JP2666362B2 - 光パルス試験器 - Google Patents
光パルス試験器Info
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- JP2666362B2 JP2666362B2 JP11828788A JP11828788A JP2666362B2 JP 2666362 B2 JP2666362 B2 JP 2666362B2 JP 11828788 A JP11828788 A JP 11828788A JP 11828788 A JP11828788 A JP 11828788A JP 2666362 B2 JP2666362 B2 JP 2666362B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3181—Reflectometers dealing with polarisation
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、光導波路型光スイッチを有する光パルス試
験器に係り、特に光の伝送損失が小さく消光比の大きい
光導波路型光スイッチを有する光パルス試験器に関する
ものである。
験器に係り、特に光の伝送損失が小さく消光比の大きい
光導波路型光スイッチを有する光パルス試験器に関する
ものである。
［従来の技術］ 第３図に従来の光導波路型光スイッチを用いた光パル
ス試験器の基本構成を示す。電気光学効果を有する光導
波路基板22上に、１端面において光源であるLD（レーザ
ダイオード）23が接続され、その対向する端面に被検査
ファイバ15が接続された第１の光導波路24と、LD23と同
じ側の端面に光検出器16が接続された第２の光導波路25
が隣接して設けられている。またSiO2よりなるバッファ
層26を介して電極27が設けられている。LD23より出射し
た直線偏光のレーザパルスは、入射光ファイバである偏
波面保存ファイバ28および第１の光導波路24を通じて偏
波面保存ファイバ29、定偏波ユニット30を透過して被検
査ファイバ15へ入射される。被検査ファイバ15へ入射さ
れたレーザパルスは、ファイバの破断箇所、接続箇所等
でフレネル反射を起こしたり、ファイバの構成物質によ
る後方散乱光を発生する。これらの光は、偏波面保存フ
ァイバ29および定偏波ユニット30を逆戻りし、再び光導
波路24へ入射する。
ス試験器の基本構成を示す。電気光学効果を有する光導
波路基板22上に、１端面において光源であるLD（レーザ
ダイオード）23が接続され、その対向する端面に被検査
ファイバ15が接続された第１の光導波路24と、LD23と同
じ側の端面に光検出器16が接続された第２の光導波路25
が隣接して設けられている。またSiO2よりなるバッファ
層26を介して電極27が設けられている。LD23より出射し
た直線偏光のレーザパルスは、入射光ファイバである偏
波面保存ファイバ28および第１の光導波路24を通じて偏
波面保存ファイバ29、定偏波ユニット30を透過して被検
査ファイバ15へ入射される。被検査ファイバ15へ入射さ
れたレーザパルスは、ファイバの破断箇所、接続箇所等
でフレネル反射を起こしたり、ファイバの構成物質によ
る後方散乱光を発生する。これらの光は、偏波面保存フ
ァイバ29および定偏波ユニット30を逆戻りし、再び光導
波路24へ入射する。
この戻り光は、光導波路25と結合部に設けられた電極
27に電圧を印加することにより光導波路25と完全に結合
し、その端面から受光ファイバ31を通って光検出器16へ
達する。
27に電圧を印加することにより光導波路25と完全に結合
し、その端面から受光ファイバ31を通って光検出器16へ
達する。
光スイッチを十分な消光比をもって動作させるために
は、導波光をTEあるいはTM成分のみを有する直線偏波光
とする必要がある。LD23および偏波面保存ファイバ28の
い偏光面をTEあるいはTMモードの偏波面に合わせればよ
い。しかし、戻り光は一般にTE波とTM波が混在している
ため、光導波路24の前後にTE,TMモードのフィルタであ
る定偏波ユニット30を置いて一方のモード波だけを取り
出し、光検出器16側光導波路25へとスイッチングさせて
いた。
は、導波光をTEあるいはTM成分のみを有する直線偏波光
とする必要がある。LD23および偏波面保存ファイバ28の
い偏光面をTEあるいはTMモードの偏波面に合わせればよ
い。しかし、戻り光は一般にTE波とTM波が混在している
ため、光導波路24の前後にTE,TMモードのフィルタであ
る定偏波ユニット30を置いて一方のモード波だけを取り
出し、光検出器16側光導波路25へとスイッチングさせて
いた。
［発明が解決しようとする課題］ 光導波路型光スイッチは、一般にTEあるいはTMのどち
らか一方のモードに対して充分な消光比を得られるもの
