JP2674016B2 - Frequency measuring device - Google Patents

Frequency measuring device

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JP2674016B2
JP2674016B2 JP61283941A JP28394186A JP2674016B2 JP 2674016 B2 JP2674016 B2 JP 2674016B2 JP 61283941 A JP61283941 A JP 61283941A JP 28394186 A JP28394186 A JP 28394186A JP 2674016 B2 JP2674016 B2 JP 2674016B2
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【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、被測定信号の周期を基準クロックを計数
して測定し、この周期から被測定信号の周波数を求める
周波数測定装置に関する。 〔発明の概要〕 この発明は、被測定信号の周期を基準クロックを計数
して測定し、この周期から被測定信号の周波数を求める
周波数測定装置において、目標となる周波数と許容誤差
とに基づき被測定信号の分周比を最適に設定することに
より、測定時間を短縮させるようにしたものである。 〔従来の技術〕 電子機器の調整を行う際、その回路からの所望の発振
周波数の出力信号が得られているか、所望の周波数の信
号が入力されているか等の検査を行うのに周波数測定装
置が用いられている。このような周波数測定装置として
は、被測定信号を波形整形し、一定時間当たりのパルス
信号の繰り返しを計数して周波数を求めるもの、或い
は、被測定信号の周波数を基準クロックを計数して求
め、この周期から周波数を求めるものが良く用いられて
いる。 つまり、第3図に示すように、一定時間T10例えば、
1秒間の長さのゲートパルスGP10を第3図Aに示すよう
に形成し、このゲートパルスGP10によりゲートを開か
せ、このゲートを介して波形整形された被測定信号S10
(第3図B)をカウンタに供給し、一定時間T10当たり
の波形整形された被測定信号S10のパルス数をカウント
する。このカウント値をK10とすると、被測定信号S10
周波数f10は、 として求めらる。 また、第4図に示すように、波形整形された被測定信
号S11(第4図A)の立上がり時点t11から次の立上がり
時点t12までの間ゲートを開き、時点t11〜t12までの
間、基準クロックRCK11(第4図B)をゲートを介して
カウンタに供給し、時点t11〜t12までの間の基準クロッ
クRCK11をカウントする。このカウント値から被測定信
号S11の周期がわかり、これにより被測定信号S11の周波
数がわかる。つまり、基準クロックRCK11の周波数をfck
11、カウント数をK11とすると、被測定信号S11の周波数
f11は、 として求められる。 〔発明が解決しようとする問題点〕 ところで、上述の第4図に示すように時点t11〜t12
での間ゲートを開き、この間の基準クロックをカウント
して周波数を求めるようにした場合、基準クロックの周
波数が一定であるとすると、被測定信号の周波数が高く
なると、その周期が短くなるため、測定誤差が大きくな
る。そこで、従来の周波数測定装置においては、被測定
信号を分周して、この分周した信号によりゲートを開く
ことができるようになされている。すなわち、被測定信
号をN分周すれば、周期がN倍により、その分測定精度
が向上される。ところが、このように被測定信号をN分
周すれば、これに伴って測定時間が長く必要になる。 電子機器の調整を行う際には、目標周波数と許容誤差
とが決められている。例えばNTSC方式のカラーサブキャ
リア周波数の信号が出力される回路を調整する場合にお
いて、目標周波数が3.579545MHz、許容誤差が±10Hzと
定められていたとすれば、その回路の出力信号を3.5795
5MHzから3.579535MHzの間に調整すれば良い。したがっ
て、周波数測定装置の表示も、これに対応する精度で表
示できれば十分である。 ところが、従来の周波数測定装置では、測定時間を長
くとることにより分周比Nを大きくし、測定精度を上げ
るようにしていたため、許容誤差内の精度で周波数表示
を行うようにすると、余分な桁数まで周波数表示がなさ
れてしまい、測定時間に無駄が生じるという問題があっ
た。多数の電子機器の調整を行う場合には、一台当たり
の測定時間の無駄が大きな問題となる。 したがって、この発明の目的は、目標とする周波数と
許容誤差とに応じて分周比Nを最適に設定することによ
り、計測時間を短縮できる周波数測定装置を提供するこ
とにある。 〔問題点を解決するための手段〕 この発明は、被測定信号を分周する分周器と、分周器
により分周された信号によりゲートを開き、ゲートが開
いている間に基準クロックを計数するカウンタと、カウ
ンタの出力から被測定信号の周波数を求める周波数演算
手段と、目標となる周波数の最高値と、許容誤差と、基
準クロックの周波数とに応じて、最適な分周比を求める
分周比演算手段とを備え、分周比演算手段は、目標とな
る周波数の最高値をfmax、許容誤差をfunit、基準クロ
ックの周波数をfckとすると、(fmax/fminを演算
し、これを整数化し、基準クロック周波数fckで割算す
ることにより、分周器の分周比Nを求めるようにした周
波数測定装置である。 〔作用〕 目標とする周波数の最高値をfmax、許容誤差を
funit、基準クロック周波数をfckとすると、分周比Nを に設定することにより、測定時間に無駄のない測定が可
能となり、然も、許容誤差の範囲内の表示を正確に行え
る。 〔実施例〕 以下、この発明の一実施例について図面を参照して説
明する。 第1図において1が入力端子を示し、入力端子1に第
2図Aに示すような被測定信号S1が供給される。この被
測定信号S1が波形整形回路2で第2図Bに示すように波
形整形され、この波形整形回路2の出力が分周回路3に
供給される。 分周回路3には、演算回路7から分周比Nが与えられ
る。この分周比Nは、後に詳述するように、端子8から
