultrasonic inspection apparatus that can shorten inspection time, perform an arbitrary number of scans, and obtain highly accurate ultrasonic images.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記の目的を達成するため、第1の発明は第1の方向お
よび第2の方向で規定される平面で被検材を超音波によ
り所定回数走査し、これら各回の走査により得られた各
走査データを各位置毎に加算し、当該各位置毎の総加算
値を画像メモリを介して表示部に表示する超音波検査装
置において、前記各走査データの採取の都度直ちに当該
走査データを前記画像メモリに格納された同位置のデー
タと加算する加算手段と、この加算手段により得られた
値を同位置の格納アドレスに格納する手段とを設けたこ
とを特徴とする。さらに第2の発明は、上記第1の発明
に加え、前記走査データの採取を、前記第1の方向につ
いて連続して前記所定回数走査することにより行なうこ
とを特徴とする。
In order to achieve the above object, the first invention scans a specimen by ultrasonic waves a predetermined number of times in a plane defined by a first direction and a second direction, and each scan obtained by each of these scans. In an ultrasonic inspection apparatus that adds data for each position and displays the total added value for each position on a display unit via an image memory, each time each scan data is acquired, the scan data is immediately added to the image memory. The present invention is characterized in that it is provided with an adding means for adding data at the same position stored in the memory, and a means for storing the value obtained by the adding means at a storage address at the same position. Furthermore, a second invention, in addition to the first invention, is characterized in that the scanning data is collected by continuously scanning the predetermined number of times in the first direction.

〔作 用〕[For production]

第1回目の走査により得られたデータは、外部記憶装置
に一旦格納されることなく、直ちに画像メモリに格納さ
れる。次いで、第2回目の走査により得られたデータは
、同じく外部記憶装置に格納されることなく加算処理器
に入力される.そして、順次、画像メモリに格納されて
いる第1回目のデータのうちの対応するデータと加算さ
れ、その加算値は第1回目のデータに代えて画像メモリ
に格納される.以後の各走査において同様の処理が実行
される.所定回数の走査が終了した時点で、走査の各回
の加算値は画像メモリに格納されている.又、第2の発
明では、上記の処理において、第1の方向の走査を所定
回数連続して行ない、次いで第2の方向に1ピッチ移動
して再び第1の方向の走査を所定回数連続して行ない、
このような走査を第2の方向の最終ピッチまで行なう。
The data obtained by the first scan is immediately stored in the image memory without being temporarily stored in the external storage device. Next, the data obtained by the second scan is input to the addition processor without being stored in the external storage device. Then, the data is sequentially added to the corresponding data of the first data stored in the image memory, and the added value is stored in the image memory instead of the first data. Similar processing is performed in each subsequent scan. When a predetermined number of scans are completed, the added value of each scan is stored in the image memory. Further, in the second invention, in the above process, scanning in the first direction is continuously performed a predetermined number of times, then moving by one pitch in the second direction, and scanning in the first direction is continuously performed a predetermined number of times again. Go,
Such scanning is performed up to the final pitch in the second direction.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する. 第1図は本発明の実施例に係る超音波検査装置の系統図
である.図で、第3図に示す部分と同一部分には同一符
号を付して説明を省略する.24は外部記憶装置、25
はマイクロコンピュータである.従来の装置における外
部記憶装置18が、各回の走査により得られたデータを
すべて格納するのに用いられているのに対して、本実施
例の外部記憶装置24は当該データを加算してモニタT
Vに表示する処理には全く使用されず、したがって、他
の用途に使用されない場合には不要である.又、マイク
ロコンピュータ25は、従来装置のマイクロコンピュー
タ15とは処理内容を異にする。本実施例の他の構成は
、第3図に示す従来装置の構成と同じである。
The present invention will be explained below based on illustrated embodiments. FIG. 1 is a system diagram of an ultrasonic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. In the figure, parts that are the same as those shown in Figure 3 are given the same reference numerals and their explanations will be omitted. 24 is an external storage device, 25
is a microcomputer. While the external storage device 18 in the conventional device is used to store all the data obtained from each scan, the external storage device 24 in this embodiment adds the data and stores the data on the monitor T.
It is not used at all for the process of displaying it on V, and is therefore unnecessary if it is not used for other purposes. Further, the microcomputer 25 has different processing contents from the microcomputer 15 of the conventional device. The other configuration of this embodiment is the same as the configuration of the conventional device shown in FIG.

次に、本実施例の動作を第2図(a).  (b)に示
すフローチャートを参照しながら説明する.まず、オペ
レータはキーボード16を用いてマイクロコンピュータ
25に各測定条件を入力する(第2図(a)に示す手順
S.)。即ち、第4図に示す測定開始位置の座標Xo 
+ Yo 、測定範囲Xえ,YIl、測定ピツチp、お
よび定められた加算回数nが入力される.次いで、上記
入力値に基づき、モニタTV21で用いられる画素数が
演算され、又、画像メモリ20のデータ領域の設定とデ
ータクリアがなされる(手順Sヨ).画素数の計算は、
X軸方向の画素数をX..Y軸方向の画素数をY1とす
ると次式で求められる.pp そして、上記画素数に基づいて画像メモリ20のデータ
領域が設定される。さらに、画像データとして、Pa 
(x.  y)=Oと定めデータクリアを行なう.ただ
し、上記Xは、1≦X≦X,,上記yは、1≦y≦Y.
の範囲内にあり、X+3’とも1から始まる正の整数で
ある。さらに又、X軸方向の走査回数を符号IY軸方向
の各ピッチの番号をyAと置き、上記手順S2において
、符号■を1とし、番号yAを1番とする。
Next, the operation of this embodiment is shown in FIG. 2(a). This will be explained with reference to the flowchart shown in (b). First, the operator inputs each measurement condition into the microcomputer 25 using the keyboard 16 (step S. shown in FIG. 2(a)). That is, the coordinates Xo of the measurement start position shown in FIG.
+ Yo, measurement range X, YIl, measurement pitch p, and predetermined number of additions n are input. Next, the number of pixels used in the monitor TV 21 is calculated based on the input value, and the data area of the image memory 20 is set and data cleared (step S). Calculating the number of pixels is
The number of pixels in the X-axis direction is X. .. If the number of pixels in the Y-axis direction is Y1, it can be calculated using the following formula. pp Then, the data area of the image memory 20 is set based on the number of pixels. Furthermore, as image data, Pa
Set (x. y) = O and clear the data. However, the above X is 1≦X≦X, and the above y is 1≦y≦Y.
, and both X+3' are positive integers starting from 1. Furthermore, the number of scans in the X-axis direction is denoted by the symbol I, and the number of each pitch in the Y-axis direction is denoted by yA, and in the above step S2, the symbol ■ is made 1, and the number yA is made 1.

マイクロコンピュータ25は、X,Y,Zモータコント
ローラ22に対し手順Slで定めた測定開始位置(Xo
 , Yo )を指令し、探触子10はこれに対応した
位置に移動せしめられる.以後、超音波走査が開始され
るが、この走査は前述したように、X軸方向の走査を連
続してn回行なった後Y軸方向に1ピツチpだけ移動し
、この位置で再びX軸方向の走査を連続してn回行なう
という方法を操返ず。まず、Y軸方向の1番の位置にお
いて、X軸方向の第1回の走査を行ないデータを採取す
る(手順S3)。この走査により得られた各サンプリン
グ点のデータp +(x)は、外部記i1装胃24に入
力されることなく、直ちに画像メモリ20の対応するア
ドレスに格納される(手順S#).そして、上記X軸方
向の第1回の走査が終了すると、符号Iに数値1を加え
(手順S,)、第2回目(1=2)のX軸方向の走査を
実施してそのデータpz (x)を採取する(手)唾S
.)。なお、この第2回目の走査は、第1回目の走査の
最終位置から逆方向に行なってもよいし、又は当該最終
位置から最初の位置に戻って同一方向に行なってもよい
The microcomputer 25 sets the X, Y, Z motor controller 22 to the measurement start position (Xo
, Yo), and the probe 10 is moved to the corresponding position. After that, ultrasonic scanning is started, but as mentioned above, this scanning is performed n times in succession in the X-axis direction, then moved by 1 pitch p in the Y-axis direction, and at this position, the X-axis is scanned again. There is no need to repeat the method of continuously scanning the direction n times. First, at the first position in the Y-axis direction, a first scan in the X-axis direction is performed to collect data (step S3). The data p + (x) of each sampling point obtained by this scanning is immediately stored in the corresponding address of the image memory 20 without being input to the external storage 24 (procedure S#). When the first scan in the X-axis direction is completed, the numerical value 1 is added to the code I (step S), and the second (1=2) scan in the X-axis direction is performed and the data pz Collect (x) (hand) saliva S
.. ). Note that this second scan may be performed in the opposite direction from the final position of the first scan, or may be performed in the same direction after returning from the final position to the initial position.

手順S,の処理で採取された第2回目の走査の各データ
Pz(x)は、今度は加算処理器19に順次転送される
。一方、マイクロコンピュータ25は、転送されたデー
タp,(X)と対応する(同じサンプリング点の)第1
回走査によるデータPI(X)を画像メモリから取出す
.この取出されたデータP+ (x)は画像メモリの所
定アドレスに格納されているデータPa (X,)’A
)である.加算処理器19では、転送されたデータpt
(x)と取出されたデータP。(x,ya)とが加算さ
れ、この加算値は画像メモリ20の上記所定のアドレス
に新らしいデータとして格納される(手順S7)。即ち
、走査ライン上のあるサンプリング点についてみると、
第1回の走査におけるそのサンプリング点のデータは画
像メモリ20の所定アドレスに格納され、第2回の走査
における当該サンプリング点のデータは加算処理器l9
に転送され画像メモリ20の上記所定アドレスから取出
された第1回の走査のデータと加算され、その加算値は
画像メモリ20の上記所定アドレスに新らしい値として
格納されることになる。上記手順S7の処理は、探触子
10が1つのサンプリング点から次のサンプリング点に
移動する間に実行される.第二回目の走査における最終
サンプリング点についての手順S,の処理が終了すると
、マイクロコンピュータ25は現在の符号Iが設定され
た加算回数nに等しいか否か判断し(第2図(b)に示
す手順S8)、等しくない場合、処理は再び手順S5に
戻される。かくして、手順S,〜S8の処理が繰返され
、手順S8でT=nと判断されたとき、Y軸方向の第1
番目の位Fil O’A = 1 )におけるX軸方向
の所定回数の走査が終了し、その走査ライン上の各サン
プリング点についてのn個のデータの積算値は上記各サ
ンプリング点に対応する画像メモリ20の各所定のアド
レスに格納された状態となる。
Each data Pz(x) of the second scan acquired in the process of step S is sequentially transferred to the addition processor 19 this time. On the other hand, the microcomputer 25 stores the first data (at the same sampling point) corresponding to the transferred data p, (X).
The data PI(X) obtained by scanning twice is retrieved from the image memory. This extracted data P+ (x) is data Pa (X,)'A stored at a predetermined address in the image memory.
). In the addition processor 19, the transferred data pt
(x) and the extracted data P. (x, ya) are added, and this added value is stored as new data at the above-mentioned predetermined address in the image memory 20 (step S7). That is, if we look at a certain sampling point on the scanning line,
The data at the sampling point in the first scan is stored at a predetermined address in the image memory 20, and the data at the sampling point in the second scan is stored in the addition processor l9.
The data is transferred to the image memory 20 and added to the first scan data extracted from the predetermined address in the image memory 20, and the added value is stored in the predetermined address in the image memory 20 as a new value. The processing in step S7 above is executed while the probe 10 moves from one sampling point to the next sampling point. When the process of step S for the final sampling point in the second scan is completed, the microcomputer 25 determines whether the current code I is equal to the set number of additions n (see FIG. 2(b)). In step S8), if they are not equal, the process returns to step S5 again. In this way, the processes of steps S to S8 are repeated, and when it is determined that T=n in step S8, the first
A predetermined number of scans in the X-axis direction at the digit Fil O'A = 1) are completed, and the integrated value of n data for each sampling point on the scanning line is stored in the image memory corresponding to each sampling point. The information is stored at each of 20 predetermined addresses.

手順S,で、■t= nと判断されると、次に、yA−
y.(Y軸方向の位置がm番目か否か)が判断され(手
順S,)、yAがy.に達していない場合には、マイク
ロコンピュータ25は、XIY,Zモータコントローラ
22に指令を出力し、探触子10をY軸方向に1ビツチ
pだけ移動させ、yAに1を加え(手順S1。)、処理
は再び手順S,に戻され、Y軸方向における新らしい位
置でのX軸方向の走査が開始される。以上の動作が繰返
され、手順S,で、y^=Y.と判断されたとき、動作
が完了する。このとき、画像メモリ20には、被検材3
の各サンプリング点毎の超音波データの積算値が格納さ
れた状態となる。そして、これらデータに基づき、画像
メモリ20はモニタTV21に被検材3の超音波像を表
示する。
In step S, if ■t=n is determined, then yA-
y. (Whether the position in the Y-axis direction is m-th or not) is determined (step S,), and yA is y. If not, the microcomputer 25 outputs a command to the XIY, Z motor controller 22 to move the probe 10 by 1 bit p in the Y-axis direction and add 1 to yA (step S1). ), the process returns to step S, and scanning in the X-axis direction is started at a new position in the Y-axis direction. The above operations are repeated, and in step S, y^=Y. When it is determined, the operation is completed. At this time, the image memory 20 contains the material 3 to be inspected.
The integrated value of ultrasound data for each sampling point is stored. Based on these data, the image memory 20 displays an ultrasonic image of the specimen 3 on the monitor TV 21.

