JP2717562B2 - 走査式描画装置 - Google Patents
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Description
光射出装置から射出されるビーム光を被露光体の面上に
走査しながら、描画メモリに記憶されている描画データ
に基づいて前記ビーム光射出装置から出力されるビーム
光を制御して被露光体の面上を描画していく走査式描画
装置に関する。
描画には走査式描画装置が使用される。この走査式描画
装置は、第9図に概略的に示すように、レーザー光201
をシャッタ装置202に向けて射出するレーザー光射出装
置203と、シャッタ装置202を通過してきたレーザー光20
1をシャドーマスク等の基板(被露光体)204上に走査す
る走査装置205と、描画データを記憶しているメモリ206
と、メモリ206の読み出しや走査装置205の制御を行うコ
ントローラ207等から構成されている。
の走査に対応してタイミングパルスを出力してメモリ20
8から描画データを出力させるものであり、そして、こ
の描画データに基づいてシャッタ装置202がオン・オフ
し、これにより、レーザー光201が描画データに基づい
て基板204上を露光して描画して行くものである。
ら出力されるデータの数とタイミングパルス数とは一致
している。
高密度化等により液晶電極やシャドーマスクのパターン
の精密化が要求されている。この要求に応えるため、レ
ーザー光のスポット径を小さくして、ドットを細かくす
るとともにドットの密度を高めて描画の画素数を増加さ
せて精密な描画が描けるようにしている。
に記憶されるデータの数が増加するので、データの増加
にともないそのデータを読み出すタイミングパルスの周
波数を高くする必要がある。このタイミングパルスの周
波数が高くなると、そのタイミングパルスの制御が難し
く、さらに妨害電波が発生する等の種々の問題があっ
た。
ので、その目的とするところは、タイミングパルスの周
波数を低くしても短時間に多くのデータを読み出すこと
ができ、もって精密なパーンを描画することのできる描
画装置を提供することにある。
出手段から射出されるビーム光を被露光体の面上に走査
しながら、描画メモリに記憶されている描画データに基
づいて前記ビーム光射出手段から出力されるビーム光を
制御して被露光体の面上を描画していく走査式描画装置
であって、 前記ビーム光が所定量走査される毎に走査パルスを発
生する走査パルス発生手段と、 前記走査パルスを、所定時間づつ遅延させた複数のタ
イミングパルスに変換するとともに、これらタイミング
パルスをパラレルに出力して、それぞれのタイミングパ
ルスで前記描画メモリの描画データを読み出していく遅
延手段とを備えたものである。
から走査パルスが発生し、遅延手段が、この走査パルス
を、所定時間づつ遅延させた複数のタイミングパルスに
変換するとともに、これらタイミングパルスをパラレル
に出力して、それぞれのタイミングパルスで描画メモリ
の描画データを読み出していくので、各タイミングパル
スの周波数が低くても、短時間に多くの描画データを読
み出すことができ、妨害電波を出さずに精密なパターン
を描画することができる。
面を参照しつつ説明する。
て、10は本体部、11、12はその脚部、13はXテーブル、
14はYテーブルである。Xテーブル15は矢印X方向にス
ライドされ、Yテーブル14は矢印Y方向にスライドさ
れ、Yテーブル14には描画板部15が設けられている。X
テーブル13、Yテーブル14はレーザー測長器によって位
置出しされるもので、本体部10の光学ヘッド部16には測
長用レーザー光源17が設けられ、Yテーブル14にはX軸
用反射ミラー18とY軸用反射ミラー19とが設けられ、測
長用レーザー光源17から射出された測長用レーザービー
ムは2分割されて各反射ミラー18、19に導かれ、その各
反射ミラー18、19により反射された測長用レーザービー
ムを受光することによりXテーブルは13、Yテーブル14
の位置出しが行われるものとなっている。
ーザー光源20から出射されたレーザービーム光はシャッ
ター21を通過してハーフミラー22に導かれる。このハー
フミラー22は反射光量が略5%に設定されている。レー
ザービーム光はこのハーフミラー22によって分割され、
一部はビームベンダー23に向けて反射されてモニター光
L0として用いられ、大部分はそのハーフミラー22を透過
して二分の一波長板24に導かれて後述する走査ビームと
なる。
器(音響光学素子を用いた超音波光学変調器)に対して
レーザー光がS偏光として入射しかつ後述する偏光合成
器に対してP偏光として入射するように偏光方向を90°
