JP2734440B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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- JP2734440B2 JP2734440B2 JP551996A JP551996A JP2734440B2 JP 2734440 B2 JP2734440 B2 JP 2734440B2 JP 551996 A JP551996 A JP 551996A JP 551996 A JP551996 A JP 551996A JP 2734440 B2 JP2734440 B2 JP 2734440B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置に
関し、特に光ディスク装置に用いられるレンズ位置誤差
検出回路、レンズ位置制御回路を検査する機能を備えた
光ディスク装置に関するものである。
関し、特に光ディスク装置に用いられるレンズ位置誤差
検出回路、レンズ位置制御回路を検査する機能を備えた
光ディスク装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、光ディスク装置の製造過程におい
ては様々な機能検査が行われている。なかでも、対物レ
ンズの相対位置誤差を検出するレンズ位置誤差検出回路
や、相対位置誤差に応じて対物レンズの位置を制御する
レンズ位置制御回路の機能検査は重要である。そこで、
従来は発振器を用いて疑似的に発生させた信号をレンズ
位置誤差検出回路、レンズ位置制御回路に入力し、この
入力信号に対応する信号が出力されるかどうかを検査技
術者が計測器を使って検査を行っていた。
ては様々な機能検査が行われている。なかでも、対物レ
ンズの相対位置誤差を検出するレンズ位置誤差検出回路
や、相対位置誤差に応じて対物レンズの位置を制御する
レンズ位置制御回路の機能検査は重要である。そこで、
従来は発振器を用いて疑似的に発生させた信号をレンズ
位置誤差検出回路、レンズ位置制御回路に入力し、この
入力信号に対応する信号が出力されるかどうかを検査技
術者が計測器を使って検査を行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来、計
測器を用いて人手による検査を行っていたため検査効率
が悪い、時間がかかる、検査コストが高いといった問題
点があった。そのため、光ディスク装置の生産性向上の
障害となっていた。本発明はこのような課題を解決する
ためのものであり、短時間に自動的にレンズ位置誤差検
出回路内の断線検査、レンズ位置制御回路の検査を行う
機能を備えた光ディスク装置を提供し、光ディスク装置
の生産性を向上させることを目的としている。
測器を用いて人手による検査を行っていたため検査効率
が悪い、時間がかかる、検査コストが高いといった問題
点があった。そのため、光ディスク装置の生産性向上の
障害となっていた。本発明はこのような課題を解決する
ためのものであり、短時間に自動的にレンズ位置誤差検
出回路内の断線検査、レンズ位置制御回路の検査を行う
機能を備えた光ディスク装置を提供し、光ディスク装置
の生産性を向上させることを目的としている。
【０００４】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明の光ディスク装置は、光ディスクの半
径方向における光学ヘッドの駆動限界端に設置されたス
トッパと、レンズ位置誤差信号の交互に変化する極性を
検出し、検出された各極性においてレンズ位置誤差信号
のレベルが所定の閾値を越えると「１」ずつカウントす
る計数手段と、計数手段がカウントしたカウント値から
回路の良否を判断する判断手段とを備えている。
るために、本発明の光ディスク装置は、光ディスクの半
径方向における光学ヘッドの駆動限界端に設置されたス
トッパと、レンズ位置誤差信号の交互に変化する極性を
検出し、検出された各極性においてレンズ位置誤差信号
のレベルが所定の閾値を越えると「１」ずつカウントす
る計数手段と、計数手段がカウントしたカウント値から
回路の良否を判断する判断手段とを備えている。
【０００５】このような構成をとることにより、レンズ
アクチュエータの駆動を制御しない状態で光学ヘッドを
ストッパに衝突させ、対物レンズに光ディスクの半径方
向の振動を発生させ、レンズ位置誤差信号の交互に変化
する極性を検出することができる。そして、検出された
各極性においてレンズ位置誤差信号のレベルが所定の閾
値を越えると「１」ずつカウントすることができる。そ
して、カウント数が２以上になれば、レンズ位置誤差信
号の極性が正から負、または、負から正に変化したこと
がわかる。すなわち、レンズ位置誤差検出回路は対物レ
ンズの左右の振れを正常に検出しており断線等がないこ
とがわかる。
アクチュエータの駆動を制御しない状態で光学ヘッドを
ストッパに衝突させ、対物レンズに光ディスクの半径方
向の振動を発生させ、レンズ位置誤差信号の交互に変化
する極性を検出することができる。そして、検出された
各極性においてレンズ位置誤差信号のレベルが所定の閾
値を越えると「１」ずつカウントすることができる。そ
して、カウント数が２以上になれば、レンズ位置誤差信
号の極性が正から負、または、負から正に変化したこと
がわかる。すなわち、レンズ位置誤差検出回路は対物レ
ンズの左右の振れを正常に検出しており断線等がないこ
とがわかる。
【０００６】また、レンズアクチュエータの駆動を制御
した状態で光学ヘッドをストッパに衝突させ、計数手段
によるカウント数と予め正常な光ディスク装置において
測定しておいた基準のカウント数とを比較することによ
ってレンズ位置制御回路が正常に動作しているかどうか
を判断することができる。
した状態で光学ヘッドをストッパに衝突させ、計数手段
によるカウント数と予め正常な光ディスク装置において
測定しておいた基準のカウント数とを比較することによ
ってレンズ位置制御回路が正常に動作しているかどうか
を判断することができる。
【０００７】
【発明の実施の形態】次に、本発明の詳細について図面
を参照して説明する。図１は本発明の一つの実施の形態
を示したブロック図であり、１は情報の記録された光デ
ィスク、２は光ディスク１のトラックに焦点を合わせる
対物レンズ、３は対物レンズ２を光ディスク１の半径方
向に駆動させて位置を調整するレンズアクチュエータ、
４はフォトダイオード４ａ、４ｂで構成されて所定の中
立位置４ｃからの対物レンズ２の変位に応じた電気信号
（レンズ位置誤差信号）を出力するレンズ位置誤差検出
器である。例えば、対物レンズ２が中立位置４ｃにある
ときは「０」、対物レンズ２が４ａの方にずれていると
きは正値、４ｂの方にずれているときは負値を出力す
る。５は対物レンズ２とレンズアクチュエータ３とレン
ズ位置誤差検出器４とから構成された光学ヘッドであ
る。
を参照して説明する。図１は本発明の一つの実施の形態
を示したブロック図であり、１は情報の記録された光デ
ィスク、２は光ディスク１のトラックに焦点を合わせる
対物レンズ、３は対物レンズ２を光ディスク１の半径方
向に駆動させて位置を調整するレンズアクチュエータ、
４はフォトダイオード４ａ、４ｂで構成されて所定の中
立位置４ｃからの対物レンズ２の変位に応じた電気信号
（レンズ位置誤差信号）を出力するレンズ位置誤差検出
器である。例えば、対物レンズ２が中立位置４ｃにある
ときは「０」、対物レンズ２が４ａの方にずれていると
きは正値、４ｂの方にずれているときは負値を出力す
る。５は対物レンズ２とレンズアクチュエータ３とレン
ズ位置誤差検出器４とから構成された光学ヘッドであ
る。
【０００８】６は光学ヘッド５を光ディスク１の半径方
向に駆動する粗動モータ、７out は光ディスク１の外周
方向における光学ヘッド５の駆動限界端に設けられた外
周ストッパ、７inは光ディスク１の内周方向における光
学ヘッド５の駆動限界端に設けられた内周ストッパ、８
はレンズ位置誤差信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ
変換器である。
向に駆動する粗動モータ、７out は光ディスク１の外周
方向における光学ヘッド５の駆動限界端に設けられた外
