JP2755793B2 - Lead frame - Google Patents

Lead frame

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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体装置のリードフレーム、とくに、リ
ード数の多い樹脂封止型半導体装置に最適なリードフレ
ームの構造に関するものである。
Description: Object of the Invention (Industrial Application Field) The present invention relates to a lead frame structure of a semiconductor device, and particularly to a lead frame structure most suitable for a resin-sealed semiconductor device having a large number of leads. It is.

(従来の技術) 半導体装置のリードフレームは、エッチングもしくは
打ち抜きにより成型される。リードフレームのエッチン
グ成型は、先ず、シート材やコイル材等を素材としてこ
れを洗浄し、レジストを塗布したあとに乾燥させ、リー
ドフレームパターンの焼付けを行って現像し、つぎに、
エッチングを施してレジストを除去し、切断しオフセッ
ト検査をしたあと短冊自動メッキラインでスポットAu,A
g等のメッキを施して完成する。一方、打ち抜き法で
は、前記のシート材やコイル材等をプレス金型にセット
してリードフレムパターンに従って打ち抜いてリードフ
レームを形成する。
(Prior Art) A lead frame of a semiconductor device is formed by etching or punching. First, the lead frame etching molding is performed using a sheet material or a coil material as a material, washing it, applying a resist, drying, baking and developing a lead frame pattern.
After removing the resist by etching, cutting and performing offset inspection, spot Au, A on strip automatic plating line
Finish by plating with g etc. On the other hand, in the punching method, the above-described sheet material, coil material and the like are set in a press die and punched according to a lead frame pattern to form a lead frame.

第3図(a)は、このような打ち抜き法で形成したリ
ードフレーム10の部分平面図である。リードフレーム10
は、長尺のFe−42Ni合金もしくはCuからなる材料で作ら
れている。長尺体の両端にはフレーム枠1が形成されて
いてその上端部には丸形のガイドピン孔5と長方形のガ
イドピン孔6が繰り返し周期的に形成されている。下端
部のフレーム枠1には丸形のガイドピン孔5が形成され
ている。丸形のガイドピン孔5は、半導体素子及びリー
ドフレームを樹脂封止する際に、これらの位置を正確に
決めるための位置決め孔であり、長円形のガイドピン孔
6は、半導体装置の組立工程の一工程において、リード
フレームをローダマガジンからアンローダマガジンへ搬
送するための送りピンを挿入する孔であり、各リード部
毎に少くとも1つ形成されている。
FIG. 3A is a partial plan view of the lead frame 10 formed by such a punching method. Lead frame 10
Is made of a long Fe-42Ni alloy or a material made of Cu. A frame 1 is formed at both ends of the elongated body, and a round guide pin hole 5 and a rectangular guide pin hole 6 are formed periodically at the upper end thereof. A round guide pin hole 5 is formed in the frame 1 at the lower end. The round guide pin hole 5 is a positioning hole for accurately determining the positions of the semiconductor element and the lead frame when the semiconductor element and the lead frame are sealed with a resin. In one process, holes for inserting feed pins for transporting the lead frame from the loader magazine to the unloader magazine are formed, and at least one hole is formed for each lead portion.

リード部121は、両端部のフレーム枠1の間に繰り返
し形成されており、アウターリード2,インナーリード4,
アウターリードとインナーリード間に形成されたタイバ
ー8,インナーリード中心に配置され、半導体素子を載置
するアイランド3等を具備している。リード部は隣接す
るリード部122とは打ち抜きバランスのため形成したス
リット9によって隔てられている。上のフレーム枠1の
両端の丸形ガイドピン孔と角形のガイドピン孔及び下の
フレームのガイドピン孔の近傍には角穴7を設けてい
る。
Lead portion 12 1 is repeatedly formed between the framework 1 at both ends, outer leads 2, the inner lead 4,
The tie bar 8 is formed between the outer lead and the inner lead. The tie bar 8 is provided at the center of the inner lead. Lead portions are separated by slits 9 formed for punching balance the lead portion 12 2 adjacent. Square holes 7 are provided near the round and square guide pin holes at both ends of the upper frame 1 and near the guide pin holes of the lower frame.

角穴7は、半導体素子とインナーリードをボンディン
グワイヤで接合する際に、ボンディングツールを正しい
ボンディングポジションに位置決めするために設けられ
た位置決め孔であり、ここを観察することによってツー
ルの位置を補正することが可能となる。リード部12は、
前記スリット間に一つづつ配設されるようになってい
る。
The square hole 7 is a positioning hole provided for positioning the bonding tool at a correct bonding position when the semiconductor element and the inner lead are bonded by a bonding wire, and the position of the tool is corrected by observing the positioning hole. It becomes possible. The lead section 12
It is arranged one by one between the slits.

ところでリードフレームの素材となる長尺体は、通常
は熱間及び冷間圧延を行って形成されたものであり、圧
延方向(たとえば、長軸方向)に結晶粒が伸びるばかり
か、結晶方向もこの方向に揃ろい、いわゆる繊維組織を
持っている。このような構造のリードフレーム素材をプ
レス金型によって打ち抜き成型すると内部応力が発生
し、それが不均一であると、リードフレームにそりやた
わみ等の歪が発生するので、半導体素子を組み込んだ
り、ワイヤボンディングを行う時に、素子が動いたり、
ボンディングポジションが正確に決められないなどの問
題が生ずる。
By the way, a long body used as a raw material of a lead frame is usually formed by performing hot and cold rolling, and not only crystal grains extend in a rolling direction (for example, a long axis direction), but also a crystal direction is increased. It has a so-called fiber structure aligned in this direction. When a lead frame material having such a structure is punched and formed by a press die, internal stress is generated, and if it is not uniform, a distortion such as warpage or bending occurs in the lead frame. When performing wire bonding, the element moves,
There are problems such as the bonding position cannot be determined accurately.

この内部応力が不均一になる原因としては、まず打抜
き形状が非対称であることが掲げられる。非対称によっ
て熱伝導にバラツキが生ずることになる。また、打抜き
によってスリット、孔などが形成されると、その付近の
繊維は分断され、その結果、リードフレームは繊維の長
さが場所によって異なるような不均一状態にある。リー
ドフレームを半導体素子と共に樹脂封止する場合に、こ
のリードフレームは本体180℃程度まで加熱される。熱
による材料の伸縮比は、材料の持つ繊維長の長短で異な
るから、熱応力によっても不均一に打ち抜かれるリード
フレームには歪の発生が避けられないことになる。
The reason why the internal stress becomes non-uniform is that the punched shape is asymmetric. The asymmetry will cause variations in heat conduction. Further, when slits, holes, and the like are formed by punching, the fibers in the vicinity are cut off, and as a result, the lead frame is in an uneven state in which the length of the fibers varies depending on the location. When the lead frame is resin-sealed together with the semiconductor element, the lead frame is heated up to about 180 ° C. Since the expansion and contraction ratio of the material due to heat varies depending on the length of the fiber length of the material, distortion is unavoidable in a lead frame that is punched non-uniformly even by thermal stress.

