JP2702119B2 - 光磁気ヘツド - Google Patents
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- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
- G11B11/10541—Heads for reproducing
- G11B11/10543—Heads for reproducing using optical beam of radiation
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- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はレーザ光を用いた情報の記録再生消去に用い
る光磁気ヘッドに関する。 （従来の技術） 光ディスクメモリは高密度・大容量・高速アクセスが
可能であるということから、現在の磁気ディスクメモリ
に変わる新規なメモリとして考えられている。中でも光
磁気記録媒体を用いた光磁気ディスクは書き替え性を有
していることから最も注目され、近年活発に開発がおこ
なわれている。 従来より知られている光磁気ディスクの構成は第４図
に示したように円板上の基板１として透明樹脂を用い、
基板１上にスペーサ２、光磁気記録層３、保護層４を順
次成膜したものである。通常基板１には深さ600〜1000
Å、ピッチ1.6〜2.5μｍの溝11がうず巻き状もしくは同
心円状に形成され、レーザ集光ビームのトラッキングア
クセスに用いられる。基板１としては成形性と耐候性に
優れたポリカーボネート樹脂が多く用いられる。また光
磁気記録層３としてはGd,Tb,Dy,Ho,Sm,Ndなどの希土類
と、Fe,Co,Niなどの遷移金属との合金を主成分とするア
モルファス磁性薄膜が用いられる。スペーサ２及び保護
層４としては、光学的に均質であり異方性をもたず透明
であり水分や酸素を十分遮蔽できる材料が用いられる。 光磁気記録再生消去装置に用いる光磁気ヘッドは、た
とえば第５図に示すようにレーザ光源20、コリメートレ
ンズ21、ビームスプリッタ22,23、レーザ集光部24、ト
ラッキング及びフォーカスサーボ信号検出部25、光磁気
信号検出部26により構成されている。レーザ光源20から
の出射光はコリメートレンズ21、ビームスプリッタ22,2
3を順次透過し、レーザ集光部24により光磁気ディスク
５上に集光される。光磁気ディスク上には磁化反転ビッ
トの形で信号が記録されている。ディスクからの反射光
はディスクの磁化状態に応じて磁気光学効果のためにそ
の偏光状態が変わる。光磁気ディスクからの反射光の一
部は、ビームスプリッタ23により反射され光磁気信号検
出部26に導かれる。光磁気信号検出部26は第６図（ａ）
に示したように検光子28とフォトダイオード29から成る
組み合わせ、あるいは第６図（ｂ）に示したように1/2
波長板30、偏光ビームスプリッタ31及び２個のフォトダ
イオード29から成る組み合わせであり、いずれも光磁気
ディスク５上で生じた偏光状態の変化を光強度の変化に
変換し電気信号を取り出す機能を持っている。次に、サ
ーボ信号検出部25はレーザ光が常に光磁気ディスク５上
に集光され、かつ所望のトラックを追従できるようにサ
ーボをかけるためのサーボエラー信号すなわちフォーカ
スエラー信号とトラックエラー信号を検出する機能を持
っている。 （発明が解決しようとする問題点） 上述したように光磁気ディスク５用の基板１としては
成形性と耐候性に優れたポリカーボネート樹脂が多く用
いられている。しかしながら、ポリカーボネート樹脂は
他の樹脂、たとえばPMMA（ポリメチルメタクリレート）
あるいはエポキシ樹脂に比べて複屈折が大きいという欠
点を持っている。光磁気ディスク５の記録再生消去は基
板１を通しておこなわれるため、レーザ光は複屈折を有
する基板中を一往復する。光磁気記録層での微小な偏光
面変化を再生信号とする光磁気ディスクにおいて、基板
の複屈折は再生信号品質を大幅に劣化させる。 ポリカーボネート基板の複屈折は基板面内の複屈折よ
りも基板厚さ方向の複屈折のほうが、１桁以上大きいこ
とが知られている。（たとえば吉沢;P414、光学第15巻
第５号）光磁気ディスクでは前述したように基板側から
集光ビームを入射されるために一部基板に対して斜め入
射となる成分が存在する。（第７図）この斜め入射成分
が厚さ方向の複屈折の影響を大きく受ける。 そこで、厚さ方向の大きな複屈折の影響をできるだけ
低減するためには集光ビームの斜め入射成分を少なくす
ることが望ましい。その一つの方策として集光レンズの
N.A（開口数）を小さくするという報告がある。（たと
えば、渡部他;30a−Ｗ−８第47回応用物理学会講演会予
稿） しかしながら、この方法では基板の複屈折の状況に応
じて複数個のN.A.の異なる集光レンズあるいはN.A.の異
なる集光レンズを持つヘッドを用意しなければならない
という欠点があった。 本発明はこのような従来の欠点を解決するためになさ
れたものであり、光磁気ディスクに用いられる基板の複
屈折による再生信号の劣化を防ぎ、基板の複屈折のばら
つきによる再生信号の変動を抑えることができる新規な
光磁気ヘッドを提供することを目的とする。 （問題点を解決するための手段） 本発明によれば、波長λのレーザ光源とレーザ光を平
行ビームに変換するコリメートレンズと記録媒体にレー
ザ光を集光するレーザ集光部と前記記録媒体からの反射
光を光磁気信号検出部に導くビームスプリッタと光磁気
信号検出部とトラッキング及びフォーカスサーボ信号検
出部とを備えた光磁気ヘッドにおいて、前記ビームスプ
リッタと前記レーザ集光部との間に円形の開口部を有す
る遮蔽板を持ち、該遮蔽板の円形開口の中心とレーザ光
のビーム中心とを一致させるように該遮蔽板を配置し、
該遮蔽板の開口部直径が前記コリメートレンズ通過後の
平行ビームレーザ光の直径の0.3から1.0倍であるととも
に、該レーザ集光部がレーザ波長λの２倍以上の板厚を
有する基板上に形成された記録媒体の基板側からレーザ
光を集光するものであることを特徴とする光磁気ヘッド
が得られる。 （作用） 第１図及び第２図は本発明にかかる光磁気ヘッドの構
成例を示した図である。レーザ光源20、コリメートレン
ズ21、ビームスプリッタ22,23、レーザ集光部24、遮蔽
板50、サーボ信号検出部25、光磁気信号検出部26からな
り、さらに外部磁界印加手段27と光磁気ディスク５が示
されている。光磁気信号検出部26は第１図に示すように
検光子28とフォトダイオード29から成るものもしくは第
２図に示すように1/2波長板30、偏光ビームスプリッタ3
1及び２個のフォトダイオード29から成るものである。 第１図および第２図において遮蔽板50はビームスプリ
ッタ23とレーザ集光部24との間に配置されている。第３
図に遮蔽板50とレーザ集光用レンズ241との位置関係を
示す。遮蔽板50は円形開口を有するためレーザ集光用レ
ンズ241に入射するレーザ光の径がレンズ径に比べて小
さくなるように制限する働きを持つ。レンズの外径近傍
から入射したレーザ光は集光時に基板を斜めに横切る成
分となるため、最も複屈折による偏光状態の乱れを受け
やすい。そこで遮蔽板50を用いてレンズ外径近傍から入
射する光を遮蔽すれば光磁気ディスクからの反射光での
複屈折による乱れを最小限にとどめることができる。 遮蔽板50は、前述したようにビームスプリッタ23とレ
ーザ集光部24との間に配置される。ディスクからの反射
光は、基板を斜めに通過する際に生じる複屈折によって
偏光が大きく乱される。通常、光磁気ディスクに使用さ
れる光ヘッドにおいては、１方向に偏光したレーザをデ
ィスクに入射させ、記録膜によって生じる反射光の偏光
の変化を再生に用いる。例えば、Ｐ偏光のレーザ光をデ
ィスクに入射させる場合、反射光には、記録膜によって