周ストッパ、７inは光ディスク１の内周方向における光
学ヘッド５の駆動限界端に設けられた内周ストッパ、８
はレンズ位置誤差信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ
変換器である。
【０００９】９はレンズ位置誤差検出手段、レンズ位置
制御手段、計数手段、判断手段、駆動制御手段を構成す
るＤＳＰ（Digital Signal Processor）である。レンズ
位置誤差検出手段は、レンズ位置誤差信号を所定時間間
隔毎にサンプリングする手段である。レンズ位置制御手
段は、レンズ位置誤差信号のレベルが「０」になるよう
に位相補償演算を行い、この演算結果に応じたレンズ位
置制御信号を出力し、パワーアンプ１２の出力を制御し
てレンズアクチュエータ３の駆動量を調整する手段であ
る。計数手段は、レンズ位置誤差信号のレベルの極性を
検出して各極性においてレンズ位置誤差信号のレベルが
所定の閾値を越えた回数をカウントする手段である。判
断手段は、計数手段によるカウント値から回路の良否を
判断する手段である。駆動制御手段は、光学ヘッド駆動
信号を出力してパワーアンプ１４の出力を制御し、粗動
モータ６の駆動を制御する手段である。
制御手段、計数手段、判断手段、駆動制御手段を構成す
るＤＳＰ（Digital Signal Processor）である。レンズ
位置誤差検出手段は、レンズ位置誤差信号を所定時間間
隔毎にサンプリングする手段である。レンズ位置制御手
段は、レンズ位置誤差信号のレベルが「０」になるよう
に位相補償演算を行い、この演算結果に応じたレンズ位
置制御信号を出力し、パワーアンプ１２の出力を制御し
てレンズアクチュエータ３の駆動量を調整する手段であ
る。計数手段は、レンズ位置誤差信号のレベルの極性を
検出して各極性においてレンズ位置誤差信号のレベルが
所定の閾値を越えた回数をカウントする手段である。判
断手段は、計数手段によるカウント値から回路の良否を
判断する手段である。駆動制御手段は、光学ヘッド駆動
信号を出力してパワーアンプ１４の出力を制御し、粗動
モータ６の駆動を制御する手段である。
【００１０】１０はＡ／Ｄ変換器８とＤＳＰ９とから構
成されたレンズ位置誤差検出回路、１３はＡ／Ｄ変換器
８とＤＳＰ９とＤ／Ａ変換器１１とパワーアンプ１２と
から構成されたレンズ位置制御回路である。
成されたレンズ位置誤差検出回路、１３はＡ／Ｄ変換器
８とＤＳＰ９とＤ／Ａ変換器１１とパワーアンプ１２と
から構成されたレンズ位置制御回路である。
【００１１】以上の構成による本発明の動作について説
明する。まず、レンズ位置誤差検出回路１０内の断線検
査の手順について説明する。この断線検査はＤＳＰ９の
レンズ位置制御手段による対物レンズ２の位置制御をし
ない状態（以下、レンズフリー状態とする）で行う。Ｄ
ＳＰ９から光学ヘッド駆動信号を、Ｄ／Ａ変換器１１を
介してパワーアンプ１４に供給する。パワーアンプ１４
は、供給された光学ヘッド駆動信号に応じた電流を粗動
モータ６に供給して一定駆動力を発生させる。その結
果、予め内周ストッパ７inの位置に配置された光学ヘッ
ド５は、内周ストッパ７inの位置から外周ストッパ７
out に向けて移動する。
明する。まず、レンズ位置誤差検出回路１０内の断線検
査の手順について説明する。この断線検査はＤＳＰ９の
レンズ位置制御手段による対物レンズ２の位置制御をし
ない状態（以下、レンズフリー状態とする）で行う。Ｄ
ＳＰ９から光学ヘッド駆動信号を、Ｄ／Ａ変換器１１を
介してパワーアンプ１４に供給する。パワーアンプ１４
は、供給された光学ヘッド駆動信号に応じた電流を粗動
モータ６に供給して一定駆動力を発生させる。その結
果、予め内周ストッパ７inの位置に配置された光学ヘッ
ド５は、内周ストッパ７inの位置から外周ストッパ７
out に向けて移動する。
【００１２】光学ヘッド５は、外周ストッパ７out に向
けて移動した後、外周ストッパ７ou t に衝突する。する
と、レンズアクチュエータ３によって保持されている対
物レンズ２は、慣性により中立位置４ｃからわずかに外
周ストッパ７out の方向に移動してから光ディスク１の