供給される目標とする周波数の最高値fmaxと許容誤差f
unitに基づいて決定される。波形整形回路2の出力が第
2図Cに示すように1/N分周(第2図では1/2分周)さ
れ、分周回路3の出力がカウンタ4に供給されると共に
ラッチ回路6及び演算回路7に供給される。 カウンタ4には、基準クロック発生回路5から第2図
Dに示す基準クロックRCKが供給される。カウンタ4
は、この基準クロックRCKを計数する。第2図Bに示す
分周回路3の出力の立上がりでのカウンタ4の値がラッ
チ回路6に供給されると共に演算回路7に供給される。
分周回路3の出力の次の立上がりで、ラッチ回路6の出
力が演算回路7に供給される。例えば時点t2でのカウン
ト値がカウンタ4から演算回路7に供給される時、ラッ
チ回路6から時点t1でのカウンタ4のカウント値が出力
される。演算回路7でこの時点t2でのカウンタ4のカウ
ント値から時点t1でのカウンタ4のカウント値が減算さ
れ、時点t1から時点t2までのカウント値が求められる。
このカウント値から分周回路3の出力信号の周期が求め
られ、更に分周回路3の周期を1/Nすることにより被測
定信号S1の周期が求められる。この被測定信号S1の周期
の逆数をとることにより、被測定信号S1の周波数f1が求
められる。つまり、被測定信号S1の周波数f1は、分周比
をN、基準クロックRCKの周波数をfck、時点t1から時点
t2までのカウント値をKとすると、 として求められる。 演算回路7で求められた周波数f1が出力端子9から取
り出され、表示装置(図示せず)に表示される。なお、
被測定信号S1にジッターを含む場合等では、求められた
周波数の所定回数毎の平均値が求められ、この平均値が
表示装置に表示される。 被測定信号S1の周波数f1を高い精度で求めるために
は、基準クロックRCKの周波数が一定なら、分周比Nを
大きい値に設定した方が有利である。そころが、分周比
Nを大きい値に設定しようとすると、測定時間が長く必
要になる。 そこで、この一実施例では、目標とする周波数の最高
値fmaxと許容誤差funitとから最適な分周比Nを求め、
この分周比Nが分周回路3に設定されるようになされて
いる。これにより、測定に無駄な時間が生ぜず、然も、
所望の許容誤差までの測定が可能となる。 つまり、目標とする周波数の最高値をfmax、許容誤差
をfunit、基準クロック周波数をfckとすると、分周比N
に設定される。これにより、測定時間に無駄のない測定
が行える。 なお、上式に基づいて分周比を演算する場合、(fmax
/funitが整数になるとは限らないので、(fmax/f
unitを演算した後に、整数化し、クロック周波数f
ckで割算する。 〔発明の効果〕 この発明に依れば、目標周波数と許容誤差とに基づい
て分周比が最適に設定されるので、許容誤差の測定精度
でもって、最短時間で周波数測定を行うことができる。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a frequency measuring device that measures the period of a signal under measurement by counting a reference clock and obtains the frequency of the signal under measurement from this period. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a frequency measuring apparatus that measures a period of a signal under measurement by counting a reference clock and obtains a frequency of the signal under measurement from this period, based on a target frequency and a permissible error. By appropriately setting the division ratio of the measurement signal, the measurement time is shortened. [Prior Art] A frequency measuring device for inspecting whether an output signal of a desired oscillation frequency from the circuit is obtained or a signal of a desired frequency is input when adjusting an electronic device. Is used. As such a frequency measurement device, the signal under measurement is waveform-shaped, the number of repetitions of the pulse signal per constant time is counted to obtain the frequency, or the frequency of the signal under measurement is obtained by counting the reference clock, A method of obtaining a frequency from this cycle is often used. That is, as shown in FIG. 3, a predetermined time T 10 for example,
A gate pulse GP 10 having a length of 1 second is formed as shown in FIG. 3A, the gate pulse GP 10 is used to open the gate, and the measured signal S 10 having a waveform shaped through the gate.
(Fig. 3 B) was fed to a counter, for counting the number of pulses of the measured signal S 10 which is the waveform shaping per predetermined time T 10. When this count value and K 10, the frequency f 10 of the signal S 10 to be measured, As required. Further, as shown in FIG. 4, to open the gate between the rising point t 11 of the measurement signal S 11 which is waveform-shaped (Fig. 4 A) until the next rising time t 12, the time t 11 ~t 12 Until then, the reference clock RCK 11 (FIG. 4B) is supplied to the counter through the gate, and the reference clock RCK 11 during the time points t 11 to t 12 is counted. From this count value, the period of the signal under measurement S 11 can be known, and thus the frequency of the signal under measurement S 11 can be known. That is, the frequency of the reference clock RCK 11 is fck.
11 and the number of counts is K 11 , the frequency of the signal under test S 11
f 11 is Is required. [Problems to be Solved by the Invention] By the way, as shown in FIG. 4, when the gate is opened between time points t 11 and t 12 and the reference clock is counted during this period to obtain the frequency, Assuming that the frequency of the reference clock is constant, as the frequency of the signal under measurement becomes higher, its cycle becomes shorter, resulting in a larger measurement error. Therefore, in the conventional frequency measuring device, the signal under measurement can be divided and the gate can be opened by the divided signal. That is, if the frequency of the signal under measurement is divided by N, the cycle is N times, and the measurement accuracy is improved accordingly. However, if the frequency of the signal under measurement is divided by N in this way, a long measurement time is required accordingly. A target frequency and a permissible error are determined when the electronic device is adjusted. For example, in the case of adjusting the circuit that outputs the signal of NTSC color subcarrier frequency, if the target frequency is 3.579545MHz and the allowable error is ± 10Hz, the output signal of that circuit is 3.5795.
Adjust between 5MHz and 3.579535MHz. Therefore, it is sufficient for the frequency measuring device to be displayed with an accuracy corresponding to this. However, in the conventional frequency measuring device, the division ratio N is increased by increasing the measurement time to increase the measurement accuracy. Therefore, if the frequency is displayed with an accuracy within the allowable error, an extra digit is displayed. There is a problem that the frequency is displayed up to the number, and the measurement time is wasted. When adjusting a large number of electronic devices, the waste of measurement time per unit becomes a serious problem. Therefore, an object of the present invention is to provide a frequency measuring device capable of shortening the measurement time by optimally setting the frequency division ratio N according to the target frequency and the allowable error. [Means for Solving the Problems] The present invention is to open a gate by a frequency divider for dividing a signal under measurement and a signal divided by the frequency divider, and to open a reference clock while the gate is open. A counter that counts, a frequency calculation unit that obtains the frequency of the signal under measurement from the output of the counter, a maximum value of the target frequency, a permissible error, and an optimum division ratio that is determined according to the frequency of the reference clock. Frequency division ratio calculation means, the frequency division ratio calculation means, when the maximum value of the target frequency is f max , the allowable error is f unit , and the frequency of the reference clock is f ck , (f max / f min ) This is a frequency measuring device configured to calculate a frequency division ratio N of the frequency divider by calculating 2 and converting it into an integer, and dividing this by the reference clock frequency f ck . [Operation] The maximum value of the target frequency is f max , and the allowable error is
Let f unit be the reference clock frequency and f ck be the division ratio N By setting to, measurement can be performed without wasting the measurement time, and the display within the allowable error range can be accurately performed. Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In FIG. 1, reference numeral 1 designates an input terminal, and the signal under test S 1 as shown in FIG. 2A is supplied to the input terminal 1. The measured signal S 1 is shaped by the waveform shaping circuit 2 as shown in FIG. 2B, and the output of the waveform shaping circuit 2 is supplied to the frequency dividing circuit 3. The frequency dividing ratio N is given from the arithmetic circuit 7 to the frequency dividing circuit 3. As will be described later in detail, the frequency division ratio N is the maximum value f max of the target frequency supplied from the terminal 8 and the allowable error f.
Determined based on unit . The output of the waveform shaping circuit 2 is divided by 1 / N (1/2 in FIG. 2) as shown in FIG. 2C, the output of the frequency dividing circuit 3 is supplied to the counter 4, and the latch circuit 6 is supplied. And to the arithmetic circuit 7. The reference clock RCK shown in FIG. 2D is supplied to the counter 4 from the reference clock generation circuit 5. Counter 4
Counts this reference clock RCK. The value of the counter 4 at the rising of the output of the frequency dividing circuit 3 shown in FIG. 2B is supplied to the latch circuit 6 and the arithmetic circuit 7.
At the next rise of the output of the frequency dividing circuit 3, the output of the latch circuit 6 is supplied to the arithmetic circuit 7. For example, when the count value at time t 2 is supplied from the counter 4 to the arithmetic circuit 7, the latch circuit 6 outputs the count value of the counter 4 at time t 1 . The count value of the counter 4 in the arithmetic circuit 7 at time t 1 from the count value of the counter 4 at the time t 2 is subtracted, the count value from the time t 1 to time t 2 is determined.
The cycle of the output signal of the frequency dividing circuit 3 is obtained from this count value, and the cycle of the signal under measurement S 1 is obtained by further dividing the cycle of the frequency dividing circuit 3 by 1 / N. By taking the reciprocal of the period of the measured signals S 1, the frequency f 1 of the measured signal S 1 is obtained. Point words, the frequency f 1 of the measured signals S 1, the frequency division ratio N, the frequency of the reference clock RCK f ck, from time t 1
If the count value up to t 2 is K, Is required. The frequency f 1 obtained by the arithmetic circuit 7 is taken out from the output terminal 9 and displayed on a display device (not shown). In addition,
In the case where the signal under test S 1 contains jitter, etc., an average value of the obtained frequencies for each predetermined number of times is obtained, and this average value is displayed on the display device. In order to obtain the frequency f 1 of the signal under measurement S 1 with high accuracy, it is advantageous to set the frequency division ratio N to a large value if the frequency of the reference clock RCK is constant. However, if the frequency division ratio N is set to a large value, a long measurement time is required. Therefore, in this embodiment, the optimum frequency division ratio N is calculated from the maximum value f max of the target frequency and the allowable error f unit ,
The frequency dividing ratio N is set in the frequency dividing circuit 3. As a result, there is no unnecessary time for measurement, and
It is possible to measure up to a desired tolerance. That is, when the maximum value of the target frequency is f max , the allowable error is f unit , and the reference clock frequency is f ck , the division ratio N
But Is set to As a result, measurement can be performed without wasting the measurement time. When calculating the division ratio based on the above equation, (f max
/ f unit ) 2 is not always an integer, so (f max / f
unit ) 2 is calculated, then converted to an integer, and the clock frequency f
Divide by ck . [Effect of the Invention] According to the present invention, since the frequency division ratio is optimally set based on the target frequency and the allowable error, the frequency measurement can be performed in the shortest time with the measurement accuracy of the allowable error. .

【図面の簡単な説明】 第1図はこの発明の一実施例のブロック図、第2図はこ
の発明の一実施例の説明に用いる波形図、第3図及び第
4図は従来の周波数測定装置の説明に用いる波形図であ
る。 図面における主要な符号の説明 1:入力端子、3:分周回路、4:カウンタ、7:演算回路。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a waveform diagram used for explaining one embodiment of the present invention, and FIGS. 3 and 4 are conventional frequency measurement. It is a waveform diagram used for description of an apparatus. Description of main symbols in the drawings 1: Input terminal, 3: Frequency divider circuit, 4: Counter, 7: Arithmetic circuit.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 1.被測定信号を分周する分周器と、 上記分周器により分周された信号によりゲートを開き、
上記ゲートが開いている間に基準クロックを計数するカ
ウンタと、 上記カウンタの出力から上記被測定信号の周波数を求め
る周波数演算手段と、 目標となる周波数の最高値と、許容誤差と、基準クロッ
クの周波数とに応じて、最適な分周比を求める分周比演
算手段と を備え、 上記分周比演算手段は、目標となる周波数の最高値をf
max、許容誤差をfunit、基準クロックの周波数をfck
すると、(fmax/funitを演算し、上記基準クロック
周波数fckで割算することにより、上記分周器の分周比
Nを求める ようにした周波数測定装置。
(57) [Claims] A divider that divides the signal under measurement and a gate that opens with the signal divided by the divider,
A counter that counts the reference clock while the gate is open, a frequency calculation unit that obtains the frequency of the signal under measurement from the output of the counter, the maximum value of the target frequency, the allowable error, and the reference clock Frequency division ratio calculating means for obtaining an optimum frequency division ratio according to the frequency, and the frequency division ratio calculating means determines the maximum value of the target frequency by f
If max is the allowable error, f unit is the reference clock frequency, and f ck is the reference clock frequency, (f max / f unit ) 2 is calculated and divided by the reference clock frequency f ck to divide the frequency by the frequency divider. A frequency measuring device adapted to obtain the ratio N.
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