回転させる機能を有する。その二分の一波長板24を通過
したレーザー光はビームスプリッタ25に導かれ、そのレ
ーザー光の半分はそのビームスプリッタ25により反射さ
れて第1描画光L1としてビームベンダー26を介してレン
ズ27に導かれ、そのレーザー光の残りの半分はそのビー
ムスプリッタ25を透過して第2描画光L2としてレンズ28
に導かれる。ここで2本の第1,第2描画光L1、L2を用い
ることにしたのは描画スピードの向上を図るためであ
る。
調器29、30が設けられている箇所に集光される。AO変調
器29、30はスイープオシレータ81,82(第1図参照)か
ら入力される超音波により制御されて、被露光面4上
(第8図参照)でのドット形成の際のスポットのオン・
オフに用いられる。
描画光L1、L2を透過光から回折光へと切り換えるもので
あり、そのAO変調器29、30から出射される一次の回折光
が描画に用いられる。そのスイープオシレータ81,82は
ドット単位の露光情報に基づき超音波をAO変調器29,30
に入力させるが、露光情報は走査線の1ライン毎に対応
して後述するラインメモリに記憶されているので、各ス
イープオシレータ81,82は1ライン毎にずれた露光情報
に基づき駆動される。
束とされる。レンズ31により平行光束とされた一次の回
折光はプリズムからなる光軸微調部33、34により所定の
微小角度偏向されて、レンズ系35に導かれる。レンズ32
により平行光束とされた一次の回折光は光軸微調部36、
ビームベンダー37、光軸微調部38、ビームベンダー39を
介してレンズ系35に入射される。ここで、光軸微調部3
3、34、36、38は被露光面上での走査ビームのスポット
を微小量分離すると共に、各スポットの収束性能を高く
保つ作用を果たす。
ンミラー1の分割面倒れに基づき反射方向が正規の反射
方向からずれるのを補正するための補正用AO変調器40に
導かれる。
L2は、リレーレンズ系41、レンズ系42を介して光量調整
用のバリアブルフィルター43に導かれ、このバリアブル
フィルター43を透過してビームベンダー44により光路を
偏向されて偏光合成器45に導あれる。この偏光合成器45
はモニター光L0の光路と第1,第2描画光L1,L2の光路と
を合成する機能を有するもので、モニター光L0は光軸微
調部46,47、ビームベンダー48,49を経由して偏光合成器
45に導かれるものである。モニター光L0は偏光合成器45
に対してS偏光として入射するのでその偏光合成器45に
より二分の一波長板50に向けて反射され、第1,第2描画
光L1,L2は偏光合成器45に対してP偏光として入射する
ためその偏光合成器45を透過して二分の一波長板50に導
かれる。なお、レンズ系35,42はビームエキスパンダー
を構成するもので、そのレンズ系35に入射前の第1,第2
描画光L1,L2の直径をレンズ系42から出射されるときに
1.67倍に拡大する機能を有する。
波長板50によりそれぞれ偏光方向が90°回転され、レン
ズ系51、ビームベンダー52を介してレンズ系53に導かれ
る。そして、このレンズ系53を通過した第1,第2描画光
L1、L2とモニター光l0とは、ビームベンダー54、55、56
を介してポリゴンミラー1に向けて偏向され、このポリ
ゴンミラー1の分割面2によって描画板部15の被露光面
4に向けて反射される。なお、レンズ系51とレンズ系53
とは、そのレンズ系51に入射する第1,第2描画光L1、L2
のレーザービームの光束径とモニター光L0の光束径とを
略21倍に拡大するビームエキスパンダーとして機能す
る。これは、被露光面4上でのビームウエストを小さく
絞ることによりスポット径を極力収束させるためであ
る。また、リレーレンズ系41は、補正用AO変調器40とポ
リゴンミラー1の分割面2とを共役とする役割を果た
す。これは、ポリゴンミラー1の各分割面2の倒れ角θ
に基づく反射方向のずれを補正するために補正用AO変調
器40により回折光の出射方向を偏向することにすると、
ポリゴンミラー1の分割面2における反射箇所が出射方
向変更前の反射箇所からずれるので、これを防止するた
めである。
射された後、fθレンジ70を介してビームスプリッタ71
に導かれ、このビームスプリッタ71により反射されて、
モニター部69に導かれる。このモニター部69は走査方向
に長く延びるスケール73と受光ファイバー系73とから大
略構成され、スケール72には幅80μmのスリット72a
(第1図参照)が160μmのピッチで走査方向に複数形
成されている。この受光ファイバー系73は、光ファイバ
ー73aとこの光ファイバー73aの両端に設置された受光セ
ンサ73b(第2図参照)とから構成され、受光センサ73b
がそのモニター光L0の透過光量の変化に基づき走査速度
に比例する周波数のパルスを出力する。このパルスから
走査アドレス情報としての位置パルス(後述する)を生
成するのに用いられる。
によって収束され、偏光ビームスプリッター71を透過
し、被露光面4に直径5μmの2つの第1,第2スポット
R1,R2(第7図参照)を形成し、その二つのスポット
は、主走査方向に対して20μm、副走査方向に対して2.
5μmだけ離間して形成され、被露光面4は2本の走査
ビームにより同時に走査される。
面2の所定区間Kだけ第1,第2描画光L1,L2が当たるよ
うになっており、その所定区間Kは、第8図に示す被露
光体4の露光開始位置4aと露光終了位置4bとの区間に対
応している。
光射出手段が構成される。
力されるパルスに基づいて描画データの読み出しやAO変
調器等を制御する制御系の構成を示したブロック図であ
り、図において、58はポリゴンミラー1の一回転を検出
するための回転位置検出センサーで、このセンサー58は
回転スリット板60と発光・受光部61とからなり、回転ス
リット板60には1個のスリット62が形成されている。
るもので、発光・受光部61はポリゴンミラー1の一回転
毎に1個のパルス(回転信号)を出力する。その発光・
受光部61のパルスは後述するタイミングコントローラ10
1に入力する。
(A)に示すように波形成形するパルス生成器(走査パ
ルス発生手段)である。受光センサ73bから出力される
パルスの同期Tはスケール72に形成されたシリット72a
のピッチ160μmに対応している。
と、回転位置検出センサー58から出力される回転信号と
に基づいて後述するラインメモリ111〜114の読出し・書
込みのタイミングやシリアル変換器120,150の変換タイ
ミング等を制御するタイミングコントローラである。
サー58の出力からポリゴンミラー1の回転を検出すると
共に、この一回転の間を電気的に8分割してポリゴンミ
ラー1の反射面の切り替わりを判断する。
ーエンジン102からデータを読み出すための第1読出し
タイミング信号と、ラインメモリ111〜114を指定する指
定信号と、ラインメモリ111〜114からデータを読み出す
第2読出しタイミング信号を出力する。また、タイミン
グコントローラ101は第4図に示すように、ラインメモ
リ101〜104からデータを読み出す時期t1になったとき、
すなわち、パルス生成器100から所定数Zのパルスが発
生したとき、走査パルスFを順次出力していくものであ
る。この走査パルスの幅はパルス生成器100から出力さ
れるパルスを8分割したもの、すなわち20μmに相当
し、周期は40μmに相当する。
光体4の面上に描かれるべき描画像の描画データを作成
して該描画データを記憶し、タイミングコントローラ10
1から出力される第1読出しタイミング信号により描画
データの一ラインづつのラインデータを順次出力してい
くラスターエンジン、103はラスターエンジン102から出
力されるラインデータを記憶するラインメモリ111〜114
をタイミングコントローラ101から出力される指定信号
に基づいて指定するゲート回路である。
出力されたラインデータを記憶し、タイミングコントロ
ーラ101から出力される第2読出しタイミング信号によ
り、記憶したラインデータを32ビットのパラレル信号と
して順次出力していくものである。なお、ラスターエン
ジン102とラインメモリ111〜114がこの発明にいう描画
メモリに相当する。
のデータを記憶するものであり、ラインメモリ113,114
は第2描画光L2を制御するためのデータを記憶するもの
である。
目の走査ラインのラインデータM1,M3がそれぞれ記憶さ
れ、ラインメモリ113,114には二番目,四番目の走査ラ
インのラインデータM2,M4がそれぞれ記憶される。
走査ラインのラインデータM1,M2が読み出されて第1,第
2描画光L1,L2の制御が行われる。この第1,第2描画光
L1,L2により一回目の走査が終了すると、ラインメモリ
112,114から三番目,四番目の走査ラインのデータM3,M
4が読み出されて2回目の走査が行われる。
ち、ラインメモリ112,114から三番目,四番目のライン
データM3,M4がが読み出されているときラインメモリ11
1,113には五番目,六番目のラインデータが書き込まれ
る。同様に、ラインメモリ111,113から五番目,六番目
のラインデータが読み出されているとき、ラインメモリ
112,114には七番目,八番目のラインデータが書き込ま
れる。
しを交互に行いながら第1,第2描画光L1,L2の走査を連
続的に行うものである。
ら32ビットづつパラレルに出力されるラインデータをシ
リアルに変換するものである。
から32ビットづつパラレルに出力されるラインデータを
8ビットづつ4つに分割する制御器125,155と、4つに
分割された8ビットのパラレルデータを記憶しタイミン
グコントローラ101から出力される転送信号によりその
記憶したデータをパラレルに転送する8ビットメモリ12
1〜124,151〜154と、8ビットメモリ121〜124,151〜154
から転送される8ビットのパラレルデータを後述するタ
イミングパルスの立上りによってシリアルデータに変換
して順次出力していく8ビットのゲート回路131,161
と、上記の転送される8ビットのパラレルデータを前記
のタイミングパルスの立下がりによってシリアルデータ
に変換して順次出力していく8ビットのゲート回路132,
162と、オア回路133,163と、走査パルスFが入力される
ラインH1,H2に並列接続されたデイレイライン(遅延手
段)140〜148,190〜198,170〜178,180〜188等とから構
成されている。Gはバスである。
モリ121〜124,151〜154のデータの書き込み,そのデー
タの転送等はタイミングコントローラ101によって行わ
れる。
8,180〜188は、タイミングコントローラ101から出力さ
れる走査パルスFを、所定時間づつ遅延させて9個のタ
イミングパルスPに変換するとともに、これらタイミン
グパルスPをゲート回路131,132,161,162に入力させる
ものである。
ライン141はデイレイライン140より2.5μm長い遅延時
間を有している。同様に、デイレイライン142〜148はデ
イレイライン141〜147より2.5μm長い遅延時間を有し
ている。また、デイレイライン140〜148とデイレイライ
ン190〜198,170〜178,180〜188とは同一の遅延時間を有
している。
タが出力され、そのパラレルデータが制御器125により
4つの8ビットのパラレルデータD1,D2,D3,D4に分割
されて、8ビットメモリ121〜124に例えば第5図におい
て上のメモリからそれぞれ順番にパラレルデータD1,
D2,D3,D4が記憶されると、8ビットメモリ121から8
ビットのパラレルデータD1がゲート回路131に転送さ
れ、8ビットメモリ122から8ビットのパラレルデータD
2がゲート回路132に転送される。
す走査パルスFが出力されて、第6図に示すように、デ
イレイライン140〜148により9個のタイミングパルスP
に変換され、デイレイライン140を介してタイミングパ
ルスPの立上りP0がゲート回路131に入力する。する
と、例えば、ゲート回路131に転送されたパラレルデー
タが第6図のD1に示すように、「01110001」である場
合、データ「0」がゲート回路131から出力される。次
に、デイレイライン142によって所定時間遅延されたタ
イミングパルスPの立上りP1がゲート回路131に入力さ
れると、データ「1」がゲート回路131から出力され
る。同様に、デイレイライン143〜148によって所定時間
づつ遅延されたタイミングパルスPの立上りP2〜P7がゲ
ート回路131に順次入力されると、データ「1」「1」
「0」「0」「0」「1」がシリーズに順次出力されて
いく。
スPの立上りP8がゲート回路131に入力されると、前記
の立上りP7によってゲート回路131から出力されている
データ「1」の出力が停止される。
立上りP0〜P8が入力されるが、ゲート回路132は、パル
スの立上りでデータを出力しないものであるから、ゲー
ト回路131からデータD1が出力されている間データD2を
出力しない。
デイレイライン190によるタイミングパルスPの立下が
りP9がゲート回路132に入力される。これにより、パラ
レルデータD2(第6図参照)の「0」が出力される。次
いで、デイレイライン191〜198によって所定時間づつ遅
延されたタイミングパルスPの立下りP10〜P16が順次ゲ
ート回路132へ入力されると、上記と同様に、データ
「0」「1」「1」「1」「0」「0」「1」がシリー
ズにゲート回路132から順次出力される。
路132に入力されると、ゲート回路132から出力されてい
るデータ「1」の出力が停止される。
ゲート回路131にタイミングパルスPの立下りP9〜P17が
入力されるが、ゲート回路131は、パルスの立下りでデ
ータを出力しないものであるから、そのデータD2が出力
されている間データを出力しない。
所定時間づつ遅延させてゲート回路131,132に入力させ
たものであるから、短時間に多くの描画データを読み出
すことができ、しかもタイミングパルスの周波数が低い
ので妨害電波の発生は少ないものとなる。
されているとき、ゲート回路131には8ビットメモリ123
に記憶されたパラレルデータD3が転送される。同様に、
ゲート回路131からシリアルデータD3が読み出されてい
るとき、ゲート回路132には8ビットメモリ124に記憶さ
れているパラレルデータD4が転送される。このようにし
て、32ビットのパラレルデータがシリアルデータに変換
されて順次出力されていくものである。
レルデータD1〜D4がゲート回路131,132へ順次転送され
ていき、8ビットメモリ121〜124が順次空いていくが、
この空いた8ビットメモリ121〜124には、新たな32ビッ
トのパラレルデータD1′〜D4′が順次記憶されていく。
そして、上記と同様にして、そのデータD1′〜D4′がゲ
ート回路131,132に順次転送される。
モリ111に記憶された一ラインのラインデータがシリア
ルに出力されることとなる。
オア回路133を介してスイープオシレータ80に入力され
る。スイープオシレータ80はそのデータが「1」のとき
超音波AO変調器29に入力させて、第1描画光L1を回折光
に切換え、被露光体4の所定位置を露光させる。データ
が「0」のとき超音波の入力を停止させて、第1描画光
L1を透過光に切換え、被露光体4の所定位置を非露光状
態とする。このようにして、被露光体4の面上に精密な
描画が行なわれる。
同一なので、その説明は省略する。
置4bとスケール72の位置S1,S2とは第8図に示すように
対応しており、モニター光L0と第1,第2描画光L1,L2と
の位置関係は、第7図に示すように、第1描画光L1がモ
ニター光L0よりも10μm前方に位置し、第2描画光L2が
モニター光L0よりも10μm後方に位置するようになって
いる。
たとき、シリアル変換器120からラインデータを読み出
さなければならない。これは、モニター光L0がスケール
72のスリット72aが形成されている位置72cから位置S0ま
で走査したときにパルス生成器100から出力されるパル
ス数を予め測定しておき、タイミングコントローラ101
がパルス生成器100から出力されるパルスをカウントし
てそのカウント数が測定したカウント数になったとき走
査パルスFを出力すればよい。
対して20μm離間しているので、リアル変換器120のラ
インH1に走査パルスFが入力された時点t1から位置パル
スは1個発生した後走査パルスFをシリアル変換器150
のラインH2に入力させて、第2描画光L2用のデータの読
み出しを遅らせている。すなわち、第4図に示す時点t1
からラインデータM1が読み出されてから、位置パルスの
1パルスの分遅れた時点t2からラインデータM2が読み出
されることとなる。
走査される毎に走査パルス発生手段から走査パルスが発
生し、遅延手段が、この走査パルスを、所定時間づつ遅
延させた複数のタイミングパルスに変換するとともに、
これらタイミングパルスをパラレルに出力して、それぞ
れのタイミングパルスで描画メモリの描画データを読み
出していくので、各タイミングパルスの周波数が低くて
も、短時間に多くの描画データを読み出すことができ、
妨害電波を出さずに精密なパターンを描画することがで
きる等の効果を有する。
成を示したブロック図、第2図は走査式描画装置の概略
構成を示す斜視図、第3図はポリゴンミラーの説明図、
第4図は位置パルスと走査パルス等との関係を示した説
明図、第5図はシリアル変換器の回路図、第6図はタイ
ミングパルスの説明図、第7図はモニター光と第1,第2
描画との位置関係を示した説明図、第8図はスケールと
被露光体における描画光の走査範囲との対応関係を示し
た説明図、第9図は従来の走査式描画装置の構成を概略
的に示した概略構成図である。 1…ポリゴンミラー、4…被露光面 20…レーザー光源、29,30…AO変調器 80,81…スイープオシレータ 100…パルス生成器 102…ラスターエンジン 111〜114…ラインメモリ 140〜148,190〜198…デイレイライン 170〜178,180〜188…デイレイライン
Claims (1)
- 【請求項1】ビーム光射出手段から射出されるビーム光
を被露光体の面上に走査しながら、描画メモリに記憶さ
れている描画データに基づいて前記ビーム光射出手段か
ら出力されるビーム光を制御して被露光体の面上を描画
していく走査式描画装置であって、 前記ビーム光が所定量走査される毎に走査パルスを発生
する走査パルス発生手段と、 前記走査パルスを、所定時間づつ遅延させた複数のタイ
ミングパルスに変換するとともに、これらタイミングパ
ルスをパラレルに出力して、それぞれのタイミングパル
スで前記描画メモリの描画データを読み出していく遅延
手段とを備えていることを特徴とする走査式描画装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63307452A JP2717562B2 (ja) | 1988-12-05 | 1988-12-05 | 走査式描画装置 |
DE3940204A DE3940204A1 (de) | 1988-12-05 | 1989-12-05 | Musterzeichnungsabtastgeraet |
US07/734,034 US5117106A (en) | 1988-12-05 | 1991-06-23 | Scanning pattern drawing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63307452A JP2717562B2 (ja) | 1988-12-05 | 1988-12-05 | 走査式描画装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02151499A JPH02151499A (ja) | 1990-06-11 |
JP2717562B2 true JP2717562B2 (ja) | 1998-02-18 |
Family
ID=17969233
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63307452A Expired - Lifetime JP2717562B2 (ja) | 1988-12-05 | 1988-12-05 | 走査式描画装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5117106A (ja) |
JP (1) | JP2717562B2 (ja) |
DE (1) | DE3940204A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6100915A (en) * | 1996-08-28 | 2000-08-08 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Laser drawing apparatus |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPS5642693A (en) * | 1979-09-17 | 1981-04-20 | Nippon Electric Co | Plane drawing device |
US4641252A (en) * | 1981-10-01 | 1987-02-03 | Toshiba Kikai Kabushiki Kaisha | Electron beam drawing control system |
JPH0697309B2 (ja) * | 1987-01-14 | 1994-11-30 | 富士写真フイルム株式会社 | 光ビ−ム走査装置 |
JP2584224B2 (ja) * | 1987-03-30 | 1997-02-26 | 富士写真フイルム株式会社 | 光ビ−ム記録装置 |
US4837588A (en) * | 1987-05-08 | 1989-06-06 | Ricoh Company, Ltd. | Synchronizing signal generating system for laser scanner |
JPS6440920A (en) * | 1987-08-07 | 1989-02-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | Optical scanning and recording device |
-
1988
- 1988-12-05 JP JP63307452A patent/JP2717562B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-12-05 DE DE3940204A patent/DE3940204A1/de not_active Ceased
-
1991
- 1991-06-23 US US07/734,034 patent/US5117106A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02151499A (ja) | 1990-06-11 |
DE3940204A1 (de) | 1990-06-07 |
US5117106A (en) | 1992-05-26 |
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