JP2667712B2 - Compound processing equipment for semiconductor devices - Google Patents

Compound processing equipment for semiconductor devices

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JP2667712B2 JP16637189A JP16637189A JP2667712B2 JP 2667712 B2 JP2667712 B2 JP 2667712B2 JP 16637189 A JP16637189 A JP 16637189A JP 16637189 A JP16637189 A JP 16637189A JP 2667712 B2 JP2667712 B2 JP 2667712B2
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semiconductor
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政樹 浦田
青木  透
將 丹原
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【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、フープ状または短冊状のリードフレーム
を用いて、例えばミニモールドトランジスタ(MM−Tr)
等の半導体素子を製造するのに利用される半導体素子の
複合処理装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a mini-mold transistor (MM-Tr) using a hoop-shaped or strip-shaped lead frame.
The present invention relates to a combined processing device for semiconductor devices used for manufacturing semiconductor devices such as a semiconductor device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

例えばミニモールドトランジスタ等の半導体素子は、
フープ状または短冊状のリードフレームを用いて一括し
て製造される。上記リードフレームは、多数のランドと
当該各ランドの周辺近傍に遊端部が延びる複数のリード
とをタイバーで帯状に一体的に結合したものである。そ
して、上記各ランドへの半導体ペレットのマウント、半
導体ペレットの電極とリードの遊端部とのワイヤボンデ
ィングを経て半導体ペレットやリードの遊端部を含む主
要部を樹脂封止した後、各樹脂封止部とその周辺のリー
ドをリードフレームから切り離し、その後、リードを所
定形状に成形して個片の半導体素子を得る。そして、こ
のようにして得られた半導体素子は特性測定を行い、そ
の結果に基づいて捺印を行った後、特性分類別にエンボ
ステープにテーピング梱包して製品化される。
For example, semiconductor elements such as mini-mold transistors are
It is manufactured collectively using a hoop-shaped or strip-shaped lead frame. In the lead frame, a large number of lands and a plurality of leads whose free ends extend near the periphery of each of the lands are integrally connected with a tie bar in a band shape. Then, after mounting the semiconductor pellet on each of the lands and wire bonding between the electrode of the semiconductor pellet and the free end of the lead, the main part including the free end of the semiconductor pellet and the lead is sealed with resin. The stopper and the lead around the stop are separated from the lead frame, and then the lead is formed into a predetermined shape to obtain an individual semiconductor element. The semiconductor element thus obtained is subjected to characteristic measurement, stamped based on the result, and then taped and packaged on an embossed tape according to characteristic classification to be commercialized.

上記半導体装置の製造において、ペレットマウント、
ワイヤボンディング及び樹脂封止作業工程を終了したリ
ードフレームを切断して個片の半導体素子を得て、それ
をテーピング梱包する迄の工程を、従来は3台の製造装
置で行っていた。即ち、切断・成形機でリードフレーム
を個片に切断してリード成形し、次いで、ランク特性測
定分類機でランク特性測定を行ってランク特性別に分類
し、次いで、捺印、テーピング機で捺印してテーピング
梱包する。
In the manufacture of the semiconductor device, a pellet mount,
Conventionally, three manufacturing devices have been used to cut a lead frame after the wire bonding and resin sealing operation steps, obtain individual semiconductor elements, and then tap and package them. That is, the lead frame is cut into individual pieces by a cutting / molding machine to form a lead, then the rank characteristics are measured by a rank characteristics measuring / classifying machine, classified by rank characteristics, and then stamped, stamped by a taping machine. Packing by taping.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

ところで、従来のようにペレットマウント・ワイヤボ
ンディング及び樹脂封止作業工程を終了したリードフレ
ームから個片の半導体素子を得てそれをテーピング梱包
する迄の工程を3台の製造装置で行なうと、各製造装置
での半導体素子の収納がバラ収納となり、更に、次の製
造装置への半導体素子の供給もパーツフィーダ等による
バラ供給となるため、 リード曲りや形状不良 振動や衝撃によるオープンショート不良 振動や衝撃によるモールド部の欠けや割れ不良 異品種及び不良品やゴミ等の混入不良 等が発生する可能性が高いという問題があった。
By the way, the steps of obtaining individual semiconductor elements from a lead frame after completion of the steps of pellet mounting, wire bonding and resin encapsulation and packing them by taping are performed by three manufacturing apparatuses as in the related art. The semiconductor devices in the manufacturing equipment are stored loosely, and the semiconductor elements to the next manufacturing equipment are also loosely supplied by the parts feeder, etc. Chipping or cracking of the mold part due to impact There was a problem that there was a high possibility that defective products such as different types, defective products, and dusts were mixed.