この歪の発生を具体的に従来例について検討してみる
と、前記第3図(a)のリードフレーム10の上端部のフ
レーム枠1のガイドピン孔などの打抜き孔5,6の間隔は1
0mmである。他方、下端部のフレーム枠1の打抜き孔5
の間隔は28mmである。このリードフレームに素子を搭載
し、ワイヤボンティングを経て樹脂封止を行うと、樹脂
の熱によってリードフレームにそりが発生するが、上端
部のフレーム枠のそりは、約0.5mmであるのに対して
(第3図(b))、下端部のフレーム枠のそりは約1mm
であった。打抜き工程が入る以上そりの発生は避けられ
ず、打抜き孔の間隔がせまい程小さく、間隔が大きくな
ると大きくなることがわかる。これは素材中の繊維の長
さが影響を与えているものと考えられる。そりと打抜き
孔間隔との関係を第4図に示す。打抜き孔間隔(x)を
横軸に、それに対応するそりの大きさ(y)を縦軸にと
ると、両者はほぼ直線的に変化している。この図からも
わかるように、下端部のフレーム枠のそれが大きいが、
これは前述したように、打抜き孔の間隔(ピッチ)に比
例しており、樹脂封止後、樹脂が収縮する際に、このピ
ッチが長い程樹脂に強く引張られてそりが多きくなるも
のと考えられる。
Considering the occurrence of this distortion in a conventional example, the interval between the punching holes 5, 6 such as the guide pin holes of the frame 1 at the upper end of the lead frame 10 in FIG.
0 mm. On the other hand, the punched hole 5 of the frame 1 at the lower end
Is 28 mm. When mounting the element on this lead frame and performing resin sealing via wire bonding, warpage occurs in the lead frame due to the heat of the resin, but the warpage of the top frame is about 0.5 mm. On the other hand (Fig. 3 (b)), the sledge of the frame at the lower end is about 1mm.
Met. It can be seen that warpage is unavoidable as long as the punching process is performed, and the interval between the punched holes is small as it is narrow, and becomes larger as the interval is increased. This is thought to be due to the length of the fiber in the material. FIG. 4 shows the relationship between the warpage and the interval between the punched holes. When the horizontal axis represents the punching hole interval (x) and the vertical axis represents the corresponding warpage size (y), both of them are almost linearly changed. As can be seen from this figure, the size of the frame at the lower end is large,
As described above, this is proportional to the interval (pitch) between the punched holes. When the resin shrinks after the resin is sealed, the longer the pitch is, the stronger the resin is pulled and the more the warp is. Conceivable.

(発明が解決しようとする課題) 以上のように、半導体装置に用いられるリードフレー
ムには、ガイドピン孔などが均一に形成されているわけ
ではなく、不規則に配置されていることが多く、打抜き
バランスが良くないという問題があり、さらに、その結
果素材の繊維の長さが不均一になるので熱応力も大きく
なって歪を大きくしているという問題があった。
(Problems to be Solved by the Invention) As described above, in a lead frame used in a semiconductor device, guide pin holes and the like are not always formed uniformly, but are often arranged irregularly. There is a problem that the punching balance is not good, and as a result, the length of the fiber of the material becomes uneven, so that there is a problem that the thermal stress increases and the strain increases.

本発明は上記事情によってなされたもので、抜きバラ
ンスが均一であり、したがって素材の繊維の長さを均一
にした半導体装置用リードフレームを提供することを目
的としている。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to provide a lead frame for a semiconductor device in which the drawing balance is uniform and the length of the fiber of the material is uniform.

〔発明の構成〕[Configuration of the invention]

(課題を解決するための手段) 本発明は、上下両端に形成され適宜の間隔でガイドピ
ン孔などの打抜き孔を有するフレーム枠を、上下のフレ
ーム枠間に繰返し形成されたリード部を具備した半導体
装置のリードフレームに関するものであり、前記打抜き
孔間に適宜の間隔で捨て穴を形成することによって、打
抜き孔も含めて穴の間隔(ピッチ)を狭めると同時に、
打抜き孔と捨て穴を配置を均一にすることを特徴として
いる。打抜き孔と捨て穴の配置を均一にすることは、上
下端のフレーム枠に形成された捨て穴等の配置を長軸に
対して対称にすることであるが、完全に対称である必要
はなく多少のずれは認められるが、各フレーム枠の打抜
き孔等の間隔はほぼ均一である必要がある。
(Means for Solving the Problems) The present invention includes a frame formed at both upper and lower ends and having punched holes such as guide pin holes at appropriate intervals, and a lead portion repeatedly formed between the upper and lower frame. The present invention relates to a lead frame of a semiconductor device, in which discarded holes are formed at appropriate intervals between the punched holes to reduce the interval (pitch) between the holes including the punched holes,
The arrangement of the punched holes and the discarded holes is uniform. To make the arrangement of the punched holes and the discard holes uniform is to make the arrangement of the discard holes formed in the upper and lower frame frames symmetrical with respect to the long axis, but it is not necessary to be completely symmetrical. Although some deviation is recognized, the intervals between the punched holes and the like in each frame need to be substantially uniform.

(作用) 捨て穴を形成することによってフレーム枠形状のバラ
ンスを良くし、素材の繊維長も従来のリードフレームよ
り均一にすることができる。捨て穴の形状によって作用
効果に格別の違いはなく、丸形,角形,長楕円形等何で
も良いが、角形のプレス金型の刃を損傷し易いという欠
点がある。また、上下のフレーム枠の対称性を良くする
ために向い合う穴の形状は同じである方が有利である。
(Operation) By forming the discard holes, the balance of the frame shape can be improved, and the fiber length of the material can be made more uniform than that of the conventional lead frame. There is no particular difference in the function and effect depending on the shape of the disposal hole, and any shape such as a round shape, a square shape, and an oblong shape may be used. However, there is a disadvantage that the blade of the square press die is easily damaged. In order to improve the symmetry of the upper and lower frames, it is advantageous that the shapes of the facing holes are the same.

(実施例1) 以下、本発明の一実施例を図面を用いて説明する。Embodiment 1 Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図(a)は、本発明の実施例1のリード部分が4
つの領域(4コマ)分記載されたリードフレームの部分
平面図、第1図(b)は、同図のA部分の拡大平面図、
第1図(c)は、第1図(a)の下部の断面図である。
冷間圧延により成形された、たとえばCuのような素材を
プレス金型を用いて打抜きリードフレーム10の長尺体を
形成する。図は、4コマ分のリード部分を示している
が、実際は長尺体の一部にすぎない。各コマに形成され
たリード部121,122は、アイランド3を有しており、そ
の周囲にインナーリード4、さらにその外側にタイバー
8を介してアウターリード2が形成されている。各リー
ド部の間にはスリット9が形成されている。これは、打
抜き加工を行ったあとの抜きバランスをとるために形成
されると同時に各リード部毎に切断するための容易性を
確保するためにある。各コマはスリット9によって隔離
されている。本実施例で使用した打抜き孔は、本発明の
要旨である捨て穴11を除いて各コマ毎に7つ形成されて
いる。すなわち、搬送用ガイドピン孔である長穴6、ダ
イボンディングを行う際の位置決め孔となる丸穴5及び
ワイヤボンディングの際のボンディングポジションを決
めるための角穴7などが上端及び下端部に形成されてい
る。上端部のフレーム枠1の打抜き穴5,6間は、等間隔
に10mmある。下端部のフレーム枠1には打抜き穴5が1
つ形成されており、隣のリード部122のある打抜き穴5
との間に28mmの距離がある。これは従来の下端部のフレ
ーム枠1の穴間隔に等しい。本実施例ではこの下端部の
フレーム枠1に隣接する打抜き穴5のほぼ真中に捨て穴
11を形成する。これによって穴間隔は従来の28mmから14
mmになり繊維が短かくなって最終処理を施したあとのリ
ードフレーム10の下短部のそりは、およそ0.6mmになる
(第1図(c)参照)。この程度のそりならば、ボンデ
ィングエラーなど組立て工程における障害の原因とはな
らない。また、上と下のそりの差も0.1mm程度しかない
ので、組立工程に支障をきたすことはない。しかし、上
下においてある程度の対称性は必要であり、そのためこ
の実施例では捨て穴11は、搬送用のガイドピン孔と同
じ、長穴にしてある。これは、長径が3mm、短径が2mmで
ある(第1図(b)参照)。
FIG. 1A shows that the lead portion of the first embodiment of the present invention has four leads.
FIG. 1 (b) is an enlarged plan view of a portion A of FIG.
FIG. 1 (c) is a sectional view of the lower part of FIG. 1 (a).
A long body of the lead frame 10 is formed by stamping a material such as Cu formed by cold rolling using a press die. Although the figure shows a lead portion for four frames, it is actually only a part of a long body. Each of the leads 12 1 and 12 2 formed on each frame has an island 3. An inner lead 4 is formed around the island 3, and an outer lead 2 is formed outside the inner lead 4 via a tie bar 8. A slit 9 is formed between each lead. This is for the purpose of securing the ease of cutting for each lead portion at the same time as being formed to balance the punching after performing the punching process. Each frame is separated by a slit 9. Except for the discarded hole 11 which is the gist of the present invention, seven punched holes used in this embodiment are formed for each frame. That is, a long hole 6 serving as a guide pin hole for transport, a round hole 5 serving as a positioning hole for performing die bonding, and a square hole 7 for determining a bonding position during wire bonding are formed at the upper and lower ends. ing. The distance between the punched holes 5 and 6 of the frame 1 at the upper end is equal to 10 mm. There is one punched hole 5 in the frame 1 at the lower end.
One formed and punched holes 5 with adjacent ones of the lead portion 12 2
There is a distance of 28mm between. This is equal to the hole interval of the conventional frame 1 at the lower end. In this embodiment, a discarded hole is provided almost at the center of the punched hole 5 adjacent to the frame 1 at the lower end.
Form 11. This reduces the hole spacing from 28 mm to 14
mm, the fiber becomes short, and the warpage of the lower short portion of the lead frame 10 after the final treatment is about 0.6 mm (see FIG. 1 (c)). Such a degree of warpage does not cause a failure in the assembly process such as a bonding error. Also, since the difference between the upper and lower warpages is only about 0.1 mm, there is no hindrance to the assembly process. However, a certain degree of symmetry is required in the upper and lower portions. Therefore, in this embodiment, the disposal hole 11 is formed as an elongated hole, which is the same as the guide pin hole for conveyance. This has a major axis of 3 mm and a minor axis of 2 mm (see FIG. 1 (b)).

