JP2722639B2 - 集積回路パッケージ - Google Patents

集積回路パッケージ

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JP2722639B2
JP2722639B2 JP1086975A JP8697589A JP2722639B2 JP 2722639 B2 JP2722639 B2 JP 2722639B2 JP 1086975 A JP1086975 A JP 1086975A JP 8697589 A JP8697589 A JP 8697589A JP 2722639 B2 JP2722639 B2 JP 2722639B2
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晴美 平
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/303Surface mounted components, e.g. affixing before soldering, aligning means, spacing means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3421Leaded components

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えばPGA(ピングリッドアレイ)等に使
用して好適な集積回路パッケージに関するものである。
〔従来の技術〕
近年、LSIの高集積化,高速化の進展に伴いアクセス
用の入出力ピン数が増加しており、このためLSIを収納
する集積回路パッケージのピン数も増加している。
従来、この種の集積回路パッケージとしては第5図に
示すようなものが採用されている。これを同図に基づい
て説明すると、同図において、符号1で示すものはその
内部にLSI(図示せず)を有して一側に多数のI/Oピン2
が突出するセラミック基板である。
このように構成されたパッケージは、例えばプリント
配線板(図示せず)にI/Oピン2を各パッド(図示せ
ず)に接続することにより表面実装される。
〔発明が解決しようとする課題〕 ところで、従来の集積回路パッケージにおいては、セ
ラミック基板1から下方に突出するI/Oピン2の数が多
くなる(100ピン以上のI/Oピン2をもつ場合)と、表面
実装時に第5図に示すようにI/Oピン2が曲がり易くな
り、各I/Oピン2の先端位置精度にばらつきが発生して
いた。このことは、特にパッケージ外形が大型化(縦横
寸法が30mm以上のパッケージサイズをもつ場合)した場
合には、反り変形によって無視することはできなかっ
た。この結果、表面実装時にはI/Oピン2とプリント配
線板(図示せず)の接続が確実に行われず、パッケージ
実装上の信頼性が低下するという問題があった。
因に、ピン数が少なくかつパッケージ外形が小さい集
積回路用パッケージにあっては、プリント配線板の設計
マージンを大きくすること等により表面実装が可能とな
る。
また、上述した従来の集積回路パッケージによれば、
この集積回路パッケージをプリント配線板に表面実装し
たときに、集積回路パッケージのセラミック基板1とプ
リント配線板との間の熱膨張係数の差から生じる熱スト
レスによって、I/Oピン2やそのプリント配線板に対す
る接続部の信頼性に悪影響を及ばすおそれがあり、この
ような問題点を解決することが望まれている。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、プ
リント配線板への表面実装時のピン接続を確実に行うこ
とができるとともに、基板とパッケージを搭載するプリ
ント配線板との間の熱膨張係数の差に起因する悪影響を
も防ぐことができ、もってパッケージ実装上の信頼性を
向上させることができる集積回路パッケージを提供する
ものである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明に係る集積回路パッケージは、半導体素子をそ
の内部に有し一側に多数のI/Oピンが突出する基板と、
この基板に設けられ前記I/Oピンの基端部を保護する絶
縁体からなるホルダーとを備え、このホルダーを前記基
板とこの基板をI/Oピンを介して実装するプリント配線
板との間の熱膨張係数の差を吸収することができる樹脂
材料により形成したものである。
また、本発明に係る集積回路パッケージは、基板にI/
Oピンの基端部を保護するように設けたホルダーを、溶
剤により溶解する樹脂材料によって形成したものであ
る。
〔作 用〕
本発明によれば、ホルダーによって集積回路パッケー
ジをプリント配線板に対して表面実装した時のI/Oピン
の曲がり発生を防止することができるとともに、基板と
パッケージ実装用のプリント配線板との間の熱膨張係数
の差を吸収することができる。
また、本発明によれば、パッケージの表面実装後にホ
ルダーを溶剤によって溶解することにより除去すること
ができる。
〔実施例〕
以下、本発明の構成等を図に示す実施例によって詳細
に説明する。
第1図は本発明に係る集積回路パッケージを示す斜視
図、第2図および第3図は同じく本発明における集積回
路パッケージの要部を示す正面図である。同図におい
て、符号11で示すものは例えばLSI等の半導体素子(図
示せず)をその内部に有するセラミック基板で、全体が
平面視矩形状に形成されており、一側(裏側)には下方
に突出する多数のI/Oピン12が設けられている。13は平
板状のホルダーで、前記セラミック基板11のピン突出側
の面上に設けられており、全体が例えば絶縁性を有しか
つ前記セラミック基板11とこの集積回路パッケージを搭
載するプリント配線板(第4図中符号14で示す)との間
の熱膨張係数の差を吸収することができる樹脂材料によ
って形成されている。このような樹脂材料としては、例
えばテフロンあるいはポリイミド等の有機樹脂を用いる
とよい。このホルダー13によって、前記I/Oピン12の各
基端部を保護し、かつ各外部先端部を長さlの等寸法に
設定し得る。
このように構成された集積回路パッケージにおいて
は、ホルダー13によって第4図に示すようにプリント配
線板14のパッド15に対して表面実装する場合にI/Oピン1
2の曲がり発生を防止することができる。
したがって、本実施例においては、各I/Oピン2の先
端位置を揃えることができるから、表面実装時のピン接
続を確実に行うことができる。
この場合、パッケージ製造時に予めホルダー13に対し
てI/Oピン12を挿入しておけば、I/Oピン12の外部露呈端
部長さや先端位置精度を調整することができる。
また、本実施例においては、I/Oピン2の曲がり,外
部露呈端部長さおよび先端位置精度を管理できること
は、プリント配線板14に対するI/Oピン12の半田付け性
が良好になる。
なお、本実施例においては、ホルダー13の材料とし
て、例えばテフロンあるいはポリイミド等の有機樹脂の
ようにセラミック基板11とプリント配線板14との間での
熱膨張係数の差を吸収することができる樹脂材料を用い
た場合を示したが、本発明はこれに限定されるものでは
なく、上述した条件を満足できる樹脂材料を使用しても
よい。要するに、このようなホルダー13の樹脂材料とし
て、パッケージの表面実装時における半田付け温度に耐
久性があること、機械的強度が比較的高いこと、物理的
・化学的加工が簡単であること、およびプリント配線板
14との熱膨張係数の差を吸収することができる点等を満
足できるものであればよい。
また、本考案においては、ホルダー13として例えば溶
剤等によって溶解、エッチングが可能な材料で形成すれ
ば、プリント配線板14に対するパッケージの表面実装後
に除去することができる。
因に、本発明におけるI/Oピン12の長さは、セラミッ
ク基板11とプリント配線板14との熱膨張係数の差に起因
して生じる熱ストレスを緩和するような寸法に設計され
ておればよい。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明に係る集積回路パッケージ
によれば、半導体素子をその内部に有し一側に多数のI/
Oピンが突出する基板と、この基板に設けられ前記I/Oピ
ンの基端部を保護する絶縁体からなるホルダーとを備
え、このホルダーを前記基板とこの基板をI/Oピンを介
して実装するプリント配線板との間の熱膨張係数の差を
吸収することができる樹脂材料により形成したので、ホ
ルダーによって表面実装時におけるI/Oピンの曲がり発
生を防止することができるとともに、基板とパッケージ
実装用のプリント配線板との間の熱膨張係数の差を吸収
することができる。したがって、各I/Oピンの先端位置
を揃えることができるから、表面実装時のピン接続を確
実に行うことができ、また、熱膨張係数の差に伴う不具
合も解消することができ、パッケージの実装上での信頼
性を向上させることができる。
また、本発明に係る集積回路パッケージによれば、基
板にI/Oピンの基端部を保護するように設けたホルダー
を、溶剤により溶解する樹脂材料によって形成したの
で、パッケージの表面実装後にホルダーを溶剤によって
溶解することにより除去し、パッケージの表面実装部分
を所要の状態にすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る集積回路パッケージを示す斜視
図、第2図および第3図は同じく本発明における集積回
路パッケージの要部を示す正面図、第4図はプリント配
線板に対する集積回路パッケージの実装例を示す断面
図、第5図は従来の集積回路パッケージの不良例を示す
正面図である。 11……セラミック基板、12……I/Oピン、13……ホルダ
ー、14……プリント配線板。

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体素子をその内部に有し一側に多数の
    I/Oピンが突出する基板と、 この基板に設けられ前記I/Oピンの基端部を保護する絶
    縁体からなるホルダーとを備え、 このホルダーを、前記基板とこの基板をI/Oピンを介し
    て実装するプリント配線板との間の熱膨張係数の差を吸
    収することができる樹脂材料により形成したことを特徴
    とする集積回路パッケージ。
  2. 【請求項2】請求項1記載の集積回路パッケージにおい
    て、 前記ホルダーを、溶剤により溶解する樹脂材料によって
    形成したことを特徴とする集積回路パッケージ。
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JPH02266554A JPH02266554A (ja) 1990-10-31
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US11060859B2 (en) * 2016-04-04 2021-07-13 Tetechs Inc. Methods and systems for thickness measurement of multi-layer structures

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0635476Y2 (ja) * 1986-09-10 1994-09-14 三洋電機株式会社 混成集積回路
JPS6471158A (en) * 1987-09-11 1989-03-16 Nec Corp Case for integrated circuit chip

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