半径方向に沿って振動する。対物レンズ２の変位は衝突
直後に最大となり、その後レンズアクチュエータ３のダ
ンピング効果によって徐々に減衰し、やがて振動は停止
する。
けて移動した後、外周ストッパ７ou t に衝突する。する
と、レンズアクチュエータ３によって保持されている対
物レンズ２は、慣性により中立位置４ｃからわずかに外
周ストッパ７out の方向に移動してから光ディスク１の
半径方向に沿って振動する。対物レンズ２の変位は衝突
直後に最大となり、その後レンズアクチュエータ３のダ
ンピング効果によって徐々に減衰し、やがて振動は停止
する。
【００１３】ここで、レンズ位置誤差検出器４が出力す
るレンズ位置誤差信号について図２を用いて説明する。
図２（ａ）はレンズフリー状態におけるレンズ位置誤差
信号を示す説明図である。同図において縦軸はレンズ位
置誤差信号のレベル、横軸は時間軸、±ＬＥｐはＤＳＰ
９の各極性におけるサンプリングピークレベル、±ＬＥ
ｐ／２はサンプリングピークレベル±ＬＥｐの１／２に
設定された閾値、ＴS は対物レンズ２の振動が収束した
時刻、Ｎは時刻ＴS までのＤＳＰ９の計数手段によるカ
ウント数である。なお、この閾値は任意に設定すること
ができ、時刻Ｔ1 はＤＳＰ９による最初のサンプリング
値が各極性において閾値を越えた時刻を示す。
るレンズ位置誤差信号について図２を用いて説明する。
図２（ａ）はレンズフリー状態におけるレンズ位置誤差
信号を示す説明図である。同図において縦軸はレンズ位
置誤差信号のレベル、横軸は時間軸、±ＬＥｐはＤＳＰ
９の各極性におけるサンプリングピークレベル、±ＬＥ
ｐ／２はサンプリングピークレベル±ＬＥｐの１／２に
設定された閾値、ＴS は対物レンズ２の振動が収束した
時刻、Ｎは時刻ＴS までのＤＳＰ９の計数手段によるカ
ウント数である。なお、この閾値は任意に設定すること
ができ、時刻Ｔ1 はＤＳＰ９による最初のサンプリング
値が各極性において閾値を越えた時刻を示す。
【００１４】さて、光学ヘッド５が外周ストッパ７out
に衝突すると、衝突直後におけるレンズ位置誤差信号の
ピークレベルは、通常、ＤＳＰ９の入力取込ピークレベ
ルＬＥｐを越えて図２（ａ）のようになる。なお、一般
の光ディスク装置における対物レンズの減衰振動の周波
数は、レンズアクチュエータが持つ固有の一次共振周波
数に依存して約２０〜５０Ｈｚとなり、周期は約２０〜
５０ｍｓとなる。よって、ＤＳＰ９はレンズ位置誤差信
号の周期と比較して十分短い周期で、例えば数十μｓの
周期毎にレンズ位置誤差信号をサンプリングする。
に衝突すると、衝突直後におけるレンズ位置誤差信号の
ピークレベルは、通常、ＤＳＰ９の入力取込ピークレベ
ルＬＥｐを越えて図２（ａ）のようになる。なお、一般
の光ディスク装置における対物レンズの減衰振動の周波
数は、レンズアクチュエータが持つ固有の一次共振周波
数に依存して約２０〜５０Ｈｚとなり、周期は約２０〜
５０ｍｓとなる。よって、ＤＳＰ９はレンズ位置誤差信
号の周期と比較して十分短い周期で、例えば数十μｓの
周期毎にレンズ位置誤差信号をサンプリングする。
【００１５】さて、ＤＳＰ９の計数手段は、サンプリン
グ値が負極性であり、かつ、閾値−ＬＥｐ／２を越える
（この閾値より小さくなる）とカウント数に「１」を加
える。また、サンプリング値が正極性であり、かつ、閾
値ＬＥｐ／２を越える（この閾値より大きくなる）とカ
ウント数に「１」を加える。すなわち、レンズ位置誤差
信号の極性が変化する毎に閾値を越えた回数をカウント
していく。図２（ａ）においては、サンプリング開始時
は負極性であり、時刻Ｔ1 に閾値−ＬＥｐ／２を越え、
カウント数に「１」が加算される。その後、サンプリン
グ値は負極性から正極性に変わり時刻Ｔ2 に閾値ＬＥｐ
／２を越え、カウント数は「１」が加算され、「２」と
なる。以下、同様に時刻ＴS まで行われる。
グ値が負極性であり、かつ、閾値−ＬＥｐ／２を越える
（この閾値より小さくなる）とカウント数に「１」を加
える。また、サンプリング値が正極性であり、かつ、閾
値ＬＥｐ／２を越える（この閾値より大きくなる）とカ
ウント数に「１」を加える。すなわち、レンズ位置誤差