(実施例2) つぎに、実施例2について第2図(a),(b)を用
いて説明する。第2図(a)は、リードフレームの要部
平面図であり、第2図(b)は同図の下部の断面図であ
る。リードフレームとしては実施例1と同じものを用い
るので、捨て穴11は、やはり、実施例2と同様に下端部
のみに形成する。図に示すように、下端部のリードフレ
ーム枠1において隣接するガイドピン孔5の間に等間隔
に2個の丸形の捨て穴11を形成する。従って、打抜き穴
は約9mmの間隔で配置されることになる(第2図(a)
参照)。繊維は、この間隔で切断されるので、この部分
のそりも約0.4mmとなり、かなり小さくなる(第2図
(b))。
Second Embodiment Next, a second embodiment will be described with reference to FIGS. 2 (a) and 2 (b). FIG. 2 (a) is a plan view of a main part of the lead frame, and FIG. 2 (b) is a cross-sectional view of the lower part of FIG. Since the same lead frame as that of the first embodiment is used, the discard hole 11 is formed only at the lower end similarly to the second embodiment. As shown in the figure, two round discard holes 11 are formed at equal intervals between adjacent guide pin holes 5 in the lead frame 1 at the lower end. Therefore, the punched holes are arranged at intervals of about 9 mm (FIG. 2 (a)).
reference). Since the fiber is cut at this interval, the warp at this portion is also about 0.4 mm, which is considerably small (FIG. 2 (b)).

しかも、上端部でのそりが前実施例と同様に約0.5mm
であるので、上下のフレーム枠間にもそりの差は殆んど
なく両者は均一であるというべきである。
Moreover, the warpage at the upper end is about 0.5 mm as in the previous embodiment.
Therefore, there should be almost no difference in the warp between the upper and lower frames, and both should be uniform.

なお、リードフレームは、実施例ではCuを用いたが、
これに限るものではなく、Fe−42Ni合金のような既存の
材料はすべて適用される。また、打抜き穴は、丸穴、角
穴、長穴など形状に関係なく、大きさも任意である。要
するに繊維が適宜切断されればよいのである。但し、角
形は金型の刃を傷め易いので量産性の面で好ましくな
い。リードフレームの変形が少ないので樹脂封止後の工
程である切断・曲げ加工用ポンチダイの長寿命が期待で
きる。
In addition, although the lead frame used Cu in the Example,
The present invention is not limited to this, and all existing materials such as Fe-42Ni alloy may be applied. Also, the size of the punched hole is arbitrary, regardless of the shape, such as a round hole, a square hole, or a long hole. In short, the fibers need only be cut appropriately. However, a square shape is not preferable in terms of mass productivity because the blade of the mold is easily damaged. Since the deformation of the lead frame is small, a long service life of the punch die for cutting and bending, which is a process after resin sealing, can be expected.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明は、以上のような構成によりフレーム枠形状の
バランスが良くなり、また、材料の繊維の長さも均一と
なるのでリードフレームの変形が少なくなる。
According to the present invention, the balance of the shape of the frame is improved by the above-described configuration, and the length of the fiber of the material becomes uniform, so that the deformation of the lead frame is reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図(a)は本発明の実施例1のリードフレームの部
分平面図、第1図(b)は第1図(a)に示すA部分の
拡大平面図、第1図(c)は第1図の(a)の下部の断
面図である。第2図(a)は、実施例2のリードフレー
ムの部分平面図、第2図(b)は同図の下部の断面図で
ある。第3図(a)は、従来のリードフレームの部分平
面図、第3図(b)は第3図(a)の上部の断面図、第
3図(c)は第3図(a)の下部の断面図である。第4
図は打抜き穴間隔(x)とリードフレームのそりの大き
さ(y)との関係をあらわす特性図である。 1……フレーム枠、2……アウターリード、 3……アイランド、4……インナーリード、 5……丸穴(ガイドピン穴)、 6……長穴(ガイドピン穴)、7……角穴、 8……タイバー、9……スリット、 10……リードフレーム、11……捨て穴、 121、122……リード部。
1 (a) is a partial plan view of a lead frame according to Embodiment 1 of the present invention, FIG. 1 (b) is an enlarged plan view of a portion A shown in FIG. 1 (a), and FIG. FIG. 2 is a sectional view of a lower part of FIG. FIG. 2A is a partial plan view of a lead frame according to a second embodiment, and FIG. 2B is a cross-sectional view of a lower portion of the same. FIG. 3 (a) is a partial plan view of a conventional lead frame, FIG. 3 (b) is a cross-sectional view of the upper part of FIG. 3 (a), and FIG. 3 (c) is that of FIG. 3 (a). It is sectional drawing of a lower part. 4th
The figure is a characteristic diagram showing the relationship between the punching hole interval (x) and the warp size (y) of the lead frame. 1 ... frame frame, 2 ... outer lead, 3 ... island, 4 ... inner lead, 5 ... round hole (guide pin hole), 6 ... long hole (guide pin hole), 7 ... square hole , 8 ... tie bar, 9 ... slit, 10 ... lead frame, 11 ... disposal hole, 12 1 , 12 2 ... lead part.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】上下両端に適宜の間隔で形成されたガイド
ピン孔などの打抜き穴を有するフレーム枠と、上下のフ
レーム枠間に繰り返し形成されたリード部とを具備した
リードフレームにおいて、前記打抜き穴間に一定の間隔
で捨て穴を形成して前記捨て穴も含めた打抜き穴の間隔
を狭めると同時に前記打抜き穴と捨て穴を等間隔に配置
することを特徴とするリードフレーム。
1. A lead frame comprising a frame having punched holes such as guide pin holes formed at appropriate intervals at upper and lower ends and a lead portion repeatedly formed between the upper and lower frame. A lead frame, wherein discarded holes are formed at regular intervals between holes to reduce the distance between the punched holes including the discarded holes, and the punched holes and the discarded holes are arranged at equal intervals.
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