JP2680243B2

JP2680243B2 - 測距装置

Info

Publication number: JP2680243B2
Application number: JP5156591A
Authority: JP
Inventors: 美則那須
Original assignee: Rhythm Watch Co Ltd
Current assignee: Rhythm Watch Co Ltd
Priority date: 1993-06-28
Filing date: 1993-06-28
Publication date: 1997-11-19
Anticipated expiration: 2012-11-19
Also published as: JPH0712934A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、対象物体に対して光を
発射し、その反射光を検出して対象物体までの距離を測
定する測距装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】一般に、この種の測距装置は、図５に示
すように、レーザレーダ装置１からパルス状の光を、た
とえば自動車などの被測定対象物体２に向かって発射
し、この発射レーザ光が、被測定対象物体２に取り付け
た反射体３により反射された光をレーザレーダ装置１に
設けた光検出器で検出し、レーザ光発射から反射光検出
までの時間Δｔを計測し、下記式に基づいて距離を算出
して被測定対象物体２までの距離を測定するように構成
される。Ｒ＝（Ｃ・Δｔ）／２ …(1) ただし、Ｃは光速を示している。

【０００３】図６は、従来のレーザレーダ装置１の具体
的な構成例を示すブロック図である。図６において、１
０１はたとえば半導体レーザ、１０２はハーフミラー、
１０３，１０６はレンズ、１０４は第１の光検出器、１
０５，１０８は増幅器、１０７は第２の光検出器、１０
９はカウンタ、１１０は発振器、１１１は信号処理部、
１１２は制御部、１１３はトリガ回路をそれぞれ示して
いる。

【０００４】このような構成において、制御部１１２の
制御に基づくトリガ回路１１３の出力信号に応じて半導
体レーザ１０１が所定の波長で発振し、パルス状のレー
ザ光ＯＰＬが出射される。半導体レーザ１０１の出射光
ＯＰＬは、ハーフミラー１０２に入射され、一部はハー
フミラー１０２を透過し、レンズ１０３を介しある広が
りをもって本装置から被測定対象物体２に向かって発射
される。レーザレーダ装置１から発射された光は、所定
時間（Δｔ／２）後に被測定対象物体２に到達し、そこ
に取り付けられた反射体３（図６には図示せず）で反射
される。

【０００５】また、半導体レーザ１０１の出射光の一部
はハーフミラー１０２で反射されて第１の光検出器１０
４で受光される。第１の光検出器１０４では、受けた光
が受光レベルに応じた電気信号ｄｔ１に変換される。こ
の電気信号ｄｔ１は増幅器１０５で所定の増副作用を受
けた後、カウンタ１０９に入力される。カウンタ１０９
では、ある一定レベル以上の電気信号の最初の入力によ
りカウント動作が開始される。すなわち、初期状態にお
いて半導体レーザ１０１から最初のパルスレーザ光が出
射され、それに応じた電気信号の入力に伴い、カウンタ
１０９ではカウント動作が開始される。

【０００６】被測定対象物体２に取り付けられた反射体
３により反射されたレーザ光は、反射されてから所定時
間（Δｔ／２）後にレーザレーダ装置１に到達し、レン
ズ１０６で集光されて第２の光検出器１０７で受光され
る。第２の光検出器１０７では、受けた光が受光レベル
に応じた電気信号ｄｔ２に変換される。この電気信号ｄ
ｔ２は増幅器１０８で所定の増副作用を受けた後、カウ
ンタ１０９に入力される。カウンタ１０９では、増幅器
１０８の出力信号の入力に伴いカウント動作が停され
る。これにより、カウンタ１０９では、レーザ光発射か
ら反射光が帰還するまでの時間Δｔが計測されたことに
なる。カウンタ１０９の計測値は、信号処理部１１１に
入力される。

【０００７】信号処理部１１１では、上記（１）式に基
づいて被測定対象物体２までの距離が算出され、距離デ
ータとして出力される。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の測距装置では、図５に示すように、レーザレー
ダ装置１と被測定対象物体２との間に障害物４が存在す
る場合に、障害物４を被測定対象物体２と見誤って測定
を誤り、算出された距離が信頼性に欠けるなどの問題が
あった。

