JP2694216B2 - ウエハ処理方法およびウエハ処理装置 - Google Patents
ウエハ処理方法およびウエハ処理装置Info
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- JP2694216B2 JP2694216B2 JP7156090A JP7156090A JP2694216B2 JP 2694216 B2 JP2694216 B2 JP 2694216B2 JP 7156090 A JP7156090 A JP 7156090A JP 7156090 A JP7156090 A JP 7156090A JP 2694216 B2 JP2694216 B2 JP 2694216B2
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- Japan
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- wafer
- rollers
- holding member
- wafers
- wafer processing
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明はウェハ処理装置に関する。
(従来の技術) キャリアに収容された複数枚のウェハのオリフラを回
転ローラにより一度に合わせるものとして特公平1−59
739号公報である。
転ローラにより一度に合わせるものとして特公平1−59
739号公報である。
また、キャリアに収納された複数枚のウェハの有無
を、収納されるウェハと同数の光検出器を設け、一度に
検出するものとして特開昭63−13344号、特開昭64−743
号公報がある。
を、収納されるウェハと同数の光検出器を設け、一度に
検出するものとして特開昭63−13344号、特開昭64−743
号公報がある。
(発明が解決しようとする課題) キャリアに収納されたウェハに所定の成膜やエッチン
グ等の処理を行うに際し、ウェハのオリフラ合せとキャ
リア内に収容されたウェハの有無の検出を行うため、従
来は独立したオリフラ合せステーション部とウェハカウ
ントステーション部を設けこの間をキャリア搬送装置に
よりキャリアを搬送し所定のオリフラ合せとウェハ検出
を行っていた。
グ等の処理を行うに際し、ウェハのオリフラ合せとキャ
リア内に収容されたウェハの有無の検出を行うため、従
来は独立したオリフラ合せステーション部とウェハカウ
ントステーション部を設けこの間をキャリア搬送装置に
よりキャリアを搬送し所定のオリフラ合せとウェハ検出
を行っていた。
上記の如くキャリア搬送装置によりキャリアを搬送し
ていたのでキャリア搬送時にゴミが発生しウェハに付着
し半導体素子の不良が発生するという改善点を有する。
ていたのでキャリア搬送時にゴミが発生しウェハに付着
し半導体素子の不良が発生するという改善点を有する。
また、オリフラ合せステーション部とウェハカウント
ステーション部と2ケ所のスペースを必要とするためウ
ェハ処理装置が大型になり、このウェハ処理装置が設置
される高価なクリーンルームを不要に専有するという改
善点を有する。
ステーション部と2ケ所のスペースを必要とするためウ
ェハ処理装置が大型になり、このウェハ処理装置が設置
される高価なクリーンルームを不要に専有するという改
善点を有する。
さらに、オリフラ合せステーション部でオリフラ合せ
を行った後、キャリア搬送装置でキャリアをウェハカウ
ントステーション部へ移載しウェハ検出を行っているの
で処理時間が多大に必要となる改善点を有する。
を行った後、キャリア搬送装置でキャリアをウェハカウ
ントステーション部へ移載しウェハ検出を行っているの
で処理時間が多大に必要となる改善点を有する。
そして、オリフラ合せステーション部とウェハカウン
トステーション部の間をキャリアが搬送するキャリア搬
送装置が必要となりウェハ処理装置が大型で、複雑で、
コストが高くなるという改善点を有する。
トステーション部の間をキャリアが搬送するキャリア搬
送装置が必要となりウェハ処理装置が大型で、複雑で、
コストが高くなるという改善点を有する。
この発明は上記点に鑑みなされたもので、複数枚のウ
ェハのオリフラを所定の姿勢に整列させることと、複数
枚のウェハの有無および位置検知を保持部材とオリフラ
合せステーション部やウエハカウントステーション部に
搬送することなく、一箇所で短時間で行うことができる
ウエハ処理方法およびウエハ処理装置を提供するもので
ある。
ェハのオリフラを所定の姿勢に整列させることと、複数
枚のウェハの有無および位置検知を保持部材とオリフラ
合せステーション部やウエハカウントステーション部に
搬送することなく、一箇所で短時間で行うことができる
ウエハ処理方法およびウエハ処理装置を提供するもので
ある。
(課題を解決するための手段) 本発明に係るウエハ処理方法は、周縁部にオリフラを
有する複数枚のウエハを所定間隔で垂直面内で上下およ
び回転可能に収納する溝部を有し、上部および下部の開
放された保持部材を載置台に設置し、載置台の下方に昇
降可能に設けられたローラの機構の一対のローラを上記
保持部材内のウエハの下方から接触させて回転を与え、
オリフラを整列させるとともに、上記ローラ機構の両ロ
ーラ間に各ウエハ毎に対向して配設された発光素子と受
光素子の検知素子対からなるウエハ検出器により上記保
持部材内のウエハの有無および位置を検出することを特
徴とする。
有する複数枚のウエハを所定間隔で垂直面内で上下およ
び回転可能に収納する溝部を有し、上部および下部の開
放された保持部材を載置台に設置し、載置台の下方に昇
降可能に設けられたローラの機構の一対のローラを上記
保持部材内のウエハの下方から接触させて回転を与え、
オリフラを整列させるとともに、上記ローラ機構の両ロ
ーラ間に各ウエハ毎に対向して配設された発光素子と受
光素子の検知素子対からなるウエハ検出器により上記保
持部材内のウエハの有無および位置を検出することを特
徴とする。
また、本発明に係るウエハ処理装置は、周縁部にオリ
フラを有する複数枚のウエハを所定間隔で垂直面内で上
下および回転可能に収納する溝部を有し、上部および下
部の開放された保持部材と、この保持部材を載置する載
置台と、この載置台の下方に昇降可能に設けられ、上記
保持部材内のウエハに下方から接触して回転を与え、オ
リフラを整列させる一対のローラを有するローラ機構
と、上記保持部材内のウエハの有無および位置を検出す
るための上記ローラ機構の両ローラ間に各ウエハ毎に対
向して配設された発光素子と受光素子の検知素子対から
なるウエハ検出器とを備えたことを特徴とする。
フラを有する複数枚のウエハを所定間隔で垂直面内で上
下および回転可能に収納する溝部を有し、上部および下
部の開放された保持部材と、この保持部材を載置する載
置台と、この載置台の下方に昇降可能に設けられ、上記
保持部材内のウエハに下方から接触して回転を与え、オ
リフラを整列させる一対のローラを有するローラ機構
と、上記保持部材内のウエハの有無および位置を検出す
るための上記ローラ機構の両ローラ間に各ウエハ毎に対
向して配設された発光素子と受光素子の検知素子対から
なるウエハ検出器とを備えたことを特徴とする。
本発明に係るウエハ処理装置においては、隣接する検
知素子対が互に干渉しないように交互に偏心して配置さ
れていることが好ましい。
知素子対が互に干渉しないように交互に偏心して配置さ
れていることが好ましい。
(作用) 本発明に係るウエハ処理方法およびウエハ処理装置に
よれば、周縁部にオリフラを有する複数枚のウエハを所
定間隔で垂直面内で上下および回転可能に収納する溝部
を有し、上部および下部の開放された保持部材を載置す
る載置台の下方に、上記保持部材内のウエハに下方から
接触して回転を与え、オリフラを整列させる一対のロー
ラを有するローラ機構と、上記ローラ機構の両ローラ間
に各ウエハ毎に対向して配設された発光素子と受光素子
の検知素子対からなるウエハ検出器とを備えているた
め、保持部材をオリフラ合せステーション部やウエハカ
ウントステーション部に搬送することなく、保持部材を
一箇所の載置台上に載置するだけで、いわゆるオリフラ
合せとウエハカウントを短時間で行うことが可能とな
り、処理能力の向上、省スペース化およびコストの低減
等が図れる。
よれば、周縁部にオリフラを有する複数枚のウエハを所
定間隔で垂直面内で上下および回転可能に収納する溝部
を有し、上部および下部の開放された保持部材を載置す
る載置台の下方に、上記保持部材内のウエハに下方から
接触して回転を与え、オリフラを整列させる一対のロー
ラを有するローラ機構と、上記ローラ機構の両ローラ間
に各ウエハ毎に対向して配設された発光素子と受光素子
の検知素子対からなるウエハ検出器とを備えているた
め、保持部材をオリフラ合せステーション部やウエハカ
ウントステーション部に搬送することなく、保持部材を
一箇所の載置台上に載置するだけで、いわゆるオリフラ
合せとウエハカウントを短時間で行うことが可能とな
り、処理能力の向上、省スペース化およびコストの低減
等が図れる。
(実施例) 以下本発明のウェハ処理装置の一実施例について図面
を参照して具体的に説明する。
を参照して具体的に説明する。
第1図において、1は周縁部にオリフラ1aを有する半
導体ウエハで、2は複数枚のウエハ1を収納する上部お
よび下部の開放された保持部材であるガイドである。複
数枚のウェハ1はフェハサイズ6インチで外径150mmオ
リフラ長さ60mmであり、軟質の樹脂例えばフッ素樹脂か
らなるガイド2の中間部より上方垂直方向にこのガイド
2を上から見て断面がコ字形に形成された溝部3に、上
記ウェハ1の周縁部を嵌入しこのウェハ1を垂直面内で
上下および回転可能に収納しており、上記ガイド2は開
口部5を有する載置台4を載置している。
導体ウエハで、2は複数枚のウエハ1を収納する上部お
よび下部の開放された保持部材であるガイドである。複
数枚のウェハ1はフェハサイズ6インチで外径150mmオ
リフラ長さ60mmであり、軟質の樹脂例えばフッ素樹脂か
らなるガイド2の中間部より上方垂直方向にこのガイド
2を上から見て断面がコ字形に形成された溝部3に、上
記ウェハ1の周縁部を嵌入しこのウェハ1を垂直面内で
上下および回転可能に収納しており、上記ガイド2は開
口部5を有する載置台4を載置している。
上記開口部5には複数枚の上記ウェハ1を嵌合する如
く設けられた溝部7を有し、図示しない昇降機構により
上記ウェハ1を収容して昇降可能な如く設けられた突き
上げ部6と、2本のローラ10とウェハ検出器30を設けて
おり、詳細は台2図を用いて説明する。
く設けられた溝部7を有し、図示しない昇降機構により
上記ウェハ1を収容して昇降可能な如く設けられた突き
上げ部6と、2本のローラ10とウェハ検出器30を設けて
おり、詳細は台2図を用いて説明する。
上記2本のローラ10は直径20mmで軟質の樹脂例えばフ
ッ素樹脂からなり、中心軸11を中心として回転可能に構
成されており、上記2本のローラ10の下部に設けられた
モータ20はプーリー21が装置され、ベルト22が2つのロ
ーラ10とプーリー21の間に張設され、モータ20の回転に
より2本のローラ10が同一方向に回転可能の如く構成し
ている。
ッ素樹脂からなり、中心軸11を中心として回転可能に構
成されており、上記2本のローラ10の下部に設けられた
モータ20はプーリー21が装置され、ベルト22が2つのロ
ーラ10とプーリー21の間に張設され、モータ20の回転に
より2本のローラ10が同一方向に回転可能の如く構成し
ている。
また、上記2本のローラ10とモータ20からなるローラ
機構12は図示しない昇降機構により昇降可能に構成して
ある。
機構12は図示しない昇降機構により昇降可能に構成して
ある。
また、上記2本のローラ10の間隔がウェハ1の大きさ
やオリフラ長さによって調整可能な如く構成してある。
やオリフラ長さによって調整可能な如く構成してある。
次に、上記2の本ローラ10の間にローラ10と平行して
ウェハ検出器30を設けている。
ウェハ検出器30を設けている。
このウェハ検出器30はセラミックスや樹脂例えばデル
リン(商品名)を用いてモールド成型して作られ、複数
の溝部32が設けられこの各溝部32の内側対向面には第3
図に示すように各ウェハ毎に対向する投光素子34と受光
素子36からなる検知素子対38を設け、この検知素子対38
はウェハの有無を検出する信号処理部40に電気的に接続
してある。
リン(商品名)を用いてモールド成型して作られ、複数
の溝部32が設けられこの各溝部32の内側対向面には第3
図に示すように各ウェハ毎に対向する投光素子34と受光
素子36からなる検知素子対38を設け、この検知素子対38
はウェハの有無を検出する信号処理部40に電気的に接続
してある。
上記ウェハ検出器30の溝部32のピッチはウェハが収納
されるウェハキャリアの溝ピッチである3/16インチで約
4.7mmとしてあり、溝部32の幅Aは約2.7mmで凸部31の厚
さBは2mmとしてある。
されるウェハキャリアの溝ピッチである3/16インチで約
4.7mmとしてあり、溝部32の幅Aは約2.7mmで凸部31の厚
さBは2mmとしてある。
この凸部31の厚さBの2mm内に、発光素子34と受光素
子36を複数個同軸的に配置することはできないため、第
4図に示すように隣接する検知素子対が互に干渉しない
ように交互に偏心して配置されている。
子36を複数個同軸的に配置することはできないため、第
4図に示すように隣接する検知素子対が互に干渉しない
ように交互に偏心して配置されている。
また、ウェハ検出器30は2本のローラ10の間に設ける
ためウェハ検出器30の幅Wは15mmであり、凸部31の厚さ
Bは2mmと薄いため溝部32の深さCは、デルリンで作ら
れた凸部31の機械的強度およびデルリンのモールド成型
後の変形やその他経時変更を考慮すると、5mm以上とす
ることは困難であり、本実施例においては溝部32の深さ
Cは上記限度である5mmとした。
ためウェハ検出器30の幅Wは15mmであり、凸部31の厚さ
Bは2mmと薄いため溝部32の深さCは、デルリンで作ら
れた凸部31の機械的強度およびデルリンのモールド成型
後の変形やその他経時変更を考慮すると、5mm以上とす
ることは困難であり、本実施例においては溝部32の深さ
Cは上記限度である5mmとした。
このためウェハ検出器30は複数枚のウェハ1が整列さ
れた状態のオリフラ位置に嵌合させることが、正確なウ
ェハ検知を行うために望ましい。
れた状態のオリフラ位置に嵌合させることが、正確なウ
ェハ検知を行うために望ましい。
次に上記実施例装置による複数枚のウェハ1のオリフ
ラ合せと、複数枚のウェハ1の有無および位置検知する
ウェハカウント方法について説明する。
ラ合せと、複数枚のウェハ1の有無および位置検知する
ウェハカウント方法について説明する。
上記ガイド2に収納された複数枚のウェハ1の下部周
縁部に2本のローラ10を当接するように、ローラ機構12
を図示しない昇降機構により上昇させる。
縁部に2本のローラ10を当接するように、ローラ機構12
を図示しない昇降機構により上昇させる。
そしてモータ20を回転させプーリー21、ベルト22を介
して2本のローラ10を同一方向に回転させる。
して2本のローラ10を同一方向に回転させる。
この回転するローラ10との接触により複数枚のウェハ
1は回転させられオリフラが下側になるまで回転が続け
られる。
1は回転させられオリフラが下側になるまで回転が続け
られる。
そして、ウェハ1のオリフラが下側となったとき、オ
リフラとローラ10が離間しウェハ1の回転は自動的に停
止する。
リフラとローラ10が離間しウェハ1の回転は自動的に停
止する。
全てのウェハ1のオリフラが整列終了後、モータ20の
回転を止め、ローラ20の回転を停止する。
回転を止め、ローラ20の回転を停止する。
次にウェハ検出器30を図示しない昇降機能で上昇さ
せ、整列された複数枚のウェハ1のオリフラへウェハ検
出器30の溝部32を嵌合させる。
せ、整列された複数枚のウェハ1のオリフラへウェハ検
出器30の溝部32を嵌合させる。
そしてウェハ検出器30に設けられた投光素子34から赤
外光を発光すると、ウェハ1が嵌合された溝部32の上記
投光素子34と対向する受光素子36には上記赤外光が入ら
ず、上記受光素子36が受ける光量に比例した電気信号が
信号処理部40へ伝達されウェハ1の有無と位置が検知さ
れる。
外光を発光すると、ウェハ1が嵌合された溝部32の上記
投光素子34と対向する受光素子36には上記赤外光が入ら
ず、上記受光素子36が受ける光量に比例した電気信号が
信号処理部40へ伝達されウェハ1の有無と位置が検知さ
れる。
上記と同様にして全ての溝部32における複数枚のウェ
ハ1の有無および位置が瞬時に検知され、図示しない次
工程程装置へ信号伝達し、さらに図示しないモニター装
置に表示を行う。
ハ1の有無および位置が瞬時に検知され、図示しない次
工程程装置へ信号伝達し、さらに図示しないモニター装
置に表示を行う。
次に上記2本のローラ10の両側に配置された突き上げ
部6の溝部7にウェハ1の周縁部が嵌合するように図示
しない昇降機構により突き上げ部6を上昇させ、複数枚
のウェハ1のオリフラが整列した状態で一度にガイド2
の上方にウェハ1を突き上げ、図示しないウェハチャッ
クで次工程へウェハ搬送を行う。
部6の溝部7にウェハ1の周縁部が嵌合するように図示
しない昇降機構により突き上げ部6を上昇させ、複数枚
のウェハ1のオリフラが整列した状態で一度にガイド2
の上方にウェハ1を突き上げ、図示しないウェハチャッ
クで次工程へウェハ搬送を行う。
上記投光素子34に赤外光を用いた場合には、受光素子
36は赤外光で受光感度の高いものとするか、あるいは赤
外光だけを通過する光学フィルタを設けることにより、
室内照明等他の光源の影響を排除することができ、正確
なウェハ1の検出を行うことができる。
36は赤外光で受光感度の高いものとするか、あるいは赤
外光だけを通過する光学フィルタを設けることにより、
室内照明等他の光源の影響を排除することができ、正確
なウェハ1の検出を行うことができる。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の要旨の範囲内で種々変形実施が可能である。
本発明の要旨の範囲内で種々変形実施が可能である。
上記実施例では複数枚のウェハ1を収納するガイド2
を用いたが、このガイド2の代りに25枚のウェハを収納
する樹脂例えばフッ素樹脂からなるウェハキャリアを用
いてもよい。この場合オリフラ合せとウェハカウント終
了後、ローラ機構12とウェハ検出器30を図示しない昇降
機能で下降させ、複数枚のウェハ1が収納された状態で
上記キャリアを、例えばキャリア搬送装置で次工程へ搬
送してもよい。
を用いたが、このガイド2の代りに25枚のウェハを収納
する樹脂例えばフッ素樹脂からなるウェハキャリアを用
いてもよい。この場合オリフラ合せとウェハカウント終
了後、ローラ機構12とウェハ検出器30を図示しない昇降
機能で下降させ、複数枚のウェハ1が収納された状態で
上記キャリアを、例えばキャリア搬送装置で次工程へ搬
送してもよい。
さらに整列したオリフラ位置を例えば上方にする場合
には、2本のローラ10のうち1本のローラ10をウェハ1
の周縁部に当接せしめ、上記オリフラ合せを行った位置
より所定高さローラ10を上昇させ、ローラ10を所定回転
行うことによりオリフラ位置を上方に移動させることが
できる。
には、2本のローラ10のうち1本のローラ10をウェハ1
の周縁部に当接せしめ、上記オリフラ合せを行った位置
より所定高さローラ10を上昇させ、ローラ10を所定回転
行うことによりオリフラ位置を上方に移動させることが
できる。
また本実施例においてウェハ検知素子対38は透過型を
用いて説明を行ったが反射型の検知素子対を用いてもよ
いことは当然である。
用いて説明を行ったが反射型の検知素子対を用いてもよ
いことは当然である。
発光素子としては発光ダイオード、発光素子としては
フォトダイオード、フォトトランジスタ、太陽電池型の
薄肉光検出器等を用いることができる。
フォトダイオード、フォトトランジスタ、太陽電池型の
薄肉光検出器等を用いることができる。
またオリフラ合せを行う回転ローラ10は2本に限ら
ず、1本もしくは3本以上としてもよい。
ず、1本もしくは3本以上としてもよい。
ウェハ検出器30は突き上げ部6の少なくとも片側に設
けてもよい。
けてもよい。
さらに上記したウェハ処理装置の応用例は半導体装置
の各工程において有効に活用出来るものであり、熱処理
装置、エッチング装置、イオン注入装置、検査装置、レ
ジスト塗布装置、キャリアストッカー装置等へ利用でき
る。
の各工程において有効に活用出来るものであり、熱処理
装置、エッチング装置、イオン注入装置、検査装置、レ
ジスト塗布装置、キャリアストッカー装置等へ利用でき
る。
例えば横型熱処理装置や縦型熱処理装置において複数
のキャリアから熱処理用ボートに複数枚のウェハを移換
える工程に本発明を利用することにより、熱処理装置を
小型に構成することができ、またウェハ移換え時間を短
時間で行える。
のキャリアから熱処理用ボートに複数枚のウェハを移換
える工程に本発明を利用することにより、熱処理装置を
小型に構成することができ、またウェハ移換え時間を短
時間で行える。
以上説明したように、本発明に係るウエハ処理方法お
よびウエハ処理装置によれば、周縁部にオリフラを有す
る複数枚のウエハを所定間隔で垂直面内で上下および回
転可能に収納する溝部を有し、上部および下部の開放さ
れた保持部材を載置する載置台の下方に、上記保持部材
内のウエハに下方から接触して回転を与え、オリフラを
整列させる一対のローラを有するローラ機構と、上記ロ
ーラ機構の両ローラ間に各ウエハ毎に対向して配設され
た発光素子と受光素子の検知素子対からなるウエハ検出
器とを備えているため、保持部材をオリフラ合せステー
ション部やウエハカウントステーション部に搬送するこ
となく、保持部材を一箇所の載置台上に載置するだけ
で、いわゆるオリフラ合せとウエハカウントを短時間で
行うことが可能となり、処理能力の向上、省スペース化
およびコストの低減等が図れる。
よびウエハ処理装置によれば、周縁部にオリフラを有す
る複数枚のウエハを所定間隔で垂直面内で上下および回
転可能に収納する溝部を有し、上部および下部の開放さ
れた保持部材を載置する載置台の下方に、上記保持部材
内のウエハに下方から接触して回転を与え、オリフラを
整列させる一対のローラを有するローラ機構と、上記ロ
ーラ機構の両ローラ間に各ウエハ毎に対向して配設され
た発光素子と受光素子の検知素子対からなるウエハ検出
器とを備えているため、保持部材をオリフラ合せステー
ション部やウエハカウントステーション部に搬送するこ
となく、保持部材を一箇所の載置台上に載置するだけ
で、いわゆるオリフラ合せとウエハカウントを短時間で
行うことが可能となり、処理能力の向上、省スペース化
およびコストの低減等が図れる。
第1図は本発明に係るウェハ処理装置の一実施例のウェ
ハ収納部説明図、第2図は第1図の部分説明図、第3
図,第4図は第2図のウェハ検出器説明図である。 1……ウェハ、2……ガイド 6……突き上げ部、10……ローラ 20……モータ、30……ウェハ検出器 40……信号処理部
ハ収納部説明図、第2図は第1図の部分説明図、第3
図,第4図は第2図のウェハ検出器説明図である。 1……ウェハ、2……ガイド 6……突き上げ部、10……ローラ 20……モータ、30……ウェハ検出器 40……信号処理部
Claims (3)
- 【請求項1】周縁部にオリフラを有する複数枚のウエハ
を所定間隔で垂直面内で上下および回転可能に収納する
溝部を有し、上部および下部の開放された保持部材を載
置台に設置し、載置台の下方に昇降可能に設けられたロ
ーラ機構の一対のローラを上記保持部材内のウエハに下
方から接触させて回転を与え、オリフラを整列させると
ともに、上記ローラ機構の両ローラ間に各ウエハ毎に対
向して配設された発光素子と受光素子の検知素子対から
なるウエハ検出器により上記保持部材内のウエハの有無
および位置を検出することを特徴とするウエハ処理方
法。 - 【請求項2】周縁部にオリフラを有する複数枚のウエハ
を所定間隔で垂直面内で上下および回転可能に収納する
溝部を有し、上部および下部の開放された保持部材と、
この保持部材を載置する載置台と、この載置台の下方に
昇降可能に設けられ、上記保持部材内のウエハに下方か