生じたＳ偏光分が含まれるようになる。通常の光磁気ヘ
ッドでは、信号成分として寄与するＳ偏光成分を強調す
るために、反射光路中におかれるビームスプリッタは、
Ｐ偏光に比べてＳ偏光の反射率を大きく設定したものが
用いられる。例えば、Ｐ偏光の反射率20％に対して、Ｓ
偏光の反射率99％のように設定する。こうすることによ
って、Ｓ偏光成分を強調でき、再生信号品質を向上でき
る。逆に、完全にＰ偏光とＳ偏光の反射率や透過率を同
じになるように作成することは難しく、そういったもの
を使った場合にはＳ偏光分の増強効果がないために、再
生信号が低下する。 ここで、本発明の目的としている遮蔽板による複屈折
の影響の低減効果について述べる。複屈折も光磁気ディ
スクの再生に使われる磁気光学効果と同様に通過光の偏
光面を変化させる。しかしながら、その変化の挙動は記
録情報とは無関係であるために再生信号のノイズ増加と
なる。例えば、Ｐ偏光の入射光を使った場合、ディスク
からの反射光には複屈折によるＳ偏光成分が混入する。
この複屈折成分は、再生信号に影響することは言うまで
もないが、反射光を利用するフォーカスあるいはトラッ
キングエラー信号にも影響する。すなわち、前述したＳ
偏光強調型のビームスプリッタを使用する場合、ビーム
スプリッタによって反射された光は複屈折によって発生
したＳ偏光成分自体も増強する働きを持つ。このため
に、ビームスプリッタで反射されてサーボエラー信号検
出系に導かれる光は複屈折によって変動したものとな
り、これが間違ったエラー信号をもたらす原因となる。 こうした点を考慮して本発明では、ビームスプリッタ
23とレーザ集光部24の間に遮蔽板50を設置しており、こ
の遮蔽板50によって、再生信号のみならず、サーボエラ
ー信号にも影響する複屈折の影響を最小に抑えるという
効果がもたらされる。 （実施例１） 射出成形により作成したポリカーボネート樹脂基板
（130mm直径、1.2mm厚）を用い、TbFeCo膜（800Å厚）
を光磁気記録層として光磁気ディスクを作成した。スペ
ーサ及び保護層としてSi3N4を用いた。 従来の第５図に示した構成を持つ光磁気ヘッドを用い
て信号の記録を再生をおこなった。レーザ集光部の集光
レンズには直径10mm、N.A.＝0.55、焦点距離5.5mmのも
のを用いた。この光磁気ヘッドを用いたときの再生信号
は他の低複屈折基板を用いたディスクと比べて再生信号
エンベロープの乱れとノイズ成分の増加が顕著であっ
た。 次にこの光磁気ディスクを本発明にかかる第１図に示
した構成の光磁気ヘッドを用いて再生した。レーザ集光
部の集光レンズには前記従来の光磁気ヘッドに用いたも
のと同じものを使用した。遮蔽板としては直径7mmの円
形開口を有するものを使用した。フォトダイオード31の
受光量レベルを従来の光磁気ヘッドと同じレベルとして
比較したところ、再生エンベロープの乱れ、ノイズ増加
ともに大幅に低減できた。 （実施例２） 実施例１に示した光磁気ディスクを用いて第２図から
成る光磁気ヘッドにより再生信号の検出を試みた。ここ
では実施例１に示した光磁気ヘッドと同様の集光レンズ
と遮蔽板を用いた。ここでも従来例と比べて大幅に再生
信号エンベロープの乱れノイズ増加が低減できた。 （実施例３） 第１図及び第２図のヘッドに用いる遮蔽板として円形
開口直径を3mmから10mmまで変化できる構成のものを使
用した。集光レンズには実施例1,2と同じものを用い
た。この光磁気ヘッドを用いて複屈折値の異なる基板を
用いた光磁気ディスクの再生信号を観測した。各ディス
ク毎に再生エンベロープ及びノイズ特性上最適な遮蔽板
開口径が存在し、再生特性の向上がはかれた。 実施例１から実施例３において明らかになったよう
に、本発明において、使用される遮蔽板の開口の寸法
は、集光レンズの外径に対して0.3倍から1.0倍であり、
この範囲において再生信号エンベロープの乱れや、ノイ
ズ増加を大幅に抑えることができ、遮蔽板の有効性が発
揮される。 （発明の効果） このように本発明にかかる光磁気ヘッドは従来例に比
べ基板複屈折の再生信号への影響を除去することがで
き、再生信号を大幅に改善できる。また、本発明によれ
ば基板の複屈折のみならず光磁気記録層による偏光劣
化、スペーサ層による偏光劣化、集光レンズの特性に起
因する偏光劣化に対しても改善効果を示し、再生特性を
向上できる。
る光磁気ヘッドに関する。 （従来の技術） 光ディスクメモリは高密度・大容量・高速アクセスが
可能であるということから、現在の磁気ディスクメモリ
に変わる新規なメモリとして考えられている。中でも光
磁気記録媒体を用いた光磁気ディスクは書き替え性を有
していることから最も注目され、近年活発に開発がおこ
なわれている。 従来より知られている光磁気ディスクの構成は第４図
に示したように円板上の基板１として透明樹脂を用い、
基板１上にスペーサ２、光磁気記録層３、保護層４を順
次成膜したものである。通常基板１には深さ600〜1000
Å、ピッチ1.6〜2.5μｍの溝11がうず巻き状もしくは同
心円状に形成され、レーザ集光ビームのトラッキングア
クセスに用いられる。基板１としては成形性と耐候性に
優れたポリカーボネート樹脂が多く用いられる。また光
磁気記録層３としてはGd,Tb,Dy,Ho,Sm,Ndなどの希土類
と、Fe,Co,Niなどの遷移金属との合金を主成分とするア
モルファス磁性薄膜が用いられる。スペーサ２及び保護
層４としては、光学的に均質であり異方性をもたず透明
であり水分や酸素を十分遮蔽できる材料が用いられる。 光磁気記録再生消去装置に用いる光磁気ヘッドは、た
とえば第５図に示すようにレーザ光源20、コリメートレ
ンズ21、ビームスプリッタ22,23、レーザ集光部24、ト
ラッキング及びフォーカスサーボ信号検出部25、光磁気
信号検出部26により構成されている。レーザ光源20から
の出射光はコリメートレンズ21、ビームスプリッタ22,2
3を順次透過し、レーザ集光部24により光磁気ディスク
５上に集光される。光磁気ディスク上には磁化反転ビッ
トの形で信号が記録されている。ディスクからの反射光
はディスクの磁化状態に応じて磁気光学効果のためにそ
の偏光状態が変わる。光磁気ディスクからの反射光の一
部は、ビームスプリッタ23により反射され光磁気信号検
出部26に導かれる。光磁気信号検出部26は第６図（ａ）
に示したように検光子28とフォトダイオード29から成る
組み合わせ、あるいは第６図（ｂ）に示したように1/2
波長板30、偏光ビームスプリッタ31及び２個のフォトダ
イオード29から成る組み合わせであり、いずれも光磁気
ディスク５上で生じた偏光状態の変化を光強度の変化に
変換し電気信号を取り出す機能を持っている。次に、サ
ーボ信号検出部25はレーザ光が常に光磁気ディスク５上
に集光され、かつ所望のトラックを追従できるようにサ
ーボをかけるためのサーボエラー信号すなわちフォーカ
スエラー信号とトラックエラー信号を検出する機能を持
っている。 （発明が解決しようとする問題点） 上述したように光磁気ディスク５用の基板１としては
成形性と耐候性に優れたポリカーボネート樹脂が多く用
いられている。しかしながら、ポリカーボネート樹脂は
他の樹脂、たとえばPMMA（ポリメチルメタクリレート）
あるいはエポキシ樹脂に比べて複屈折が大きいという欠
点を持っている。光磁気ディスク５の記録再生消去は基
板１を通しておこなわれるため、レーザ光は複屈折を有
する基板中を一往復する。光磁気記録層での微小な偏光
面変化を再生信号とする光磁気ディスクにおいて、基板
の複屈折は再生信号品質を大幅に劣化させる。 ポリカーボネート基板の複屈折は基板面内の複屈折よ
りも基板厚さ方向の複屈折のほうが、１桁以上大きいこ
とが知られている。（たとえば吉沢;P414、光学第15巻
第５号）光磁気ディスクでは前述したように基板側から
集光ビームを入射されるために一部基板に対して斜め入
射となる成分が存在する。（第７図）この斜め入射成分
が厚さ方向の複屈折の影響を大きく受ける。 そこで、厚さ方向の大きな複屈折の影響をできるだけ
低減するためには集光ビームの斜め入射成分を少なくす
ることが望ましい。その一つの方策として集光レンズの
N.A（開口数）を小さくするという報告がある。（たと
えば、渡部他;30a−Ｗ−８第47回応用物理学会講演会予
稿） しかしながら、この方法では基板の複屈折の状況に応
じて複数個のN.A.の異なる集光レンズあるいはN.A.の異
なる集光レンズを持つヘッドを用意しなければならない
という欠点があった。 本発明はこのような従来の欠点を解決するためになさ
れたものであり、光磁気ディスクに用いられる基板の複
屈折による再生信号の劣化を防ぎ、基板の複屈折のばら
つきによる再生信号の変動を抑えることができる新規な
光磁気ヘッドを提供することを目的とする。 （問題点を解決するための手段） 本発明によれば、波長λのレーザ光源とレーザ光を平
行ビームに変換するコリメートレンズと記録媒体にレー
ザ光を集光するレーザ集光部と前記記録媒体からの反射
光を光磁気信号検出部に導くビームスプリッタと光磁気
信号検出部とトラッキング及びフォーカスサーボ信号検
出部とを備えた光磁気ヘッドにおいて、前記ビームスプ
リッタと前記レーザ集光部との間に円形の開口部を有す
る遮蔽板を持ち、該遮蔽板の円形開口の中心とレーザ光
のビーム中心とを一致させるように該遮蔽板を配置し、
該遮蔽板の開口部直径が前記コリメートレンズ通過後の
平行ビームレーザ光の直径の0.3から1.0倍であるととも
に、該レーザ集光部がレーザ波長λの２倍以上の板厚を
有する基板上に形成された記録媒体の基板側からレーザ
光を集光するものであることを特徴とする光磁気ヘッド
が得られる。 （作用） 第１図及び第２図は本発明にかかる光磁気ヘッドの構
成例を示した図である。レーザ光源20、コリメートレン
ズ21、ビームスプリッタ22,23、レーザ集光部24、遮蔽
板50、サーボ信号検出部25、光磁気信号検出部26からな
り、さらに外部磁界印加手段27と光磁気ディスク５が示
されている。光磁気信号検出部26は第１図に示すように
検光子28とフォトダイオード29から成るものもしくは第
２図に示すように1/2波長板30、偏光ビームスプリッタ3
1及び２個のフォトダイオード29から成るものである。 第１図および第２図において遮蔽板50はビームスプリ
ッタ23とレーザ集光部24との間に配置されている。第３
図に遮蔽板50とレーザ集光用レンズ241との位置関係を
示す。遮蔽板50は円形開口を有するためレーザ集光用レ
ンズ241に入射するレーザ光の径がレンズ径に比べて小
さくなるように制限する働きを持つ。レンズの外径近傍
から入射したレーザ光は集光時に基板を斜めに横切る成
分となるため、最も複屈折による偏光状態の乱れを受け
やすい。そこで遮蔽板50を用いてレンズ外径近傍から入
射する光を遮蔽すれば光磁気ディスクからの反射光での
複屈折による乱れを最小限にとどめることができる。 遮蔽板50は、前述したようにビームスプリッタ23とレ
ーザ集光部24との間に配置される。ディスクからの反射
光は、基板を斜めに通過する際に生じる複屈折によって
偏光が大きく乱される。通常、光磁気ディスクに使用さ
れる光ヘッドにおいては、１方向に偏光したレーザをデ
ィスクに入射させ、記録膜によって生じる反射光の偏光
の変化を再生に用いる。例えば、Ｐ偏光のレーザ光をデ
ィスクに入射させる場合、反射光には、記録膜によって
生じたＳ偏光分が含まれるようになる。通常の光磁気ヘ
ッドでは、信号成分として寄与するＳ偏光成分を強調す
るために、反射光路中におかれるビームスプリッタは、
Ｐ偏光に比べてＳ偏光の反射率を大きく設定したものが
用いられる。例えば、Ｐ偏光の反射率20％に対して、Ｓ
偏光の反射率99％のように設定する。こうすることによ
って、Ｓ偏光成分を強調でき、再生信号品質を向上でき
る。逆に、完全にＰ偏光とＳ偏光の反射率や透過率を同
じになるように作成することは難しく、そういったもの
を使った場合にはＳ偏光分の増強効果がないために、再
生信号が低下する。 ここで、本発明の目的としている遮蔽板による複屈折
の影響の低減効果について述べる。複屈折も光磁気ディ
スクの再生に使われる磁気光学効果と同様に通過光の偏
光面を変化させる。しかしながら、その変化の挙動は記
録情報とは無関係であるために再生信号のノイズ増加と
なる。例えば、Ｐ偏光の入射光を使った場合、ディスク
からの反射光には複屈折によるＳ偏光成分が混入する。
この複屈折成分は、再生信号に影響することは言うまで
もないが、反射光を利用するフォーカスあるいはトラッ
キングエラー信号にも影響する。すなわち、前述したＳ
偏光強調型のビームスプリッタを使用する場合、ビーム
スプリッタによって反射された光は複屈折によって発生
したＳ偏光成分自体も増強する働きを持つ。このため
に、ビームスプリッタで反射されてサーボエラー信号検
出系に導かれる光は複屈折によって変動したものとな
り、これが間違ったエラー信号をもたらす原因となる。 こうした点を考慮して本発明では、ビームスプリッタ
23とレーザ集光部24の間に遮蔽板50を設置しており、こ
の遮蔽板50によって、再生信号のみならず、サーボエラ
ー信号にも影響する複屈折の影響を最小に抑えるという
効果がもたらされる。 （実施例１） 射出成形により作成したポリカーボネート樹脂基板
（130mm直径、1.2mm厚）を用い、TbFeCo膜（800Å厚）
を光磁気記録層として光磁気ディスクを作成した。スペ
ーサ及び保護層としてSi3N4を用いた。 従来の第５図に示した構成を持つ光磁気ヘッドを用い
て信号の記録を再生をおこなった。レーザ集光部の集光
レンズには直径10mm、N.A.＝0.55、焦点距離5.5mmのも
のを用いた。この光磁気ヘッドを用いたときの再生信号
は他の低複屈折基板を用いたディスクと比べて再生信号
エンベロープの乱れとノイズ成分の増加が顕著であっ
た。 次にこの光磁気ディスクを本発明にかかる第１図に示
した構成の光磁気ヘッドを用いて再生した。レーザ集光
部の集光レンズには前記従来の光磁気ヘッドに用いたも
のと同じものを使用した。遮蔽板としては直径7mmの円
形開口を有するものを使用した。フォトダイオード31の
受光量レベルを従来の光磁気ヘッドと同じレベルとして
比較したところ、再生エンベロープの乱れ、ノイズ増加
ともに大幅に低減できた。 （実施例２） 実施例１に示した光磁気ディスクを用いて第２図から
成る光磁気ヘッドにより再生信号の検出を試みた。ここ
では実施例１に示した光磁気ヘッドと同様の集光レンズ
と遮蔽板を用いた。ここでも従来例と比べて大幅に再生
信号エンベロープの乱れノイズ増加が低減できた。 （実施例３） 第１図及び第２図のヘッドに用いる遮蔽板として円形
開口直径を3mmから10mmまで変化できる構成のものを使
用した。集光レンズには実施例1,2と同じものを用い
た。この光磁気ヘッドを用いて複屈折値の異なる基板を
用いた光磁気ディスクの再生信号を観測した。各ディス
ク毎に再生エンベロープ及びノイズ特性上最適な遮蔽板
開口径が存在し、再生特性の向上がはかれた。 実施例１から実施例３において明らかになったよう
に、本発明において、使用される遮蔽板の開口の寸法
は、集光レンズの外径に対して0.3倍から1.0倍であり、
この範囲において再生信号エンベロープの乱れや、ノイ
ズ増加を大幅に抑えることができ、遮蔽板の有効性が発
揮される。 （発明の効果） このように本発明にかかる光磁気ヘッドは従来例に比
べ基板複屈折の再生信号への影響を除去することがで
き、再生信号を大幅に改善できる。また、本発明によれ
ば基板の複屈折のみならず光磁気記録層による偏光劣
化、スペーサ層による偏光劣化、集光レンズの特性に起
因する偏光劣化に対しても改善効果を示し、再生特性を
向上できる。
【図面の簡単な説明】
第１図及び第２図は本発明の適用された光磁気ヘッドの
