JP2708342B2 - Lead frame - Google Patents
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、表面実装型の半導体装
置の組み立てに使用されるリードフレームに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lead frame used for assembling a surface mount type semiconductor device.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体製造工程において、リードフレー
ムに組み込まれた半導体素子は、モールド工程でエポキ
シ樹脂等を使って封止される。このモールド工程におい
て、封止用樹脂の硬化収縮およびモールド後の常温への
復帰時の封止用樹脂と金属製リードフレームとの熱膨張
係数の違いによって、リードフレームに反りが生じた
り、モールド部に残留応力が発生したりすることが知ら
れている。2. Description of the Related Art In a semiconductor manufacturing process, a semiconductor element incorporated in a lead frame is sealed with an epoxy resin or the like in a molding process. In this molding process, the lead frame may be warped or may be deformed due to the difference in thermal expansion coefficient between the sealing resin and the metal lead frame when the sealing resin cures and shrinks and returns to room temperature after molding. It is known that a residual stress is generated in the steel.
【0003】このようなリードフレームの反りやモール
ド部の残留応力が生じないようにするために、例えば特
公昭62−17381号公報に記載のリードフレームが
提案されている。このリードフレームは、図3に示すよ
うに、半導体素子がダイボンディングされるダイパッド
1の各辺に沿って、それぞれ並設されるリード端子2群
の中間部位をタイバー3で連結するとともに、各リード
端子2群の導出端を連結する連結部材4と外枠5との間
に間隙6を設け、外枠5と分離されたリード端子2群を
支片7によって支持した構造をなっている。リードフレ
ームの長手方向側辺部には、製造工程中でリードフレー
ムを位置決めする際の基準となるガイド孔8が一定ピッ
チで設けられている。[0003] In order to prevent such warpage of the lead frame and residual stress in the molded portion, for example, a lead frame described in Japanese Patent Publication No. 62-17381 has been proposed. In this lead frame, as shown in FIG. 3, along the respective sides of the die pad 1 to which the semiconductor element is die-bonded, the intermediate portions of the lead terminals 2 arranged side by side are connected by tie bars 3, and each lead is connected. A gap 6 is provided between the connecting member 4 for connecting the leading ends of the terminals 2 and the outer frame 5, and the lead terminals 2 separated from the outer frame 5 are supported by the supporting pieces 7. Guide holes 8 serving as references for positioning the lead frame during the manufacturing process are provided at a constant pitch on the side in the longitudinal direction of the lead frame.
【0004】上述したリードフレームによれば、封止用
樹脂の硬化収縮や、封止用樹脂とリードフレームとの熱
膨張係数の違いによる応力によってリード端子2に外力
が加わると、支片7およびリード端子2群がこれに追従
して変形し、外枠5が変形しないので、リードフレーム
の反りやモールド部の残留応力を軽減することができ
る。According to the above-described lead frame, when an external force is applied to the lead terminal 2 due to the curing shrinkage of the sealing resin or the stress caused by the difference in the thermal expansion coefficient between the sealing resin and the lead frame, the support pieces 7 and Since the lead terminals 2 are deformed following the deformation and the outer frame 5 is not deformed, the warpage of the lead frame and the residual stress of the molded portion can be reduced.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところで、図3中に鎖
線で示したモールド部9を成形するための金型には、モ
ールド部9に対応した金型内の空所(キャビティ)に樹
脂を注入するためのゲート10が設けられている。した
がって、成型時において、モールド部9は、ゲート10
部分の樹脂に連結された形態で熱硬化する。そのため、
封止用樹脂の硬化収縮の際、モールド部9はその中心に
向けて均等に収縮変位するのではなく、ゲート10側へ
若干多く変位する。換言すれば、モールド部9、および
モールド部9から導出されたリード端子2群がゲード1
0側へ変位するので、これらとガイド孔8との位置関係
が、若干ずれることになる。このようなモールド部9お
よびリード端子2群の変位は、常に一定ではなく、モー
ルド部9の形状、成型条件、ゲード10の構造等により
変化する。A mold for molding the mold portion 9 indicated by a chain line in FIG. 3 is provided with a resin in a cavity (cavity) in the mold corresponding to the mold portion 9. A gate 10 for implantation is provided. Therefore, at the time of molding, the mold portion 9 is
It is thermoset in the form of being connected to the resin of the part. for that reason,
When the sealing resin cures and shrinks, the mold portion 9 is not uniformly shrunk and displaced toward its center, but is slightly displaced toward the gate 10. In other words, the mold 9 and the group of lead terminals 2 derived from the mold 9 are gate 1
Since they are displaced toward the zero side, the positional relationship between them and the guide holes 8 is slightly shifted. Such displacement of the mold portion 9 and the group of the lead terminals 2 is not always constant, but changes depending on the shape of the mold portion 9, molding conditions, the structure of the gate 10, and the like.
【0006】その結果、モールド工程の後に行われるタ
イバーカット工程で次のような不都合を招く。すなわ
ち、タイバーカット工程では、モールドされたリードフ
レームの寸法を測定し、これを元に切断金型の寸法を設
定している。そして、リードフレームの側辺に設けられ
たガイド孔8を基準としてリードフレームを位置決め
し、図4(a)に示すように、各カットポンチ11を隣
接するリード端子2間の中央に位置させ、タイバー切断
後では、リード端子2の両側辺に同じ長さのタイバー残
渣3aが残るようにしている。しかし、上述したように
リード端子2群がゲート10側へ変位し、しかも、その
変位量が一定していない場合、ガイド孔8とリード端子
2との位置関係がずれるので、図4(b)に示すよう
に、カットポンチ11による打ち抜き位置がずれ、リー
ド端子2の一方側は長いタイバー残渣3aが残り、他方
側は食い込んだ形になる。上述のリード端子2群とガイ
ド孔8との位置ずれは、僅かではあるが、最近のファイ
ンピッチ化されたQFP(Quad Flat Package)等では、
リード端子2のピッチが極めて小さいので、上述の位置
ずれは無視できない問題になっている。As a result, the following inconvenience is caused in the tie bar cutting step performed after the molding step. That is, in the tie bar cutting step, the dimensions of the molded lead frame are measured, and the dimensions of the cutting die are set based on the measured dimensions. Then, the lead frame is positioned with reference to the guide hole 8 provided on the side of the lead frame, and as shown in FIG. 4A, each cut punch 11 is positioned at the center between the adjacent lead terminals 2, After cutting the tie bar, tie bar residues 3a of the same length remain on both sides of the lead terminal 2. However, as described above, if the group of lead terminals 2 is displaced toward the gate 10 and the amount of displacement is not constant, the positional relationship between the guide holes 8 and the lead terminals 2 is shifted, and therefore, FIG. As shown in (1), the punching position by the cut punch 11 is shifted, a long tie bar residue 3a remains on one side of the lead terminal 2, and the other side is cut off. Although the positional deviation between the above-described lead terminals 2 and the guide hole 8 is slight, in a recent fine-pitch QFP (Quad Flat Package) or the like,
Since the pitch of the lead terminals 2 is extremely small, the above-mentioned positional deviation is a problem that cannot be ignored.
【0007】なお、上述の問題を解決するために、特開
昭63−217637号公報では、位置決め用のガイド
孔が形成された基準部をタイバー、およびダイパッドの
支持体に連結したリードフレームが提案されている。こ
のリードフレームは、モールド時のリード端子の変位に
追従して、基準部を変位させることより、リード端子部
とガイド孔との位置関係を保持しようとしている。In order to solve the above-mentioned problem, Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-217637 proposes a lead frame in which a reference portion having a positioning guide hole is connected to a tie bar and a die pad support. Have been. The lead frame attempts to maintain the positional relationship between the lead terminal portion and the guide hole by displacing the reference portion following the displacement of the lead terminal during molding.
【0008】しかし、このリードフレームは、基準部が
強度の弱いタイバー等で片持ち支持された構造であるの
で、各製造工程におけるリードフレームのハンドリング
時や、モールドの際に基準部自体が変形しやすく、ガイ
ド孔とリード端子部との位置関係がずれることもある。However, since this reference frame has a structure in which the reference portion is cantilevered by a weak tie bar or the like, the reference portion itself is deformed at the time of handling the lead frame in each manufacturing process or at the time of molding. The positional relationship between the guide hole and the lead terminal may be shifted.
【0009】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、位置決め用ガイド孔とリード端子部と
の位置関係を正確に保持し、リードフレームを精度よく
位置決めすることができるリードフレームを提供するこ
とを目的とする。The present invention has been made in view of such circumstances, and a lead which can accurately maintain a positional relationship between a positioning guide hole and a lead terminal portion and can accurately position a lead frame. The purpose is to provide a frame.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、本発明は、表面実装型の半導体装置の組み立てに使
用されるリードフレームであって、半導体素子が固着さ
れるダイパッドと、前記ダイパッドの側辺に沿って並設
されたリード端子群と、前記リード端子群の中間部位を
連結するタイバーと、前記リード端子群の基端部を連結
するリード端子連結部と、前記リード端子連結部の周囲
に間隙を隔てて設けられる外枠と、前記リード端子連結
部を前記外枠に連結支持する支持片と、を備え、かつ、
前記リード端子連結部の内側領域に位置決め用のガイド
孔を形成したものである。The present invention has the following configuration in order to achieve the above object. That is, the present invention is a lead frame used for assembling a surface mount type semiconductor device, a die pad to which a semiconductor element is fixed, and a lead terminal group arranged side by side along the side of the die pad, A tie bar connecting an intermediate portion of the lead terminal group, a lead terminal connecting portion connecting a base end of the lead terminal group, an outer frame provided around the lead terminal connecting portion with a gap therebetween, and the lead And a support piece for connecting and supporting the terminal connection portion to the outer frame, and
A guide hole for positioning is formed in an inner area of the lead terminal connecting portion.
【0011】[0011]
【作用】本発明の作用は次のとおりである。モールド工
程において、モールド部の硬化収縮や、封止用樹脂とリ
ードフレームとの熱膨張係数の違いによりリード端子群
に応力が作用すると、支持片が変形することにより、モ
ールド部の変位に追従して、リード端子群、タイバー、
およびリード端子連結部が変位する。したがって、リー
ド端子連結部の内側領域に形成された位置決め用ガイド
孔も同様に変位するので、ガイド孔に対するリード端子
群およびタイバーの位置関係が正確に保持される。The operation of the present invention is as follows. In the molding process, when stress acts on the lead terminal group due to the curing shrinkage of the mold part or the difference in the thermal expansion coefficient between the sealing resin and the lead frame, the support piece is deformed and follows the displacement of the mold part. And lead terminal group, tie bar,
And the lead terminal connecting portion is displaced. Accordingly, the positioning guide holes formed in the inner region of the lead terminal connecting portion are similarly displaced, so that the positional relationship between the lead terminal group and the tie bar with respect to the guide holes is accurately maintained.
【0012】[0012]
【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例を説
明する。図1は、実施例に係るQFP用リードフレーム
の一部拡大平面図である。このリードフレーム20は、
鉄・ニッケル合金、コバール合金、銅合金などからなる
厚さ0.1〜0.15mmの金属製薄板を、パンチング
加工あるいはエッチング加工することによって作成され
る。リードフレーム20は、その中央部に半導体素子が
ダイボンディングされるダイパッド21を備えている。
ダイパッド21は、サポートリード22によって支持さ
れている。ダイパッド21の周囲には、リード端子23
群が各辺に沿って並設されている。各リード端子23群
は、その中間部位でタイバー24によって連結されてい
るとともに、その基端部がリード端子連結部25によっ
て連結されている。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a partially enlarged plan view of a QFP lead frame according to an embodiment. This lead frame 20
It is formed by punching or etching a metal thin plate having a thickness of 0.1 to 0.15 mm made of an iron-nickel alloy, a Kovar alloy, a copper alloy, or the like. The lead frame 20 is provided with a die pad 21 to which a semiconductor element is die-bonded at the center.
The die pad 21 is supported by support leads 22. Around the die pad 21, a lead terminal 23
Groups are juxtaposed along each side. Each lead terminal 23 group is connected by a tie bar 24 at an intermediate portion thereof, and a base end thereof is connected by a lead terminal connecting portion 25.
【0013】各リード端子連結部25は、ジグザグ状に
形成された4つの支持片26を介して、外枠20aに連
結支持されている。外枠20aには、リードフレーム2
0のメッキ処理や、半導体素子のダイボンディングある
いはワイヤーボンディング時に、リードフレーム20の
位置決めなどに使用されるガイド孔27が形成されてい
る。また、各リード端子連結部25の内側領域には、モ
ールド後のタイバーカット工程などでリードフレーム2
0を位置決めするために用いられる別のガイド孔28が
それぞれ形成されている。Each lead terminal connecting portion 25 is connected to and supported by the outer frame 20a via four support pieces 26 formed in a zigzag shape. The outer frame 20a has a lead frame 2
A guide hole 27 used for positioning the lead frame 20 or the like at the time of plating process 0, die bonding or wire bonding of a semiconductor element. Further, the lead frame 2 is formed in the inner area of each lead terminal connecting portion 25 by a tie bar cutting process after molding.
Other guide holes 28 used for positioning the 0 are respectively formed.
【0014】図1に示したリードフレーム20に、半導
体素子をダイボンディングし、前記半導体素子と各リー
ド端子23の先端部との間をワイヤーボンディングした
後、エポキシ樹脂などで封止することにより、モールド
部30が形成される。なお、図1中、符号31は、モー
ルド部31を形成するための成型金型のゲートを示して
いる。A semiconductor element is die-bonded to the lead frame 20 shown in FIG. 1, a wire bonding is performed between the semiconductor element and the tip of each lead terminal 23, and the semiconductor element is sealed with an epoxy resin or the like. A mold part 30 is formed. In FIG. 1, reference numeral 31 denotes a gate of a molding die for forming the mold portion 31.
【0015】上述したようにモールド部30を形成する
とき、封止用樹脂の硬化収縮や、封止用樹脂とリードフ
レーム20との熱膨張係数の違いによる応力によってリ
ード端子23群に外力が加わると、図2に鎖線で示すよ
うに、リード端子連結部25と外枠20aとの間に介在
する支持片26が変形することにより、リード端子23
群が変位する。このとき、リード端子23群は、タイバ
ー24やリード端子連結部25と一体となって変位す
る。したがって、リード端子23群が変位しても、リー
ド端子連結部25の内側領域に形成されたガイド孔28
と、リード端子23群との位置関係は不変である。モー
ルド工程の後に行われるタイバーカット工程では、リー
ド端子連結部25のガイド孔28に、図示しない切断金
型の位置決めピンを挿入することにより、リードフレー
ム20の位置決めを行い、タイバー24を切断除去す
る。ガイド孔28とリード端子23群の位置関係は、モ
ールド時のリード端子23群の変位にかかわらず不変で
あるので、タイバー24を精度よく切断除去することが
できる。When forming the mold portion 30 as described above, an external force is applied to the lead terminals 23 by stress caused by the curing shrinkage of the sealing resin and the difference in thermal expansion coefficient between the sealing resin and the lead frame 20. 2, the supporting piece 26 interposed between the lead terminal connecting portion 25 and the outer frame 20a is deformed, as shown by a chain line in FIG.
The group is displaced. At this time, the group of lead terminals 23 is displaced integrally with the tie bar 24 and the lead terminal connecting portion 25. Therefore, even if the group of lead terminals 23 is displaced, the guide holes 28 formed in the area inside the lead terminal connecting portion 25 are formed.
And the positional relationship with the group of lead terminals 23 is unchanged. In the tie bar cutting step performed after the molding step, the positioning of the lead frame 20 is performed by inserting a positioning pin of a cutting die (not shown) into the guide hole 28 of the lead terminal connecting portion 25, and the tie bar 24 is cut and removed. . Since the positional relationship between the guide hole 28 and the lead terminal group 23 remains unchanged regardless of the displacement of the lead terminal group 23 during molding, the tie bar 24 can be cut and removed with high precision.
【0016】なお、上述した実施例ではQFP用のリー
ドフレームを例に採って説明したが、本発明は、モール
ド部の対向する2側面からリード端子が導出されるフラ
ットパッケージ用のリードフレームにも適用することが
できる。In the above-described embodiment, a lead frame for a QFP has been described as an example. However, the present invention is also applicable to a lead frame for a flat package in which lead terminals are led out from two opposing side surfaces of a molded part. Can be applied.
【0017】また、リード端子連結部25の形成される
ガイド孔28は、実施例のような丸孔に限定されず、例
えば長孔、矩形状孔などであってもよい。さらに、リー
ド端子連結部25と外枠20aとを連結する支持片26
は、モールド時に作用する応力によって変形可能な構造
であればよく、その形状は種々変更実施することができ
る。The guide hole 28 in which the lead terminal connecting portion 25 is formed is not limited to a round hole as in the embodiment, but may be, for example, a long hole or a rectangular hole. Further, a supporting piece 26 for connecting the lead terminal connecting portion 25 and the outer frame 20a is provided.
Any shape may be used as long as it can be deformed by the stress applied during molding, and its shape can be variously changed.
【0018】[0018]
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、リード端子群の基端部を連結するリード端子
連結部の内側領域に位置決め用のガイド孔を形成したの
で、モールド時にリード端子群が変位すると、これに伴
ってガイド孔も同様に変位する。したがって、ガイド孔
に対するリード端子群およびタイバーの位置関係が正確
に保持されので、前記ガイド孔を基準としてリードフレ
ームを位置決めすることにより、タイバーカット等のリ
ードフレームの加工を極めて精度良く行うことができ
る。As is apparent from the above description, according to the present invention, since the positioning guide holes are formed in the inner region of the lead terminal connecting portion for connecting the base end portions of the lead terminal group, the guide holes are formed during molding. When the lead terminal group is displaced, the guide hole is also displaced accordingly. Therefore, the positional relationship between the lead terminal group and the tie bar with respect to the guide hole is accurately maintained. By positioning the lead frame with reference to the guide hole, it is possible to perform lead frame processing such as tie bar cutting with extremely high precision. .
【0019】また、ガイド孔が形成されたリード端子連
結部は、リード端子群および支持片によって連結支持さ
れているので、リードフレームのハンドリング時に変形
することが少なく、リードフレームの取り扱いも容易に
なる。Further, since the lead terminal connecting portion in which the guide hole is formed is connected and supported by the lead terminal group and the support pieces, it is less likely to be deformed during the handling of the lead frame, and the handling of the lead frame is facilitated. .
【図1】実施例に係るQFP用リードフレームの一部拡
大平面図である。FIG. 1 is a partially enlarged plan view of a QFP lead frame according to an embodiment.
【図2】実施例に係るリードフレームの要部拡大図であ
る。FIG. 2 is an enlarged view of a main part of the lead frame according to the embodiment.
【図3】従来例に係るリードフレームの一部拡大平面図
である。FIG. 3 is a partially enlarged plan view of a lead frame according to a conventional example.
【図4】従来例の問題点の説明に供する図である。FIG. 4 is a diagram provided to explain a problem of a conventional example.
20…リードフレーム 20a…外枠 21…ダイパッド 23…リード端子 24…タイバー 25…リード端子連結部 26…支持片 28…ガイド孔 DESCRIPTION OF SYMBOLS 20 ... Lead frame 20a ... Outer frame 21 ... Die pad 23 ... Lead terminal 24 ... Tie bar 25 ... Lead terminal connection part 26 ... Support piece 28 ... Guide hole
Claims (1)
用されるリードフレームであって、 半導体素子が固着されるダイパッドと、 前記ダイパッドの側辺に沿って並設されたリード端子群
と、 前記リード端子群の中間部位を連結するタイバーと、 前記リード端子群の基端部を連結するリード端子連結部
と、 前記リード端子連結部の周囲に間隙を隔てて設けられる
外枠と、 前記リード端子連結部を前記外枠に連結支持する支持片
と、 を備え、 かつ、前記リード端子連結部の内側領域に位置決め用の
ガイド孔を形成したことを特徴とするリードフレーム。1. A lead frame used for assembling a surface mount type semiconductor device, comprising: a die pad to which a semiconductor element is fixed; a lead terminal group arranged side by side along the side of the die pad; A tie bar connecting an intermediate portion of the lead terminal group; a lead terminal connecting portion connecting a base end of the lead terminal group; an outer frame provided around the lead terminal connecting portion with a gap therebetween; And a support piece for connecting and supporting a connecting portion to the outer frame, and a guide hole for positioning is formed in a region inside the lead terminal connecting portion.
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JPH06224352A JPH06224352A (en) | 1994-08-12 |
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1993
- 1993-01-21 JP JP5027344A patent/JP2708342B2/en not_active Expired - Fee Related
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JPH06224352A (en) | 1994-08-12 |
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