であり、TE波とTM波が混合したものに対しては有効では
ない。上記戻り光は一般にTE波とTM波が混合しているた
め、定偏波ユニットによりTM波あるいはTE波成分だけを
取り出して検出している。しかし、当然片方のモード波
を放射してしまうので、検出器へ到達する光量は小さく
なってしまう。また、もしも戻り光がTM波であるとすれ
ば、定偏波ユニットも同じTM波を遮断するようになって
いた場合は、光検出器へ達する光量はゼロとなってしま
う。
らか一方のモードに対して充分な消光比を得られるもの
であり、TE波とTM波が混合したものに対しては有効では
ない。上記戻り光は一般にTE波とTM波が混合しているた
め、定偏波ユニットによりTM波あるいはTE波成分だけを
取り出して検出している。しかし、当然片方のモード波
を放射してしまうので、検出器へ到達する光量は小さく
なってしまう。また、もしも戻り光がTM波であるとすれ
ば、定偏波ユニットも同じTM波を遮断するようになって
いた場合は、光検出器へ達する光量はゼロとなってしま
う。
また、光導波路型光スイッチを偏波無依存化すること
もできるが、大きさ、作製精度などに制約があり、その
作製は容易ではない。
もできるが、大きさ、作製精度などに制約があり、その
作製は容易ではない。
［課題を解決するための手段］ 本発明は、前述の問題点を解決すべくなされたもので
あり、電気光学効果を有する光導波路基板上に、１端部
において光源側へ接続される第１の光導波路と、前記端
部と同じ側の端部において光検出器側へ接続されその対
向する端部において被検査ファイバへ接続される第２の
光導波路とが隣接して形成され、前記第１の光導波路の
結合の少なくとも１部を覆ってTM波を減衰させる金属が
配置してあり、前記２つの光導波路の結合部に電界を印
加する電極を設けた光導波路型光スイッチと、被検査フ
ァイバへTM波を主成分とするパルス光を入射する光源
と、被検査ファイバからの戻り光を第２の光導波路から
受光する光検出器とを備えた光パルス試験器を提供する
ものである。
あり、電気光学効果を有する光導波路基板上に、１端部
において光源側へ接続される第１の光導波路と、前記端
部と同じ側の端部において光検出器側へ接続されその対
向する端部において被検査ファイバへ接続される第２の
光導波路とが隣接して形成され、前記第１の光導波路の
結合の少なくとも１部を覆ってTM波を減衰させる金属が
配置してあり、前記２つの光導波路の結合部に電界を印
加する電極を設けた光導波路型光スイッチと、被検査フ
ァイバへTM波を主成分とするパルス光を入射する光源
と、被検査ファイバからの戻り光を第２の光導波路から
受光する光検出器とを備えた光パルス試験器を提供する
ものである。
以下、本発明の実施例に従って説明する。第１図は本
発明による光パルス試験器の基本構成を示す平面図であ
る。LiNbO3結晶等の電気光学効果を有する光導波路基板
１上に光方向性結合器型の第１の光導波路２と第２の光
導波路３が設けてある。光導波路2,3は全長に渡ってシ
ングルモードであり、光導波路2,3の外側には平行プレ
ーナ電極４が設けてある。また、光導波路２の上には、
結合部14全長に渡ってTM波を吸収するためにAl膜５等の
金属が装荷されている。印加電圧ゼロの状態では、この
光方向性結合器は、TM波に対してクロス（結合）の状態
となっている。光導波路端６には、偏波面保存ファイバ
７がTM波を導波するように接続されており、その先には
光源であるLD8が同様の偏波面の光を出射し伝搬するよ
うに取りつけられている。また、他の光導波路端９と10
にはシングルモードファイバ12,13が取りつけられてい
る。各々のファイバは対応した光導波路端面に、精密微
動台の上で光軸調整した後、直接に接着剤で固定すれば
よく、一般には紫外線硬化型接着剤等が用いられる。
発明による光パルス試験器の基本構成を示す平面図であ
る。LiNbO3結晶等の電気光学効果を有する光導波路基板
１上に光方向性結合器型の第１の光導波路２と第２の光
導波路３が設けてある。光導波路2,3は全長に渡ってシ
ングルモードであり、光導波路2,3の外側には平行プレ
ーナ電極４が設けてある。また、光導波路２の上には、
結合部14全長に渡ってTM波を吸収するためにAl膜５等の
金属が装荷されている。印加電圧ゼロの状態では、この
光方向性結合器は、TM波に対してクロス（結合）の状態
となっている。光導波路端６には、偏波面保存ファイバ
７がTM波を導波するように接続されており、その先には
光源であるLD8が同様の偏波面の光を出射し伝搬するよ
うに取りつけられている。また、他の光導波路端９と10
にはシングルモードファイバ12,13が取りつけられてい
る。各々のファイバは対応した光導波路端面に、精密微
動台の上で光軸調整した後、直接に接着剤で固定すれば
よく、一般には紫外線硬化型接着剤等が用いられる。
［作用］ 光源であるLD8より出射した光はTM波と同方向の偏光
面を持ち、これが同方向の偏波面保存ファイバ７を通
り、光導波路２へ入射する。導波したTM波は結合部14に
おいて、隣の光導波路３と完全に結合し、シングルモー
ドファイバ12を通って被検査ファイバ15へ入射する。ま
た、LD光に若干混在しているTM波は、偏波面保存ファイ
バ７および光導波路２上のAl膜５により大きく減衰され
る。被検査ファイバ15よりの戻り光は、光導波路端９よ
り光導波路３へ入射後結合部14に達する。ここで、平行
プレーナ電極４へ適度の電圧を印加することにより、光
導波路2,3内の屈折率が電気光学効果により変化し、TM
波は非結合状態となってそのまま光導波路３より受光フ
ァイバであるシングルモードファイバ13へ入射し、光検
出器16へと導かれる。一方、TM波は光導波路３における
実効屈折率が非常に小さいため、結合を起こさず、TM波
と同様にそのまま光導波路３を伝搬し受光ファイバであ
るシングルモードファイバ13へ入射する。以上の作用に
より、本発明においては、戻り光に対する損失をその偏
波性（TE波とTM波の混在比）に依らず、低く抑えること
ができる。また、その作製においてはTE波に対するスイ
ッチングのみを考慮すれば良く、従来と同様な寸法精度
で特に困難なく作製できる。
面を持ち、これが同方向の偏波面保存ファイバ７を通
り、光導波路２へ入射する。導波したTM波は結合部14に
おいて、隣の光導波路３と完全に結合し、シングルモー
ドファイバ12を通って被検査ファイバ15へ入射する。ま
た、LD光に若干混在しているTM波は、偏波面保存ファイ
バ７および光導波路２上のAl膜５により大きく減衰され
る。被検査ファイバ15よりの戻り光は、光導波路端９よ
り光導波路３へ入射後結合部14に達する。ここで、平行
プレーナ電極４へ適度の電圧を印加することにより、光
導波路2,3内の屈折率が電気光学効果により変化し、TM
波は非結合状態となってそのまま光導波路３より受光フ
ァイバであるシングルモードファイバ13へ入射し、光検
出器16へと導かれる。一方、TM波は光導波路３における
実効屈折率が非常に小さいため、結合を起こさず、TM波
と同様にそのまま光導波路３を伝搬し受光ファイバであ
るシングルモードファイバ13へ入射する。以上の作用に
より、本発明においては、戻り光に対する損失をその偏
波性（TE波とTM波の混在比）に依らず、低く抑えること
ができる。また、その作製においてはTE波に対するスイ
ッチングのみを考慮すれば良く、従来と同様な寸法精度
で特に困難なく作製できる。
［実施例］ 本発明の１実施例を示す第１図について、具体的に記
す。Ｙ−cut X伝搬のLiNbO3結晶の光導波路基板１の表
面に、Tiを熱拡散することによって、シングルモードの
光導波路2,3を光方向性結合器の配置で形成している。
結合部14においては、光導波路2,3の外側に平行プレー
ナ電極４がAlを蒸着することによって設けられている。
この構造によって、電気光学効果において、最大の定数
b33を用いることができる。また、光導波路２には、結
合部14においてそれを覆うようにAl膜５が設けてある。
また、前述のように各光導波路端6,9,10には、偏波面保
存ファイバ７あるいはシングルモードファイバ12,13が
接続されている。LD8および偏波面保存ファイバ７は、
それぞれTE波を出射し導波する。
す。Ｙ−cut X伝搬のLiNbO3結晶の光導波路基板１の表
面に、Tiを熱拡散することによって、シングルモードの
光導波路2,3を光方向性結合器の配置で形成している。
結合部14においては、光導波路2,3の外側に平行プレー
ナ電極４がAlを蒸着することによって設けられている。
この構造によって、電気光学効果において、最大の定数
b33を用いることができる。また、光導波路２には、結
合部14においてそれを覆うようにAl膜５が設けてある。
また、前述のように各光導波路端6,9,10には、偏波面保
存ファイバ７あるいはシングルモードファイバ12,13が
接続されている。LD8および偏波面保存ファイバ７は、
それぞれTE波を出射し導波する。
TM波の吸収層としてのA1膜５は、導波路全長に渡って
装荷しても良い。
装荷しても良い。
また、第２図のように、Ｚ−cut X伝搬の光導波路基
板17を用い、光導波路18の結合部にTM波吸収層と電極と
を兼ねたAl膜21を光導波路18上に設ける。一方、光導波
路19では、SiO2のバッファ層20を介して電極としてのAl
膜21を設けてある。この場合は使用される電気光学定数
はTE波に対してd31となる。
板17を用い、光導波路18の結合部にTM波吸収層と電極と
を兼ねたAl膜21を光導波路18上に設ける。一方、光導波
路19では、SiO2のバッファ層20を介して電極としてのAl
膜21を設けてある。この場合は使用される電気光学定数
はTE波に対してd31となる。