そこで、この発明は上記の課題に鑑みてなされたもの
で、ペレットマウント・ワイヤボンディング及び樹脂封
止作業工程が終了したリードフレームから個片の半導体
素子を得てそれをテーピング梱包する迄、常に半導体素
子をハンドリングすることにより、高信頼性を確保し得
る半導体製造装置を提供することを目的するものであ
る。
Therefore, the present invention has been made in view of the above-described problems, and a semiconductor device is always obtained until a semiconductor element is obtained from a lead frame after the pellet mount / wire bonding and resin sealing operation steps are completed, and the semiconductor element is taped and packed. An object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing apparatus capable of ensuring high reliability by handling an element.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

上記目的を達成するため、この発明はペレットマウン
ト、ワイヤボンディング及び樹脂封止作業工程が終了し
たリードフレームを供給するリードフレーム供給ユニッ
トと、複数のターンテーブルを連続的に配置し、各ター
ンテーブルの周縁部円周等配位置に各工程に応じて半導
体素子を保持するようになしたハンドリング機構を複数
個設け、隣接するターンテーブルのハンドリング機構間
で半導体素子の受渡し可能とした搬送ユニットと、上記
複数のターンテーブルにより搬送されて切断・リード成
形・特性測定及び捺印工程等を経た半導体素子をテーピ
ング梱包するテーピングユニットとからなるものであ
る。
In order to achieve the above object, the present invention provides a lead frame supply unit that supplies a lead frame after a pellet mounting, a wire bonding, and a resin sealing work process are completed, and a plurality of turntables are continuously arranged, and each turntable is A plurality of handling mechanisms adapted to hold the semiconductor element in accordance with each process at the peripheral portion circumferentially equidistant position, and a transfer unit capable of transferring the semiconductor element between the handling mechanisms of adjacent turntables, And a taping unit for taping and packing a semiconductor element that has been transported by a plurality of turntables and has undergone cutting, lead forming, characteristic measurement, and stamping processes.

〔作用〕[Action]

この発明によれば、ペレットマウント・ワイヤボンデ
ィング及び樹脂封止作業工程が終了したリードフレーム
から個片の半導体素子を切断してそれをテーピング梱包
する迄、半導体素子を常にハンドリングすることができ
てバラ収納やバラ供給を省略できる。
According to the present invention, the semiconductor elements can be handled at all times until the individual semiconductor elements are cut from the lead frame after the pellet mount / wire bonding and the resin sealing work steps are completed, and the semiconductor elements are taped and packed. Storage and bulk supply can be omitted.

〔実施例〕〔Example〕

以下この考案の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図はミニモールドトランジスタを製造する場合に適
用した実施例であって、この実施例の半導体素子の複合
処理装置は、リードフレーム供給ユニット(A)、搬送
ユニット(B)及びテーピングユニット(C)でもって
構成されている。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 shows an embodiment applied to the case of manufacturing a mini-mold transistor. In this embodiment, a compound processing apparatus for a semiconductor device comprises a lead frame supply unit (A), a transport unit (B) and a taping unit (C). ).

リードフレーム供給ユニット(A)は、ペレットマウ
ント・ワイヤボンディング及び樹脂封止作業工程を終了
したフープ状リードフレームをフープリール(1)から
巻戻して搬送路(2)上を矢印方向に搬送し、該リード
フレームを搬送途中でブラッシングして個片の半導体素
子に切断するように構成されている。
The lead frame supply unit (A) rewinds the hoop-shaped lead frame after completion of the pellet mount / wire bonding and resin sealing operation steps from the hoop (1) and conveys it on the conveyance path (2) in the direction of the arrow. The lead frame is configured to be brushed during transportation to be cut into individual semiconductor elements.

搬送ユニット(B)は、例えば受渡しテーブル
(3)、フォーミングテーブル(4)、捺印テーブル
(5)及び挿入テーブル(6)で構成される。
The transport unit (B) includes, for example, a delivery table (3), a forming table (4), a stamping table (5), and an insertion table (6).

受渡しテーブル(3)は図中矢印方向に間欠回転する
ターンテーブルであって、その周縁部の円周等配位置に
ハンドリング機構、例えば半導体素子の下面を吸着する
ようなした吸着ヘッド(7)が4個設けてあり、該吸着
ヘッド(7)を切断受取り位置U1、有無検出位置U2、フ
ォーミングテーブル(4)へ供給する位置U3及び残検出
位置U4に対応させてある。
The delivery table (3) is a turntable that rotates intermittently in the direction of the arrow in the figure, and a handling mechanism, for example, a suction head (7) that suctions the lower surface of the semiconductor element is provided at a position on the periphery of the turntable. Yes 4 provided, the position U 1 receives cut adsorption head (7), the presence or absence detecting position U 2, are made to correspond to the position U 3 and the remaining detection position U 4 is supplied to the forming table (4).

フォーミングテーブル(4)は図中矢印方向に間欠回
動するターンテーブルであって、その周縁部の円周等配
位置にハンドリング機構、例えば半導体素子の上面を吸
着するようにした吸着ヘッド(8)が8個設けてあり、
該吸着ヘッド(8)を受渡しテーブル(3)から受取る
位置F1、フォーミング位置補正及び有無検出位置F2、第
1フォーミング位置F3、第2フォーミング位置F4、測定
位置補正位置F5、ランク測定位置F6、捺印テーブル
(5)へ供給する位置F7及び残検出位置F8に対応させて
ある。
The forming table (4) is a turntable that rotates intermittently in the direction of the arrow in the figure, and has a handling mechanism, for example, a suction head (8) that suctions the upper surface of the semiconductor element at a position equidistantly arranged around its periphery. There are eight,
A position F 1 for receiving the suction head (8) from the delivery table (3), a forming position correction and presence / absence detection position F 2 , a first forming position F 3 , a second forming position F 4 , a measurement position correction position F 5 , and a rank. It corresponds to the measurement position F 6 , the position F 7 supplied to the marking table (5) and the residual detection position F 8 .

捺印テーブル(5)は図中矢印方向に間欠回転するタ
ーンテーブルであって、その周縁部の円周等配位置にハ
ンドリング機構、例えば半導体素子を下面から吸着かつ
チャックするようになした吸着チャックヘッド(9)が
8個設けてあり、該吸着チャックヘッド(9)をフォー
ミングテーブル(4)から受取る位置N1、有無検出位置
N2、レーザー捺印位置N3、ブラッシング位置N4、捺印認
識位置N5、挿入テーブル(6)へ供給する位置N6、空位
置N7及び残検出位置N8に対応させてある。
The marking table (5) is a turntable that rotates intermittently in the direction of the arrow in the figure, and a handling mechanism, for example, a suction chuck head that sucks and chucks a semiconductor element from its lower surface at a position equally circumferentially around its periphery. Eight (9) are provided, the position N 1 for receiving the chuck chuck head (9) from the forming table (4), the presence / absence detection position
N 2 , laser marking position N 3 , brushing position N 4 , marking recognition position N 5 , position N 6 to supply to the insertion table (6), empty position N 7, and remaining detection position N 8 .

挿入テーブル(6)は図中矢印方向に間欠回転するタ
ーンテーブルであって、その周縁部の円周等配位置にハ
ンドリング機構、例えば半導体素子の上面を吸着するよ
うになした吸着ヘッド(10)が8個設けてあり、該吸着
ヘッド(10)を捺印テーブル(5)から受取る位置S1
ランク特性別収納並びに測定位置補正位置S2、ランク測
定位置S3、ランク測定でNGの半導体素子排出並びに挿入
角度位置補正位置S4、空位置S5、テープ挿入位置S6、空
位置S7及び残検出位置S8に対応させてある。
The insertion table (6) is a turntable that rotates intermittently in the direction of the arrow in the figure, and a handling mechanism, for example, a suction head (10) adapted to suction the upper surface of the semiconductor element at a position equally spaced around the periphery thereof. 8 are provided, and the position S 1 for receiving the suction head (10) from the marking table (5),
Storage and measurement position correction position S 2 according to rank characteristics, rank measurement position S 3 , NG semiconductor element discharge and insertion angle position correction position S 4 , empty position S 5 , tape insertion position S 6 , empty position S 7 in rank measurement and are made to correspond to the remaining detection position S 8.

テーピングユニット(C)はエンボステップをテープ
供給リール(11)(11)からテープ収納リール(12)
(12)に巻取る途中で、該エンボステープのエンボス挿
入テーブル(6)から供給された半導体素子を挿入した
後テーピングして製品化するように構成されている。
The taping unit (C) changes the embossing step from the tape supply reel (11) (11) to the tape storage reel (12).
In the course of winding on (12), the semiconductor element supplied from the emboss insertion table (6) of the emboss tape is inserted and then taped to produce a product.

次に、この発明の動作について説明する。 Next, the operation of the present invention will be described.

先ず、搬送ユニット(B)の受渡しテーブル(3)が
その切断受取り位置U1でリードフレーム供給ユニット
(A)によりリードフレームから切断された個片の半導
体素子の下面を吸着ヘッド(7)で吸着保持してリード
フレーム供給ユニット(A)から半導体素子を受取る。
受渡しテーブル(3)に受取られた半導体素子は該受渡
しテーブル(3)の間欠回転に伴って有無検出位置U2
経て供給位置U3に到り、ここで、フォーミングテーブル
(4)の受取り位置F1に位置する吸着ヘッド(8)によ
り上面より吸着保持されて受渡しテーブル(3)からフ
ォーミングテーブル(4)に受渡される。フォーミング
テーブル(4)に受渡された半導体素子は該フォーミン
グテーブル(4)の間欠回転に伴ってフォーミング位置
補正並びに有無検出位置F2を経て第1フォーミング位置
F3に到り、ここで第1リード成形が行われ、続いて次の
第2のフォーミング位置U4で第2リード成形が行われ
る。第1、第2のリード成形が行われた半導体素子は、
フォーミングテーブル(4)の間欠回転に伴って測定位
置補正位置F5を経てランク測定位置F6に到り、ここでラ
ンク測定が行われ、続いて次の供給位置F7で捺印テーブ
ル(5)に受取り位置N1に位置する吸着チャックヘッド
(9)により下面を吸着並びにチャックされてフォーミ
ングテーブル(4)から捺印テーブル(5)に受渡され
る。捺印テーブル(5)に受渡された半導体素子は該捺
印テーブル(5)の間欠回転に伴って有無検出位置N2
経てレーザー捺印位置N3に到り、ここで前述したフォー
ミングテーブル(4)のランク測定位置F6で行ったラン
ク測定の結果に基づいてランク特性別にレーザー捺印が
行われ、続いて次のブラッシング位置N4でレーザー捺印
時の樹脂層を除去するブラッシングが行われる。この
後、半導体素子は捺印認識位置N5を経て供給位置N6に到
り、ここで挿入テーブル(6)受取り位置S1に位置する
吸着ヘッド(10)により上面を吸着保持されて挿入テー
ブル(6)に受渡される。挿入テーブル(6)に受渡さ
れた半導体素子は該挿入テーブル(6)の間欠回転に伴
って測定位置補正位置S2でテーピング対象外素子のラン
ク特性別収納を行うとともに、テーピング対象素子につ
いては測定位置の補正を行った後、ランクの測定位置S3
でテーピング梱包直前の2番目の検査として再びランク
特性を行い、この結果に基づいて特性不良の製品は位置
補正位置S4で排出するとともに、それ以外のものは挿入
角度位置の補正を行う。この時、半導体素子はテープ挿
入位置S6でテーピングユニット(C)のエンボステープ
のエンボス内に挿入され、テーピングユニットによりテ
ーピングされて製品化される。
First, the suction in the lower surface of the suction head of the semiconductor device of the conveyance unit (B) of the delivery table (3) is piece cut from the lead frame by a lead frame supply unit (A) in the cut receiving position U 1 (7) Hold and receive the semiconductor element from the lead frame supply unit (A).
Semiconductor elements received in the delivery table (3) is led to the supply position U 3 through the presence or absence detecting position U 2 with the intermittent rotation of the receiving pass table (3), wherein, receiving a forming table (4) Position the suction head is located in the F 1 (8) is the delivery from the held by suction from the upper surface by transfer table (3) on the forming table (4). Semiconductor element delivery into the forming table (4) is the first forming position through a forming position correction and presence detection position F 2 in accordance with the intermittent rotation of the forming table (4)
It led to F 3, wherein the first lead forming is performed, followed by a second lead forming in the second forming position U 4 of the following is performed. The semiconductor element on which the first and second lead molding have been performed is
With the intermittent rotation of the forming table (4) through a measurement position correction position F 5 led to rank measurement position F 6, wherein the rank measurement is performed, followed by stamping table at the next supply position F 7 (5) is delivery in marking table from being adsorbed and chuck the lower surface by the suction chuck head located at position N 1 receives the (9) forming the table (4) (5). Semiconductor element delivery into marking table (5) is led to the laser marking position N 3 through the presence or absence detecting position N 2 in accordance with the intermittent rotation of該捺mark table (5), wherein the forming table described above (4) based on the results of the rank measurements performed in rank measurement position F 6 is laser marking is performed by rank characteristics, followed by brushing to remove the resin layer during the laser marking in the next brushing position N 4 is carried out. Thereafter, the semiconductor device is led to the supply position N 6 through the stamping recognition position N 5, wherein the insertion table (6) by receiving the suction head located in the position S 1 (10) held by suction the upper surface inserted table ( It is passed to 6). Performs rank characteristics different storage taping covered element in inserted table (6) semiconductor element delivery into the said insertion table (6) measurement position correction position S 2 in accordance with the intermittent rotation of the measurement for the taping target element After the position is corrected, the rank measurement position S 3
In performed again rank properties as the second test immediately before taping, with characteristic failure of the product is discharged at the position correction position S 4 on the basis of this result, it corrects the insertion angle position other things. At this time, the semiconductor element is inserted into the embossed embossed tape of the taping unit (C) in the tape insertion position S 6, it is taped to the product by taping unit.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

