JP2665574B2 - 円筒座標型三次元測定装置における非真円形状ワークの芯出し調整方法 - Google Patents
円筒座標型三次元測定装置における非真円形状ワークの芯出し調整方法Info
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- JP2665574B2 JP2665574B2 JP8762392A JP8762392A JP2665574B2 JP 2665574 B2 JP2665574 B2 JP 2665574B2 JP 8762392 A JP8762392 A JP 8762392A JP 8762392 A JP8762392 A JP 8762392A JP 2665574 B2 JP2665574 B2 JP 2665574B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は真円測定器等の円筒座標
型三次元測定装置における非真円形状ワークの芯出し調
整方法に関するものである。
型三次元測定装置における非真円形状ワークの芯出し調
整方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、図１１に示すような円筒座標型三
次元測定装置において円筒形状ワークの測定を行う場
合、ロータリテーブル１０１の回転軸と測定ワーク１０
２の中心軸とを一致させる必要がある。仮想線にて示す
心押台１０３の使用が可能なセンタ支持ワークの場合は
芯出しの必要がないが、チャック加工ワークの場合には
芯出し調整を行う必要が生じる。このチャック加工ワー
ク芯出し方法には、ロータリテーブル１０１上に芯出し
専用のＸ・Ｙ二軸直線移動形クロススライドを設けて、
実際にワーク中心軸をロータリテーブルの回転軸と一致
させる方法と、ロータリテーブル上に芯ずれのまま載置
されたワークを極座標（ｒ，θ）上で測定し、計算処理
により座標変換を行って、実質的にワークを移動させた
と同じ効果を得るようにした方法とがある。後者の方法
は計算のみで芯出しが可能であり、前者の方法に比べる
と芯出しの迅速化が可能なため、一般に後者の方法が多
く用いられている。
次元測定装置において円筒形状ワークの測定を行う場
合、ロータリテーブル１０１の回転軸と測定ワーク１０
２の中心軸とを一致させる必要がある。仮想線にて示す
心押台１０３の使用が可能なセンタ支持ワークの場合は
芯出しの必要がないが、チャック加工ワークの場合には
芯出し調整を行う必要が生じる。このチャック加工ワー
ク芯出し方法には、ロータリテーブル１０１上に芯出し
専用のＸ・Ｙ二軸直線移動形クロススライドを設けて、
実際にワーク中心軸をロータリテーブルの回転軸と一致
させる方法と、ロータリテーブル上に芯ずれのまま載置
されたワークを極座標（ｒ，θ）上で測定し、計算処理
により座標変換を行って、実質的にワークを移動させた
と同じ効果を得るようにした方法とがある。後者の方法
は計算のみで芯出しが可能であり、前者の方法に比べる
と芯出しの迅速化が可能なため、一般に後者の方法が多
く用いられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の技術の座標変換
演算処理による芯出し調整方法は、計測された点群から
ワーク中心を算出するため、円筒形状ワークの真円度測
定のように半径差の小さい場合には最小誤差円を求めて
この円中心を使用しているが、カム形状ワークのように
半径差の大きいワークの場合には中心の算出が難しいと
いう問題点を有していた。本発明は従来の技術の有する
このような問題点に鑑みなされたものであり、その目的
とするところは座標変換演算処理による非真円形状ワー
クの芯出し調整方法を提供しようとするものである。
