JP2688415B2 - 回転型シンチレーションカメラ - Google Patents
回転型シンチレーションカメラInfo
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- JP2688415B2 JP2688415B2 JP62278371A JP27837187A JP2688415B2 JP 2688415 B2 JP2688415 B2 JP 2688415B2 JP 62278371 A JP62278371 A JP 62278371A JP 27837187 A JP27837187 A JP 27837187A JP 2688415 B2 JP2688415 B2 JP 2688415B2
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- Japan
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- circuit
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- ray
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Links
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- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 claims description 25
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 11
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Landscapes
- Nuclear Medicine (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、被検体の周囲を回転するγ線検出器によっ
てシンチグラムを収集し、断層像を得る回転型シンチレ
ーションカメラに係り、特に放射性同位元素の経時的な
γ線放射量の減弱の影響を受けない良質な断層像が得ら
れる回転型シンチレーションカメラに関するものであ
る。 〔従来の技術〕 被検体内に投与した放射性同位元素より放射されるγ
線（ガンマ線）を検出器で所定時間検出し、その各々に
ついて検出器内のγ線入射位置の求め、シンチグラムを
得るシンチレーションカメラを応用し、複数枚のシンチ
グラムを収集して断層像を得る回転型シンチレーション
カメラ（以下、SPECTと略記する）がある。 このSPECTによる断層像は、被検体の周囲に検出器を
回転させ、一定の回転角度位置毎に得た複数毎（通常
は、64枚など、２のべき乗枚数が多い）のシンチグラム
を、データ処理装置で再構成処理して得られる。 ここで、従来、各シンチグラムは全て同一の収集時間
（γ線計測時間）で収集される。このシンチグラムの収
集と前記検出器の回転を制御する従来のSPECTの回路を
第２図に示す。この図において、被検体内に投与された
放射性同位元素より放射されるγ線の計測が開始される
と、時間カウンタ回路１は発振回路５からの時間信号11
を累計してγ線計測開始時からの経過時間（計測時間）
を求める。時間比較回路２は、前記時間カウンタ回路１
の出力と、検出器（図示せず）の各回転角度位置でのγ
線計測時間を設定した時間カウンタ設定回路３の出力を
比較し、計測時間が設定値に一致すると回転開始信号12
を出力する。回転開始信号12は、それまでのγ線計測、
換言すればシンチグラムの収集を終了させ、検出器回転
制御回路６に検出器の回転を指示する。検出器回転制御
回路６は、検出器を次の位置まで回転させ、回転終了信
号13を出力する。この回転終了信号13は、前記時間カウ
ンタ回路１の内容を消去し、次の検出器位置でのγ線計
測（シンチグラムの収集）を開始させる。 このような動作を、検出器の各回転角度位置において
順次繰り返し、被検体の周囲からの複数枚のシンチグラ
ムを得る。 以上のSPECTによるシンチグラムの収集には、通常、
数十分から１時間の時間を要する。例えば、シンチグラ
ム枚数を64枚、シンチグラム１枚に要する計測時間を30
秒に設定すると、検出器の１ステップの回転にも１秒程
度を要するので、合計の計測時間は、30秒×64枚＋１秒
×63回＝1983秒≒33分である。この数十分の総計測時間
は、半減期の短い放射性同位元素を使用する場合に問題
となる。すなわち、放射性同位元素の経時的なγ線放射
量の減弱が、計測開始直後と計測終了直前のシンチグラ
ムのγ線計測数の差として表われ、再構成した断層像に
擬像（アーチファクト）を生じさせる。 この放射性同位元素の経時的なγ線放射量の減弱の影
響を除去するために、従来は、次の２つの方法が採られ
ている。１つは、被検体の周囲の検出器の回転を１往復
とし、復路での収集をその角度での往路でのシンチグラ
ムの上に重ねて行う方法である。また、もう１つは、収
集された各シンチグラムのイメージデータに対し、デー
タ処理装置で、そのシンチグラムの収集時点での放射性
同位元素の減弱比率で除算して補正する方法である。 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかし、検出器の回転を１往復とする前者の方法に
は、総計測時間が長くなるという問題がある。各シンチ
グラムの収集時間は往路、復路の合計を設定時間に一致
させるので延びることはないが、検出器の回転に要する
時間は２倍に増加する。近年、断層像の画質向上のため
に収集されるシンチグラムの枚数は、従来の32枚,64枚
から128枚以上に増加する傾向にあり検出器回転所要時
間の増加の影響はさらに大きくなる傾向にある。 次に、シンチグラムのイメージデータに対して減弱比
率を除算して補正する後者の方法には、その処理に伴う
操作の繁雑化と処理時間の増加という問題がある。ま
た、補正処理された一連のイメージデータには、オリジ
ナルのシンチグラムのγ線計測数が異なることにより、
統計学的な等質性が無いという不明瞭な点が残る問題も
ある。 本発明の目的は、検出器回転所要時間を増加させるこ
となく、かつ簡易，迅速な処理手段により、放射性同位
元素の経時的な減弱の影響を除去した複数枚のシンチグ
ラムを収集でき、擬像の生じない良質の断層像が得られ
るSPECTを提供することにある。 〔問題点を解決するための手段〕 上記目的は、従来、検出器の各回転角度位置でのγ線
計測時間を全て同一に設定していたものを、その計測時
点（検出器回転角度位置）での放射性同位元素のγ線放
射量の減弱比率で補正して設定することにより達成され
る。 〔作用〕 前記手段によれば、計測終了直前の放射性同位元素の
γ線放射量が、計測開始直後の例えば半分に減弱してい
る場合には、計測時間を２倍に補正して時間カウンタ設
定回路に設定する。それによって、収集された複数枚の
シンチグラムのγ線計測数に、放射性同位元素の経時的
なγ線放射量の減弱の影響は無くなり、統計学的な等質
性が保たれる。また、１回の検出器の回転で、断層像を
得るに必要な複数枚のシンチグラムが得られる。 〔実施例〕 以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。第
１図は本発明によるSPECTの一実施例の要部を示すブロ
ック回路図で、図中４は設定時間補正回路である。その
他、第１図において、第２図と同一符号は同一又は相当
部分を示す。 前記設定時間補正回路４は、使用する放射性同位元素
の経時的なγ線放射量の減弱比率で、時間カウンタ設定
回路３の設定時間を除算して、設定時間を補正するもの
である。 ここで、放射性同位元素の経時的なγ線放射量の減弱
比率は、下記（１）式で表わされる。 EXP（−λ×ｔ） ……（１） ただし、λは放射性同位元素の壊変定数 ｔは経過時間 本例では、前記設定時間補正回路４には、γ線計測前
に、使用される放射性同位元素の壊変定数λが外部から
設定される。 図示構成において、いま、回転終了信号13により各検
出器位置でのγ線計測（シンチグラムの収集）が開始さ
れると、設定時間補正回路４は次のように動作する。す
なわち、時間信号11により計測開始からの経過時間ｔを
求め、時間カウンタ設定回路３からの設定計測時間T
0に、次式（２）による補正を行った計測時間Ｔを時間
比較回路２に出力する。 Ｔ＝T0÷EXP（−λ×ｔ）＝T0×EXP（λ×ｔ） ……（２） このような設定時間補正回路４の動作により、被検体
内に投与された放射性同位元素のγ線放射量が時間経過
と共に減弱しても、その分だけ計測時間Ｔが延長され、
各シンチグラムはγ線放射量の経時的な減弱の影響を受
けない。 なお、設定時間補正回路４での式（２）の計算処理
は、回路内にマイクロコンピュータ等の演算素子を組込
む方法の他、経過時間ｔと壊変定数λをパラメータとす
る残表を記録したメモリを組込む方法など、容易に種々
の方法が考え得る。また、設定時間補正回路４のSPECT
の制御回路内での位置も、第１図の実施例だけでなく、
その機能を満す範囲で種々変更可能である。 〔発明の効果〕 以上に説明したように、本発明によれば、断層像の再
構成に必要な複数枚のシンチグラムを、放射性同位元素
の経時的なγ線放射量の減弱の影響を受けることなく収
集できるので、前記γ線放射量の減弱から派生する擬像
（アーチファクト）の無い良質の断層像が得られる。し
かもこの際、検出器回転所要時間を増加させることはな
く、また、シンチグラムのイメージデータに対して補正
を行う従来方法に比べて、補正処理の簡易，迅速化が計
れるという効果もある。
てシンチグラムを収集し、断層像を得る回転型シンチレ
ーションカメラに係り、特に放射性同位元素の経時的な
γ線放射量の減弱の影響を受けない良質な断層像が得ら
れる回転型シンチレーションカメラに関するものであ
る。 〔従来の技術〕 被検体内に投与した放射性同位元素より放射されるγ
線（ガンマ線）を検出器で所定時間検出し、その各々に
ついて検出器内のγ線入射位置の求め、シンチグラムを
得るシンチレーションカメラを応用し、複数枚のシンチ
グラムを収集して断層像を得る回転型シンチレーション
カメラ（以下、SPECTと略記する）がある。 このSPECTによる断層像は、被検体の周囲に検出器を
回転させ、一定の回転角度位置毎に得た複数毎（通常
は、64枚など、２のべき乗枚数が多い）のシンチグラム
を、データ処理装置で再構成処理して得られる。 ここで、従来、各シンチグラムは全て同一の収集時間
（γ線計測時間）で収集される。このシンチグラムの収
集と前記検出器の回転を制御する従来のSPECTの回路を
第２図に示す。この図において、被検体内に投与された
放射性同位元素より放射されるγ線の計測が開始される
と、時間カウンタ回路１は発振回路５からの時間信号11
を累計してγ線計測開始時からの経過時間（計測時間）
を求める。時間比較回路２は、前記時間カウンタ回路１
の出力と、検出器（図示せず）の各回転角度位置でのγ
線計測時間を設定した時間カウンタ設定回路３の出力を
比較し、計測時間が設定値に一致すると回転開始信号12
を出力する。回転開始信号12は、それまでのγ線計測、
換言すればシンチグラムの収集を終了させ、検出器回転
制御回路６に検出器の回転を指示する。検出器回転制御
回路６は、検出器を次の位置まで回転させ、回転終了信
号13を出力する。この回転終了信号13は、前記時間カウ
ンタ回路１の内容を消去し、次の検出器位置でのγ線計
測（シンチグラムの収集）を開始させる。 このような動作を、検出器の各回転角度位置において
順次繰り返し、被検体の周囲からの複数枚のシンチグラ
ムを得る。 以上のSPECTによるシンチグラムの収集には、通常、
数十分から１時間の時間を要する。例えば、シンチグラ
ム枚数を64枚、シンチグラム１枚に要する計測時間を30
秒に設定すると、検出器の１ステップの回転にも１秒程
度を要するので、合計の計測時間は、30秒×64枚＋１秒
×63回＝1983秒≒33分である。この数十分の総計測時間
は、半減期の短い放射性同位元素を使用する場合に問題
となる。すなわち、放射性同位元素の経時的なγ線放射
量の減弱が、計測開始直後と計測終了直前のシンチグラ
ムのγ線計測数の差として表われ、再構成した断層像に
擬像（アーチファクト）を生じさせる。 この放射性同位元素の経時的なγ線放射量の減弱の影
響を除去するために、従来は、次の２つの方法が採られ
ている。１つは、被検体の周囲の検出器の回転を１往復
とし、復路での収集をその角度での往路でのシンチグラ
ムの上に重ねて行う方法である。また、もう１つは、収
集された各シンチグラムのイメージデータに対し、デー
タ処理装置で、そのシンチグラムの収集時点での放射性
同位元素の減弱比率で除算して補正する方法である。 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかし、検出器の回転を１往復とする前者の方法に
は、総計測時間が長くなるという問題がある。各シンチ
グラムの収集時間は往路、復路の合計を設定時間に一致
させるので延びることはないが、検出器の回転に要する
時間は２倍に増加する。近年、断層像の画質向上のため
に収集されるシンチグラムの枚数は、従来の32枚,64枚
から128枚以上に増加する傾向にあり検出器回転所要時
間の増加の影響はさらに大きくなる傾向にある。 次に、シンチグラムのイメージデータに対して減弱比
率を除算して補正する後者の方法には、その処理に伴う
操作の繁雑化と処理時間の増加という問題がある。ま
た、補正処理された一連のイメージデータには、オリジ
ナルのシンチグラムのγ線計測数が異なることにより、
統計学的な等質性が無いという不明瞭な点が残る問題も
ある。 本発明の目的は、検出器回転所要時間を増加させるこ
となく、かつ簡易，迅速な処理手段により、放射性同位
元素の経時的な減弱の影響を除去した複数枚のシンチグ
ラムを収集でき、擬像の生じない良質の断層像が得られ
るSPECTを提供することにある。 〔問題点を解決するための手段〕 上記目的は、従来、検出器の各回転角度位置でのγ線
計測時間を全て同一に設定していたものを、その計測時
点（検出器回転角度位置）での放射性同位元素のγ線放
射量の減弱比率で補正して設定することにより達成され
る。 〔作用〕 前記手段によれば、計測終了直前の放射性同位元素の
γ線放射量が、計測開始直後の例えば半分に減弱してい
る場合には、計測時間を２倍に補正して時間カウンタ設
定回路に設定する。それによって、収集された複数枚の
シンチグラムのγ線計測数に、放射性同位元素の経時的
なγ線放射量の減弱の影響は無くなり、統計学的な等質
性が保たれる。また、１回の検出器の回転で、断層像を
得るに必要な複数枚のシンチグラムが得られる。 〔実施例〕 以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。第
１図は本発明によるSPECTの一実施例の要部を示すブロ
ック回路図で、図中４は設定時間補正回路である。その
他、第１図において、第２図と同一符号は同一又は相当
部分を示す。 前記設定時間補正回路４は、使用する放射性同位元素
の経時的なγ線放射量の減弱比率で、時間カウンタ設定
回路３の設定時間を除算して、設定時間を補正するもの
である。 ここで、放射性同位元素の経時的なγ線放射量の減弱
比率は、下記（１）式で表わされる。 EXP（−λ×ｔ） ……（１） ただし、λは放射性同位元素の壊変定数 ｔは経過時間 本例では、前記設定時間補正回路４には、γ線計測前
に、使用される放射性同位元素の壊変定数λが外部から
設定される。 図示構成において、いま、回転終了信号13により各検
出器位置でのγ線計測（シンチグラムの収集）が開始さ
れると、設定時間補正回路４は次のように動作する。す
なわち、時間信号11により計測開始からの経過時間ｔを
求め、時間カウンタ設定回路３からの設定計測時間T
0に、次式（２）による補正を行った計測時間Ｔを時間
比較回路２に出力する。 Ｔ＝T0÷EXP（−λ×ｔ）＝T0×EXP（λ×ｔ） ……（２） このような設定時間補正回路４の動作により、被検体
内に投与された放射性同位元素のγ線放射量が時間経過
と共に減弱しても、その分だけ計測時間Ｔが延長され、
各シンチグラムはγ線放射量の経時的な減弱の影響を受
けない。 なお、設定時間補正回路４での式（２）の計算処理
は、回路内にマイクロコンピュータ等の演算素子を組込
む方法の他、経過時間ｔと壊変定数λをパラメータとす
る残表を記録したメモリを組込む方法など、容易に種々
の方法が考え得る。また、設定時間補正回路４のSPECT
の制御回路内での位置も、第１図の実施例だけでなく、
その機能を満す範囲で種々変更可能である。 〔発明の効果〕 以上に説明したように、本発明によれば、断層像の再
構成に必要な複数枚のシンチグラムを、放射性同位元素
の経時的なγ線放射量の減弱の影響を受けることなく収
集できるので、前記γ線放射量の減弱から派生する擬像
（アーチファクト）の無い良質の断層像が得られる。し
かもこの際、検出器回転所要時間を増加させることはな
く、また、シンチグラムのイメージデータに対して補正
を行う従来方法に比べて、補正処理の簡易，迅速化が計
れるという効果もある。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明によるSPECTの一実施例の要部を示すブ
ロック回路図、第２図は従来のSPECTの要部ブロック回
路図である。 １……時間カウンタ回路、２……時間比較回路、３……
時間カウンタ設定回路、４……設定時間補正回路、５…
…発振回路、６……検出器回転制御回路。
ロック回路図、第２図は従来のSPECTの要部ブロック回
路図である。 １……時間カウンタ回路、２……時間比較回路、３……
時間カウンタ設定回路、４……設定時間補正回路、５…
…発振回路、６……検出器回転制御回路。
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 １．放射性同位元素より放射されるγ線を検出する検出
器と、この検出器を被検体の周囲に回転させる回転機構
と、前記検出器内のγ線入射位置を求める位置計算回路
と、前記検出器の各回転角度位置でのγ線計測時間を設
定する時間カウンタ設定回路と、前記検出器の各回転角
度位置でのγ線計測開始時からの計測経過時間を計数す
る時間カウンタ回路と、この時間カウンタ回路によるγ
線計測時間が前記時間カウンタ設定回路の設定時間に一
致したことを検出して前記回転機構に次の検出器位置へ
の回転を指示する時間比較回路とを備えてなる回転型シ
ンチレーションカメラにおいて、前記時間カウンタ設定
回路の設定時間を、使用する放射性同位元素の経時的な
γ線放射量の減弱比率で除算して補正する設定時間補正
回路を具備することを特徴とする回転型シンチレーショ
ンカメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62278371A JP2688415B2 (ja) | 1987-11-05 | 1987-11-05 | 回転型シンチレーションカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62278371A JP2688415B2 (ja) | 1987-11-05 | 1987-11-05 | 回転型シンチレーションカメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01121785A JPH01121785A (ja) | 1989-05-15 |
| JP2688415B2 true JP2688415B2 (ja) | 1997-12-10 |
Family
ID=17596403
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62278371A Expired - Lifetime JP2688415B2 (ja) | 1987-11-05 | 1987-11-05 | 回転型シンチレーションカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2688415B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5838881A (ja) * | 1981-08-31 | 1983-03-07 | Shimadzu Corp | 放射型コンピユ−タ断層撮影装置 |
| JPS61159178A (ja) * | 1984-12-31 | 1986-07-18 | Shimadzu Corp | Ｅｃｔ装置 |
-
1987
- 1987-11-05 JP JP62278371A patent/JP2688415B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01121785A (ja) | 1989-05-15 |
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