この発明によれば、ペレットマウント・ワイヤボンデ
ィング及び樹脂封止工程の終了したリードフレームから
個片の半導体素子に切断してそれをテーピング梱包する
迄、常に半導体素子を個々に吸着保持された状態で受渡
し及びハンドリングするから、従来のようなバラ収納や
バラ供給を省略することができ、これにより製品品質の
高信頼性を確保することができる。また、従来3台に分
けていた装置を一台にまとめることができるため、一連
の作業の自動化はもとより、大幅な省力化を図ることが
できると同時に高い生産性も確保することができる。
According to the present invention, the semiconductor device is always individually sucked and held until the semiconductor device is cut into individual pieces from the lead frame after the pellet mount / wire bonding and resin sealing steps and then packaged by taping. Since delivery and handling are performed, it is possible to omit the conventional storage and supply of loose pieces, thereby ensuring high reliability of product quality. In addition, since the devices that were conventionally divided into three units can be integrated into one unit, not only can a series of operations be automated, but also significant labor saving can be achieved and high productivity can be secured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図はこの発明に係る半導体装置の一実施例を示す概
略平面図である。 (A)……リードフレーム供給ユニット、 (B)……搬送ユニット、 (C)……テーピングユニット、 (3)……受渡しテーブル、 (4)……フォーミングテーブル、 (5)……捺印テーブル、 (6)……挿入テーブル。
FIG. 1 is a schematic plan view showing one embodiment of a semiconductor device according to the present invention. (A) ... Lead frame supply unit, (B) ... transport unit, (C) ... taping unit, (3) ... delivery table, (4) ... forming table, (5) ... stamping table, (6) ... insertion table.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】ペレットマウント、ワイヤボンディング及
び樹脂封止作業を終了したリードフレームを供給するリ
ードフレーム供給ユニットと、 複数のターンテーブルを連続的に配置し、各ターンテー
ブルの周縁部円周等配位置に各作業工程に応じて半導体
素子を保持するようになしたハンドリング機構を複数個
設け、隣接するターンテーブルのハンドリング機構間
で、半導体素子を受渡し可能とした搬送ユニットと、 上記複数のターンテーブルにより搬送されて切断・リー
ド成形・特性測定及び捺印工程等を経た半導体素子をテ
ーピング梱包するテーピングユニットとからなることを
特徴とする半導体素子の複合処理装置。
1. A lead frame supply unit for supplying a lead frame that has completed pellet mounting, wire bonding, and resin sealing operations, and a plurality of turntables are continuously arranged, and the circumference of each turntable is evenly distributed around the periphery. A plurality of handling mechanisms for holding a semiconductor element in accordance with each operation step at a position, a transfer unit capable of transferring semiconductor elements between handling mechanisms of adjacent turntables, and the plurality of turntables And a taping unit for taping and packing the semiconductor element which has been conveyed by the above and has undergone a cutting / lead forming / characteristic measurement and marking step.
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