JP2738439B2 - 液晶表示装置の製造方法 - Google Patents

液晶表示装置の製造方法

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浩一 星野
重之 高橋
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、液晶表示装置に設置されるスイッチング素
子のうち、金属−絶縁体−金属の3層構造からなる素子
(Metal−Insulator−Metal、以下MIM素子と呼ぶ)の製
造方法に関するものである。
〔従来の技術〕
MIM素子は、印加電圧が低い場合には高抵抗、印加電
圧が高い場合には低抵抗となる電気的特性を有し、ガラ
ス基板上にも容易に形成できるため、液晶表示装置のス
イッチング素子として利用することが提案され実用化さ
れている。従来例におけるこのMIM素子の製造方法を第
3図を用いて説明する。
まず第3図(a)に示すように、ガラス基板1上の全
面に第1の金属2を形成する。その後全面に感光性樹脂
(図示せず)を形成し、ホトマスクを用いて露光、現像
を行ないこの感光性樹脂をパターニングし、このパター
ニングした感光性樹脂をエッチングマスクにして第1の
金属2をエッチングする、いわゆるフォトエッチングに
より第1の金属2をパターニングする。
次に第3図(b)に示すように、この第1の金属2上
に陽極酸化法や熱酸化法等を用いて絶縁体3を形成す
る。
その後第3図(c)に示すように、ガラス基板1上の
全面に第2の金属4として透明導電膜を形成し、フォト
エッチングを用いてこの透明導電膜を透明画素電極5の
形状にパターニングして、MIM素子を製造している。
(特開昭57−196290号公報) 〔発明が解決しようとする課題〕 しかしながら前述した製造方法によるMIM素子の構造
において、第2の金属4が透明画素電極5に置き換えら
れるため、例えば透明画素電極5としてITO(In2O3・Sn
O2)を用いた場合には、このMIM素子の第1の金属2と
の仕事関数の差が大きくなるため、第4図のMIM素子の
電圧−電流特性を示すグラフにおける破線9に示すよう
に、印加電圧と電流値の絶対値との関係が、印加電圧の
正負に対して非対称になり、液晶を駆動するに当たって
は非常に複雑な駆動方法を必要とするという欠点を有し
ている。
本発明の目的は、前述したような課題を解決して、電
流値の絶対値が印加電圧の正負に対して対称な特性を示
し、かつ非常に簡易なMIM素子の製造方法を提供するも
のである。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、本発明はメッキ法を用い
る事により第1の金属上の絶縁体表面にのみ選択的に金
属薄膜を形成できる事に着目し、印加電圧の正負に対し
て電流値の絶対値が対称となるようなMIM素子を非常に
簡易に製造することを特徴とする。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳述する。
第1図は本発明の一実施例におけるMIM素子の製造方
法を工程順に示す断面図であり、第2図は本発明のMIM
素子を示す平面図である。以下第1図および第2図を交
互に参照して説明する。
まず第1図(a)に示すように、第1の金属2として
ガラス基板1上の全面にスパッタリング法や蒸着法等を
用いてタンタル(Ta)を100nm〜500nmの厚さで形成す
る。その後、フォトエッチング法を用いてこのタンタル
のパターニングを行なって第1の金属2を形成する。こ
の第1の金属2の平面パターン形状は第2図の実線6で
示す。
その後第1図(b)に示すように絶縁体3を得るため
に、第1の金属であるタンタルを、0.5g/〜50g/の
クエン酸溶液中における陽極酸化法を行なう。あるいは
この陽極酸化法の代わりに、温度200℃〜450℃の酸素雰
囲気中で熱処理するいわゆる熱酸化法を行なうことによ
り絶縁体3を形成する。陽極酸化あるいは熱酸化にて形
成する絶縁体3としての酸化タンタルは5nm〜100nmの厚
さで形成する。陽極酸化法や熱酸化法の代りにスパッタ
リング法や蒸着法や化学気相成長法等を用いて酸化タン
タル、酸化硅素、窒化硅素等を5nm〜100nm全面に形成し
てもよい。
その後第1図(c)に示すように、絶縁体3表面に第
2の金属4を形成するために、無水クロム酸100g/〜4
00g/、硫酸1g/〜4g/、液温50℃〜60℃、陰極電流
密度10A/dm2〜100A/dm2によるいわゆるサージェント浴
によりクロムを10nm〜100nmの厚さで第1の金属2上の
全面に絶縁体3を介して形成する。
その後透明画素電極5を形成するために、透明導電膜
として例えばITOを50nm〜500nmの膜厚で、スパッタリン
グ法や蒸着法等を用いて形成し、フォトエッチング法に
よりパターニングする。この透明画素電極5の平面パタ
ーン形状は、第2図の破線7で示す。最後にこの透明画
素電極5のフォトエッチングに用いた感光性樹脂を使
い、硝酸第二セリウム・アンモニウム150g/〜200g/
、過塩素酸80g/〜90g/の溶液を用いて、透明画素
電極5に覆われてない領域の第2の金属4であるクロム
を取り除く。すなわち第2図に示す第1の金属2と、透
明画素電極5の交差部以外の第2の金属4を除去するこ
とにより、MIM素子を得る。
従来の技術で述べたように、この絶縁体3は印加電圧
が高いと低抵抗となる性質を持っているので、第1の金
属2上の絶縁体3のみが低抵抗となり、容易にこの絶縁
体3上にのみクロムを形成できる。
サージェント浴の代わりに、硫酸ニッケル240g/、
塩化ニッケル45g/、ほう酸30g/、液温45℃〜70℃、
陰極電流密度2A/dm2〜10A/dm2によるいわゆるワット浴
を用いてニッケル(Ni)を形成しても良い。この場合に
は、ニッケルは前述のITOのエッチング液で溶解できる
ので、ITOのパターニング時に、同時にニッケルも除去
できる。また、これらのクロム、ニッケルの代わりに銅
(Cu)、亜鉛(Zn)、鉄(Fe)、コバルト(Co)、パラ
ジウム(Pa)等を用いてもよい。
本発明によれば、第4図のMIM素子の電圧−電流特性
を示すグラフにおける実線8で示すように、印加電圧と
電流値の絶対値との関係が、印加電圧の正負に対して対
称となる。これは第1の金属2と第2の金属4との仕事
関数差が小さくなるためである。
〔発明の効果〕
以上の説明で明らかなように、本発明によれば非常に
簡単で安定した一つの工程を加えるのみで、印加電圧の
正負に対して電流値の絶対値が対称になり、非常に安定
で高品質であり、なおかつ断線欠陥の発生確率を限界ま
で小さくした構造のMIM素子の製造が可能となる。本発
明を液晶表示装置の製造に応用すれば、その効果は絶大
である。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(d)は本発明の一実施例におけるMIM
素子の製造方法を工程順に示す断面図、第2図は本発明
の一実施例におけるMIM素子を示す平面図、第3図
(a)〜(c)は従来例におけるMIM素子の製造方法を
工程順に示す断面図、第4図は本発明と従来例における
MIM素子の電圧−電流特性を併せて示すグラフである。 1……ガラス基板、2……第1の金属、 3……絶縁体、4……第2の金属、 5……透明画素電極。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ガラス基板上の全面に第1の金属を形成し
    フォトエッチングにより該第1の金属をパターニングす
    る工程と、前記第1の金属の表面に絶縁体を形成する工
    程と、メッキ法により前記第1の金属の表面に該絶縁体
    を介して第2の金属を選択的に形成する工程と、全面に
    透明導電膜を形成しフォトエッチングにより該透明導電
    膜を透明画素電極の形状にパターニングする工程と、該
    透明画素電極に覆われていない領域の前記第2の金属を
    除去する工程とを有することを特徴とする液晶表示装置
    の製造方法。
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