JP2727807B2 - ダイナミックram - Google Patents
ダイナミックramInfo
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- JP2727807B2 JP2727807B2 JP3204154A JP20415491A JP2727807B2 JP 2727807 B2 JP2727807 B2 JP 2727807B2 JP 3204154 A JP3204154 A JP 3204154A JP 20415491 A JP20415491 A JP 20415491A JP 2727807 B2 JP2727807 B2 JP 2727807B2
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Description
し、特に複数のテストモードを有するダイナミックRA
Mに関する。
に伴い種々のテストモードを備えるようになってきた。
例えば、16メガビットのダイナミックRAMの場合、
機能試験を短縮するために16ビットパラレルテストモ
ードが標準装備されているが、この外に複数のオプショ
ンテストモードを備えている。
示すブロック図である。
スストローブ信号CAS及びライトイネーブル信号WE
が低レベルの活性化レベルで、ローアドレスストローブ
信号RASが活性化レベルになると活性化レベル(高レ
ベル)になるテストモード信号TESTを発生するテス
トモード判定回路2と、ローアドレスストローブ信号R
ASが活性化レベルで、アドレス入力端子A6,A7に
印加される信号(TSCa,TSCb)が通常の論理レ
ベルにより高いレベルのとき活性化レベルとなる内部制
御信号ITSCa,ITSCbを発生する高電圧検出回
路8aと、テストモード信号TESTが活性化レベルで
内部制御信号ITSCa,ITSCbが低レベルの非活
性化レベルのとき、標準装備のパラレルテストモードの
テスト信号TSTを活性化レベルとし、内部制御信号I
TSCa,ITSCbのうちに活性化レベルのものがあ
るときオプションテストモードの信号OPT1〜OPT
4のうちの一つを選択して活性化レベルとするテストモ
ードデコーダ6bとを有する構成となっている。
グ図を示す。
ストローブ信号RASが低レベルの活性化レベルになる
とき、カラムアドレスストローブ信号CAS,ライトイ
ネールブ信号WEが低レベルであるサイクルすなわちラ
イトカスビフォアラスリフレッシュサイクル(WCB
R)のとき、テストモードに入ることになっている。
RAMでは、パラレルテスト以外に、リダンダンシーセ
ルの使用の有無がわかるロールコールテストモードや、
内部電源電圧のレベルがわかるテストモード等のオプシ
ョンテストモードが装備されている。
ードに入るためには、特定のアドレス入力端子に通常の
動作電源電圧範囲LL〜LH(0〜5V)外の電圧、例
えば7V以上の電圧をWCBR期間に与えることにより
行っていた。
では、微細化のためゲート酸化膜の耐電圧が限界に近ず
いており、アドレス入力端子に7V以上の電圧を印加す
るのは信頼性の低下をもたらす危険性がある。
いて、電源電圧は5Vであるのに、テストのために7V
以上の電圧を印加することは難かしく、パラレルテスト
モード以外のオプションテストモードは、従来ユーザー
ではほとんど使われていない状態であった。
ミックRAMは、オプションテストモードに入るとき、
通常の動作電源電圧範囲より高い電圧(7V以上)を特
定のアドレス入力端子に印加する必要があり、一方では
ゲート酸化膜の耐電圧が限界に近ずいているために動作
電源電圧範囲外の高い電圧をアドレス入力端子に印加す
ると、信頼性の低下をもたらす危険性があり、またテス
トのために通常の動作電源電圧範囲外の高い電圧を使用
することはシステム上使用が困難であり、オプションテ
ストモードの使用の妨げとなっていた。
なくオプションテストモードを有効に使用することがで
きるダイナミックRAMを提供することにある。
AMは、第1,第2,第3の外部制御信号が予め設定さ
れたレベル関係になったときテストモード信号を活性化
レベルとするテストモード判定回路と、前記第2の外部
制御信号と第4の外部制御信号が予め設定されたレベル
関係になったとき第1の内部制御信号を活性化レベルと
する内部制御信号発生回路と、前記第1の外部制御信号
及びテストモード信号が活性化レベルで前記第1の内部
制御信号が非活性化レベルのとき第1のレベル、活性化
レベルのとき第2のレベルとなる第2の内部制御信号を
発生する内部判定回路と、前記テストモード信号が活性
化レベルで前記第2の内部制御信号が第1のレベルのと
き標準テストモード信号を活性化レベルとし、第2のレ
ベルのとき第5の外部制御信号のレベルに応じて複数の
オプションテストモード信号のうちの一つを活性化レベ
ルとするテストモード選択回路とを有している。
説明する。
ク図である。
号RASと同期して同一レベルに変化する内部ローアド
レスストローブ信号IRASを出力するRAS系制御回
路1と、カラムアドレスストローブ信号CAS及びライ
トイネーブル信号WEが低レベルの活性化レベルで、ロ
ーアドレスストローブ信号RASが活性化レベルになる
と活性化レベル(高レベル)になるテストモード信号T
ESTを発生するテストモード判定回路2と、アウトプ
ットイネーブル信号OEが低レベルの活性化レベルのと
きカラムアドレスストローブ信号CASが高レベルから
低レベルになると高レベルの活性化レベルになるアウト
プット制御信号OECを出力する内部制御信号発生回路
としての出力回路3と、内部ローアドレスストローブ信
号IRAS及びテストモード信号TESTが活性化レベ
ルでアウトプット制御信号OECが非活性化レベル(低
レベル)のとき低のレベル、活性化レベルのとき高のレ
ベルとなる(第2の)内部制御信号CCMを発生するカ
ウンタチェック判定回路4と、ローアドレスストローブ
信号RASが活性化レベルに変化するときアドレス入力
端子A6,A7に印加される通常の論理レベルの信号T
SC1,TSC2のレベルを取込み内部テストモード選
択信号ITSC1,ITSC2として出力するローアド
レスバッファ回路5と、テストモード信号TESTが活
性化レベルで(第2の)内部制御信号CCMが低レベル
のとき標準テストモードのパラレルテストモード信号T
STを活性化レベルとし、高レベルのとき内部テストモ
ード選択信号ITSC1,ITSC2のレベルに応じて
複数のオプションテストモード信号OPT1〜OPT4
のうちの一つを活性化レベルとするテストモード選択回
路としてのテストモードデコーダ6とを有する構成とな
っている。
図2はこの実施例の動作を説明するための各部信号のダ
イミング波形図である。
り時、カラムアドレスストローブ信号CAS,ライトイ
ネーブル信号WEが活性化レベルでテストモード信号T
ESTが活性化レベルとなったWCBRサイクル中に、
カラムアドレスストローブ信号CASを高レベルから低
レベルにする。このときにアウトプットイネーブル信号
OEを低レベルにすれば、データアウトバッファ回路7
からデータ出力端子にデータDoutが出力される。こ
のときのデータDoutは無視するとして、データ出力
のために内部で発生するアウトプット制御信号OECと
ローアドレスストローブ信号RASに同期してレベルが
動く内部ローアドレスストローブ信号IRASとテスト
モード信号TESTとをカウンタチェック判定回路4に
入力する。 ローアドレスストローブ信号RAS立下げ
時にライトイネーブル信号WEを高レベルにするふつう
のCBRサイクルの場合、このカラムアドレスストロー
ブ信号CAS立下げ動作によりCBRアドレスカウンタ
のチェックができるので、カウンタチェック動作と呼ば
れている。
御信号CCMが活性化されると、パラレルテストモード
信号TSTの活性化が止められ、代りにオプションテス
トモード信号OPT1〜OPT4が活性化される。図2
の場合、ローアドレスストローブ信号RAS立下り時に
とりこまれた内部テストモード選択信号ITSC1,I
TSC2によりオプションテストモード信号OPT4が
活性化されることを示している。
的な回路例を図3に示す。このようにCMOS型の論理
ゲートを組合せることにより容易に構成できる。
7に通常の動作電源電圧範囲外の電圧を印加しなくても
オプションテストモードに入ることができるので、ゲー
ト酸化膜に対する信頼性の低下はなくなる。
検出して得た内部制御信号CCMにより容易にオプショ
ンテストモードに入ることができ、しかもこれらを、ア
ドレス入力端子A6,A7に印加される通常の論理レベ
ルの信号により選択することができる。
ク図である。
常動作電源電圧範囲外の高電圧が印加されたときのみ、
特定のテストモードのオプションテストモード信号OP
T5〜OPT8を活性化するようにしたものである。
必要であるがユーザーとしては不要な、むしろユーザー
にはして欲しくないテストモードがある。例えば、セル
対極を電源電圧にするテストモードなどであり、これら
のテストモードに容易に入ってしまうとダイナミックR
AMが破損する危険性がある。
は、信頼性上問題とならないように手順を定め、図4に
示すように、アドレス入力端子A8が通常動作電源電圧
範囲外の高電圧にならないと使えないようにし、ユーザ
ー側では決してこれらテストモードに入らないようにし
ている。
作電源電圧範囲内の外部制御信号の組合せでオプション
テストモードに入れる構成としたので、ゲート酸化膜に
高電圧が印加されないため、また通常の動作電源電圧範
囲外の電源を準備しなくて済むため、その信頼性を低下
させることなく容易かつ有効にオプションテストモード
を使用することができる効果がある。
る。
各部信号のタイミング波形図である。
回路の具体例を示す回路図である。
る。
ク図である。
明するための各部信号のタイミング波形図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 第1,第2,第3の外部制御信号が予め
設定されたレベル関係になったときテストモード信号を
活性化レベルとするテストモード判定回路と、前記第2
の外部制御信号と第4の外部制御信号が予め設定された
レベル関係になったとき第1の内部制御信号を活性化レ
ベルとする内部制御信号発生回路と、前記第1の外部制
御信号及びテストモード信号が活性化レベルで前記第1
の内部制御信号が非活性化レベルのとき第1のレベル、
活性化レベルのとき第2のレベルとなる第2の内部制御
信号を発生する内部判定回路と、前記テストモード信号
が活性化レベルで前記第2の内部制御信号が第1のレベ
ルのとき標準テストモード信号を活性化レベルとし、第
2のレベルのとき第5の外部制御信号のレベルに応じて
複数のオプションテストモード信号のうちの一つを活性
化レベルとするテストモード選択回路とを有することを
特徴とするダイナミックRAM。 - 【請求項2】 第1,第2,第3の外部制御信号がそれ
ぞれローアドレスストローブ信号,カラムアドレススト
ローブ信号,ライトイネーブル信号であり、前記カラム
アトレスストローブ信号及びライトイネーブル信号が活
性化レベルで前記ローアドレスストローブ信号が活性化
レベルになるとテストモード信号を活性化レベルとし、
第4の外部制御信号がアウトプットイネーブル信号であ
り、このアウトプットイネーブル信号が活性化レベルの
とき前記カラムアトレスストローブ信号が活性化レベル
になると第1の内部制御信号を活性化レベルとし、第5
の外部制御信号が特定のアドレス信号入力端子に供給さ
れる通常の論理レベルの信号である請求項1記載のダイ
ナミックRAM。 - 【請求項3】 第6の外部制御信号を入力する入力端子
に、通常の論理レベルの範囲外の電圧が印加されたこと
を検出して活性化レベルとなる第3の内部制御信号を発
生する電圧検出回路を設け、テストモード選択回路を、
前記第3の内部制御信号が活性化レベルのとき特定のオ
プションテストモード信号を活性化レベルにする回路と
した請求項1記載のダイナミックRAM。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3204154A JP2727807B2 (ja) | 1991-08-14 | 1991-08-14 | ダイナミックram |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3204154A JP2727807B2 (ja) | 1991-08-14 | 1991-08-14 | ダイナミックram |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0547200A JPH0547200A (ja) | 1993-02-26 |
JP2727807B2 true JP2727807B2 (ja) | 1998-03-18 |
Family
ID=16485732
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3204154A Expired - Lifetime JP2727807B2 (ja) | 1991-08-14 | 1991-08-14 | ダイナミックram |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2727807B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5579271A (en) * | 1994-11-09 | 1996-11-26 | Hyundai Electronics Industries, Co. Ltd. | Automatic test circuit for a semiconductor memory device capable of generating internal ras and cas signals, and row and column address signals |
JP2007018710A (ja) * | 2006-09-05 | 2007-01-25 | Fujitsu Ltd | 半導体装置及びその試験方法 |
-
1991
- 1991-08-14 JP JP3204154A patent/JP2727807B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0547200A (ja) | 1993-02-26 |
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