演算処理による芯出し調整方法は、計測された点群から
ワーク中心を算出するため、円筒形状ワークの真円度測
定のように半径差の小さい場合には最小誤差円を求めて
この円中心を使用しているが、カム形状ワークのように
半径差の大きいワークの場合には中心の算出が難しいと
いう問題点を有していた。本発明は従来の技術の有する
このような問題点に鑑みなされたものであり、その目的
とするところは座標変換演算処理による非真円形状ワー
クの芯出し調整方法を提供しようとするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明における円筒座標型三次元装置における非真円
形状ワークの芯出し調整方法は、ロータリテーブル（Ｃ
軸）と直交二直線案内軸（Ｘ・Ｚ軸）からなる三次元測
定装置の前記ロータリテーブル上のほぼ旋回中心位置の
非真円形状ワークをサンプリングして測定点群データを
作成した後に座標変換計算処理により芯出し調整する方
法において、前記測定点群データによる第１全体形状と
予め入力された理想形状点群データによる第２全体形状
とを同一座標軸上に重ねて表示した粗調整用画面と、前
記測定点群データと理想形状点群データとの差による形
状曲線を表示した微細調整用画面とを選択表示し、操作
者が前記調整用画面又は微細調整用画面を見ながら設定
した調整量により角度調整と偏心調整とを行い誤差を最
小化させるものである。
に本発明における円筒座標型三次元装置における非真円
形状ワークの芯出し調整方法は、ロータリテーブル（Ｃ
軸）と直交二直線案内軸（Ｘ・Ｚ軸）からなる三次元測
定装置の前記ロータリテーブル上のほぼ旋回中心位置の
非真円形状ワークをサンプリングして測定点群データを
作成した後に座標変換計算処理により芯出し調整する方
法において、前記測定点群データによる第１全体形状と
予め入力された理想形状点群データによる第２全体形状
とを同一座標軸上に重ねて表示した粗調整用画面と、前
記測定点群データと理想形状点群データとの差による形
状曲線を表示した微細調整用画面とを選択表示し、操作
者が前記調整用画面又は微細調整用画面を見ながら設定
した調整量により角度調整と偏心調整とを行い誤差を最
小化させるものである。
【０００５】
【作用】非真円形状ワークをロータリテーブル上に載せ
てサンプリングを行い測定点群データを作成し、この測
定点群データによる第１全体形状と、設計上との理想形
状点群データによる第２全体形状とを重ねて表示した粗
調整用画面を見て、角度調整量と偏心調整量とをそれぞ
れ設定し、これを入力して座標変換を行い誤差を小さく
する。こうして誤差が或る程度小さくなった時点で、測
定点群データと理想形状点群データとの差の形状誤差曲
線の微細調整用画面を見て、角度調整量と偏心調整量と
をそれぞれ設定し、これを入力して座標変換を行い次第
に最小誤差に近づける。
てサンプリングを行い測定点群データを作成し、この測
定点群データによる第１全体形状と、設計上との理想形
状点群データによる第２全体形状とを重ねて表示した粗
調整用画面を見て、角度調整量と偏心調整量とをそれぞ
れ設定し、これを入力して座標変換を行い誤差を小さく
する。こうして誤差が或る程度小さくなった時点で、測
定点群データと理想形状点群データとの差の形状誤差曲
線の微細調整用画面を見て、角度調整量と偏心調整量と
をそれぞれ設定し、これを入力して座標変換を行い次第
に最小誤差に近づける。
【０００６】
【実施例】実施例について図１〜図１０を参照して説明
する。図１，図２の円筒座標型三次元測定装置におい
て、枠体１にエアベアリング２により回転可能に支持さ
れた垂直方向の旋回中心軸３の上端にロータリテーブル
４が同心に固着されており、旋回中心軸３の下端にＣ軸
ロータリエンコーダ５の回転軸が同心に嵌着されてい
る。ロータリテーブル４は枠体内に固着のＣ軸パルスモ
ータ６によりベルト７を介して回転され、ロータリテー
ブル４上に台８を介して評価用のカム形状ワークＷが載
置されている。枠体１の後側上にコラム９が立設されて
おり、コラム９の前面に設けられたＺ軸方向のガイド１
１に沿って移動可能にサドル１２が設けられている。サ
ドル１２はコラム９に固着のＺ軸パルスモータ１４によ
りボールねじ１３を介して移動位置決めされ、ガイド１
１と平行に設けられたＺ軸リニアエンコーダ１５により
位置検出が行われるようになっている。
する。図１，図２の円筒座標型三次元測定装置におい
て、枠体１にエアベアリング２により回転可能に支持さ
れた垂直方向の旋回中心軸３の上端にロータリテーブル
４が同心に固着されており、旋回中心軸３の下端にＣ軸
ロータリエンコーダ５の回転軸が同心に嵌着されてい
る。ロータリテーブル４は枠体内に固着のＣ軸パルスモ
ータ６によりベルト７を介して回転され、ロータリテー
ブル４上に台８を介して評価用のカム形状ワークＷが載
置されている。枠体１の後側上にコラム９が立設されて
おり、コラム９の前面に設けられたＺ軸方向のガイド１
１に沿って移動可能にサドル１２が設けられている。サ
ドル１２はコラム９に固着のＺ軸パルスモータ１４によ
りボールねじ１３を介して移動位置決めされ、ガイド１
１と平行に設けられたＺ軸リニアエンコーダ１５により
位置検出が行われるようになっている。
【０００７】サドル１２の前面にＸ軸方向のガイド１６
が設けられており、このガイド１６に沿って移動可能に
スライダ１７が設けられている。スライダ１７はサドル
１２に固着のＸ軸パルスモータ１８によりＸ軸ボールね
じ１９を介して移動位置決めされ、ガイド１６と平行に
設けられＸ軸リニアエンコーダ２１により位置検出が行
われるようになっている。スライダ１７に取付けられて
いる検出器２２は差動トランス型変位形（電気マイク
ロ）が使用され、スライダ１７のＸ軸移動とは別にＸ軸
方向の直線微小変位を検出する。更に枠体１の近傍に演
算用パソコン２３が設置されている。
が設けられており、このガイド１６に沿って移動可能に
スライダ１７が設けられている。スライダ１７はサドル
１２に固着のＸ軸パルスモータ１８によりＸ軸ボールね
じ１９を介して移動位置決めされ、ガイド１６と平行に
設けられＸ軸リニアエンコーダ２１により位置検出が行
われるようになっている。スライダ１７に取付けられて
いる検出器２２は差動トランス型変位形（電気マイク
ロ）が使用され、スライダ１７のＸ軸移動とは別にＸ軸
方向の直線微小変位を検出する。更に枠体１の近傍に演
算用パソコン２３が設置されている。
【０００８】図３は一部三次元測定装置の構成図を含む
制御システムのブロック線図である。三次元測定装置側
の制御装置２４には、Ｃ軸パルスモータ６を駆動するＣ
軸ドライバ２５、検出器２２の出力信号の受け渡しをす
る検出器インタフェイス２６、Ｘ軸パルスモータ１８を
駆動するＸ軸ドライバ２７、Ｘ軸リニアエンコーダ２１
の出力信号の受け渡しを行うＸ軸リニアエンコーダイン
タフェイス２８、Ｃ軸ロータリエンコーダ５の出力信号
の受け渡しをするＣ軸ロータリエンコーダインタフェイ
ス２９がそれぞれ内蔵されている。制御計測用パソコン
２３には、指令及び情報を入力するキーボード入力部３
１、後述の各演算を行う演算処理部３２、演算結果等を
表示する演算結果表示部３３、前記制御装置２４と演算
処理部３２間の信号制御を行う制御処理部３４がそれぞ
れ内蔵されている。
制御システムのブロック線図である。三次元測定装置側
の制御装置２４には、Ｃ軸パルスモータ６を駆動するＣ
軸ドライバ２５、検出器２２の出力信号の受け渡しをす
る検出器インタフェイス２６、Ｘ軸パルスモータ１８を
駆動するＸ軸ドライバ２７、Ｘ軸リニアエンコーダ２１
の出力信号の受け渡しを行うＸ軸リニアエンコーダイン