【０００９】この問題について、図７を用いさらに詳述
する。たとえば、障害物４で反射された光に基づく第２
の光検出器１０７による電気信号ｄｔ２のレベルが、図
中実線で示す信号Ｓ４のようにスレッショルドレベルＳ
Ｌより低い場合には、カウンタ１０９の計測時間Δｔは
Δｔa1となり、ほぼ正確な距離を算出できる。しかし、
障害物４で反射された光に基づく第２の光検出器１０７
による電気信号ｄｔ２のレベルが、図中破線で示す信号
Ｓ４のようにスレッショルドレベルＳＬより高い場合に
は、カウンタ１０９の計測時間ΔｔはΔｔa2となり、障
害物４までの距離が被測定対象物体２までの距離として
算出されてしまう。

【００１０】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、障害物による誤測定を防止で
き、精度の高い距離測定を実現できる測距装置を提供す
ることにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、被測定対象物体に対して光を発射し、
その反射光を検出して対象物体までの距離を測定する測
距装置であって、それぞれ異なる波長の光を出射する少
なくとも２つの光発生手段と、上記各光発生手段の光出
射開始からの時間を計測する時間計測手段と、上記被測
定対象物体に設けられ、上記光発生手段による光のうち
一の波長の光のみ反射する反射体と、上記光発生手段に
よる光のうち一の波長の反射パルス光を検出する一の波
長光検出手段と、上記光発生手段による光のうち他の波
長の反射光を検出する他の波長光検出手段と、上記一の
波長光検出手段および他の波長光検出手段で反射光が検
出された際の上記時間計測手段による時間データを保持
するデータ保持手段と、上記データ保持手段に保持され
た一の波長光検出手段に基づく時間データを基準とする
所定時間範囲内に、他の波長光検出手段に基づく時間デ
ータが保持されているか否かを判別し、保持されていな
ければ、一の波長光検出手段に基づく時間データにより
距離の算出処理を行う信号処理手段とを有する。

【００１２】

【作用】本発明によれば、たとえば２つの光発生手段か
らそれぞれ波長が異なる光がほぼ同時に被測定対象物体
に向かって発射される。これら波長の異なる光は、たと
えば所定時間（Δｔb1／２）後に光発生手段と被測定対
象物体との間に存在する障害物に到達し、あるいは所定
時間（Δｔb2／２）後に被測定対象物体に取り付けられ
た反射体に到達する。２つの光発生手段から発射された
光が障害物に到達すると両光とも反射される。これに対
して、２つの光発生手段から発射された光が反射体に到
達すると、一の波長の光のみ反射され、他の波長の光は
吸収されて反射されない。また、各光発生手段の光出射
開始からの時間が時間計測手段により計測される。

【００１３】障害物４で反射された一の波長および他の
波長の光は、反射されてから所定時間（Δｔb1／２）後
に一の波長光検出手段および他の波長光検出手段に到達
し、これらで検出される。そして、一の波長光検出手段
および他の波長光検出手段で反射光が検出された際の時
間計測手段による時間データがデータ保持手段に保持さ
れる。このようなデータ保持手段への時間データの保持
動作に伴い、信号処理手段では、データ保持手段に保持
された一の波長光検出手段の検出信号に基づく時間デー
タを基準とする所定時間範囲内に、他の波長光検出手段
に基づく時間データが保持されているか否かの判別が行
われる。この場合は、他の波長光検出手段の検出信号に
基づく時間データが保持されていることから、一の波長
光検出手段の検出信号に基づく時間データが被測定対象
物体ではなく障害物によるものと判断され距離の算出は
行われない。

【００１４】また、反射体で反射された一の波長の光
は、反射されてから所定時間（Δｔb2／２）後に一の波
長光検出手段に到達し、ここで検出される。このとき、
他の波長光検出手段では、他の波長の光の検出は行われ
ない。そして、一の波長光検出手段で反射光が検出され
た際の時間計測手段による時間データがデータ保持手段
に保持される。このようなデータ保持手段への時間デー
タの保持動作に伴い、信号処理手段では、データ保持手
段に保持された一の波長光検出手段の検出信号に基づく
時間データを基準とする所定時間範囲内に、他の波長光
検出手段に基づく時間データが保持されているか否かの
判別が行われる。この場合は、他の波長光検出手段の検
出信号に基づく時間データが保持されていないことか
ら、一の波長光検出手段の検出信号に基づく時間データ
が障害物ではなく被測定対象物体によるものと判断さ
れ、一の波長光検出手段の検出信号に基づく時間データ
により距離の算出が行われる。

【００１５】

【実施例】図１は、本発明に係る測距装置の一実施例を
示す構成図であって、従来例を示す図４と同一構成部分
は同一符号をもって表す。すなわち、２は被測定対象物
体、４は障害物、５はレーザレーダ装置、６は反射体を
それぞれ示している。

【００１６】レーザレーダ装置５は、図２に示すよう
に、第１の半導体レーザ５０１、第２の半導体レーザ５
０２、ハーフミラー５０３，５０４、レンズ５０５，５
１０、第１の光検出器５０６、第２の光検出器５０７、
増幅器５０８，５０９，５１５，５１６、第１の波長フ
ィルタ５１１、第２の波長フィルタ５１２、第３の光検
出器５１３、第４の光検出器５１４、第１のカウンタ５
１７、第２のカウンタ５１８、発振器５１９、データ保
持回路５２０、信号処理部５２１、制御部５２２および
トリガ回路５２３により構成されている。

【００１７】第１の半導体レーザ５０１は、発振波長が
λ1 で、トリガ回路５２３の出力信号に基づいてパルス
状の光ＯＰＬ1 を出射する。第２の半導体レーザ５０２
は、発振波長がλ2 （λ2 ＞λ1 ）で、トリガ回路５２
３の出力信号に基づいてパルス状の光ＯＰＬ2 を出射す
る。

【００１８】ハーフミラー５０３は、第１の半導体レー
ザ５０１の出射光ＯＰＬ1 が入射され、出射光ＯＰＬ1
の一部を透過させてレンズ５０５に入射させ、一部を反
射して第１の光検出器５０６の受光部に入射させる。ハ
ーフミラー５０４は、第２の半導体レーザ５０２の出射
光ＯＰＬ2 が入射され、出射光ＯＰＬ2 の一部を透過さ
せてレンズ５０５に入射させ、一部を反射して第２の光
検出器５０７の受光部に入射させる。レンズ５０５は、
ハーフミラー５０３および５０４を透過したレーザ光Ｏ
ＰＬ1 ，ＯＰＬ2 に対して所定の広がりを持たせて当該
装置から被測定対象物体２に向かって発射させる。

【００１９】第１の光検出器５０６は、ハーフミラー５
０３で反射された第１の半導体レーザ５０１によるレー
ザ光ＯＰＬ1 を受光し、その受光量に応じたレベルの電
気信号ＤＴ1 に変換し増幅器５０８に出力する。第２の
光検出器５０７は、ハーフミラー５０４で反射された第
２の半導体レーザ５０２によるレーザ光ＯＰＬ2 を受光
し、その受光量に応じたレベルの電気信号ＤＴ2 に変換
し増幅器５０９に出力する。増幅器５０８は、第１の光
検出器５０６の出力信号ＤＴ1 を所定の利得をもって増
幅し第１のカウンタ５１７に出力する。増幅器５０９
は、第２の光検出器５０７の出力信号ＤＴ2 を所定の利
得をもって増幅し第１のカウンタ５１７に出力する。

【００２０】レンズ５１０は、第１および第２の半導体
レーザ５０１，５０２の出射光ＯＰＬ1 ，ＯＰＬ2 のう
ち障害物４あるいは反射体６で反射されレーザレーダ装
置５に帰還した光を集光し、第１および第２の波長フィ
ルタ５１１，５１２に入射させる。第１の波長フィルタ
５１１は、レンズ５１０で集光された光のうち波長λ1
の光のみを透過させて第３の光検出器５１３の受光部に
入射させる。第２の波長フィルタ５１２は、レンズ５１
０で集光された光のうち波長λ2 の光のみを透過させて
第４の光検出器５１４の受光部に入射させる。

【００２１】第３の光検出器５１３は、第１の波長フィ
ルタ５１１を透過した波長λ1 の光を受光し、その受光
量に応じたレベルの電気信号ＤＴ3 に変換し増幅器５１
５に出力する。第４の光検出器５１４は、第２の波長フ
ィルタ５１２を透過した波長λ2 の光を受光し、その受
光量に応じたレベルの電気信号ＤＴ4 に変換し増幅器５
１６に出力する。増幅器５１５は、第３の光検出器５１
３の出力信号ＤＴ3 を所定の利得をもって増幅しデータ
保持回路５２０に出力する。増幅器５１６は、第４の光
検出器５１４の出力信号ＤＴ4 を所定の利得をもって増
幅しデータ保持回路５２０に出力する。

【００２２】第１のカウンタ５１７は、増幅器５０８を
介した第１の光検出器５０６の出力信号ＤＴ1 を受けて
カウント動作を開始し、発振器５１９による基準信号Ｃ
ＬＫに基づいてカウントアップし、カウント値をデータ
保持回路５２０に出力する。また、第１のカウンタ５１
７は、制御部５２２によるリセット信号ＲＳＴによりリ
セットされる。第２のカウンタ５１８は、増幅器５０９
を介した第２の光検出器５０７の出力信号ＤＴ2 を受け
てカウント動作を開始し、発振器５１９による基準信号
ＣＬＫに基づいてカウントアップし、カウント値をデー
タ保持回路５２０に出力する。また、第２のカウンタ５
１８は、制御部５２２によるリセット信号ＲＳＴにより
リセットされる。

【００２３】データ保持回路５２０は、増幅器５１５を
介した第３の光検出器５１３の出力信号ＤＴ1 および増
幅器５１６を介した第４の光検出器５１４の出力信号Ｄ
Ｔ2をあらかじめ設定したスレッショルドレベルＳＬよ
り高いレベルで入力した際の第１および第２のカウンタ
５１７，５１８のカウンタ値、すなわち計測時間を取り
込んで保持する。

【００２４】信号処理部５２１は、データ保持回路５２
０に保持された第３の光検出器５１３の出力信号ＤＴ３
の入力に基づく時間データΔｔb1を基準とする±ΔＴ間
に、第４の光検出器５１４の出力信号ＤＴ４の入力に基
づく時間データΔｔb2が保持されているか否かを判別
し、保持されていなければ、時間データΔｔb1が被測定
対象物体２に取り付けた反射体６によるものと判断し、
上述した（１）式｛Ｒ＝（Ｃ・Δｔ）／２｝に基づいて
被測定対象物体２までの距離を算出し、保持されていれ
ば時間データΔｔb1が被測定対象物体２ではなく障害物
４によるものと判断し、たとえば距離を算出せずその旨
を示すデータを出力する。

【００２５】制御部５２２は、発振器５１９による基準
信号ＣＬＫの入力に基づいて、トリガ回路５２３のトリ
ガ出力の制御、データ保持回路５２０のデータ保持動
作、並びに第１および第２のカウンタ５１７，５１８の
リセット制御などを行う。

【００２６】反射体６は、図３に示すように、波長λ1
と波長λ2 との間の波長に対して急俊な波長選択性を有
する、たとべば干渉フィルタなどから構成され、被測定
対象物体２の所定の位置に取り付けられている。反射体
６は、レーザレーダ装置５の第１の半導体レーザ５０１
から出射された波長λ1 の光ＯＰＬ1 は高い反射率をも
って反射し、第２の半導体レーザ５０２から出射された
波長λ2 の光ＯＰＬ2 は低い反射率、すなわち高い吸収
率をもって吸収する。したがって、反射体６では、第２
の半導体レーザ５０２から出射された波長λ2 の光ＯＰ
Ｌ2 はほとんど反射されない。

【００２７】次に、上記構成による動作を、図４を用い
て説明する。制御部５２２の制御に基づくトリガ回路５
２３の出力信号に応じて第１の半導体レーザ５０１が波
長λ1 で発振し、パルス状のレーザ光ＯＰＬ1 が出射さ
れるとともに、これとほぼ同時に、第２の半導体レーザ
５０２が波長λ2 で発振し、パルス状のレーザ光ＯＰＬ
2 が出射される。第１の半導体レーザ５０１の出射光Ｏ
ＰＬ1 は、ハーフミラー５０３に入射され、一部はハー
フミラー５０３を透過し、レンズ５０５を介しある広が
りをもって本装置から被測定対象物体２に向かって発射
される。同様に、第２の半導体レーザ５０２の出射光Ｏ
ＰＬ2 は、ハーフミラー５０４に入射され、一部はハー
フミラー５０４を透過し、レンズ５０５を介しある広が
りをもって本装置から被測定対象物体２に向かって発射
される。

【００２８】レーザレーダ装置５から発射された光ＯＰ
Ｌ1 ，ＯＰＬ2 は、たとえば所定時間（Δｔb1／２）後
にレーザレーダ装置５と被測定対象物体２との間に存在
する障害物４に到達し、あるいは所定時間（Δｔb2／
２）後に被測定対象物体２に取り付けられた反射体６に
到達する。

【００２９】レーザレーダ装置５から発射された光ＯＰ
Ｌ1 ，ＯＰＬ2 が障害物４に到達すると両光とも反射さ
れる。これに対して、レーザレーダ装置５から発射され
た光ＯＰＬ1 ，ＯＰＬ2 が反射体６に到達すると、波長
λ2 の光ＯＰＬ2 は吸収されて波長λ1 の光ＯＰＬ1の
み反射される。

【００３０】また、第１の半導体レーザ５０１の出射光
ＯＰＬ1 の一部はハーフミラー５０３で反射されて第１
の光検出器５０６で受光される。第１の光検出器５０６
では、受けた光が受光レベルに応じた電気信号ＤＴ１に
変換される。この電気信号ＤＴ１は増幅器５０８で所定
の増副作用を受けた後、第１のカウンタ５１７に入力さ
れる。第１のカウンタ５１７では、ある一定レベル以上
の電気信号の最初の入力によりカウント動作が開始され
る。すなわち、初期状態において第１の半導体レーザ５
０１から最初のパルスレーザ光が出射され、それに応じ
た電気信号の入力に伴い、第１のカウンタ５１７ではカ
ウント動作、すなわちパルスレーザ光ＯＰＬ1の出射開
始からの時間の計測が開始される。

【００３１】同様に、第２の半導体レーザ５０２の出射
光ＯＰＬ2 の一部はハーフミラー５０４で反射されて第
２の光検出器５０７で受光される。第２の光検出器５０
７では、受けた光が受光レベルに応じた電気信号ＤＴ２
に変換される。この電気信号ＤＴ２は増幅器５０９で所
定の増副作用を受けた後、第２のカウンタ５１８に入力
される。第２のカウンタ５１８では、ある一定レベル以
上の電気信号の最初の入力によりカウント動作が開始さ
れる。すなわち、初期状態において第２の半導体レーザ
５０２から最初のパルスレーザ光が出射され、それに応
じた電気信号の入力に伴い、第２のカウンタ５１８では
カウント動作、すなわちパルスレーザ光ＯＰＬ2の出射
開始からの時間の計測が開始される。

【００３２】障害物４で反射された波長λ1 および波長
λ2 の光は、反射されてから所定時間（Δｔb1／２）後
にレーザレーダ装置５に到達し、レンズ５１０で集光さ
れて第１および第２の波長フィルタ５１１，５１２に入
射される。第１の波長フィルタ５１１に入射された光
は、波長λ1 の光のみが透過されて第３の光検出器５１
３で受光され、第２の波長フィルタ５１２に入射された
光は、波長λ2 の光のみが透過されて第４の光検出器５
１４で受光される。

【００３３】第３の光検出器５１３では、受けた光が受
光レベルに応じた電気信号ＤＴ３に変換される。この電
気信号ＤＴ3 は増幅器５１５で所定の増副作用を受けた
後、図４中信号Ｓ41で示すようなレベルをもってデータ
保持回路５２０に入力される。データ保持回路５２０で
は、この入力信号レベルはスレッショルドレベルＳＬよ
り高いレベルにあることから、その入力時における第１
のカウンタ５１７の出力データ、すなわち計測時間Δｔ
b11 が保持される。

【００３４】同様に、第４の光検出器５１４では、受け
た光が受光レベルに応じた電気信号ＤＴ４に変換され
る。この電気信号は増幅器５１６で所定の増副作用を受
けた後、図４中信号Ｓ42で示すようなレベルをもってデ
ータ保持回路５２０に入力される。データ保持回路５２
０では、この入力信号レベルはスレッショルドレベルＳ
Ｌより高いレベルにあることから、その入力時における
第２のカウンタ５１８の出力データ、すなわち計測時間
Δｔb21 が保持される。この計測時間Δｔb21 は、第１
の半導体レーザ５０１と第２の半導体レーザ５０２とが
ほとんど同時に発振することから、第１のカウンタ５１
７による計測時間Δｔb11 に極めて近い時間となる。

【００３５】このようなデータ保持回路５２０への時間
データの保持動作に伴い、信号処理部５２１では、デー
タ保持回路５２０に保持された第３の光検出器５１３の
出力信号ＤＴ1 の入力に基づく時間データΔｔb11 を基
準とする±ΔＴ間に、第４の光検出器５１４の出力信号
ＤＴ2 の入力に基づく時間データΔｔb21 が保持されて
いるか否かの判別が行われる。この場合は、第４の光検
出器５１４の出力信号ＤＴ2 の入力に基づく時間データ
Δｔb21 が保持されていることから、時間データΔｔb1
1 が被測定対象物体２ではなく障害物４によるものと判
断され、距離の算出が行われず、その旨を示すデータが
出力される。

【００３６】また、反射体６で反射された波長λ1 の光
は、反射されてから所定時間（Δｔb2／２）後にレーザ
レーダ装置１に到達し、レンズ５１０で集光されて第１
および第２の波長フィルタ５１１，５１２に入射され
る。第１の波長フィルタ５１１に入射された光は、波長
λ1 であることから、透過されて第３の光検出器５１３
で受光される。これに対して、第２の波長フィルタ５１
２に入射された光は遮断されて第４の光検出器５１４で
受光されない。

【００３７】第３の光検出器５１３では、受けた光が受
光レベルに応じた電気信号ＤＴ３に変換される。この電
気信号は増幅器５１５で所定の増副作用を受けた後、図
４中信号Ｓ6 で示すようなレベルをもってデータ保持回
路５２０に入力される。データ保持回路５２０では、こ
の入力信号レベルはスレッショルドレベルＳＬより高い
レベルにあることから、その入力時における第１のカウ
ンタ５１７の出力データ、すなわち計測時間Δｔb12 が
保持される。

【００３８】このとき、第４の光検出器５１４では、所
定レベルの光が受光されないことから、データ保持回路
５２０には、スレッショルドレベルＳＬより低いレベル
の信号の入力しか行われず第４の光検出器５１４の出力
信号ＤＴ４に基づく時間データの保持動作は行われな
い。

【００３９】このようなデータ保持回路５２０への時間
データの保持動作に伴い、信号処理部５２１では、デー
タ保持回路５２０に保持された第３の光検出器５１３の
出力信号ＤＴ1 の入力に基づく時間データΔｔb12 を基
準とする±ΔＴ間に、第４の光検出器５１４の出力信号
ＤＴ2 の入力に基づく時間データΔｔb2が保持されてい
るか否かの判別が行われる。この場合は、第４の光検出
器５１４の出力信号ＤＴ2 の入力に基づく時間データΔ
ｔb2が保持されていないことから、時間データΔｔb12
が障害物４ではなく被測定対象物体２によるものと判断
され、距離の算出が行われ、距離データが出力される。

【００４０】以上説明したように、本実施例によれば、
被測定対象物体２に波長λ1 の光は反射し、波長λ2 の
光は吸収する反射体６を取り付け、レーザレーダ装置５
に異なる発振波長λ1 ，λ2 の第１および第２の半導体
レーザ５０１，５０２を設け、これらの発振開始からの
時間を第１および第２のカウンタ５１７，５１８で計測
し、第１および第２の半導体レーザ５０１，５０２の出
射パルス光の被測定対象物体２または障害物４による反
射光を第３および第４の光検出器５１３，５１４で検出
し、検出時の各時間データをデータ保持回路５２０に保
持し、信号処理部５２１で、データ保持回路５２０に保
持された第３の光検出器５１３の出力信号ＤＴ３の入力
に基づく時間データΔｔb1を基準とする±ΔＴ間に、第
４の光検出器５１４の出力信号ＤＴ４の入力に基づく時
間データΔｔb2が保持されているか否かを判別し、保持
されていなければ、時間データΔｔb1が被測定対象物体
２に取り付けた反射体６によるものと判断し、被測定対
象物体２までの距離を算出し、保持されていなれば時間
データΔｔb1が被測定対象物体２ではなく障害物４によ
るものと判断し、距離を算出せずその旨を示すデータを
出力するようにしたので、障害物による誤測定を防止で
き、精度の高い距離測定を実現できる。また、誤測定で
あった場合に、その判定を簡単に行うことができる。

【００４１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
障害物による誤測定を防止でき、精度の高い距離測定を
実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る測距装置の一実施例を示す構成図
である。

【図２】図１のレーザレーダ装置の構成例を示すブロッ
ク図である。

【図３】本発明に係る反射体の波長選択特性を説明する
ための図である。

【図４】本発明に係る動作を説明するための図である。

【図５】従来の測距装置の構成図である。

【図６】図５のレーザレーダ装置の構成例を示すブロッ
ク図である。

【図７】従来装置の課題を説明するための図である。

【符号の説明】

２…被測定対象物体４…障害物５…レーザレーダ装置５０１…第１の半導体レーザ５０２…第２の半導体レーザ５０３，５０４…ハーフミラー５０５，５１０…レンズ５０６…第１の光検出器５０７…第２の光検出器５０８，５０９，５１５，５１６…増幅器５１１…第１の波長フィルタ５１２…第２の波長フィルタ５１３…第３の光検出器５１４…第４の光検出器５１７…第１のカウンタ５１８…第２のカウンタ５１９…発振器５２０…データ保持回路５２１…信号処理部５２２…制御部５２３…トリガ回路６…反射体

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】被測定対象物体に対して光を発射し、そ
の反射光を検出して対象物体までの距離を測定する測距
装置であって、それぞれ異なる波長の光を出射する少なくとも２つの光
発生手段と、上記各光発生手段の光出射開始からの時間を計測する時
間計測手段と、上記被測定対象物体に設けられ、上記光発生手段による
光のうち一の波長の光のみ反射する反射体と、上記光発生手段による光のうち一の波長の反射パルス光
を検出する一の波長光検出手段と、上記光発生手段による光のうち他の波長の反射光を検出
する他の波長光検出手段と、上記一の波長光検出手段および他の波長光検出手段で反
射光が検出された際の上記時間計測手段による時間デー
タを保持するデータ保持手段と、上記データ保持手段に保持された一の波長光検出手段に
基づく時間データを基準とする所定時間範囲内に、他の
波長光検出手段に基づく時間データが保持されているか
否かを判別し、保持されていなければ、一の波長光検出
手段に基づく時間データにより距離の算出処理を行う信
号処理手段とを有することを特徴とする測距装置。