このように、本実施例では、走査により得られたデータ
を外部記憶装置24に格納せず、直ちに前回までの走査
のデータの積算値に加算し、その加算値を画像メモリに
格納するようにしたので、すべてのデータを一旦外部記
憶装置18に記憶していた従来装置に比較して、検査時
間を短縮することができる.又、外部記憶装置24を使
用しないので、その容量によって加算回数に制限を受け
ることはなく、加算回数を自由に選定することができる
.さらに、最終のサンプリング点から最初のサンプリン
グ点への移動がないので、各回の走査毎に当該移動を行
なう従来の装置に比較し、画像の精度を向上させること
ができる. 〔発明の効果〕 以上述べたように、本発明では、採取された走査データ
を外部記憶装置に格納せず、直ちに画像メモリの同位置
の走査データの積算値に加算するようにしたので、従来
装置に比較して検査時間を短縮することができるととも
に、加算回数を自由に選定することができる。又、上記
走査は、第1の方向の走査を所定回数連続して行なうよ
うにしたので、超音波像の精度を向上させることができ
る。
In this way, in this embodiment, the data obtained by scanning is not stored in the external storage device 24, but is immediately added to the integrated value of the data of the previous scanning, and the added value is stored in the image memory. Therefore, the inspection time can be shortened compared to the conventional apparatus in which all data is temporarily stored in the external storage device 18. Furthermore, since the external storage device 24 is not used, the number of additions is not limited by its capacity, and the number of additions can be freely selected. Furthermore, since there is no movement from the final sampling point to the first sampling point, the accuracy of the image can be improved compared to conventional devices that perform the movement for each scan. [Effects of the Invention] As described above, in the present invention, the sampled scan data is not stored in an external storage device, but is immediately added to the integrated value of the scan data at the same position in the image memory. Inspection time can be shortened compared to other devices, and the number of additions can be freely selected. Furthermore, since the scanning is performed in the first direction a predetermined number of times, the accuracy of the ultrasound image can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例に係る超音波検査装置の系統図
、第2図(a),<b)は第1図に示す装置の動作を説
明するフローチャート、第3図は従来の超音波検査装置
の系統図、第4図は被検材の平面図である 3・・・・・・・・・被検材、10・・・・・・・・・
探触子、1l・・・・・・・・・パルサレシーバ、14
・・・・・・・・・A / D 変換!、19・・・・
・・・・・加算処理器、20・・・・・・・・・画像メ
モリ、21・・・・・・・・・モニタTV,25・・・
・・・・・・マイクロコンピュータ。 第 2図(a)
Fig. 1 is a system diagram of an ultrasonic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, Fig. 2(a) and <b) are flowcharts explaining the operation of the apparatus shown in Fig. The system diagram of the sonic testing device, Fig. 4 is a plan view of the material to be tested.
Probe, 1l... Pulsar receiver, 14
・・・・・・・・・A/D conversion! , 19...
... Addition processor, 20 ... Image memory, 21 ... Monitor TV, 25 ...
・・・・・・Microcomputer. Figure 2(a)

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)第1の方向および第2の方向で規定される平面で
被検材を超音波により所定回数走査し、これら各回の走
査により得られた各走査データを各位置毎に加算し、当
該各位置毎の総加算値を画像メモリを介して表示部に表
示する超音波検査装置において、前記各走査データの採
取の都度直ちに当該走査データを前記画像メモリに格納
された同位置のデータと加算する加算手段と、この加算
手段により得られた値を同位置の格納アドレスに格納す
る手段とを設けたことを特徴とする超音波検査装置。
(1) Scan the specimen with ultrasonic waves a predetermined number of times on a plane defined by the first direction and the second direction, add each scan data obtained from each scan for each position, and In an ultrasonic inspection apparatus that displays the total sum value for each position on a display unit via an image memory, each time each scan data is acquired, the scan data is immediately added to the data at the same position stored in the image memory. 1. An ultrasonic inspection apparatus comprising: an adding means for adding a value, and a means for storing a value obtained by the adding means at a storage address at the same location.
(2)請求項(1)記載の超音波検査装置において、前
記走査データの採取は、前記第1の方向を連続して前記
所定回数走査することにより行なうことを特徴とする超
音波検査装置。
(2) The ultrasonic inspection apparatus according to claim (1), wherein the acquisition of the scanning data is performed by continuously scanning the predetermined number of times in the first direction.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS58129248A (en) * 1982-01-27 1983-08-02 Hitachi Ltd Image display for ultrasonic flaw detection

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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