ら接触して回転を与え、オリフラを整列させる一対のロ
ーラを有するローラ機構と、上記保持部材内のウエハの
有無および位置を検出するための上記ローラ機構の両ロ
ーラ間に各ウエハ毎に対向して配設された発光素子と受
光素子の検知素子対からなるウエハ検出器とを備えたこ
とを特徴とするウエハ処理装置。 - 【請求項3】隣接する検知素子対が互に干渉しないよう
に交互に偏心して配置されていることを特徴とする請求
項2記載のウエハ処理装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7156090A JP2694216B2 (ja) | 1990-03-20 | 1990-03-20 | ウエハ処理方法およびウエハ処理装置 |
KR1019910004375A KR0139785B1 (ko) | 1990-03-20 | 1991-03-20 | 웨이퍼 정렬 기능을 가진 웨이퍼 카운트 장치 |
US07/672,852 US5183378A (en) | 1990-03-20 | 1991-03-20 | Wafer counter having device for aligning wafers |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7156090A JP2694216B2 (ja) | 1990-03-20 | 1990-03-20 | ウエハ処理方法およびウエハ処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03270253A JPH03270253A (ja) | 1991-12-02 |
JP2694216B2 true JP2694216B2 (ja) | 1997-12-24 |
Family
ID=13464229
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7156090A Expired - Fee Related JP2694216B2 (ja) | 1990-03-20 | 1990-03-20 | ウエハ処理方法およびウエハ処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2694216B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2580975Y2 (ja) * | 1992-02-18 | 1998-09-17 | サンクス 株式会社 | 多連式透過形光電センサ |
US5636960A (en) * | 1992-07-29 | 1997-06-10 | Tokyo Electron Limited | Apparatus for detecting and aligning a substrate |
TW245823B (ja) * | 1992-10-05 | 1995-04-21 | Tokyo Electron Co Ltd | |
KR20040046086A (ko) * | 2002-11-26 | 2004-06-05 | 삼성전자주식회사 | 웨이퍼 가장자리 결함 검사 장치 |
WO2014170969A1 (ja) * | 2013-04-17 | 2014-10-23 | 株式会社島津製作所 | 基板処理システム |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5870546A (ja) * | 1981-10-23 | 1983-04-27 | Hitachi Ltd | 物品移換装置 |
-
1990
- 1990-03-20 JP JP7156090A patent/JP2694216B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH03270253A (ja) | 1991-12-02 |
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