構成を示す図、第３図は本発明に使用される遮蔽板とレ
ーザ集光用レンズの配置図、第４図は従来の光磁気ディ
スクの構成図、第５図第６図は従来の光磁気ヘッドの構
成図、第７図はレーザ集光状態を示した断面図である。 図において 20……レーザ光源、24……レーザ集光部、50……遮蔽
板、５……光磁気ディスクである。
構成を示す図、第３図は本発明に使用される遮蔽板とレ
ーザ集光用レンズの配置図、第４図は従来の光磁気ディ
スクの構成図、第５図第６図は従来の光磁気ヘッドの構
成図、第７図はレーザ集光状態を示した断面図である。 図において 20……レーザ光源、24……レーザ集光部、50……遮蔽
板、５……光磁気ディスクである。
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 １．波長λのレーザ光源とレーザ光を平行ビームに変換
するコリメートレンズと記録媒体にレーザ光を集光する
レーザ集光部と前記記録媒体からの反射光を光磁気信号
検出部に導くビームスプリッタと光磁気信号検出部とト
ラッキング及びフォーカスサーボ信号検出部とを備えた
光磁気ヘッドにおいて、前記ビームスプリッタと前記レ
ーザ集光部との間に円形の開口部を有する遮蔽板を持
ち、該遮蔽板の円形開口の中心とレーザ光のビーム中心
とを一致させるように該遮蔽板を配置し、該遮蔽板の開
口部直径が前記コリメートレンズ通過後の平行ビームレ
ーザ光の直径の0.3から1.0倍であるとともに、該レーザ
集光部がレーザ波長λの２倍以上の板厚を有する基板上
に形成された記録媒体の基板側からレーザ光を集光する
ものであることを特徴とする光磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62026644A JP2702119B2 (ja) | 1987-02-06 | 1987-02-06 | 光磁気ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62026644A JP2702119B2 (ja) | 1987-02-06 | 1987-02-06 | 光磁気ヘツド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63193354A JPS63193354A (ja) | 1988-08-10 |
| JP2702119B2 true JP2702119B2 (ja) | 1998-01-21 |
Family
ID=12199155
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62026644A Expired - Lifetime JP2702119B2 (ja) | 1987-02-06 | 1987-02-06 | 光磁気ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2702119B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60214433A (ja) * | 1984-04-10 | 1985-10-26 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 光学式ピツクアツプ装置 |
| JPS62185268A (ja) * | 1986-02-12 | 1987-08-13 | Ricoh Co Ltd | 光磁気メモリ−デイスク光照射方法 |
-
1987
- 1987-02-06 JP JP62026644A patent/JP2702119B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63193354A (ja) | 1988-08-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |