JP2718232B2 - Manufacturing method of square plate type thin film chip resistor - Google Patents

Manufacturing method of square plate type thin film chip resistor

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JP2718232B2
JP2718232B2 JP2013863A JP1386390A JP2718232B2 JP 2718232 B2 JP2718232 B2 JP 2718232B2 JP 2013863 A JP2013863 A JP 2013863A JP 1386390 A JP1386390 A JP 1386390A JP 2718232 B2 JP2718232 B2 JP 2718232B2
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は角板型薄膜チップ抵抗器の製造方法に関する
ものである。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a square plate type thin film chip resistor.

従来の技術 近年、電子機器の「軽薄短小」化に対する要求がます
ます増大していく中、回路基板の抵抗素子には実装密度
を高めるため、小形で面実装できる角板型チップ抵抗器
が多く用いられるようになってきている。また、近年は
部品の高精度化,低雑音化が進み、角板型チップ抵抗器
も厚膜タイプから高精度で低雑音の薄膜タイプの需要が
延びつつある。
2. Description of the Related Art In recent years, as the demand for “light, thin and small” electronic devices has been increasing more and more, in order to increase the mounting density of resistor elements on circuit boards, there are many small and square-plate chip resistors that can be surface-mounted. It is being used. In recent years, the precision of parts and the noise have been reduced, and the demand for square-plate type chip resistors from a thick film type to a thin film type with high accuracy and low noise has been increasing.

従来の小型の角板型薄膜チップ抵抗器の製造方法の一
例(進工業(株)DATABOOKより引用)を第6図に示す。
FIG. 6 shows an example of a conventional method of manufacturing a small rectangular plate-type thin film chip resistor (quoted from Susumu Co., Ltd. DATABOOK).

まず、従来の製造工程は高純度のアルミナ基板などか
らなる、耐熱性の絶縁基板21を受け入れる基板受け入れ
工程Aをスタートとし、つぎに、前記絶縁基板21上にNi
−Cr等の薄膜抵抗体22を形成するスパッタ工程Bを経
て、前記薄膜抵抗体22を抵抗パターン23に整形するエッ
チング工程Cを行い、工程パターン23を安定な膜にする
ために、窒素中などで350℃〜400℃の温度の雰囲気熱処
理工程Dを行う。その後、抵抗パターンの抵抗値を所定
の値に修正するためにレーザートリミング法等により、
抵抗パターンにトリミング溝24を形成する抵抗値修正工
程Eを行う。さらに、抵抗パターン23を保護するため
に、熱硬化性の樹脂膜25を形成する保護コート形成工程
Fを行う。次に、絶縁基板21を分割し、端面電極層26を
形成するための準備工程として、絶縁基板21に分割のた
めの溝27を形成するスクライブ工程Gと、絶縁基板21を
短冊状基板21′に分割する、1次基板分割工程Hを行
い、その短冊状基板21′の端面にスパッタ等を用い、端
面電極層26を形成する端面電極形成工程Iを行う。そし
て、露出している抵抗パターンおよび、端面電極面にメ
ッキ層27を施すための準備工程として、短冊状基板21′
を個片状基板21″に分割する2次基板分割工程Jを行
い、露出している抵抗パターンおよび、端面電極層の半
田付け時の喰われの防止、半田付け性の信頼性の確保の
ために電極メッキ層27を形成する電極メッキ工程Kを行
い、角板型薄膜チップ抵抗器が完成する。
First, the conventional manufacturing process starts a substrate receiving process A for receiving a heat-resistant insulating substrate 21 made of a high-purity alumina substrate or the like.
An etching process C for shaping the thin film resistor 22 into a resistance pattern 23 is performed through a sputtering process B for forming a thin film resistor 22 such as -Cr or the like. To perform an atmosphere heat treatment step D at a temperature of 350 ° C. to 400 ° C. Then, to correct the resistance value of the resistance pattern to a predetermined value, by laser trimming method, etc.
A resistance value correcting step E for forming a trimming groove 24 in the resistance pattern is performed. Further, in order to protect the resistance pattern 23, a protective coat forming step F for forming a thermosetting resin film 25 is performed. Next, as a preparation step for dividing the insulating substrate 21 and forming the end face electrode layer 26, a scribing step G of forming a groove 27 for division on the insulating substrate 21 and a strip-shaped substrate 21 ' A primary substrate dividing step H is performed, and an end face electrode forming step I for forming an end face electrode layer 26 is performed on the end face of the strip-shaped substrate 21 'by using sputtering or the like. Then, as a preparation step for applying the plating layer 27 to the exposed resistance pattern and the end face electrode surface, the strip-shaped substrate 21 ′
Is performed to separate the exposed resistance pattern and the end face electrode layer from soldering at the time of soldering, and to secure the reliability of solderability. An electrode plating step K for forming an electrode plating layer 27 is performed to complete a square plate type thin film chip resistor.

発明が解決しようとする課題 しかし、この工程による角板型薄膜チップ抵抗器は次
に示すような課題を有していた。
Problems to be Solved by the Invention However, the square-plate type thin film chip resistor according to this process has the following problems.

(1) スパッタにより抵抗膜を形成しているので、連
続処理が難しく、量産するためには多くのスパッタ装置
が必要となり、厚膜チップ抵抗器と比べ約2倍のコスト
高になる。
(1) Since the resistive film is formed by sputtering, continuous processing is difficult, and a large number of sputtering devices are required for mass production, and the cost is about twice as high as that of a thick-film chip resistor.

(2) 抵抗膜の熱処理が350℃〜400℃であるので約50
0℃以上の熱処理を必要とする、ガラスの保護コートを
使用できないので、樹脂の保護コートを用いらざるをえ
ない。このため、耐熱性が厚膜のチップ抵抗器と比べ劣
る。
(2) Since the heat treatment of the resistive film is performed at 350 ° C to 400 ° C, about 50
Since a glass protective coat that requires heat treatment at 0 ° C. or higher cannot be used, a resin protective coat has to be used. Therefore, the heat resistance is inferior to that of a thick-film chip resistor.

(3) 厚膜角板型チップ抵抗器によく用いられている
分割溝入り基板は、特有の分割溝間の基板のうねりが存
在し薄膜の形成が困難であるために、従来の角板型薄膜
チップ抵抗器は、うねりの少ない分割溝無しの基板にレ
ーザースクライブによって、分割のための溝を形成して
いる。しかし、レーザースクライブは、チップ抵抗器の
美観を損なうばかりでなく、レーザーの熱的衝撃による
基板のマイクロクラックが生じやすく、絶縁の劣化の原
因になりかねない。
(3) A substrate with a dividing groove, which is often used for a thick-film square plate type chip resistor, is difficult to form a thin film because of the unique undulation of the substrate between the dividing grooves. In a thin film chip resistor, grooves for division are formed by laser scribing on a substrate having no division grooves with little undulation. However, the laser scribe not only impairs the aesthetics of the chip resistor, but also tends to cause microcracks on the substrate due to the thermal shock of the laser, which may cause insulation deterioration.

(4) 端面電極はスパッタにより形成しているので、
電極の密着強度が、厚膜銀電極を塗布・焼成した従来の
厚膜のチップ抵抗器の端面電極の強度に比べ弱い。これ
に対し従来の角板型薄膜チップ抵抗器では、端面電極と
して低温焼成の厚膜端面電極を薄膜抵抗体の上に重なる
ように塗布・焼成する工法が検討されてきているが厚膜
端面電極焼成時に薄膜抵抗体が喰われるという問題があ
り、実現は出来なかった。
(4) Since the end electrodes are formed by sputtering,
The adhesion strength of the electrode is weaker than the strength of the end face electrode of a conventional thick-film chip resistor obtained by applying and firing a thick-film silver electrode. On the other hand, in the conventional square plate type thin film chip resistor, a method of applying and firing a low-temperature fired thick film end electrode so as to overlap the thin film resistor as an end surface electrode has been studied. There was a problem that the thin film resistor was eaten at the time of firing, and it could not be realized.

本発明はこのような課題を一挙に解決するもので、安
価で、ガラスコートを用いたことによる耐熱性が良好
で、基板の絶縁性に優れ、半田付け時の電極強度の強い
角板型薄膜チップ抵抗器を提供するものである。
The present invention solves such problems all at once, and is inexpensive, has good heat resistance due to the use of a glass coat, has excellent substrate insulation, and has a strong electrode strength during soldering. A chip resistor is provided.

課題を解決するための手段 上記課題を解決するために本発明の角板型薄膜チップ
抵抗器の製造方法は、耐熱性絶縁基板に一対の上面部電
極を形成するために化学的に安定な導電材を印刷し焼成
する工程と、少なくとも前記一対の上面部電極間の前記
耐熱性絶縁基板の表面を平滑化するために前記上面部電
極間長以下の長さのパターンを用いてアンダーコートガ
ラスを印刷し焼成する工程と、前記アンダーコートガラ
スと前記上面部電極との一部に重なる薄膜抵抗体を形成
するために金属有機物からなる抵抗材料を印刷し焼成す
る工程と、前記抵抗体を被覆し保護するためにオーバー
コートガラスを印刷し焼成する工程と、前記抵抗体の特
性をそろえるための抵抗値修正工程と、端面電極を形成
するための準備工程である1次基板分割工程および前記
分割基板の端面部の電極形成を行うための端面電印刷焼
成工程と、電極メッキの準備工程である2次基板分割工
程およびはんだ付けによる電極喰われ防止およびはんだ
付け性の信頼性を確保するための電極メッキ工程とを順
次通過させるものである。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, a method of manufacturing a square plate type thin film chip resistor according to the present invention is a method for forming a pair of upper surface electrodes on a heat resistant insulating substrate. Printing and baking a material, and undercoating glass using a pattern having a length equal to or less than the length of the upper surface electrode in order to smooth the surface of the heat resistant insulating substrate between at least the pair of upper electrodes. Printing and baking, and printing and baking a resistive material made of a metal organic material to form a thin-film resistor that partially overlaps the undercoat glass and the upper surface electrode, and coating the resistor. A step of printing and firing an overcoat glass for protection, a step of correcting a resistance value to make the characteristics of the resistor uniform, and a step of preparing a primary substrate for forming an end face electrode. And an end surface electroprinting firing process for forming electrodes on the end surfaces of the divided substrate, a secondary substrate dividing process which is a preparation process for electrode plating, and prevention of electrode erosion by soldering and reliability of solderability. And an electrode plating step for performing the same.

作用 これにより、次に示すような作用が得られる。Operation As a result, the following operation is obtained.

(1) スパッタ装置を用いず、印刷機とベルト式連続
焼成炉によって連続的に薄膜抵抗膜を形成できるので、
製造コストが下がり、厚膜角板型チップ抵抗器と同程度
の安価な角板型薄膜チップ抵抗器が提供できる。
(1) Since a thin film resistance film can be continuously formed by a printing machine and a belt type continuous firing furnace without using a sputtering apparatus,
The manufacturing cost is reduced, and an inexpensive square-plate thin-film chip resistor comparable to a thick-film square-chip chip resistor can be provided.

(2) 薄膜抵抗体は金属有機物からなる抵抗材料を印
刷して形成しているので、保護コートとしてガラスコー
トを用いることができ、従来の角板型薄膜チップ抵抗器
に比べ耐熱性の向上が図れる。
(2) Since the thin-film resistor is formed by printing a resistance material made of a metal organic material, a glass coat can be used as a protective coat, and the heat resistance is improved as compared with a conventional square-plate thin-film chip resistor. I can do it.

(3) アンダーコートガラスによって分割溝入り基板
特有の分割溝間の基板のうねりを吸収し、表面を平滑に
している。このため、従来のように、うねりのない平滑
な基板にレーザースクライブを行うことによって分割溝
を形成する必要がないので、基板の絶縁性が向上する。
(3) The undercoat glass absorbs the undulation of the substrate between the divided grooves peculiar to the divided grooved substrate, and makes the surface smooth. For this reason, it is not necessary to form a dividing groove by performing laser scribing on a smooth substrate having no undulation as in the related art, so that the insulating property of the substrate is improved.

(4) 上面の厚膜の電極を焼成後に薄膜の抵抗を印刷
焼成しているので薄膜抵抗体が端面電極焼成時に上面電
極に喰われることがなく、厚膜の端面電極を焼成によっ
て強固に形成できるので端面電極の強度を従来の厚膜チ
ップ抵抗器と同等にできる。
(4) Since the thin-film resistor is printed and fired after firing the thick-film electrode on the upper surface, the thin-film resistor is not eaten by the upper electrode when firing the end-face electrode, and the thick-film end-face electrode is firmly formed by firing. Therefore, the strength of the end face electrode can be made equal to that of the conventional thick film chip resistor.

実施例 以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら
説明する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明の角板型薄膜チップ抵抗器の製造方法
の実施例1を示す工程図で、第2図は第1図の工程によ
って製造した製品の断面図、第3図は本発明の角板型薄
膜チップ抵抗器の耐熱性を示す説明図で、第4図は本発
明の角板型薄膜チップ抵抗器の端面電極引っ張り強度を
示す説明図、第5図は上面電極に金系薄膜導伝材を用い
たときの耐湿負荷試験による抵抗値変化を示す説明図で
ある。
FIG. 1 is a process drawing showing a first embodiment of a method of manufacturing a square plate type thin film chip resistor according to the present invention, FIG. 2 is a sectional view of a product manufactured by the process of FIG. 1, and FIG. FIG. 4 is an explanatory view showing the heat resistance of the square plate type thin film chip resistor, FIG. 4 is an explanatory view showing the end face electrode tensile strength of the square plate type thin film chip resistor of the present invention, and FIG. It is explanatory drawing which shows the resistance value change by a moisture resistance load test at the time of using a thin film conductive material.

第1図を用いて、本発明の実施例について説明する。
まず、耐熱性および絶縁性に優れた96アルミナ基板1を
受け入れる工程Aを行った。このアルミナ基板1には短
冊状、および個片状に分割するために、分割のための溝
2(グリーンシート時に金型成形)が形成されている。
次に、前記96アルミナ基板1上に、厚膜銀ペーストをス
クリーン印刷し、ベルト式連続焼成炉によって600℃の
温度で、ピーク時間6分、IN−OUT 45分のプロファイ
ルによって焼成し、一対の上面電極層4を形成する工程
Bを行った。次に、前記一対の上面電極層4間の基板の
うねりや突起を平滑にするために、アンダーコートガラ
スペーストをスクリーン印刷し、ベルト式連続焼成炉に
より900℃の温度でピーク15分、IN−OUT 2時間のプロ
ファイルによって焼成し、アンダーコートガラス層3を
形成する工程Cを行った。次に、前記アンダーコートガ
ラス層3と上面電極層4の一部に重なるように、RuO2
主成分とする金属有機物からなる抵抗ペーストをスクリ
ーン印刷した。そして、金属有機物抵抗ペーストの有機
成分だけを飛ばし、金属成分だけをアンダーコートガラ
ス層に焼き付けるために、ベルト式連続焼成炉により64
0℃の温度でピーク時間10分、IN−OUT時間45分のプロフ
ァイルによって焼成し、抵抗体層5を形成する工程Dを
行った。さらに、前記抵抗体層4を保護するために、前
記抵抗層4を完全に覆うように、オーバーコートガラス
ペーストをスクリーン印刷し、ベルト式連続焼成炉によ
って600℃の温度で、ピーク時間15分、IN−OUT 90分の
焼成プロファイルによって焼成し、オーバーコートガラ
ス層6を形成する工程Eを行った。次に、前記上面電極
層5間の前記抵抗体層4の抵抗値を揃えるために、オー
バーコートガラス層6を通過するレーザー光(発振周波
数は5kHz出力は0.3W)によって、前記抵抗体層4のみを
破壊する抵抗値修正工程Fを行った。次に、端面電極を
形成するための準備工程として、端面電極を露出させる
ために、アルミナ基板1を短冊状に分割し、短冊状アル
ミナ基板1′をえる、一次基板分割工程Gを行った。さ
らに、前記短冊状アルミナ基板1′の側面に、前記上面
電極層5の一部に重なるように厚膜銀ペーストをローラ
ーによって塗布し、ベルト式連続焼成炉によって600℃
の温度で、ピーク時間6分、IN−OUT 45分の焼成プロ
ファイルによって焼成し端面電極層8を形成する端面導
体ペースト印刷・焼成工程Hを行った。次に、電極メッ
キ工程Kの準備工程として、前記端面電極層8を形成済
みの短冊上アルミナ基板1′を個片状に分割する2次基
板分割工程Jを行い、個片状アルミナ基板1″をえた。
そして最後に、露出している上面電極層5と端面電極層
8のはんだ付け時の電極喰われの防止およびはんだ付け
の信頼性の確保のため、電解メッキによってNi,Sn−Pb
のメッキ層9を形成する電極メッキ工程Kを行った。
An embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
First, a process A for receiving a 96-alumina substrate 1 having excellent heat resistance and insulation properties was performed. In order to divide the alumina substrate 1 into strips and individual pieces, grooves 2 (molding at the time of a green sheet) for division are formed.
Next, a thick-film silver paste was screen-printed on the 96-alumina substrate 1 and baked in a belt-type continuous sintering furnace at a temperature of 600 ° C. with a peak time of 6 minutes and an IN-OUT of 45 minutes. Step B of forming the upper electrode layer 4 was performed. Next, in order to smooth the undulations and projections of the substrate between the pair of upper electrode layers 4, an undercoat glass paste was screen-printed, and a belt-type continuous firing furnace was used at a temperature of 900 ° C. for 15 minutes at a peak of IN−. Step C of firing under the profile of OUT for 2 hours to form the undercoat glass layer 3 was performed. Next, a resistance paste made of a metal organic material containing RuO 2 as a main component was screen-printed so as to overlap a part of the undercoat glass layer 3 and a part of the upper electrode layer 4. Then, in order to blow off only the organic components of the metal organic resistance paste and bake only the metal components onto the undercoat glass layer, a belt-type continuous firing furnace was used.
Step D of forming a resistor layer 5 by baking at a temperature of 0 ° C. with a profile of a peak time of 10 minutes and an IN-OUT time of 45 minutes was performed. Furthermore, in order to protect the resistor layer 4, an overcoat glass paste is screen-printed so as to completely cover the resistor layer 4, and a belt-type continuous firing furnace is used at a temperature of 600 ° C. for a peak time of 15 minutes. The step E of baking according to a baking profile of IN-OUT 90 minutes to form the overcoat glass layer 6 was performed. Next, in order to make the resistance value of the resistor layer 4 between the upper electrode layers 5 uniform, the resistance layer 4 is irradiated with a laser beam (oscillation frequency: 5 kHz, output: 0.3 W) through the overcoat glass layer 6. Only the resistance value correcting step F for breaking only was performed. Next, as a preparation process for forming the end surface electrodes, a primary substrate dividing step G was performed in which the alumina substrate 1 was divided into strips to obtain strip alumina substrates 1 'in order to expose the end surface electrodes. Further, a thick-film silver paste is applied to the side surface of the strip-shaped alumina substrate 1 ′ so as to overlap a part of the upper electrode layer 5 with a roller, and is heated to 600 ° C. by a belt-type continuous firing furnace.
The end face conductor paste printing / firing step H of firing at the temperature of 6 hours to form the end face electrode layer 8 by the firing profile of IN-OUT 45 minutes for a peak time of 6 minutes was performed. Next, as a preparation step of the electrode plating step K, a secondary substrate dividing step J of dividing the strip-shaped alumina substrate 1 ′ on which the end face electrode layer 8 has been formed into individual pieces is performed. I got
Finally, in order to prevent electrode erosion at the time of soldering of the exposed upper surface electrode layer 5 and end surface electrode layer 8 and to secure the reliability of soldering, Ni, Sn-Pb is electrolytically plated.
An electrode plating step K for forming the plating layer 9 was performed.

以上の工程により、本発明の実施例による角板型薄膜
チップ抵抗器を試作した。
Through the steps described above, a square plate type thin film chip resistor according to the embodiment of the present invention was experimentally manufactured.

この本発明の実施例による角板型薄膜チップ抵抗器の
抵抗値ばらつき、抵抗温度特性(TCR)、電流雑音特
性、耐熱試験(450℃ 10分)による抵抗値変化を従来
の角板型薄膜チップ抵抗器と比較した。この結果、抵抗
値ばらつき・TCR・電流雑音特性は従来の角板型薄膜チ
ップ抵抗器と同等であることが分かった。また、第3
図,第4図に示すように、耐熱性・電極強度においては
従来の角板型薄膜チップ抵抗器より優れているといえ
る。
The resistance variation of the square plate type thin film chip resistor according to the embodiment of the present invention, the resistance temperature characteristic (TCR), the current noise characteristic, and the resistance change due to the heat resistance test (450 ° C. for 10 minutes) are compared with the conventional square plate type thin film chip. Compared with a resistor. As a result, it was found that the resistance variation, TCR, and current noise characteristics were equivalent to those of the conventional square-plate thin-film chip resistor. Also, the third
As shown in FIG. 4 and FIG. 4, it can be said that the heat resistance and the electrode strength are superior to the conventional square plate type thin film chip resistor.

またさらに、一対の上面電極間にアンダーコートガラ
ス層を形成しているため、上面電極層とアンダーコート
ガラス層の厚膜がほほ同等になり、実施例1に比べ平坦
な面に抵抗体層が形成される。これにより、抵抗値のば
らつきが改善された。
Further, since the undercoat glass layer is formed between the pair of upper electrodes, the thickness of the upper electrode layer and the thickness of the undercoat glass layer are almost the same, and the resistor layer is formed on a flat surface compared to the first embodiment. It is formed. Thereby, the variation of the resistance value was improved.

(3σ/で5%) また、実施例では上面電極層4は銀系厚膜導伝材を印
刷焼成して形成したが、これを金系薄膜導伝材を印刷し
焼成することによって上面電極層4を形成した角板型薄
膜チップ抵抗器を試作したところ、さらに第5図に示す
ように長時間(10000時間)の耐湿負荷試験を行っても
抵抗値がほとんど変化しなくなった。
(5% at 3σ /) In the embodiment, the upper surface electrode layer 4 is formed by printing and firing a silver-based thick film conductive material. When a square plate type thin film chip resistor having the layer 4 formed thereon was prototyped, the resistance value hardly changed even after a long-time (10000 hours) moisture resistance load test as shown in FIG.

なお実施例ではアンダーコートの焼成温度を、900
℃、金属有機物抵抗ペーストの焼成温度を640℃、上面
導体の焼成温度を600℃、オーバーコートガラスペース
トの焼成温度を600℃、端面導体ペーストの焼成温度を6
00℃としたがこれは焼成温度を限定するものではない。
In the examples, the firing temperature of the undercoat was set to 900
℃, the sintering temperature of the metal organic resistance paste is 640 ℃, the sintering temperature of the upper surface conductor is 600 ℃, the sintering temperature of the overcoat glass paste is 600 ℃, the sintering temperature of the end surface conductor paste is 6
The temperature was set to 00 ° C., but this does not limit the firing temperature.

また、金属有機物抵抗ペーストはRuO2を主成分とする
抵抗ペーストを用いたが、金属有機物抵抗ペーストを限
定するものではない。
In addition, the metal organic resistance paste used was a resistance paste containing RuO 2 as a main component, but the metal organic resistance paste is not limited.

また、上記電極層および、端面電極層は銀系の厚膜電
極ペーストを用いたが、これは金や白金等の貴金属系の
厚膜電極ペーストでもよい。
The electrode layer and the end face electrode layer are made of a silver-based thick film electrode paste, but may be a noble metal-based thick film electrode paste such as gold or platinum.

また、第5図に示すように、上面電極の層に金系薄膜
導伝材を用いることにより長時間(10000時間)の耐湿
負荷試験による抵抗値変化を大幅に低減できる。
In addition, as shown in FIG. 5, by using a gold-based thin film conductive material for the upper electrode layer, it is possible to greatly reduce a change in resistance value due to a long-time (10000 hours) moisture resistance load test.

発明の効果 以上の説明から明らかなように本発明は、耐熱性絶縁
基板の表面を平滑化するためにアンダーコートガラスを
印刷し焼成する工程と、前記アンダーコートガラスの一
部に重なる上面部電極を形成するために化学的に安定な
導電材を印刷し焼成する工程と、前記アンダーコートガ
ラス上で前記上面部電極の一部に重なる薄膜抵抗体を形
成するために金属有機物からなる抵抗材料を印刷し焼成
する工程と、前記抵抗体を被覆し保護するためにオーバ
ーコートガラスを印刷し焼成する工程と、前記抵抗体の
特性をそろえるための抵抗値修正工程と、端面電極を形
成するための準備工程である1次基板分割工程および前
記分割基板の端面部の電極形成を行うための端面電極印
刷焼成工程と、電極メッキの準備工程である2次基板分
割工程およびはんだ付けによる電極喰われ防止およびは
んだ付け性の信頼性を確保するための電極メッキ工程と
を順次通過させるように構成されているため、次の様な
効果が得られる。
Effects of the Invention As is clear from the above description, the present invention provides a step of printing and firing an undercoat glass to smooth the surface of a heat-resistant insulating substrate, and an upper surface electrode overlapping a part of the undercoat glass. A step of printing and baking a chemically stable conductive material to form a resistive material comprising a metal organic material to form a thin film resistor overlapping a part of the upper surface electrode on the undercoat glass. A step of printing and firing, a step of printing and firing an overcoat glass to cover and protect the resistor, a resistance correction step for aligning the characteristics of the resistor, and an end face electrode A primary substrate dividing step as a preparation step, an end face electrode printing and firing step for forming an electrode on an end face of the divided substrate, and a secondary substrate dividing step as an electrode plating preparation step. And an electrode plating step for preventing electrode erosion due to soldering and ensuring the reliability of solderability, so that the following effects can be obtained.

(1) スパッタ装置を用いず、印刷機とベルト式連続
焼成炉によって連続的に薄膜抵抗膜を形成できるので、
生産性が高まり、厚膜角板型チップ抵抗器と同程度の安
価な角板型薄膜チップ抵抗器が提供できる。
(1) Since a thin film resistance film can be continuously formed by a printing machine and a belt type continuous firing furnace without using a sputtering apparatus,
The productivity is enhanced, and an inexpensive square-plate thin-film chip resistor comparable to a thick-film square-plate chip resistor can be provided.

(2) 薄膜抵抗体は金属有機物からなる抵抗材料を印
刷し焼成しているので、保護コートとしてガラスコート
を用いることができ、従来の角板型薄膜チップ抵抗器に
比べ耐熱性の向上が図れる。
(2) Since the thin-film resistor is printed and fired with a resistance material made of a metal organic substance, a glass coat can be used as a protective coat, and the heat resistance can be improved as compared with a conventional square-plate thin-film chip resistor. .

(3) 従来の薄膜チップ抵抗器はうねりのない平滑な
基板にレーザースクライブを行うことによって分割溝を
形成する必要があったが、本発明によればアンダーコー
トガラス層を形成することにより、うねりのある分割溝
入り基板でも使用できるので、基板の絶縁性が向上す
る。
(3) In the conventional thin film chip resistor, it was necessary to form a dividing groove by performing laser scribing on a smooth substrate having no undulation, but according to the present invention, by forming an undercoat glass layer, the undulation is provided. Since a substrate with a divided groove having a groove can also be used, the insulating property of the substrate is improved.

(4) 厚膜の端面ペーストを塗布・焼成することによ
って電極を強固に形成できるので端面電極の強度を従来
の厚膜チップ抵抗器として同等にできる。
(4) Since the electrodes can be formed firmly by applying and baking a thick-film end surface paste, the strength of the end surface electrodes can be made equal to that of a conventional thick-film chip resistor.

(5) また、上面電極の層に金系薄膜導伝材を用いる
ことにより長時間(10000時間)の耐湿負荷試験による
抵抗値変化を大幅に低減できる。
(5) Further, by using a gold-based thin film conductive material for the upper electrode layer, a change in resistance value due to a long-time (10000 hours) moisture resistance load test can be significantly reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の一実施例による角板型薄膜チップ抵抗
器の製造工程を示す説明図、第2図は第1図の角板型薄
膜チップ抵抗器の製造方法によって製造されたサンプル
の断面図、第3図は本発明の角板型薄膜チップ抵抗器の
耐熱性を示す説明図、第4図は本発明の角板型薄膜チッ
プ抵抗器の端面電極の強度を示す説明図、第5図は上面
電極に金系薄膜導伝材を用いたときの長時間(10000時
間)の耐湿負荷試験による抵抗値変化を示す説明図、第
6図は従来の角板型薄膜チップ抵抗器の製造工程の一例
を示す説明図である。 1……96アルミナ基板、1′……短冊状96アルミナ基
板、1″……個片状96アルミナ基板、2……分割のため
の溝、3……アンダーコートガラス層、4……抵抗体
層、5……上面電極層、6……オーバーコートガラス
層、7……トリミング溝、8……端面電極層、9……電
極メッキ層。
FIG. 1 is an explanatory view showing a manufacturing process of a square plate type thin film chip resistor according to one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram of a sample manufactured by the method of manufacturing a square plate type thin film chip resistor of FIG. FIG. 3 is an explanatory view showing the heat resistance of the rectangular thin-film chip resistor of the present invention. FIG. 4 is an explanatory view showing the strength of the end face electrode of the rectangular thin-film chip resistor of the present invention. FIG. 5 is an explanatory view showing a change in resistance value by a long-time (10000 hours) moisture resistance load test when a gold-based thin film conductive material is used for an upper electrode, and FIG. 6 shows a conventional square plate type thin film chip resistor. It is explanatory drawing which shows an example of a manufacturing process. 1 ... 96-alumina substrate, 1 '... strip-shaped 96-alumina substrate, 1 "... individual-piece 96-alumina substrate, 2 ... grooves for division, 3 ... undercoat glass layer, 4 ... resistor Layer 5, top electrode layer, 6 overcoat glass layer, 7 trimming groove, 8 end electrode layer, 9 electrode plating layer.

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】耐熱性絶縁基板に一対の上面部電極を形成
するために化学的に安定な導電材を印刷し焼成する工程
と、少なくとも前記一対の上面部電極間の前記耐熱性絶
縁基板の表面を平滑化するために前記上面部電極間長以
下の長さのパターンを用いてアンダーコートガラスを印
刷し焼成する工程と、前記アンダーコートガラスと前記
上面部電極との一部に重なる薄膜抵抗体を形成するため
に金属有機物からなる抵抗材料を印刷し焼成する工程
と、前記抵抗体を被覆し保護するためにオーバーコート
ガラスを印刷し焼成する工程と、前記抵抗体の特性をそ
ろえるための抵抗値修正工程と、端面電極を形成するた
めの準備工程である1次基板分割工程および前記分割基
板の端面部の電極形成を行うための端面電極印刷焼成工
程と、電極メッキの準備工程である2次基板分割工程お
よびはんだ付けによる電極喰われ防止およびはんだ付け
性の信頼性を確保するための電極メッキ工程とを順次通
過させることを特徴とする角板型薄膜チップ抵抗器の製
造方法。
A step of printing and baking a chemically stable conductive material to form a pair of upper surface electrodes on the heat resistant insulating substrate; A step of printing and firing an undercoat glass using a pattern having a length equal to or less than the length of the upper surface electrode in order to smooth the surface, and a thin film resistor overlapping a part of the undercoat glass and the upper surface electrode A step of printing and baking a resistance material made of a metal organic material to form a body, a step of printing and baking an overcoat glass to cover and protect the resistor, and a step of aligning the characteristics of the resistor A resistance value correcting step, a primary substrate dividing step which is a preparation step for forming an end face electrode, and an end face electrode printing and firing step for forming an electrode on an end face portion of the split board; Characterized by sequentially passing through a secondary substrate dividing step, which is a preparatory step, and an electrode plating step for preventing electrode erosion by soldering and ensuring the reliability of solderability. Production method.
【請求項2】上面部電極は金系薄膜導伝材を印刷し焼成
することによって形成することを特徴とする請求項1記
載の角板系薄膜チップ抵抗器の製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the upper surface electrode is formed by printing and firing a gold-based thin film conductive material.
【請求項3】オーバーコートガラスを透過するレーザー
光によって、オーバーコートに覆われた抵抗体を破壊す
ることによって抵抗値を修正することを特徴とする請求
項1記載の角板型薄膜チップ抵抗器の製造方法。
3. The square plate type thin film chip resistor according to claim 1, wherein the resistance value is corrected by destroying the resistor covered with the overcoat by a laser beam transmitted through the overcoat glass. Manufacturing method.
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