JPH0453158A - Lead frame - Google Patents

Lead frame

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JPH0453158A
JPH0453158A JP15762290A JP15762290A JPH0453158A JP H0453158 A JPH0453158 A JP H0453158A JP 15762290 A JP15762290 A JP 15762290A JP 15762290 A JP15762290 A JP 15762290A JP H0453158 A JPH0453158 A JP H0453158A
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hole
punched
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Yoshihiro Shimazu
島津 義洋
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Abstract

PURPOSE:To improve balance of a frame shape and unify length of material fibers so as to lessen deformation by forming dead holes at fixed intervals between punched holes. CONSTITUTION:Long holes 6 for guide pins for carrier, of which 7 are formed for every frame, and round holes 5 for positioning at the time of performing die bonding are punched. An interval between punches holes 5, 6 of a frame 1 of the upper end part is 10mm at an equal interval. One punched hole 5 is formed in the frame 1 of the lower end part while being distant from a punched hole 5 lying in the neighboring lead part 122 by 28mm. A dead hole 11 is formed about in the middle between holes 5. Accordingly, the interval becomes 14mm thus to shorten fibers so that a curve of the lower short part of the frame 10 after final treatment becoms about 0.6mm thus causing no impediment in an assembly process such as a bonding error. Further, also a difference in a vertical curve is only about 0.1mm thus causing no hindrance in an assembly process. However, some vertical symmetry is necessary so that the hole 11 is to be made a long hole as in the case of the hole 6.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体装置のリードフレーム、とくに、リー
ド数の多い樹脂封止型半導体装置に最適なリードフレー
ムの構造に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a lead frame for a semiconductor device, and particularly to a lead frame structure that is optimal for a resin-sealed semiconductor device with a large number of leads. It is.

(従来の技術) 半導体装置のリードフレームは、エツチングもしくは打
ち抜きにより成型される。リードフレームのエツチング
成型は、まず、シート材やコイル材等を素材としてこれ
を洗浄し、レジストを塗布したあとに乾燥させ、リード
フレームパターンの焼付けを行って現像し、つぎに、エ
ツチングを施してレジストを除去し、切断しオフセット
検査をしたあと短冊自動メツキラインでスポットAu。
(Prior Art) A lead frame for a semiconductor device is formed by etching or punching. Etching lead frame molding involves first cleaning sheet material, coil material, etc., applying a resist, drying it, baking and developing the lead frame pattern, and then etching it. After removing the resist, cutting, and offset inspection, spot Au is placed on the strip automatic plating line.

Ag等のメツキを施して完成する。一方、打ち抜き法で
は、前記のシート材やコイル材等をプレス金型にセット
してリードフレムパターンに従って打ち抜いてリードフ
レームを形成する。
Finish by plating with Ag, etc. On the other hand, in the punching method, the sheet material, coil material, etc. described above is set in a press die and punched out according to a lead frame pattern to form a lead frame.

第3図(a)は、このような打ち抜き法で形成したリー
ドフレーム10の部分平面図である。リードフレーム1
0は、長尺のF e−42N i合金もしくはCuから
なる材料で作られている。長尺体の両端にはフレーム枠
1が形成されていてその上端部には丸形のガイドピン孔
5と長円形のガイドピン孔6が繰り返し周期的に形成さ
れている。下端部のフレーム枠1には丸形のガイドピン
孔5が形成されている。丸形のガイドピン孔5は、半導
体素子及びリードフレームを樹脂封止する際に、これら
の位置を正確に決めるだめの位置決め孔であり、長円形
のガイドピン孔6は、半導体装置の組立工程の一工程に
おいて、リードフレームをローダマガジンからアンロー
ダマガジンへ搬送するための送りピンを挿入する孔であ
り、各リード都銀に少くとも1つ形成されている。
FIG. 3(a) is a partial plan view of the lead frame 10 formed by such a punching method. Lead frame 1
0 is made of a long material made of Fe-42Ni alloy or Cu. A frame 1 is formed at both ends of the elongated body, and round guide pin holes 5 and oval guide pin holes 6 are repeatedly and periodically formed at the upper end thereof. A round guide pin hole 5 is formed in the frame frame 1 at the lower end. The round guide pin hole 5 is a positioning hole for accurately determining the positions of semiconductor elements and lead frames when resin-sealing them, and the oval guide pin hole 6 is a positioning hole for accurately determining the positions of semiconductor elements and lead frames when they are sealed with resin. This is a hole into which a feed pin is inserted for transporting the lead frame from the loader magazine to the unloader magazine in one step, and at least one hole is formed in each lead city bank.

リード部121は1両端部のフレーム枠1の間に繰り返
し形成されており、アウターリート2.インナーリード
4.アウターリードとインナーリード間に形成されたタ
イバー8.インナーリード中心に配電され、半導体素子
を載置するアイランド3等を具備している。リード部は
隣接するリード部122 とは打ち抜きバランスのため
形成したスリット9によって隔てられている。上のフレ
ーム枠1の両端の丸形ガイドピン孔と角形のガイドピン
孔及び下のフレームのガイドピン孔の近傍には角穴7を
設けている。
The lead portion 121 is repeatedly formed between the frame frame 1 at both ends of the outer lead 2. Inner lead 4. Tie bar formed between the outer lead and the inner lead 8. Power is distributed to the center of the inner lead, and it includes an island 3 and the like on which a semiconductor element is placed. The lead part is separated from the adjacent lead part 122 by a slit 9 formed for punching balance. Square holes 7 are provided near the round and square guide pin holes at both ends of the upper frame 1 and the guide pin holes on the lower frame.

角穴7は、半導体素子とインナーリードをボンディング
ワイヤで接合する際に、ボンディングツールを正しいボ
ンディングポジションに位置決めするために設けられた
位置決め孔であり、ここを観察することによってツール
の位置を補正することが可能となる。リード部12は、
前記スリット間に一つづつ配設されるようになっている
The square hole 7 is a positioning hole provided to position the bonding tool at the correct bonding position when bonding the semiconductor element and the inner lead with the bonding wire, and the position of the tool is corrected by observing this hole. becomes possible. The lead part 12 is
One each is arranged between the slits.

ところでリードフレームの素材となる長尺体は、通常は
熱間及び冷間圧延を行って形成されたものであり、圧延
方向(たとえば、長軸方向)に結晶粒が伸びるばかりか
、結晶方向もこの方向に揃ろい、いわゆる繊維組織を持
っている。このような構造のリードフレーム素材をプレ
ス金型によって打ち抜き成型すると内部応力が発生し、
それが不均一であると、リードフレームにそりやたわみ
等の歪が発生するので、半導体素子を組み込んだり。
By the way, the elongated body that is the raw material for lead frames is usually formed by hot and cold rolling, and not only do the crystal grains stretch in the rolling direction (for example, the long axis direction), but the crystal grains also change in the crystal direction. It has a so-called fibrous structure that is aligned in this direction. When a lead frame material with such a structure is punched and formed using a press die, internal stress is generated.
If this is not uniform, distortion such as warping or bending will occur in the lead frame, so it is difficult to incorporate semiconductor elements into it.

ワイヤボンディングを行う時に、素子が動いたり、ボン
ディングポジションが正確に決められないなどの問題が
生ずる。
When wire bonding is performed, problems arise such as the element moving or the bonding position not being accurately determined.

この内部応力が不均一になる原因としては、まず打抜き
形状が非対称であることが掲げられる。
One of the causes of this non-uniform internal stress is that the punched shape is asymmetrical.

非対称によって熱伝導にバラツキが生ずることになる。Asymmetry causes variations in heat conduction.

また、打抜きによってスリット、孔などが形成されると
、その付近の繊維は分断され、その結果、リードフレー
ムは繊維の長さが場所によって異なるような不均一状態
にある。リードフレームを半導体素子と共に樹脂封止す
る場合に、このリードフレームは大体180℃程度まで
加熱される。
Further, when slits, holes, etc. are formed by punching, the fibers in the vicinity of the slits or holes are divided, and as a result, the lead frame is in a non-uniform state in which the length of the fibers varies depending on the location. When a lead frame is resin-sealed together with a semiconductor element, the lead frame is heated to approximately 180°C.

熱による材料の伸縮比は、材料の持つ繊維長の長短で異
なるから、熱応力によっても不均一に打ち抜かれるリー
ドフレームには歪の発生が避けられないことになる。
Since the expansion/contraction ratio of a material due to heat differs depending on the fiber length of the material, it is inevitable that distortion will occur in a lead frame that is punched out unevenly due to thermal stress.

この歪の発生を具体的に従来例について検討してみると
、前記第3図(a)のリードフレーム10の上端部のフ
レーム枠1のガイドピン孔などの打抜き孔5,6の間隔
は10■である。他方、下端部のフレーム枠1の打抜き
孔5の間隔は28mである。
When considering the occurrence of this distortion in a conventional example, it is found that the distance between the punched holes 5 and 6 such as guide pin holes in the frame frame 1 at the upper end of the lead frame 10 in FIG. 3(a) is 10 ■It is. On the other hand, the interval between the punched holes 5 in the frame frame 1 at the lower end is 28 m.

このリードフレームに素子を搭載し、ワイヤボンティン
グを経て樹脂封止を行うと、樹脂の熱によってリードフ
レームにそりが発生するが、上端部のフレーム枠のそり
は、約0.5腸であるのに対して(第3図(b))、下
端部のフレーム枠のそりは約1■であった。打抜き工程
が入る以上そりの発生は避けられず、打抜き孔の間隔が
せまい程小さく、間隔が大きくなると大きくなることが
わかる。
When an element is mounted on this lead frame and sealed with resin through wire bonding, the lead frame will warp due to the heat of the resin, but the warp of the frame frame at the upper end is approximately 0.5 mm. (Fig. 3(b)), the warp of the frame frame at the lower end was approximately 1 square inch. It can be seen that as long as the punching process is involved, the occurrence of warpage is unavoidable, and the narrower the distance between the punched holes, the smaller the warpage, and the larger the distance, the larger the warp.

これは素材中の繊維の長さが影響を与えているものと考
えられる。そりと打抜き孔間隔との関係を第4図に示す
。打抜き孔間隔(X)を横軸に、それに対応するそりの
大きさ(y)を縦軸にとると、両者はほぼ直線的に変化
している。この図からもわかるように、下端部のフレー
ム枠のそりが大きいが、これは前述したように、打抜き
孔の間隔(ピッチ)に比例しており、樹脂封止後、樹脂
が収縮する際に、このピッチが長い程樹脂に強く引張ら
れてそりが大きくなるものと考えられる。
This is thought to be due to the length of the fibers in the material. FIG. 4 shows the relationship between warpage and punch hole spacing. When the punched hole interval (X) is taken as the horizontal axis and the corresponding warpage size (y) is taken as the vertical axis, both change almost linearly. As can be seen from this figure, there is a large warpage of the frame frame at the bottom end, but as mentioned above, this is proportional to the interval (pitch) of the punched holes, and when the resin contracts after resin sealing. It is thought that the longer this pitch is, the stronger the tension is on the resin and the larger the warpage.

(発明が解決しようとする課題) 以上のように、半導体装置に用いられるリードフレーム
には、ガイドピン孔などが均一に形成されているわけで
はなく、不規則に配置されていることが多く、打抜きバ
ランスが良くないという問題があり、さらに、その結果
素材の繊維の長さが不均一になるので熱応力も大きくな
って歪を大きくしているという問題があった。
(Problems to be Solved by the Invention) As described above, guide pin holes and the like are not uniformly formed in lead frames used in semiconductor devices, but are often arranged irregularly. There is a problem in that the punching balance is not good, and as a result, the length of the fibers of the material becomes non-uniform, resulting in increased thermal stress and increased distortion.

本発明は上記事情によってなされたもので、抜きバラン
スが均一であり、したがって素材の繊維の長さを均一に
した半導体装置用リードフレームを提供することを目的
としている。
The present invention was made in view of the above-mentioned circumstances, and an object of the present invention is to provide a lead frame for a semiconductor device in which the extraction balance is uniform and the fiber length of the material is made uniform.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

(課題を解決するための手段) 本発明は、上下両端に形成され適宜の間隔でガイドピン
孔などの打抜き孔を有するフレーム枠と、上下のフレー
ム枠間に繰返し形成されたリード部を具備した半導体装
置のリードフレームに関するものであり、前記打抜き孔
間に適宜の間隔で捨て穴を形成することによって、打抜
き孔も含めて穴の間隔(ピッチ)を狭めると同時に、打
抜き孔と捨て穴の配置を均一にすることを特徴としてい
る。打抜き孔と捨て穴の配置を均一にすることは、上下
端のフレーム枠に形成された捨て穴等の配置を長軸に対
して対称にすることであるが、完全に対称である必要は
なく多少のずれは認められるが、各フレーム枠の打抜き
孔等の間隔はほぼ均一である必要がある。
(Means for Solving the Problems) The present invention includes a frame having punched holes such as guide pin holes formed at both upper and lower ends at appropriate intervals, and a lead portion repeatedly formed between the upper and lower frame frames. This relates to a lead frame of a semiconductor device, and the hole spacing (pitch) including the punched holes can be narrowed by forming sacrificial holes at appropriate intervals between the punched holes, and at the same time, the arrangement of the punched holes and the sacrificial holes can be reduced. It is characterized by making it uniform. To make the arrangement of punched holes and waste holes uniform, it is to make the arrangement of the waste holes formed in the upper and lower ends of the frame symmetrical with respect to the long axis, but it does not have to be completely symmetrical. Although some deviation is allowed, the spacing between the punched holes, etc. in each frame must be approximately uniform.

(作用) 捨て穴を形成することによってフレーム枠形状のバラン
スを良くし、素材の繊維長も従来のリードフレームより
均一にすることができる。捨て穴の形状によって作用効
果に格別の違いはなく、丸形、角形、長楕円形等信でも
良いが、角形はプレス金型の刃を損傷し易いという欠点
がある。また、上下のフレーム枠の対称性を良くするた
めに向い合う穴の形状は同じである方が有利である。
(Function) By forming the waste holes, the balance of the frame shape can be improved, and the fiber length of the material can also be made more uniform than in conventional lead frames. There is no particular difference in function and effect depending on the shape of the hole, and it may be round, square, oblong, etc., but the square shape has the disadvantage of easily damaging the press die blade. Furthermore, in order to improve the symmetry between the upper and lower frames, it is advantageous for the shapes of the opposing holes to be the same.

(実施例1) 以下、本発明の一実施例を図面を用いて説明する。(Example 1) An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図(a)は、本発明の実施例1のリード部分が4つ
の領域(4コマ)分記載されたリードフレームの部分平
面図、第1図(b)は、同図のA部分の拡大平面図、第
1図(c)は、第1図(a)の下部の断面図である。冷
間圧延により成形された、たとえばCuのような素材を
プレス金型を用いて打抜きリードフレーム10の長尺体
を形成する。図は、4コマ分のリード部分を示している
が、実際は長尺体の一部にすぎない、各コマに形成され
たリード部12□、12.は、アイランド3を有してお
り、その周囲にインナーリード4.さらにその外側にタ
イバー8を介してアウターリード2が形成されている。
FIG. 1(a) is a partial plan view of a lead frame in which the lead portion of Example 1 of the present invention is shown in four areas (4 frames), and FIG. 1(b) is a partial plan view of a portion A of the same figure. The enlarged plan view, FIG. 1(c), is a sectional view of the lower part of FIG. 1(a). A long body of the lead frame 10 is formed by punching a cold-rolled material, such as Cu, using a press die. The figure shows the lead parts for four frames, but in reality they are just a part of the elongated body, and the lead parts 12□, 12. has an island 3 surrounded by inner leads 4. Further, an outer lead 2 is formed on the outside thereof via a tie bar 8.

各リード部の間にはスリット9が形成されている。これ
は、打抜き加工を行ったあとの抜きバランスをとるため
に形成されると同時に各リード都銀に切断するための容
易性を確保するためにある。各コマはスリット9によっ
て隔離されている。本実施例で使用した打抜き孔は、本
発明の要旨である捨て穴11を除いて各コマ毎に7つ形
成されている。すなわち、搬送用ガイドピン孔である長
穴6、ダイボンディングを行う際の位置決め孔となる丸
穴5及びワイヤボンディングの際のボンディングポジシ
ョンを決めるための角穴7などが上端及び下端部に形成
されている。上端部のフレーム枠1の打抜き穴5,6間
は、等間隔に1o■ある。下端部のフレーム枠1には打
抜き穴5が1つ形成されており、隣のリード部122 
のある打抜き穴5との間に28腸の距離があるにれは従
来の下端部のフレーム枠1の穴間隔に等しい。本実施例
ではこの下端部のフレーム枠1に隣接する打抜き穴5の
ほぼ真中に捨て穴11を形成する。これによって穴間隔
は従来の281から14mになり繊維が短かくなって最
終処理を施したあとのリードフレーム10の下短部のそ
りは、およそ0.6amになる(第1図(c)参照)。
A slit 9 is formed between each lead portion. This is to ensure punching balance after punching and at the same time to ensure ease of cutting into each lead metropolitan bank. Each frame is separated by a slit 9. Seven punched holes used in this embodiment are formed for each frame, excluding the waste hole 11, which is the gist of the present invention. That is, a long hole 6 as a guide pin hole for conveyance, a round hole 5 as a positioning hole for die bonding, a square hole 7 for determining the bonding position during wire bonding, etc. are formed at the upper and lower ends. ing. The punched holes 5 and 6 of the frame frame 1 at the upper end are spaced equally apart by 1o. One punched hole 5 is formed in the frame frame 1 at the lower end, and the adjacent lead part 122
The distance of 28 mm between certain punched holes 5 is equal to the hole spacing of the conventional frame 1 at the lower end. In this embodiment, a waste hole 11 is formed approximately in the center of the punched hole 5 adjacent to the frame frame 1 at the lower end. As a result, the hole spacing becomes 14 m from the conventional 281 m, the fibers become shorter, and the warpage of the lower short portion of the lead frame 10 after final processing is approximately 0.6 am (see Figure 1(c)). ).

この程度のそりならば、ボンディングエラーなど組立て
工程における障害の原因とはならない。また、上と下の
そりの差も0.1閣程度しかないので、組立工程に支障
をきたすことはない。しかし、上下においである程度の
対称性は必要であり、そのためこの実施例では捨て穴1
1は。
This degree of warpage will not cause problems in the assembly process such as bonding errors. Additionally, the difference in warpage between the top and bottom is only about 0.1 inch, so it does not interfere with the assembly process. However, a certain degree of symmetry between the top and bottom is necessary, so in this embodiment, the waste hole 1
1 is.

搬送用のガイドピン孔と同じ、長穴にしである、これは
、長径が3閣、短径が2閣である(第1図(b)参照)
The hole is the same as the guide pin hole for conveyance, and has a long axis of 3 holes and a short axis of 2 holes (see Figure 1 (b)).
.

(実施例2) つぎに、実施例2について第2図(a)、(b)を用い
て説明する。第2図(a)は、リードフレームの要部平
面図であり、第2図(b)は同図の下部の断面図である
。リードフレームとしては実施例1と同じものを用いる
ので、捨て穴11は、やはり。
(Example 2) Next, Example 2 will be explained using FIGS. 2(a) and (b). FIG. 2(a) is a plan view of the main part of the lead frame, and FIG. 2(b) is a sectional view of the lower part of the lead frame. Since the same lead frame as in Example 1 is used, the waste hole 11 is also provided.

実施例2と同様に下端部のみに形成する。図に示すよう
に、下端部のリードフレーム枠1において隣接するガイ
ドピン孔5の間に等間隔に2個の丸形の捨て穴11を形
成する。従って、打抜き穴は約9閣の間隔で配置される
ことになる(第2図(a)参照)。繊維は、この間隔で
切断されるので、この部分のそりも約0.4+a とな
り、かなり小さくなる(第2図(b))。
As in Example 2, it is formed only at the lower end. As shown in the figure, two round holes 11 are formed at equal intervals between adjacent guide pin holes 5 in the lead frame frame 1 at the lower end. Therefore, the punched holes will be arranged at intervals of about 9 holes (see Figure 2 (a)). Since the fibers are cut at this interval, the warpage in this part is also approximately 0.4+a, which is quite small (Fig. 2(b)).

しかも、上端部でのそりが前実施例と同様に約0.5■
であるので、上下のフレーム枠間にもそりの差は殆んど
なく両者は均一であるというべきである。
Moreover, the warpage at the upper end is approximately 0.5 cm, similar to the previous embodiment.
Therefore, there is almost no difference in warpage between the upper and lower frames, and they should be said to be uniform.

なお、リードフレームは、実施例ではCuを用いたが、
これに限るものではなく、F e −42N i合金の
ような既存の材料はすべて適用される。また、打抜き穴
は、丸穴、角穴、長穴など形状に関係なく、大きさも任
意である。要するに繊維が適宜切断されればよいのであ
る。但し、角形は金型の刃を傷め易いので量産性の面で
好ましくない、リードフレームの変形が少ないので樹脂
封止後の工程である切断・曲げ加工用ポンチダイの長寿
命が期待できる。
In addition, although Cu was used for the lead frame in the example,
The present invention is not limited to this, and all existing materials such as Fe-42Ni alloy can be applied. Further, the punched hole may have any shape, such as a round hole, a square hole, or an elongated hole, and may have any size. In short, the fibers need only be cut as appropriate. However, the square shape is unfavorable in terms of mass production because it easily damages the mold blade, but since the lead frame is less deformed, it can be expected that the punch die for cutting and bending, which is a process after resin sealing, will have a long life.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明は、以上のような構成によりフレーム枠形状のバ
ランスが良くなり、また、材料の繊維の長さも均一とな
るのでリードフレームの変形が少なくなる。
According to the present invention, the above-described configuration improves the balance of the frame shape, and the length of the fibers of the material is also uniform, so that deformation of the lead frame is reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図(a)は本発明の実施例1のリードフレームの部
分平面図、第1図(b)は同図の部分Aの拡大平面図、
第1図(c)は第1図(a)の下部の断面図、第2図(
a)は実施例2のリードフレームの部分平面図、第2図
(b)は同図の下部の断面図、第3図(a)は従来のリ
ードフレームの部分平面図、第3図(b)は同図上部の
断面図、第3図(c)は同じく下部の断面図、第4図は
打抜き穴間隔(X)とリードフレームのそりの大きさ(
y)との関係をあられす特性図である。 1・・・フレーム枠、   2・・・アウターリード、
3・・・アイランド、   4・・・インナーリード、
5・・・丸穴(ガイドピン穴)、 6・・・長穴(ガイドピン穴)、 7・・・角穴、8・
・−タイバー、    9・・・スリット、10・・・
リードフレーム、  11・・・捨て穴、12□、12
2・・・リード部。 代理人 弁理士 猪股祥晃(ほか1名)第 1 図 第 2 図 手続補正書(方式) 平成2年10月11日
FIG. 1(a) is a partial plan view of a lead frame of Example 1 of the present invention, FIG. 1(b) is an enlarged plan view of part A in the same figure,
Figure 1(c) is a sectional view of the lower part of Figure 1(a), and Figure 2(c) is a sectional view of the lower part of Figure 1(a).
a) is a partial plan view of the lead frame of Example 2, FIG. 2(b) is a sectional view of the lower part of the same figure, FIG. 3(a) is a partial plan view of the conventional lead frame, and FIG. ) is a sectional view of the upper part of the same figure, Fig. 3(c) is a sectional view of the lower part, and Fig. 4 is the punched hole interval (X) and the warpage size of the lead frame (
y); FIG. 1...Frame frame, 2...Outer lead,
3...Island, 4...Inner lead,
5... Round hole (guide pin hole), 6... Oblong hole (guide pin hole), 7... Square hole, 8...
・-Tie bar, 9...Slit, 10...
Lead frame, 11... Discarded hole, 12□, 12
2... Lead part. Agent: Patent attorney Yoshiaki Inomata (and one other person) Figure 1 Figure 2 Procedure amendment (method) October 11, 1990

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  上下両端に適宜の間隔で形成されたガイドピン孔など
の打抜き穴を有するフレーム枠と、上下のフレーム枠間
に繰り返し形成されたリード部とを具備したリードフレ
ームにおいて、前記打抜き穴間に一定の間隔で捨て穴を
形成して前記捨て穴も含めた打抜き穴の間隔を狭めると
同時に前記打抜き穴と捨て穴を等間隔に配置することを
特徴とするリードフレーム。
In a lead frame comprising a frame having punched holes such as guide pin holes formed at appropriate intervals on both upper and lower ends, and lead portions repeatedly formed between the upper and lower frame frames, a certain distance between the punched holes is provided. A lead frame characterized in that blank holes are formed at intervals to narrow the interval between the punched holes including the blank holes, and at the same time the punched holes and the blank holes are arranged at equal intervals.
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