タフェイス２８、Ｃ軸ロータリエンコーダ５の出力信号
の受け渡しをするＣ軸ロータリエンコーダインタフェイ
ス２９がそれぞれ内蔵されている。制御計測用パソコン
２３には、指令及び情報を入力するキーボード入力部３
１、後述の各演算を行う演算処理部３２、演算結果等を
表示する演算結果表示部３３、前記制御装置２４と演算
処理部３２間の信号制御を行う制御処理部３４がそれぞ
れ内蔵されている。
【０００９】続いて本実施例の作用について説明する。
最初にカム形状ワークＷのサンプリング手順について図
４のフローチャートに従って説明する。ステップＳ１に
おいて、ロータリテーブル回転指令が出て、ロータリテ
ーブル４に単位角度（１°）の回転を実施させ、Ｃ軸ロ
ータリエンコーダ５により回転角を検出する。ステップ
Ｓ２において、電気マイクロ（検出器）２２の検出範囲
（±0.2 ｍｍ）内かが確認され、ＮＯの場合はステップ
Ｓ３において、再び遠いかが確認され、ＮＯの（近い）
場合にはステップＳ４において、Ｘ軸基準量（0.36ｍ
ｍ）だけスライダ１７を遠ざけ、ＹＥＳの場合にはステ
ップＳ５において、Ｘ軸基準量だけ近づけて検出器の測
定範囲内とする。またステップＳ２において、ＹＥＳの
場合にはステップＳ３〜Ｓ５を飛ばす。
最初にカム形状ワークＷのサンプリング手順について図
４のフローチャートに従って説明する。ステップＳ１に
おいて、ロータリテーブル回転指令が出て、ロータリテ
ーブル４に単位角度（１°）の回転を実施させ、Ｃ軸ロ
ータリエンコーダ５により回転角を検出する。ステップ
Ｓ２において、電気マイクロ（検出器）２２の検出範囲
（±0.2 ｍｍ）内かが確認され、ＮＯの場合はステップ
Ｓ３において、再び遠いかが確認され、ＮＯの（近い）
場合にはステップＳ４において、Ｘ軸基準量（0.36ｍ
ｍ）だけスライダ１７を遠ざけ、ＹＥＳの場合にはステ
ップＳ５において、Ｘ軸基準量だけ近づけて検出器の測
定範囲内とする。またステップＳ２において、ＹＥＳの
場合にはステップＳ３〜Ｓ５を飛ばす。
【００１０】次いでステップＳ６において、電気マイク
ロ２２の値を検出器インタフェイス２６を経て制御処理
部３４に読み込み、ステップＳ７において、Ｘ軸リニア
エンコーダ２１の値をインタフェイス２８を経て制御処
理部３４に読み込む。ステップＳ８において、演算処理
部３２にて電気マイクロ２２の値とＸ軸リニアエンコー
ダ２１の和を求めて検出点中心Ｘ座標を算出する。次い
でステップＳ９において、ロータリエンコーダ５の値即
ちワークテーブル４の回転角を読み込み、ステップＳ１
０において点群（Ｘ，Ｃ）の値を登録する。ステップＳ
１１において、１回転（１８０°）完了したかが確認さ
れ、ＮＯの場合にはステップＳ１に戻され、ＹＥＳの場
合にはサンプリング終了となる。
ロ２２の値を検出器インタフェイス２６を経て制御処理
部３４に読み込み、ステップＳ７において、Ｘ軸リニア
エンコーダ２１の値をインタフェイス２８を経て制御処
理部３４に読み込む。ステップＳ８において、演算処理
部３２にて電気マイクロ２２の値とＸ軸リニアエンコー
ダ２１の和を求めて検出点中心Ｘ座標を算出する。次い
でステップＳ９において、ロータリエンコーダ５の値即
ちワークテーブル４の回転角を読み込み、ステップＳ１
０において点群（Ｘ，Ｃ）の値を登録する。ステップＳ
１１において、１回転（１８０°）完了したかが確認さ
れ、ＮＯの場合にはステップＳ１に戻され、ＹＥＳの場
合にはサンプリング終了となる。
【００１１】次にワークの芯出し調整手順について図５
のフローチャートに従って説明する。ステップＳ１２に
おいて、キーボード入力部３１よりの入力指令が粗調整
用画面であるかが確認され、ＹＥＳの場合にはステップ
Ｓ１３において、予め入力された理想形状データにより
理想形状点群の画面を出力し、ステップＳ１４におい
て、前述のサンプリングにて求めた計測データにより計
測点群の画面を出力して例えばＣＲＴ画面上に図６に示
すような同一Ｘ・Ｙ座標軸線上に理想形状と実測形状を
重ねて表示する。そして操作者はこの画面表示を見てス
テップＳ１５において、角度調整するかを判断し、ＹＥ
Ｓの場合にはステップＳ１６において、図７に示すよう
に理想形状と実測形状の芯出し誤差のうち位相のずれだ
けに着目して、取付誤差角θｃの見当を付け、これに近
いと思われる角度調整量をキーボード入力部３１より入
力する。ステップＳ１７において、演算処理部３２内で
テーブル旋回角度θｉに、この入力された角度調整量が
加算され、この演算処理により芯出し角度誤差が小さく
なる。またステップＳ１５においてＮＯと判断した場合
にはステップＳ１６，１７は飛ばされる。
のフローチャートに従って説明する。ステップＳ１２に
おいて、キーボード入力部３１よりの入力指令が粗調整
用画面であるかが確認され、ＹＥＳの場合にはステップ
Ｓ１３において、予め入力された理想形状データにより
理想形状点群の画面を出力し、ステップＳ１４におい
て、前述のサンプリングにて求めた計測データにより計
測点群の画面を出力して例えばＣＲＴ画面上に図６に示
すような同一Ｘ・Ｙ座標軸線上に理想形状と実測形状を
重ねて表示する。そして操作者はこの画面表示を見てス
テップＳ１５において、角度調整するかを判断し、ＹＥ
Ｓの場合にはステップＳ１６において、図７に示すよう
に理想形状と実測形状の芯出し誤差のうち位相のずれだ
けに着目して、取付誤差角θｃの見当を付け、これに近
いと思われる角度調整量をキーボード入力部３１より入
力する。ステップＳ１７において、演算処理部３２内で
テーブル旋回角度θｉに、この入力された角度調整量が
加算され、この演算処理により芯出し角度誤差が小さく
なる。またステップＳ１５においてＮＯと判断した場合
にはステップＳ１６，１７は飛ばされる。
【００１２】次いでステップＳ１８において、偏心調整
するかを判断して、ＹＥＳの場合にはステップＳ１９に
おいて、図８に示すように芯出し誤差のうち偏心誤差だ
けに着目して、芯ずれ量εＸ，εＹの見当を付け、調整
量εＸ´，εＹ´を入力する。次いでステップＳ２０に
おいて、第１計測点群座標変換を行って極座標ｒ，θを
Ｘ，Ｙ座標に変換し、ステップＳ２１において、次式 Ｘｉ´＝Ｘｉ＋εｘ´ Ｙｉ´＝Ｙｉ＋εＹ´ により図９に示すようにＸ，Ｙ座標の点群Ｘｉ，Ｙｉに
対して入力された調整量εＸ´，εＹ´だけ計測点群の
平行移動を行う。但しＸｉ´，Ｙｉ´は平行移動後のＸ
Ｙ座標値。
するかを判断して、ＹＥＳの場合にはステップＳ１９に
おいて、図８に示すように芯出し誤差のうち偏心誤差だ
けに着目して、芯ずれ量εＸ，εＹの見当を付け、調整
量εＸ´，εＹ´を入力する。次いでステップＳ２０に
おいて、第１計測点群座標変換を行って極座標ｒ，θを
Ｘ，Ｙ座標に変換し、ステップＳ２１において、次式 Ｘｉ´＝Ｘｉ＋εｘ´ Ｙｉ´＝Ｙｉ＋εＹ´ により図９に示すようにＸ，Ｙ座標の点群Ｘｉ，Ｙｉに
対して入力された調整量εＸ´，εＹ´だけ計測点群の
平行移動を行う。但しＸｉ´，Ｙｉ´は平行移動後のＸ
Ｙ座標値。
【００１３】次いでステップＳ２２において、第２計測
点群座標軸受変換が行われ、平行移動後の座標軸Ｘｉ
´，Ｙｉ´を次式 ｒｉ＝√（Ｘｉ´2 ＋Ｙｉ´ 2） θｉ＝tan -1（Ｙｉ´／Ｘｉ´） により極座標（ｒ，θ）に戻す。但し極座標の点群数を
ｎとすれば、１≦ｉ＜ｎとなる。またステップＳ１８に
おいて、ＮＯの場合はステップＳ９〜Ｓ２２の間が飛ば
される。
点群座標軸受変換が行われ、平行移動後の座標軸Ｘｉ
´，Ｙｉ´を次式 ｒｉ＝√（Ｘｉ´2 ＋Ｙｉ´ 2） θｉ＝tan -1（Ｙｉ´／Ｘｉ´） により極座標（ｒ，θ）に戻す。但し極座標の点群数を
ｎとすれば、１≦ｉ＜ｎとなる。またステップＳ１８に
おいて、ＮＯの場合はステップＳ９〜Ｓ２２の間が飛ば
される。
【００１４】ステップＳ２３において、誤差最小かが確
認され、ＹＥＳのときは終了する。またＮＯの場合はス
テップＳ１２に戻され再び粗調整用画面が必要かが確認
される。そして微細調整用画面が所望の場合にはＮＯと
なりステップＳ２４において、入力された理想形状デー
タとスキャニングして得られた実測形状の差即ち理想値
と実測値の誤差を算出し、ステップＳ２５において、こ
の誤差を図１０に示すような形状誤差曲線として表示す
る。次いでステップＳ１５において、操作者はこの表示
を見て角度調整が必要かを判断し、以下前述と同様の調
整を行い、ステップＳ２３において誤差最小と確認され
るまで繰り返し調整が行われる。
認され、ＹＥＳのときは終了する。またＮＯの場合はス
テップＳ１２に戻され再び粗調整用画面が必要かが確認
される。そして微細調整用画面が所望の場合にはＮＯと
なりステップＳ２４において、入力された理想形状デー
タとスキャニングして得られた実測形状の差即ち理想値
と実測値の誤差を算出し、ステップＳ２５において、こ
の誤差を図１０に示すような形状誤差曲線として表示す
る。次いでステップＳ１５において、操作者はこの表示
を見て角度調整が必要かを判断し、以下前述と同様の調
整を行い、ステップＳ２３において誤差最小と確認され
るまで繰り返し調整が行われる。
【００１５】
【発明の効果】本発明は上述のとおり構成されているの
で次に記載する効果を奏する。粗調整用画面と微細調整
用画面とを選択表示し、画面を見ながら調整量を設定し
て入力し、角度調整と偏心調整をそれぞれ行うようにし
たので、半径差の大きいカム形状の芯出しが迅速かつ確
実に実施できる。また連続してワーク測定を行う場合、
次のワーク測定時に平行してワーク芯出し誤差調整を行
うことができ能率が向上する。
で次に記載する効果を奏する。粗調整用画面と微細調整
用画面とを選択表示し、画面を見ながら調整量を設定し
て入力し、角度調整と偏心調整をそれぞれ行うようにし
たので、半径差の大きいカム形状の芯出しが迅速かつ確
実に実施できる。また連続してワーク測定を行う場合、
次のワーク測定時に平行してワーク芯出し誤差調整を行
うことができ能率が向上する。
【図１】本実施例の円筒座標型三次元測定装置の斜視姿
図である。
図である。
【図２】円筒座標型三次元測定装置の構造図である。
【図３】一部測定装置の構成図を含む制御システムのブ
ロック線図である。
ロック線図である。
【図４】本実施例のサンプリング動作説明用のフローチ
ャート図である。
ャート図である。
【図５】本実施例の芯出し調整動作説明用フローチャー
ト図である。
ト図である。
【図６】実測形状と理想形状とを重ねて表示した粗調整
用画面の例を示す説明図である。
用画面の例を示す説明図である。
【図７】実測形状と理想形状の誤差のうち角度誤差だけ
に着目した想定図である。
に着目した想定図である。
【図８】実測形状と理想形状の誤差のうち偏心誤差だけ
に着目した想定図である。
に着目した想定図である。
【図９】偏心誤差調整時の入力調整量によるＸ，Ｙ座標
値の平行移動の説明図である。
値の平行移動の説明図である。
【図１０】誤差を表示した微細調整用画面の例を示す説
明図である。
明図である。
【図１１】従来の技術の円筒座標形三次元測定装置の斜
視姿図である。
視姿図である。
４ ロータリテーブル ５ ロー
タリエンコーダ ６ Ｃ軸パルスモータ １７ ス
ライダ １８ Ｘ軸パルスモータ ２２ 検
出器 ２３ 演算用パソコン ２４ 制
御装置 Ｗ カム形状ワーク
タリエンコーダ ６ Ｃ軸パルスモータ １７ ス
ライダ １８ Ｘ軸パルスモータ ２２ 検
出器 ２３ 演算用パソコン ２４ 制
御装置 Ｗ カム形状ワーク
Claims (1)
- 【請求項１】 ロータリテーブル（Ｃ軸）と直交二直線
案内軸（Ｘ・Ｚ軸）からなる三次元測定装置の前記ロー
タリテーブル上のほぼ旋回中心位置の非真円形状ワーク
をサンプリングして測定点群データを作成した後に座標
変換計算処理により芯出し調整する方法において、前記
測定点群データによる第１全体形状と予め入力された理
想形状点群データによる第２全体形状とを同一座標軸上
に重ねて表示した粗調整用画面と、前記測定点群データ
と理想形状点群データとの差による形状誤差曲線を表示
した微細調整用画面とを選択表示し、操作者が前記粗調
整用画面又は微細調整用画面を見ながら設定した調整量
により角度調整と偏心調整とを行い誤差を最小化させる
ことを特徴とする円筒座標型三次元測定装置における非
真円形状ワークの芯出し調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8762392A JP2665574B2 (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | 円筒座標型三次元測定装置における非真円形状ワークの芯出し調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8762392A JP2665574B2 (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | 円筒座標型三次元測定装置における非真円形状ワークの芯出し調整方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05253795A JPH05253795A (ja) | 1993-10-05 |
| JP2665574B2 true JP2665574B2 (ja) | 1997-10-22 |
Family
ID=13920105
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8762392A Expired - Lifetime JP2665574B2 (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | 円筒座標型三次元測定装置における非真円形状ワークの芯出し調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2665574B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100470186C (zh) * | 2007-09-28 | 2009-03-18 | 淮阴工学院 | 触针式三维粗糙度测量仪的三维工作台 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5434649B2 (ja) * | 2010-02-12 | 2014-03-05 | 株式会社ジェイテクト | 工作機械の誤差表示装置 |
| CN103394970B (zh) * | 2012-09-26 | 2016-11-09 | 上海埃斯凯变压器有限公司 | 直驱式r型变压器曲线开料机伺服进刀系统 |
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-
1992
- 1992-03-11 JP JP8762392A patent/JP2665574B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05253795A (ja) | 1993-10-05 |
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