信号の極性が変化する毎に閾値を越えた回数をカウント
していく。図２（ａ）においては、サンプリング開始時
は負極性であり、時刻Ｔ1 に閾値−ＬＥｐ／２を越え、
カウント数に「１」が加算される。その後、サンプリン
グ値は負極性から正極性に変わり時刻Ｔ2 に閾値ＬＥｐ
／２を越え、カウント数は「１」が加算され、「２」と
なる。以下、同様に時刻ＴS まで行われる。
【００１６】ところで、カウント数Ｎが２≦Ｎを満たせ
ば、レンズ位置誤差信号の極性が正極性から負極性、ま
たは、負極性から正極性へ１回以上変化したことが図よ
りわかる。極性が１回でも変化したということは、レン
ズ位置誤差検出回路１０によって対物レンズ２の左右の
振動が正しく検出されていることを意味する。そこで、
ＤＳＰ９内の判断手段は、２≦Ｎとなればレンズ位置誤
差検出回路１０内に断線等の異状がないと判断する。
ば、レンズ位置誤差信号の極性が正極性から負極性、ま
たは、負極性から正極性へ１回以上変化したことが図よ
りわかる。極性が１回でも変化したということは、レン
ズ位置誤差検出回路１０によって対物レンズ２の左右の
振動が正しく検出されていることを意味する。そこで、
ＤＳＰ９内の判断手段は、２≦Ｎとなればレンズ位置誤
差検出回路１０内に断線等の異状がないと判断する。
【００１７】次に、レンズ位置制御回路１３の機能検査
の手順について、図２（ｂ）を用いて説明する。同図は
レンズ位置制御回路１３によってレンズ位置誤差信号の
レベルが「０」となるように制御した状態（以下、レン
ズロック状態とする）におけるレンズ位置誤差信号の説
明図である。上記の検査によりレンズ位置誤差検出回路
１０内に断線が無いことがわかれば、引き続き光学ヘッ
ド５を外周ストッパ７out の位置から内周ストッパ７in
に向けて移動させ、レンズロック状態で光学ヘッド５を
内周ストッパ７inに衝突させる。
の手順について、図２（ｂ）を用いて説明する。同図は
レンズ位置制御回路１３によってレンズ位置誤差信号の
レベルが「０」となるように制御した状態（以下、レン
ズロック状態とする）におけるレンズ位置誤差信号の説
明図である。上記の検査によりレンズ位置誤差検出回路
１０内に断線が無いことがわかれば、引き続き光学ヘッ
ド５を外周ストッパ７out の位置から内周ストッパ７in
に向けて移動させ、レンズロック状態で光学ヘッド５を
内周ストッパ７inに衝突させる。
【００１８】レンズロック状態におけるレンズ位置誤差
信号は、図２（ｂ）のようになり、レンズフリー状態の
図２（ａ）よりも早く振動が減衰する。これは、対物レ
ンズの振動を抑制するように制御していることから当然
である。ここで、レンズロック状態における時刻ＴS’
までのカウント数をＮ’とすると、一般にＮ’はＮより
もかなり小さくなることが知られている。したがって、
Ｎ’＜Ｎという条件式が成立する。しかし、実際の検査
においては、カウント数Ｎは光学ヘッド５のストッパ７
ou t への衝突状態によってばらつくことがある。そのた
め、カウント数Ｎが極端に大きな値になるとレンズ位置
制御回路１３の機能が不正常でありながらＮ’＜Ｎを満
たしてしまう可能性がある。
信号は、図２（ｂ）のようになり、レンズフリー状態の
図２（ａ）よりも早く振動が減衰する。これは、対物レ
ンズの振動を抑制するように制御していることから当然
である。ここで、レンズロック状態における時刻ＴS’
までのカウント数をＮ’とすると、一般にＮ’はＮより
もかなり小さくなることが知られている。したがって、
Ｎ’＜Ｎという条件式が成立する。しかし、実際の検査
においては、カウント数Ｎは光学ヘッド５のストッパ７
ou t への衝突状態によってばらつくことがある。そのた
め、カウント数Ｎが極端に大きな値になるとレンズ位置
制御回路１３の機能が不正常でありながらＮ’＜Ｎを満
たしてしまう可能性がある。
【００１９】そこで、レンズ位置制御回路１３が正常に
動作する光ディスク装置において予め測定されたカウン
ト数を、規格値Ｎ”として用いることにする。すなわ
ち、サンプリング時刻ＴS’ のときＮ’＜Ｎ”を満たし
ていれば、ＤＳＰ９の判断手段によってレンズ位置制御
回路１３は正常であると判断する。ただし、Ｎ”の値は
多少余裕を見て実際の測定値より少し大き目の値を用い
る。例えば、正常な光ディスク装置のカウント数が３で
あればＮ”＝５を設定する。なお、この規格値Ｎ”の決
定の仕方は経験に基づいて任意に設定することができ
る。
動作する光ディスク装置において予め測定されたカウン
ト数を、規格値Ｎ”として用いることにする。すなわ
ち、サンプリング時刻ＴS’ のときＮ’＜Ｎ”を満たし
ていれば、ＤＳＰ９の判断手段によってレンズ位置制御
回路１３は正常であると判断する。ただし、Ｎ”の値は
多少余裕を見て実際の測定値より少し大き目の値を用い
る。例えば、正常な光ディスク装置のカウント数が３で
あればＮ”＝５を設定する。なお、この規格値Ｎ”の決
定の仕方は経験に基づいて任意に設定することができ
る。
【００２０】以上のように、本実施の形態においては、
光学ヘッドをストッパ間を１往復させるという短時間
で、レンズ位置誤差検出回路の断線検査とレンズ位置制
御回路の機能検査との２種類の検査を連続して実施する
ことができる。なお、以上の実施の形態においては外周
ストッパと内周ストッパにそれぞれ衝突させて機能検査
を行ったが、一方のストッパに２回衝突させてもよい。
また、必要に応じていずれか一方の機能検査を行っても
よい。
光学ヘッドをストッパ間を１往復させるという短時間
で、レンズ位置誤差検出回路の断線検査とレンズ位置制
御回路の機能検査との２種類の検査を連続して実施する
ことができる。なお、以上の実施の形態においては外周
ストッパと内周ストッパにそれぞれ衝突させて機能検査
を行ったが、一方のストッパに２回衝突させてもよい。
また、必要に応じていずれか一方の機能検査を行っても
よい。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、レンズ
フリー状態でレンズ位置誤差信号の交互に変化する極性
を検出し、各極性において所定の閾値を越えた回数をカ
ウントすることができる。よって、カウント数が２以上
となればレンズ位置誤差信号の極性が１回以上変化した
ことがわかり、レンズ位置誤差検出回路内に断線等が無
いことがわかる。また、光学ヘッドをストッパに衝突さ
せるだけなので、短時間に自動的に検査を行うことがで
きる。さらに、レンズロック状態におけるカウント数と
所定のカウント数とを比較することによってレンズ位置
制御回路の機能検査を自動的に行うこともでき、光ディ
スク装置の生産性を向上させることができる
フリー状態でレンズ位置誤差信号の交互に変化する極性
を検出し、各極性において所定の閾値を越えた回数をカ
ウントすることができる。よって、カウント数が２以上
となればレンズ位置誤差信号の極性が１回以上変化した
ことがわかり、レンズ位置誤差検出回路内に断線等が無
いことがわかる。また、光学ヘッドをストッパに衝突さ
せるだけなので、短時間に自動的に検査を行うことがで
きる。さらに、レンズロック状態におけるカウント数と
所定のカウント数とを比較することによってレンズ位置
制御回路の機能検査を自動的に行うこともでき、光ディ
スク装置の生産性を向上させることができる
【図１】 本発明の一つの実施の形態を示すブロック図
である。
である。
【図２】 図１のレンズ位置誤差検出器４が出力するレ
ンズ位置誤差信号の説明図。
ンズ位置誤差信号の説明図。
１…光ディスク、２…対物レンズ、３…レンズアクチュ
エータ、４…レンズ位置誤差検出器、４ａ、４ｂ…フォ
トダイオード、４ｃ…中立位置、５…光学ヘッド、６…
粗動モータ、７out…外周ストッパ、７in …内周ストッ
パ、８…Ａ／Ｄ変換器、９…ＤＳＰ、１０…レンズ位置
誤差検出回路、１１…Ｄ／Ａ変換器、１２、１４…パワ
ーアンプ、１５ａ、１５ｂ…レンズ位置誤差信号。
エータ、４…レンズ位置誤差検出器、４ａ、４ｂ…フォ
トダイオード、４ｃ…中立位置、５…光学ヘッド、６…
粗動モータ、７out…外周ストッパ、７in …内周ストッ
パ、８…Ａ／Ｄ変換器、９…ＤＳＰ、１０…レンズ位置
誤差検出回路、１１…Ｄ／Ａ変換器、１２、１４…パワ
ーアンプ、１５ａ、１５ｂ…レンズ位置誤差信号。
Claims (2)
- 【請求項１】 光ディスクのトラックに焦点を合わせる
対物レンズと、対物レンズを光ディスクの半径方向へ駆
動して所望の位置に調整するレンズアクチュエータと、
対物レンズの相対位置誤差を光学的に検出してレンズ位
置誤差信号を出力するレンズ位置誤差検出器とから構成
される光学ヘッドと、 光学ヘッドを光ディスクの半径方向へ駆動する粗動モー
タと、 粗動モータの駆動を制御する駆動制御手段と、 レンズ位置誤差信号のレベルが「０」となるようにレン
ズアクチュエータの駆動を制御するレンズ位置制御手段
とを備えた光ディスク装置において、 光ディスクの半径方向における光学ヘッドの駆動限界端
に設置されたストッパと、 レンズ位置誤差信号の交互に変化する極性を検出し、検
出された各極性においてレンズ位置誤差信号のレベルが
所定の閾値を越えると「１」ずつカウントする計数手段
と、 計数手段がカウントしたカウント値から回路の良否を判
断する判断手段とを備え、 レンズ位置制御手段によるレンズアクチュエータの駆動
を制御をしない状態で光学ヘッドをストッパに衝突さ
せ、計数手段によるカウント値から回路の良否を判断す
ることを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項２】 光ディスクのトラックに焦点を合わせる
対物レンズと、対物レンズを光ディスクの半径方向へ駆
動して所望の位置に調整するレンズアクチュエータと、
対物レンズの相対位置誤差を光学的に検出してレンズ位
置誤差信号を出力するレンズ位置誤差検出器とから構成
される光学ヘッドと、 光学ヘッドを光ディスクの半径方向へ駆動する粗動モー
タと、 粗動モータの駆動を制御する駆動制御手段と、 レンズ位置誤差信号のレベルが「０」となるようにレン
ズアクチュエータの駆動を制御するレンズ位置制御手段
とを備えた光ディスク装置において、 光ディスクの半径方向における光学ヘッドの駆動限界端
に設置されたストッパと、 レンズ位置誤差信号の交互に変化する極性を検出し、検
出された各極性においてレンズ位置誤差信号のレベルが
所定の閾値を越えると「１」ずつカウントする計数手段
と、 計数手段がカウントしたカウント値から回路の良否を判
断する判断手段とを備え、 レンズ位置誤差信号のレベルが「０」となるようにレン
ズアクチュエータの駆動を制御した状態で光学ヘッドを
ストッパに衝突させ、計数手段によるカウント値から回
路の良否を判断することを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP551996A JP2734440B2 (ja) | 1996-01-17 | 1996-01-17 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP551996A JP2734440B2 (ja) | 1996-01-17 | 1996-01-17 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09198664A JPH09198664A (ja) | 1997-07-31 |
| JP2734440B2 true JP2734440B2 (ja) | 1998-03-30 |
Family
ID=11613447
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP551996A Expired - Lifetime JP2734440B2 (ja) | 1996-01-17 | 1996-01-17 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2734440B2 (ja) |
-
1996
- 1996-01-17 JP JP551996A patent/JP2734440B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09198664A (ja) | 1997-07-31 |
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