JP2677728B2 - カラーフィルターの検査方法 - Google Patents
カラーフィルターの検査方法Info
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- JP2677728B2 JP2677728B2 JP25926191A JP25926191A JP2677728B2 JP 2677728 B2 JP2677728 B2 JP 2677728B2 JP 25926191 A JP25926191 A JP 25926191A JP 25926191 A JP25926191 A JP 25926191A JP 2677728 B2 JP2677728 B2 JP 2677728B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、カラー液晶表示装置を
構成するカラーフィルターの欠陥部を検査する方法に関
する。
構成するカラーフィルターの欠陥部を検査する方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】カラー液晶表示装置として、図３に示す
構成のものが知られている。これは、多数の絵素電極１
０がマトリクス又はストライプ状に配設された第１の透
明基板１１と、対向電極１２が形成された第２の透明基
板１３とを、各電極１０、１２側を内面にして対向配設
し、両基板１１と１３の間に液晶層１４を介在させた構
造を有し、液晶層１４を挟む絵素電極１０と対向電極１
２の間に電圧を印加して液晶分子の挙動を調整し、これ
により液晶層１４の光透過率を制御して表示を行う。ま
た、カラー表示を行うべく、第２の透明基板１３側にカ
ラーフィルター１５を備えている。なお、図中１６は中
間層を示す。
構成のものが知られている。これは、多数の絵素電極１
０がマトリクス又はストライプ状に配設された第１の透
明基板１１と、対向電極１２が形成された第２の透明基
板１３とを、各電極１０、１２側を内面にして対向配設
し、両基板１１と１３の間に液晶層１４を介在させた構
造を有し、液晶層１４を挟む絵素電極１０と対向電極１
２の間に電圧を印加して液晶分子の挙動を調整し、これ
により液晶層１４の光透過率を制御して表示を行う。ま
た、カラー表示を行うべく、第２の透明基板１３側にカ
ラーフィルター１５を備えている。なお、図中１６は中
間層を示す。
【０００３】上記カラーフィルター１５は、Ｒ（赤）、
Ｇ（緑）、Ｂ（青）用の各透過率特性を有する３種類の
カラーフィルター部を有し、各カラーフィルター部は絵
素電極１０の１つずつに対応して配設される。平面的に
は、図４に示すように、カラーフィルター１５は、各カ
ラーフィルター部がマトリクス状パターンや、或は図示
しないがストライプ状パターンに配される。
Ｇ（緑）、Ｂ（青）用の各透過率特性を有する３種類の
カラーフィルター部を有し、各カラーフィルター部は絵
素電極１０の１つずつに対応して配設される。平面的に
は、図４に示すように、カラーフィルター１５は、各カ
ラーフィルター部がマトリクス状パターンや、或は図示
しないがストライプ状パターンに配される。
【０００４】ところで、形成されたカラーフィルター１
５には、カラーフィルター部に欠損部２９が存在するこ
とが有るが、この欠損部２９の検査は、従来次のような
２つの方法により行われる。その１つは、図示しない透
視台上にカラーフィルター１５が形成された透明基板１
３を載置し、この透明基板１３へ光源２８から光２７を
照射し、透明基板１３を透過してきた光２２をオペレー
タ２１が直視する方法である。残る１つは、前記方法と
ほぼ同様であるが、拡大鏡を備えた装置を用いて全エリ
アを走査する方法である。
５には、カラーフィルター部に欠損部２９が存在するこ
とが有るが、この欠損部２９の検査は、従来次のような
２つの方法により行われる。その１つは、図示しない透
視台上にカラーフィルター１５が形成された透明基板１
３を載置し、この透明基板１３へ光源２８から光２７を
照射し、透明基板１３を透過してきた光２２をオペレー
タ２１が直視する方法である。残る１つは、前記方法と
ほぼ同様であるが、拡大鏡を備えた装置を用いて全エリ
アを走査する方法である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前者の
直視方法を用いた場合には、単位面積当りの欠損部のサ
イズが微小になるにつれ、その箇所における欠損部と正
常部とのコントラストが低下し、判別が困難となる。一
方、後者の拡大鏡による全面走査方法では、検査に長時
間を要し、実生産には適さないという問題点があった。
直視方法を用いた場合には、単位面積当りの欠損部のサ
イズが微小になるにつれ、その箇所における欠損部と正
常部とのコントラストが低下し、判別が困難となる。一
方、後者の拡大鏡による全面走査方法では、検査に長時
間を要し、実生産には適さないという問題点があった。
【０００６】本発明はこのような問題点を解決するもの
であり、欠損部の判別が容易であり、しかも検査を短時
間で行うことができるカラーフィルターの検査方法を提
供するものである。
であり、欠損部の判別が容易であり、しかも検査を短時
間で行うことができるカラーフィルターの検査方法を提
供するものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明のカラーフィルタ
ーの検査方法は、絵素電極がマトリクス状又はストライ
プ状に配設された第１の透明基板と、対向電極が形成さ
れた第２の透明基板とが、該絵素電極及び対向電極を内
面側にし、かつ両基板間に液晶層を介在して対向配設さ
れ、第１、第２の透明基板の一方にカラーフィルターが
設けられて構成されるカラー液晶表示装置の該カラーフ
ィルターの検査方法において、特定波長域の光を透過す
る検査用色フィルターと光源との間に、該カラーフィル
ターが形成された第１又は第２の透明基板を配置する工
程と、該光源から発した光をカラーフィルターに照射し
て、カラーフィルターの欠陥部を透過した光と、正常部
を透過した光とを該検査用色フィルターに通し、これに
より両光のコントラストを大きくして検査する工程とを
含んでおり、そのことによって上記目的が達成される。
ーの検査方法は、絵素電極がマトリクス状又はストライ
プ状に配設された第１の透明基板と、対向電極が形成さ
れた第２の透明基板とが、該絵素電極及び対向電極を内
面側にし、かつ両基板間に液晶層を介在して対向配設さ
れ、第１、第２の透明基板の一方にカラーフィルターが
設けられて構成されるカラー液晶表示装置の該カラーフ
ィルターの検査方法において、特定波長域の光を透過す
る検査用色フィルターと光源との間に、該カラーフィル
ターが形成された第１又は第２の透明基板を配置する工
程と、該光源から発した光をカラーフィルターに照射し
て、カラーフィルターの欠陥部を透過した光と、正常部
を透過した光とを該検査用色フィルターに通し、これに
より両光のコントラストを大きくして検査する工程とを
含んでおり、そのことによって上記目的が達成される。
【０００８】
【作用】本発明にあっては、特定波長域の光を透過する
検査用色フィルターに、検査対象であるカラーフィルタ
ーを透過した光を通す。このため、検査用色フィルター
の特定波長域を所望域とすることにより、カラーフィル
ターの正常部を透過した赤、緑、青の各色を検査用色フ
ィルターで大幅にカットできる。これに対して、カラー
フィルターの欠損部を透過した光は全波長域を有するも
のであり、この光を検査用色フィルターに通してもカッ
トされる割合を、上述の正常部を透過した光のカット割
合よりも小さくできる。これにより、正常部を透過した
光と欠損部を透過した光とのコントラストが向上する。
検査用色フィルターに、検査対象であるカラーフィルタ
ーを透過した光を通す。このため、検査用色フィルター
の特定波長域を所望域とすることにより、カラーフィル
ターの正常部を透過した赤、緑、青の各色を検査用色フ
ィルターで大幅にカットできる。これに対して、カラー
フィルターの欠損部を透過した光は全波長域を有するも
のであり、この光を検査用色フィルターに通してもカッ
トされる割合を、上述の正常部を透過した光のカット割
合よりも小さくできる。これにより、正常部を透過した
光と欠損部を透過した光とのコントラストが向上する。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。
【００１０】図１は本発明方法によりカラーフィルター
を検査している状態を示す。検査に用いたカラーフィル
ター５は、カラー液晶表示装置に組み立てたときに、図
示しない絵素電極が形成された第１の透明基板に対して
対向配設される第２の透明基板となる透明基板６上に形
成されている。カラーフィルター５の形成は、例えば染
色方式により行われ、この例では赤青緑の３原色のカラ
ーフィルター部がマトリクス状パターンで配されてい
る。各カラーフィルター部は、その縦×横サイズを約１
５０μｍ×１５０μｍとし、そのうちの一つ、図示例で
は中段の左端のカラーフィルター部に対し、故意に針状
金属の先端を押し付けて任意のサイズの損傷部９を作製
した。なお、カラーフィルター５は、染色方式に限ら
ず、電着方式等により形成したものでもよい。
を検査している状態を示す。検査に用いたカラーフィル
ター５は、カラー液晶表示装置に組み立てたときに、図
示しない絵素電極が形成された第１の透明基板に対して
対向配設される第２の透明基板となる透明基板６上に形
成されている。カラーフィルター５の形成は、例えば染
色方式により行われ、この例では赤青緑の３原色のカラ
ーフィルター部がマトリクス状パターンで配されてい
る。各カラーフィルター部は、その縦×横サイズを約１
５０μｍ×１５０μｍとし、そのうちの一つ、図示例で
は中段の左端のカラーフィルター部に対し、故意に針状
金属の先端を押し付けて任意のサイズの損傷部９を作製
した。なお、カラーフィルター５は、染色方式に限ら
ず、電着方式等により形成したものでもよい。
【００１１】このようにしてカラーフィルター５が形成
された透明基板６を、図示しない透視台上に載置し、そ
の下に配設された光源、例えば３波長タイプの蛍光管を
内蔵するバックライト８からの光を照射させる。そし
て、カラーフィルター５を透過した光４を、透明基板６
の上に設けた、例えば佐野富士光機社製の干渉フィルタ
ーからなる主波長５８０ｎｍの検査用色フィルター３に
通し、その透過光２を例えばオペレータ１が観測するこ
とにより検査する。なお、カラーフィルター５は第１の
透明基板側に形成したものであっても検査できる。
された透明基板６を、図示しない透視台上に載置し、そ
の下に配設された光源、例えば３波長タイプの蛍光管を
内蔵するバックライト８からの光を照射させる。そし
て、カラーフィルター５を透過した光４を、透明基板６
の上に設けた、例えば佐野富士光機社製の干渉フィルタ
ーからなる主波長５８０ｎｍの検査用色フィルター３に
通し、その透過光２を例えばオペレータ１が観測するこ
とにより検査する。なお、カラーフィルター５は第１の
透明基板側に形成したものであっても検査できる。
【００１２】次に、検査用色フィルター３が透過光２に
及ぼす影響について説明する。
及ぼす影響について説明する。
【００１３】図２は、青色透過率曲線Ａ、緑色透過率曲
線Ｂ、赤色透過率曲線Ｃ、欠損部を透過した欠損部透過
率曲線Ｄ及び検査用色フィルター３の分光曲線Ｅにおけ
る波長（ｎｍ）と透過率との関係を示す。この図におい
て波長が５３５ｎｍのときには、緑色透過率曲線Ｂは正
常部では最高透過率６８％を示し、欠損部透過率曲線Ｄ
においては全波長域で１００％の透過率を示す。よっ
て、両曲線Ｂ、Ｄにおける最高透過率の比は、６８（正
常部）：１００（欠損部）≒１：１．４７となる。この
比が、従来の検査におけるコントラストである。
線Ｂ、赤色透過率曲線Ｃ、欠損部を透過した欠損部透過
率曲線Ｄ及び検査用色フィルター３の分光曲線Ｅにおけ
る波長（ｎｍ）と透過率との関係を示す。この図におい
て波長が５３５ｎｍのときには、緑色透過率曲線Ｂは正
常部では最高透過率６８％を示し、欠損部透過率曲線Ｄ
においては全波長域で１００％の透過率を示す。よっ
て、両曲線Ｂ、Ｄにおける最高透過率の比は、６８（正
常部）：１００（欠損部）≒１：１．４７となる。この
比が、従来の検査におけるコントラストである。
【００１４】ところで、本実施例では主波長５８０ｎｍ
の分光曲線Ｅを有する検査用色フィルター３を用いてい
るので、緑色透過率曲線Ｂにおける正常部の透過率は、
緑色透過率曲線Ｂと分光曲線Ｅとの積となり、波長が５
８０ｎｍのときに３０％（緑色）×２７％（検査用色フ
ィルター）＝８．１％となる。また、欠損部９の透過率
は欠損部透過率曲線Ｄと分光曲線Ｅとの積となり、５８
５ｎｍのときに１００％（欠損部）×２８％（検査用色
フィルター）＝２８％となる。よって、検査用色フィル
ター３を設けた場合の比は、８．１（正常部）：２８
（欠損部）≒１：３．４６となる。
の分光曲線Ｅを有する検査用色フィルター３を用いてい
るので、緑色透過率曲線Ｂにおける正常部の透過率は、
緑色透過率曲線Ｂと分光曲線Ｅとの積となり、波長が５
８０ｎｍのときに３０％（緑色）×２７％（検査用色フ
ィルター）＝８．１％となる。また、欠損部９の透過率
は欠損部透過率曲線Ｄと分光曲線Ｅとの積となり、５８
５ｎｍのときに１００％（欠損部）×２８％（検査用色
フィルター）＝２８％となる。よって、検査用色フィル
ター３を設けた場合の比は、８．１（正常部）：２８
（欠損部）≒１：３．４６となる。
【００１５】したがって、本実施例においては、従来検
査に比較し、３．４６／１．４７＝２．３５倍に緑色に
関してコントラストを向上できる。なお、説明は省略す
るが、他の赤色や青色についても検査用色フィルター３
を設けることにより、同様にコントラストが向上する。
査に比較し、３．４６／１．４７＝２．３５倍に緑色に
関してコントラストを向上できる。なお、説明は省略す
るが、他の赤色や青色についても検査用色フィルター３
を設けることにより、同様にコントラストが向上する。
【００１６】表１は本実施例の場合の検出限界を各色毎
にまとめた表であり、従来例の場合の検出限界について
も併せて示している。
にまとめた表であり、従来例の場合の検出限界について
も併せて示している。
【００１７】
【表１】
【００１８】この表より理解されるように、従来の検査
方式でオペレータが観測する場合、欠損部の検出限界は
欠損サイズが直径で約３０μｍのときであり、正常部で
の透過率が高いときには直径５０μｍにおいてもコント
ラストが小さく、検出の困難なものが認められる。これ
に対して本実施例では、検査用色フィルター３を用いる
ので、検出限界は欠損サイズが直径２０μｍのときとな
り、明らかに検出効率の向上が認められる。よって、欠
損部の検出が容易となる。
方式でオペレータが観測する場合、欠損部の検出限界は
欠損サイズが直径で約３０μｍのときであり、正常部で
の透過率が高いときには直径５０μｍにおいてもコント
ラストが小さく、検出の困難なものが認められる。これ
に対して本実施例では、検査用色フィルター３を用いる
ので、検出限界は欠損サイズが直径２０μｍのときとな
り、明らかに検出効率の向上が認められる。よって、欠
損部の検出が容易となる。
【００１９】なお、本発明に使用する検査用色フィルタ
ー３としては、形成方式の種別、形状に限定されず、染
色方式、顔料方式、電着方式等により形成してもよく、
またストライプ形状、デルタ形状となしてもよい。
ー３としては、形成方式の種別、形状に限定されず、染
色方式、顔料方式、電着方式等により形成してもよく、
またストライプ形状、デルタ形状となしてもよい。
【００２０】上記実施例においては欠損部の検出はオペ
レータにより行っているが、これに限定されず、機械的
検査方式によってよい。
レータにより行っているが、これに限定されず、機械的
検査方式によってよい。
【００２１】また、上記実施例においては検査用色フィ
ルター３として、赤緑青のカラー透過光４の３つの波長
の平均透過率が最も低くなる５８０ｎｍ付近に主波長を
有するものを用いたが、検査用色フィルター３の分光特
性は検査対象であるカラーフィルターの透過率曲線に応
じて任意に設定してもよい。
ルター３として、赤緑青のカラー透過光４の３つの波長
の平均透過率が最も低くなる５８０ｎｍ付近に主波長を
有するものを用いたが、検査用色フィルター３の分光特
性は検査対象であるカラーフィルターの透過率曲線に応
じて任意に設定してもよい。
【００２２】
【発明の効果】本発明方法による場合には、上述したよ
うに欠損部の検出が容易となるので、検査を短時間で行
うことができる。
うに欠損部の検出が容易となるので、検査を短時間で行
うことができる。
【図１】本実施例の検査状態を示す斜視図である。
【図２】青色透過率曲線Ａ、緑色透過率曲線Ｂ、赤色透
過率曲線Ｃ、欠損部を透過した欠損部透過率曲線Ｄ及び
検査用色フィルター３の分光曲線Ｅにおける波長（ｎ
ｍ）と透過率との関係を示すグラフである。
過率曲線Ｃ、欠損部を透過した欠損部透過率曲線Ｄ及び
検査用色フィルター３の分光曲線Ｅにおける波長（ｎ
ｍ）と透過率との関係を示すグラフである。
【図３】カラー液晶表示装置の一般構成を示す断面図で
ある。
ある。
【図４】従来の検査方法を示す斜視図である。
２ 透過光 ３ 検査用色フィルター ４ 透過光 ５ カラーフィルター ６ 透明基板 ８ バックライト ９ 欠損部
Claims (1)
- 【請求項１】絵素電極がマトリクス状又はストライプ状
に配設された第１の透明基板と、対向電極が形成された
第２の透明基板とが、該絵素電極及び対向電極を内面側
にし、かつ両基板間に液晶層を介在して対向配設され、
第１、第２の透明基板の一方にカラーフィルターが設け
られて構成されるカラー液晶表示装置の該カラーフィル
ターの検査方法において、 特定波長域の光を透過する検査用色フィルターと光源と
の間に、該カラーフィルターが形成された第１又は第２
の透明基板を配置する工程と、 該光源から発した光をカラーフィルターに照射して、カ
ラーフィルターの欠陥部を透過した光と、正常部を透過
した光とを該検査用色フィルターに通し、これにより両
光のコントラストを大きくして検査する工程とを含むカ
ラーフィルターの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25926191A JP2677728B2 (ja) | 1991-10-07 | 1991-10-07 | カラーフィルターの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25926191A JP2677728B2 (ja) | 1991-10-07 | 1991-10-07 | カラーフィルターの検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0599787A JPH0599787A (ja) | 1993-04-23 |
| JP2677728B2 true JP2677728B2 (ja) | 1997-11-17 |
Family
ID=17331650
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25926191A Expired - Lifetime JP2677728B2 (ja) | 1991-10-07 | 1991-10-07 | カラーフィルターの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2677728B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5400135A (en) * | 1993-06-08 | 1995-03-21 | Nikon Corporation | Automatic defect inspection apparatus for color filter |
| KR100925275B1 (ko) * | 2002-11-04 | 2009-11-05 | 엘지전자 주식회사 | 플라즈마 디스플레이 패널의 형광체 검사 장치 및 방법 |
| JP2005069796A (ja) * | 2003-08-22 | 2005-03-17 | Toppan Printing Co Ltd | 基板検査装置および基板観察装置 |
| JP4484531B2 (ja) * | 2004-01-21 | 2010-06-16 | 大日本印刷株式会社 | 膜厚良否検査方法及び装置 |
| KR20080042184A (ko) | 2004-07-30 | 2008-05-14 | 샤프 가부시키가이샤 | 컬러 필터 검사 장치 |
| JP2010249844A (ja) * | 2010-08-09 | 2010-11-04 | Toppan Printing Co Ltd | 基板検査装置および基板観察装置 |
| CN107667287B (zh) * | 2015-06-03 | 2021-05-25 | 美题隆公司 | 用于光学滤光片的自动缺陷检测与映射 |
| KR102194289B1 (ko) * | 2019-03-18 | 2020-12-22 | 주식회사 유니온커뮤니티 | 청색 또는 보라색 광을 차단하는 차단 성능을 검사하는 검사장치 및 그 검사방법 |
-
1991
- 1991-10-07 JP JP25926191A patent/JP2677728B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0599787A (ja) | 1993-04-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970714 |
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