上記実施例において、光源であるLD8は、偏波面保存
ファイバ７を用いずに直接光導波路面６に接続しても良
く、又光導波路基板１に組み込まれたレーザダイオード
等の光源を用いても良い。
ファイバ７を用いずに直接光導波路面６に接続しても良
く、又光導波路基板１に組み込まれたレーザダイオード
等の光源を用いても良い。
TM波を吸収する金属としては、A1膜５の他にCu,Au,M
g,Zn,Ni等が使用できるが、接着強度等の点においてAl
が好ましい。
g,Zn,Ni等が使用できるが、接着強度等の点においてAl
が好ましい。
［発明の効果］ 本発明の光パルス試験器は、TM波とTE波の混在する戻
り光に対して、光導波路型光スイッチがその混在比に無
関係に動作するため、被検査ファイバと光導波路型光ス
イッチとの間に定偏波ユニット等の偏波面を特定する手
段を設ける必要がないため、検出光量の損失が小さくな
り感度の良い検出ができるという効果を有する。又、そ
の作製に関しては従来と同じ様な寸法精度で良いので、
容易に良好な特性の光スイッチを得ることができる。
り光に対して、光導波路型光スイッチがその混在比に無
関係に動作するため、被検査ファイバと光導波路型光ス
イッチとの間に定偏波ユニット等の偏波面を特定する手
段を設ける必要がないため、検出光量の損失が小さくな
り感度の良い検出ができるという効果を有する。又、そ
の作製に関しては従来と同じ様な寸法精度で良いので、
容易に良好な特性の光スイッチを得ることができる。
第１図と第２図は本発明の２つの実施例を示し、第１図
は本発明による光パルス試験器の基本構成の平面図であ
り、第２図（ａ），（ｂ）はもう１つの実施例を示し、
第２図（ａ）は、光導波路型光スイッチの平面図であ
り、第２図（ｂ）は光導波路型光スイッチの側面図であ
り、第３図は従来の光パルス試験器の基本構成の平面図
である。 1:光導波路基板 2,3:光導波路 4:平行プレーナ電極 5:Al膜 8:LD 15:被検査ファイバ 16:光検出器
は本発明による光パルス試験器の基本構成の平面図であ
り、第２図（ａ），（ｂ）はもう１つの実施例を示し、
第２図（ａ）は、光導波路型光スイッチの平面図であ
り、第２図（ｂ）は光導波路型光スイッチの側面図であ
り、第３図は従来の光パルス試験器の基本構成の平面図
である。 1:光導波路基板 2,3:光導波路 4:平行プレーナ電極 5:Al膜 8:LD 15:被検査ファイバ 16:光検出器
Claims (1)
- 【請求項１】電気光学効果を有する光導波路基板上に、
１端部において光源側へ接続される第１の光導波路と、
前記端部と同じ側の端部において光検出器側へ接続され
その対向する端部において被検査ファイバへ接続される
第２の光導波路とが隣接して形成され、前記第１の光導
波路の結合部の少なくとも１部を覆ってTM波を減衰させ
る金属が配置してあり、前記２つの光導波路の結合部に
電界を印加する電極を設けた光導波路型光スイッチと、
被検査ファイバへTE波を主成分とするパルス光を入射す
る光源と、被検査ファイバからの戻り光を第２の光導波
路から受光する光検出器とを備えた光パルス試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11828788A JP2666362B2 (ja) | 1988-05-17 | 1988-05-17 | 光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11828788A JP2666362B2 (ja) | 1988-05-17 | 1988-05-17 | 光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01288749A JPH01288749A (ja) | 1989-11-21 |
| JP2666362B2 true JP2666362B2 (ja) | 1997-10-22 |
Family
ID=14732935
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11828788A Expired - Fee Related JP2666362B2 (ja) | 1988-05-17 | 1988-05-17 | 光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2666362B2 (ja) |
-
1988
- 1988-05-17 JP JP11828788A patent/JP2666362B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01288749A (ja) | 1989-11-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |