JP2748340B2 - リング光投光装置 - Google Patents

リング光投光装置

Info

Publication number
JP2748340B2
JP2748340B2 JP13025789A JP13025789A JP2748340B2 JP 2748340 B2 JP2748340 B2 JP 2748340B2 JP 13025789 A JP13025789 A JP 13025789A JP 13025789 A JP13025789 A JP 13025789A JP 2748340 B2 JP2748340 B2 JP 2748340B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
ring
light beam
lens
cylindrical lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP13025789A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH02309313A (ja
Inventor
二郎 布施
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Machida Endoscope Co Ltd
Original Assignee
Machida Endoscope Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Machida Endoscope Co Ltd filed Critical Machida Endoscope Co Ltd
Priority to JP13025789A priority Critical patent/JP2748340B2/ja
Priority to US07/526,136 priority patent/US5115349A/en
Publication of JPH02309313A publication Critical patent/JPH02309313A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2748340B2 publication Critical patent/JP2748340B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、環状の物品にピンホール等の欠陥がある
か否かを検査する場合等に用いるのに好適なリング光投
光装置に関する。
[発明がなされた背景] 例えば、第4図に示すような周縁部に深い凹陥部Bを
有する蓋体Aは、金属製の平板をプレス加工することに
よって製造されている。この場合、凹陥部Bの符号Cで
示す箇所およびその近傍には、深絞りによる亀裂が生じ
易い。このような亀裂が生じた蓋体Aを用いること、密
封性が損なわれるため、容器内部に収容した物品の種類
によっては酸化等によって劣化するおそれがある。
そこで、蓋体Aについては、その製造後、亀裂の有無
を検査するようにしている。
従来、上記のような蓋体Aの亀裂検査は、第4図に示
すように、検査光を部分Cに入射させるとともに、その
検査光を蓋体Aの周方向に走査させ、蓋体Aを透過する
検査光が有るか否かを光センサDによって検出させ、こ
れによって亀裂の有無を検査している。
ところが、このような亀裂検査方法においては、検査
光を蓋体Aの全周に亙って走査しなければならないた
め、検査に時間がかかるという問題がある。
そこで、この出願の発明者は、第5図に示すように、
光源Eの前方に環状の透明部Fを有する衝立Gを設け、
衝立Gの透明部Fを透過したリング状の光を検査法と
し、このリング状の検査光を蓋体Aの環状の深絞り部B
全体に同時に照射し、これによって検査時間の短縮を図
るようにした。
ところが、このようにした場合には、光源Eから発せ
られる光の一部しか使用することができず、エネルギの
損失が大きいという問題があった。また、衝立Gが光源
Eによって加熱されて高温になるため、連続検査を行う
ことが困難になるという問題があった。
この発明は、上記諸事情を考慮してなされたものであ
り、環状の部分にピンホールあるいは亀裂等が有るか否
かを同時に検出するために必要なリング光を、エネルギ
を損失することなく、しかも光源側に高温部が生じるこ
となく、発生させることができるリング光投光装置を提
供することを目的とする。
[目的を達成するための手段] この発明は、上記の目的を達成するために、複数の光
束を発生する光束発生手段と、前記光束が入射せしめら
れる円柱状レンズとを備え、前記光束を、前記円柱状レ
ンズの軸線方向における同一箇所でかつ周方向に離間し
た箇所に、前記軸線に対して互いに同一角度傾斜させた
状態で入射させたことを特徴とするものである。
[作用] 円柱状レンズに傾斜して入射せしめられた光束は、入
射角と同一角度をもって出射せしめられるが、この出射
光は円柱状レンズの軸線を中心とする円弧状になる。こ
の円弧状の出射光が他の光束による円弧状の出射光と連
なることにより、リング光が得られる。
[実施例] 以下、この発明の実施例について第1図ないし第3図
を参照して説明する。
第1図および第2図は、この発明の一実施例を示すも
のであり、この実施例のリング光投光装置は、2つの光
束発生手段1,2と、円柱状レンズ3とを備えている。
光束発生手段1は、共通光軸L1を有する半導体レーザ
ーダイオード11およびコリメータレンズ12と、反射鏡13
とから構成されている。半導体レーザーダイオード11
は、レーザー光を円錐状に発するものであり、その前方
にはレーザー光を断面円形の平行な光束とするコリメー
タレンズ12が配置されている。このコリメータレンズ12
の前方には、反射鏡13が配置されている。この反射鏡13
は、光軸L1に対して角度θ(0°<θ<45°)だけ傾斜
せしめられている。したがって、反射鏡13によって反射
された光束14は、光軸L1に対して2θだけ傾斜すること
になる。
光束発生手段2も、光束発生手段1と同様に構成され
ており、共通光軸L2を有する半導体レーザーダイオード
21およびコリメータレンズ22と、反射鏡23とを備えてい
る。この場合、光軸L2は光軸L1と平行であり、また光束
24は光束14と同一直径になされている。また、反射鏡23
は、光軸L2に対し、反射鏡13の傾斜角度θと同一角度
で、反射鏡13と逆向きに傾斜せしめられている。この結
果、反射鏡13,23によってそれぞれ反射された光束14と
光束24とは、光軸L1と光軸L2との間の中央部において交
差するようになっている。
上記円柱状レンズ3は、ガラスレンズあるいはセルフ
ォックレンズ(日本板硝子株式会社の商品名)等の集束
性光学繊維等からなるものであり、その直径が光束14,2
4の直径よりも大きくなされている。この円柱状レンズ
3は、その軸線Lが光軸L1,L2と平行で、かつ光束14,24
の各光軸の交点を通るように配置されている。したがっ
て、円柱状レンズ3には、軸線L方向における同一箇所
で、周方向に180°離間した箇所に、光束14,24が角度2
θ(0°<2θ<90°)だけ傾斜した状態で入射される
ことになる。
上記構成のリング光投光装置においては、第2図に示
すように、光束14を円柱状レンズ3に入射させると、円
柱状レンズ3からはその軸線Lを中心とする円弧状の光
14Aが出射される。この出射光14Aは、円弧状レンズ3と
して屈折率が外周側ほど大きい屈折率分布型レンズ、例
えばセルフォックレンズを用いた場合には、第2図
(A)に示すように、略半円になる。光束24による出射
光24Aも同様である。したがって、出射光14A,24Aは、両
端部どうしが互いに重なり合い、これによってリング光
4が得られる。
ただし、出射光14A,24Aの明るさは中央部で明るく、
両端部で暗い。また出射光14A,24Aの幅は中央部で光束1
4,24の直径と等しいが、両端部へ向かうにしたがって狭
くなる。このため、リング光4の周方向における各部の
明るさおよび幅に差異が生じる。このような差異が問題
となる場合には、それを解消するために、3つ以上の光
束を用いるのがよい。その場合、各光束を円柱状レンズ
3にその周方向に等間隔をもって入射させるのが望まし
いのは勿論である。
また、円柱状レンズ3としてガラスロッドを用いた場
合には、第2図(B)に示すように、出射光14A(24A)
が半円にならない。このため、2つの光束14,24だけで
はリング光が得られない。したがって、この場合にも、
出射光の周方向の長さに応じて3つあるいはそれ以上の
光束を用いるようにする。
上記のように、この発明のリング光投光装置において
は、円柱状リンズ3に入射される光束14,24の全体を用
いてリング光4を得ているから、エネルギの損失がほと
んどない。また、光束14,24の一部を遮ることがないか
ら、装置の一部が高温になることもない。したがって、
検査等に用いる場合に、装置を連続して使用することが
できる。さらに、この発明のリング光投光装置を用いる
ことにより、蓋体等における環状の被検査部分を同時に
照射することができるので、検査を短時間で行うことが
できる。
また、第3図に示す実施例は、コリメータリンズ12と
反射鏡13との間、およびコリメータレンズ22と反射鏡23
との間に互いに焦点距離の等しい集光レンズ15,25をそ
れぞれ配置し、これによって光束14,24を光学素子3の
軸線L上の1点において交差させるとともに、光学素子
3の前方にコリメータレンズ5を配置したものであり、
コリメータレンズ5は、光束14,24の交差点からその焦
点距離だけ離間せしめられている。
このものにおいては、前述した実施例のリング光4の
直径が光学素子3から離間するにしたがって漸次大きく
なったのに対し、直径が一定であるリング光6が得られ
る。
なお、上記の実施例においては、2つの光束発生手段
1,2を用いているが、1つの光束発生手段から出射され
る光束をハーフミラー等を用いて2つに分けるようにす
れば、1つの光束発生手段で事足りる。
また、上記の実施例においては、反射鏡13,23を用い
ているが、これに代えてプリズムを用いてもよい。ま
た、光軸L1,L2を角度2θだけ傾けるようにすれば、反
射鏡13,23またはプリズムは不要である。さらに、この
発明のリング光投光装置は、蓋体の欠陥検査のみなら
ず、容器の環状をなす開口部の欠陥の検査等にも用いる
ことができる。
[発明の効果] 以上説明したように、この発明のリング光投光装置に
よれば、円柱状のレンズに複数の光束を互いに等しい傾
斜角をもって入射させるようにしたものであるから、エ
ネルギを損失したり、装置の一部が過熱したりすること
なくリング光が得られる。また、環状の物品の検査に用
いることにより、検査を短時間で行うことができる等の
効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例の概略構成を示す図、第2
図(A)は円柱状レンズとしてセルフォックレンズを用
いた場合における光束と出射光との関係を示す図、第2
図(B)は、円柱状レンズとしてガラスロッドを用いた
場合における光束と出射光との関係を示す図、第3図は
この発明の他の実施例の概略構成を示す図、第4図は蓋
体の従来の検査方法を示す図、第5図はリング光を用い
る場合の蓋体の検査方法を示す図である。 1,2……光束発生手段、14,24……光束、3……円柱状レ
ンズ、4,6……リング光。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の光束を発生する光束発生手段と、前
    記光束が入射せしめられる円柱状レンズとを備え、前記
    光束を、前記円柱状レンズの軸線方向における同一箇所
    でかつ周方向に離間した箇所に、前記軸線に対して互い
    に同一角度傾斜させた状態で入射させたことを特徴とす
    るリング光投光装置。
JP13025789A 1989-05-25 1989-05-25 リング光投光装置 Expired - Fee Related JP2748340B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13025789A JP2748340B2 (ja) 1989-05-25 1989-05-25 リング光投光装置
US07/526,136 US5115349A (en) 1989-05-25 1990-05-22 Projector system and system for detecting flaw

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13025789A JP2748340B2 (ja) 1989-05-25 1989-05-25 リング光投光装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02309313A JPH02309313A (ja) 1990-12-25
JP2748340B2 true JP2748340B2 (ja) 1998-05-06

Family

ID=15029934

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13025789A Expired - Fee Related JP2748340B2 (ja) 1989-05-25 1989-05-25 リング光投光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2748340B2 (ja)

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0319389Y2 (ja) * 1986-08-28 1991-04-24
JPS63296770A (ja) * 1987-05-29 1988-12-02 Create Medeitsuku Kk 皮下埋め込み式リザ−バ−

Also Published As

Publication number Publication date
JPH02309313A (ja) 1990-12-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950016899A (ko) 용기의 투명부분 특히 병의 아가리부분의 광학검사를 위한 프로세스와 장치
US5440423A (en) Optical illumination instrument
US7417725B2 (en) Illumination method and device for detecting surface defects and/or material shortage on the neck ring of a container
EP0856728B1 (en) Optical method and apparatus for detecting defects
US3825322A (en) Illumination system
JPH03502601A (ja) 対象物の表面を光学的に走査する装置
KR880008043A (ko) 비접촉 자동 초점위치 맞춤방법 및 장치.
KR890005491A (ko) 작은 면적 대역상의 물체의 곡률을 변화시키는 광학 시스템
CN110044849A (zh) 半封闭腔体内部缺陷检测装置
JPS62264008A (ja) 光束集束装置とこの装置を使つた光フアイバ溶接機械
US5772313A (en) Optical means for annular illumination of a spot
JP2748340B2 (ja) リング光投光装置
KR0150999B1 (ko) 평행광 조명장치
JP2762420B2 (ja) リング光投光装置
JPH06288929A (ja) ワーク表面の検査装置
JPH07281098A (ja) 暗視野照明装置を備えた顕微鏡
JPH0589276A (ja) 凹凸パターン読取装置
US5115349A (en) Projector system and system for detecting flaw
JPS63133046A (ja) 検査用照明器具
JPH1068700A (ja) 線材表面欠陥検査装置
JPH05340877A (ja) 真珠の色選別用投光器及び受光器
KR100636505B1 (ko) Line CCD를 이용하여 패턴을 검사하는 광학계용 조명장치
JPH0131958Y2 (ja)
JPH03172728A (ja) 透光性部材の反射率測定装置
JP2587021B2 (ja) シュリーレン法装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees