JP2675746B2 - 半導体封止用エポキシ樹脂成形材料 - Google Patents
半導体封止用エポキシ樹脂成形材料Info
- Publication number
- JP2675746B2 JP2675746B2 JP5267388A JP26738893A JP2675746B2 JP 2675746 B2 JP2675746 B2 JP 2675746B2 JP 5267388 A JP5267388 A JP 5267388A JP 26738893 A JP26738893 A JP 26738893A JP 2675746 B2 JP2675746 B2 JP 2675746B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- epoxy resin
- resin molding
- compound
- epoxy
- semiconductor encapsulation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Epoxy Resins (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Description
体素子の樹脂封止に用いられるエポキシ樹脂成形材料に
関するものである。
性等に優れているために、半導体封止はエポキシ樹脂成
形材料を用いておこなうことが多い。しかしエポキシ樹
脂は他の熱硬化性樹脂と同様に硬化物が脆いという欠点
がある。一方、QFPなど半導体封止パッケージは薄型
化される傾向にあり、しかもチップサイズが大型化され
ているが、封止をエポキシ樹脂を用いておこなうと、そ
の脆さのためにクラックが発生し易く、特にQFPのよ
うなフラットパッケージではパッケージ全体を半田浴に
浸漬して半田付けがおこなわれており、吸湿後の半田処
理時にクラックが発生し易いという問題があった。
−240132号公報等にみられるように、硬化剤や硬
化促進剤を検討することによって耐クラック性を高める
ことがおこなわれているが、十分な効果が得られていな
いのが現状である。本発明は上記の点に鑑みてなされた
ものであり、耐クラック性に優れた半導体封止用エポキ
シ樹脂成形材料を提供することを目的とするものであ
る。
用エポキシ樹脂成形材料は、エポキシ樹脂として(1)
式のジシクロペンタジエン骨格を有するエポキシ化合物
を含むものを用い、
ノール化合物を含むものを用い、
特徴とするものである。また本発明にあって、エポキシ
樹脂として(1)式の構造式で示すジシクロペンタジエ
ン骨格を有するエポキシ化合物を30〜100重量%含
むものを用い、硬化剤として(2)式で示す構造式のフ
ェノール化合物を20〜100重量%含むものを用いる
のが好ましい。
樹脂としては半導体封止用に従来から使用されているも
のを用いることができるが、本発明では、このエポキシ
樹脂の一部として、あるいはこのエポキシ樹脂に代え
て、上記(1)式で示されるジシクロペンタジエン骨格
を有するエポキシ化合物を用いるものであり、このエポ
キシ化合物は成形材料に配合する全エポキシ樹脂中に3
0〜100重量%含まれるように用いるものである。こ
のジシクロペンタジエン骨格を有するエポキシ化合物は
吸湿が小さく、又高接着性を有するものであり、このエ
ポキシ化合物が30重量%未満であると、低吸湿化や高
接着化の効果を十分に得ることができない。
ポキシ化合物としては、次の(3)式の構造式で示すも
のを例示することができる。
て、(2)式の構造式で示すフェノール化合物を用いる
ものである。硬化剤としてはフェノールノボラック、ナ
フタレンノボラック、クレゾールノボラック等を用いる
ことができるが、本発明はこれらの硬化剤と併用して、
あるいはこれらの硬化剤に代えて、(2)式の構造式で
示すフェノール化合物を用いるものであり、このフェノ
ール化合物は硬化剤成分中に20〜100重量%含まれ
るように用いるものである。この(2)式の構造式で示
すフェノール化合物を硬化剤として用いると吸湿を小さ
くすることができると共に、高接着性を得ることができ
るものであり、硬化剤中のフェノール化合物の割合が2
0重量%未満であると、低吸湿化や高接着化の効果を十
分に得ることができない。
エン骨格を有するエポキシ化合物その他のエポキシ樹脂
に、上記(2)式のフェノール化合物その他の硬化剤を
配合し、さらに各種の配合成分を必要に応じて配合して
ミキサーやブレンダー等で混合し、これをニーダーや混
練ロールなどを用いて混練することによって、本発明に
係る半導体封止用のエポキシ樹脂成形材料を得ることが
できるものである。また混練後に必要に応じて冷却固化
し、粉砕して粒状等で成形に使用することもできる。こ
こで、エポキシ樹脂に対する硬化剤の配合割合は、エポ
キシ基の総数/OH基の総数=0.5〜1.5の範囲に
なるように調整するのが好ましい。
格を有するエポキシ化合物(大日本インキ工業社製「E
XA7200」:エポキシ当量257)を用い、硬化剤
として(2)式の構造式を有するフェノール化合物(大
日本インキ工業社製「EXB6095」:OH当量21
2)や、さらに表1の各成分を配合し、これらをミキサ
ー混合した後にニーダーを用いて混練し、さらにこれを
冷却固化して粉砕することによって、粒状のエポキシ樹
脂成形材料を得た。
ル社製「YX4000H」:エポキシ当量192)を用
い、硬化剤として(2)式の構造式のフェノール化合物
を用いないようにした他は、上記実施例1、2と同様に
してエポキシ樹脂成形材料を得た。
料を成形して直径50mmの円板を作成し、これを試験
片として85℃、85%RH、72時間の条件で吸湿さ
せ、その前後の重量の変化率を測定することによって、
吸湿率を算出し、結果を表2に示した。また、上記のよ
うにして得たエポキシ樹脂成形材料を用いて、型温17
0〜180℃、キュアータイム90秒、注入圧力70k
g/cm2 の条件で成形して60ピンのQFPとして評
価用モデル素子を作成した。そしてこの評価用モデル素
子を85℃、85%RH、168時間の条件で吸湿させ
た後に250℃の半田浴に10秒間浸漬する吸湿後半田
耐クラック性を試験し、クラックの発生の有無を観察し
た。12個の評価用モデル素子についてこの吸湿後半田
耐クラック性試験をおこない、外観クラックが発生した
ものについて個数をカウントし、結果を表2に示した。
して(1)式のジシクロペンタジエン骨格を有するエポ
キシ化合物を含むものを用い、硬化剤として(2)式の
骨格を有するフェノール化合物を含むものを用いるよう
にしたので、ジシクロペンタジエン骨格を有するエポキ
シ化合物は吸湿が小さく、又高接着性を有すると共に、
(2)式で示す構造式のフェノール化合物を使用するこ
とによって封止樹脂を低吸湿性や高接着性にすることが
できるものであり、封止樹脂の吸湿後半田耐クラック性
を高めることができるものである。
Claims (2)
- 【請求項1】 エポキシ樹脂として(1)式の構造式で
示すジシクロペンタジエン骨格を有するエポキシ化合物
を含むものを用い、 【化1】 硬化剤として(2)式で示す構造式のフェノール化合物
を含むものを用い、 【化2】 これらを主成分として配合して成ることを特徴とする半
導体封止用エポキシ樹脂成形材料。 - 【請求項2】 エポキシ樹脂として(1)式の構造式で
示すジシクロペンタジエン骨格を有するエポキシ化合物
を30〜100重量%含むものを用い、硬化剤として
(2)式で示す構造式のフェノール化合物を20〜10
0重量%含むものを用いることを特徴とする請求項1に
記載の半導体封止用エポキシ樹脂成形材料。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5267388A JP2675746B2 (ja) | 1993-10-26 | 1993-10-26 | 半導体封止用エポキシ樹脂成形材料 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5267388A JP2675746B2 (ja) | 1993-10-26 | 1993-10-26 | 半導体封止用エポキシ樹脂成形材料 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07118504A JPH07118504A (ja) | 1995-05-09 |
JP2675746B2 true JP2675746B2 (ja) | 1997-11-12 |
Family
ID=17444161
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5267388A Expired - Fee Related JP2675746B2 (ja) | 1993-10-26 | 1993-10-26 | 半導体封止用エポキシ樹脂成形材料 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2675746B2 (ja) |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59105018A (ja) * | 1982-12-07 | 1984-06-18 | Toshiba Chem Corp | 封止用樹脂組成物 |
JPS61168618A (ja) * | 1985-01-22 | 1986-07-30 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 |
JPH0717730B2 (ja) * | 1985-06-20 | 1995-03-01 | 日本石油化学株式会社 | 封止用樹脂組成物 |
JP2593518B2 (ja) * | 1988-05-18 | 1997-03-26 | 株式会社東芝 | 半導体封止用エポキシ樹脂成形材料 |
JP2851699B2 (ja) * | 1990-11-29 | 1999-01-27 | 日東電工株式会社 | 半導体装置およびそれに用いる半導体封止用エポキシ樹脂組成物 |
JPH0597965A (ja) * | 1991-10-04 | 1993-04-20 | Mitsui Toatsu Chem Inc | エポキシ樹脂組成物 |
JPH05144984A (ja) * | 1991-11-15 | 1993-06-11 | Nitto Denko Corp | 半導体装置 |
JPH0693172A (ja) * | 1992-09-11 | 1994-04-05 | Mitsui Toatsu Chem Inc | 樹脂組成物 |
-
1993
- 1993-10-26 JP JP5267388A patent/JP2675746B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07118504A (ja) | 1995-05-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2675746B2 (ja) | 半導体封止用エポキシ樹脂成形材料 | |
JPH04275325A (ja) | 半導体封止用樹脂組成物 | |
JP2954412B2 (ja) | エポキシ樹脂組成物 | |
JPH1135797A (ja) | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物及び半導体装置 | |
JPH0588904B2 (ja) | ||
JP3014856B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPH10182831A (ja) | エポキシ樹脂組成物 | |
JPH0611783B2 (ja) | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 | |
JP2000186183A (ja) | 封止用のエポキシ樹脂組成物および半導体装置 | |
JP3421375B2 (ja) | エポキシ樹脂組成物および半導体封止装置 | |
JPH04275324A (ja) | 半導体封止用樹脂組成物 | |
JPH07118503A (ja) | 半導体封止用エポキシ樹脂成形材料 | |
JP3093050B2 (ja) | エポキシ樹脂組成物 | |
JPH08134183A (ja) | エポキシ樹脂組成物および半導体封止装置 | |
JP2005068330A (ja) | 熱硬化性樹脂組成物 | |
JP2756342B2 (ja) | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 | |
JPH07138345A (ja) | エポキシ樹脂組成物および半導体封止装置 | |
JPH07242733A (ja) | エポキシ樹脂組成物および半導体封止装置 | |
JPH05160302A (ja) | 半導体封止用樹脂組成物 | |
JPH07228664A (ja) | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 | |
JP2000095840A (ja) | エポキシ樹脂組成物及び半導体装置 | |
JPS63110212A (ja) | 封止用樹脂組成物 | |
JPH05343570A (ja) | エポキシ樹脂組成物 | |
JPH01236263A (ja) | エポキシ樹脂組成物 | |
JPH059265A (ja) | 封止用樹脂組成物および半導体封止装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970701 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070718 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080718 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090718 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090718 Year of fee payment: 12 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090718 Year of fee payment: 12 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090718 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100718 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100718 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110718 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120718 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120718 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130718 Year of fee payment: 16 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |