JP2658377B2 - Waveform display device - Google Patents

Waveform display device

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JP2658377B2
JP2658377B2 JP9841489A JP9841489A JP2658377B2 JP 2658377 B2 JP2658377 B2 JP 2658377B2 JP 9841489 A JP9841489 A JP 9841489A JP 9841489 A JP9841489 A JP 9841489A JP 2658377 B2 JP2658377 B2 JP 2658377B2
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秀之 牧谷
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Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は、離散的にサンプリングされた波形データに
基づいて波形を再生表示する波形表示装置に関するもの
であり、詳しくは、自動設定モードにおけるエイリアシ
ング(aliasing)の検出に関するものである。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a waveform display device that reproduces and displays a waveform based on discretely sampled waveform data, and more particularly, to aliasing in an automatic setting mode. (Aliasing) detection.

<従来の技術> 例えばデジタルオシロスコープで繰返し信号を測定表
示するのにあたって、入力波形に対して垂直軸感度(V/
div),水平時間軸感度(T/div),トリガレベルなどが
適切に設定されていないと、第7図に示すように観測不
可能な画面になることがある。
<Conventional technology> For example, when measuring and displaying a repetitive signal with a digital oscilloscope, the vertical axis sensitivity (V /
div), the horizontal time axis sensitivity (T / div), the trigger level, and the like are not properly set, and the screen may become unobservable as shown in FIG.

そこで、第8図に示すように、入力波形が表示画面の
波形表示領域の中央付近に数周期分表示されるように自
動設定することが行われている。
Therefore, as shown in FIG. 8, automatic setting is performed so that the input waveform is displayed for several cycles near the center of the waveform display area of the display screen.

ここで、垂直軸感度は、電圧感度およびオフセットを
順次切り換えることにより最適値に設定できる。
Here, the vertical axis sensitivity can be set to an optimum value by sequentially switching the voltage sensitivity and the offset.

一方、水平時間軸感度も時間感度を順次切り換えるこ
とにより最適値に設定できるが、エイリアシングも検出
しないと第9図に示すように間違った時間軸感度で入力
波形を表示してしまう恐れがある。第9図において、実
線Aは入力波形を示し、○印はサンプル点を示し、破線
Bはエイリアシングを起こしている表示波形を示してい
る。このようなエイリアシングは、入力波形を周波数fi
とし、サンプルクロックの周波数をfsとしたとき、2・
fi>fsの場合に発生する。
On the other hand, the horizontal time axis sensitivity can be set to an optimum value by sequentially switching the time sensitivity. However, if aliasing is not detected, there is a possibility that an input waveform is displayed with an incorrect time axis sensitivity as shown in FIG. In FIG. 9, a solid line A indicates an input waveform, a circle indicates a sample point, and a broken line B indicates a display waveform in which aliasing occurs. Such aliasing reduces the input waveform to the frequency f i
And then, when the frequency of the sample clock was set to f s, 2 ·
occur in the case of f i> f s.

ところで、従来、このようなエイリアシング発生の有
無は、以下に説明するように、トリガレベルとトリガ点
のデータおよびトリガ点の1つ前のデータの関係に基づ
いて検出されていた。
Conventionally, whether or not such aliasing has occurred has been detected based on the relationship between the trigger level, the data at the trigger point, and the data immediately before the trigger point, as described below.

例えば、第10図に示すような周波数が5Hzで振幅が±2
Vの正弦波の入力信号の波形データをサンプルレート100
0sps(毎秒1000回のサンプリング)で取り込み、第11図
に示すように1000点の波形データで5周期分表示してい
るものとする。なお、トリガレベルは0V、立ち上がりの
トリガ点は、500点目とする。第12図は第11図のトリガ
点近傍を示す矩形部分の拡大図である。第12図におい
て、トリガレベル0Vを横切った次のデータをトリガ点と
すると、その前のデータPはトリガレベルよりも下にな
る。
For example, as shown in FIG. 10, the frequency is 5 Hz and the amplitude is ± 2
Sample rate 100 for waveform data of V sine wave input signal
It is assumed that the data is captured at 0 sps (1000 samplings per second) and displayed as waveform data of 1000 points for five periods as shown in FIG. Note that the trigger level is 0 V and the rising trigger point is the 500th point. FIG. 12 is an enlarged view of a rectangular portion showing the vicinity of the trigger point in FIG. In FIG. 12, assuming that the next data that crosses the trigger level 0V is the trigger point, the data P before that falls below the trigger level.

これに対し、第13図に示すような周波数が995Hzで振
幅が±2Vの正弦波の入力信号の波形データをサンプルレ
ート1000sps(毎秒1000回のサンプリング)で取り込ん
で1000点の波形データで5周期分表示した場合にも、第
14図に示すように第11図と同様な表示波形になる。この
場合には、トリガ点とその1つ前のデータがトリガレベ
ルを横切っているかいないかに基づいてエイリアシング
発生の有無を検出できる。トリガ点とその1つ前のデー
タがトリガレベルを横切る確率は、波形の立ち上がりが
5回トリガレベルを横切ることから、5/1000=1/200に
なる。そして、n回測定してn回とも横切る確率は(1/
200)となり、エイリアシング検出を失敗する確率は
小さくなる。
In contrast, the waveform data of a sine wave input signal with a frequency of 995 Hz and an amplitude of ± 2 V as shown in Fig. 13 is captured at a sample rate of 1000 sps (1000 samplings per second), and the waveform data of 1000 points is 5 periods. When displaying minutes,
As shown in FIG. 14, the display waveform is similar to that of FIG. In this case, the presence or absence of the occurrence of aliasing can be detected based on whether or not the trigger point and the immediately preceding data cross the trigger level. The probability that the trigger point and the immediately preceding data cross the trigger level is 5/1000 = 1/200 because the rising edge of the waveform crosses the trigger level five times. Then, the probability of measuring n times and crossing all n times is (1 /
200) n , the probability of failing the aliasing detection is reduced.

ところで、トリガ点はトリガレベルによって決まる。
そして、トリガ点と1つ前のデータPのレベルは、入力
波形をサンプリングするA/D変換器の出力データから判
断される。
Incidentally, the trigger point is determined by the trigger level.
The level of the data P immediately before the trigger point is determined from the output data of the A / D converter that samples the input waveform.

このために、第15図に示すようにトリガレベルの0Vと
A/D変換器の0Vがずれていると、エイリアシングを起こ
していないにも拘らず起こしていると判断したり、逆
に、エイリアシングを起こしているにも拘らず起こして
いないと判断することがある。
For this reason, as shown in FIG.
If the A / D converter is off by 0V, it may be determined that aliasing has occurred but has not occurred, or conversely, that aliasing has occurred but has not occurred. is there.

すなわち、従来のようなエイリアシング検出にあたっ
ては、設定されるトリガレベルとA/D変換器の出力デー
タレベルを一致させなければならない。
That is, in detecting the aliasing as in the related art, the set trigger level must match the output data level of the A / D converter.

<発明が解決しようとする課題> しかし、このように設定されるトリガレベルとA/D変
換器の出力データレベルを一致させるためには高精度の
回路を構成しなければならず、部品コストが高くなる。
<Problems to be Solved by the Invention> However, in order to match the trigger level set in this way with the output data level of the A / D converter, a high-precision circuit must be configured, and component costs are reduced. Get higher.

また、回路の調整にもかなりの工数が必要になる。 Also, considerable man-hours are required for circuit adjustment.

また、経年変化によってエイリアシング検出を誤る恐
れもある。
In addition, there is a possibility that aliasing detection may be erroneously performed due to aging.

本発明は、このような点に着目したものであり、その
目的は、設定されるトリガレベルとA/D変換器の出力デ
ータにずれがある場合にも高い確率でエイリアシング発
生の有無が識別できる波形表示装置を提供することにあ
る。
The present invention focuses on such a point, and its purpose is to identify with high probability whether or not aliasing has occurred even when there is a difference between the set trigger level and the output data of the A / D converter. It is to provide a waveform display device.

<課題を解決するための手段> 本発明の波形表示装置は、 A/D変換器により離散的にサンプリングされた波形デ
ータに基づいて波形を再生表示する波形表示装置におい
て、 トリガ点の波形データの電圧とトリガ点の1つ前の波
形データの電圧が、前記A/D変換器の出力データレベル
を中心にして前記A/D変換器の出力データレベルとトリ
ガレベルとの最大許容電圧差よりも大きい値に設定され
たエイリアシング検出レベル範囲に入るか否かに基づい
てエイリアシング発生の有無を検出するエイリアシング
検出手段を設けたことを特徴とする。
<Means for Solving the Problems> A waveform display device according to the present invention is a waveform display device that reproduces and displays a waveform based on waveform data discretely sampled by an A / D converter. The voltage and the voltage of the waveform data immediately before the trigger point are larger than the maximum allowable voltage difference between the output data level of the A / D converter and the trigger level around the output data level of the A / D converter. Aliasing detection means is provided for detecting whether or not aliasing has occurred based on whether or not the value falls within an aliasing detection level range set to a large value.

<作用> 本発明におけるエイリアシング検出は、トリガ点の波
形データの電圧とトリガ点の1つ前の波形データの電圧
が、A/D変換器の出力データレベルを中心にしてA/D変換
器の出力データレベルとトリガレベルとの差よりも大き
く設定されたレベル範囲に入るか否かに基づいて行われ
る。
<Operation> In the aliasing detection according to the present invention, the voltage of the waveform data at the trigger point and the voltage of the waveform data immediately before the trigger point are determined based on the output data level of the A / D converter. This is performed based on whether or not the difference falls within a set level range that is larger than the difference between the output data level and the trigger level.

これにより、A/D変換器の出力データレベルとトリガ
レベルとがずれていても、エイリアシング検出に失敗す
る確率は小さくなる。
As a result, even if the output data level of the A / D converter is different from the trigger level, the probability that the aliasing detection fails will be reduced.

<実施例> 以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明す
る。
<Example> Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は、本発明の一実施例を示す構成説明図であ
る。図において、入力信号はトリガ回路1およびA/D変
換器2に加えられている。トリガ回路1には演算制御部
(CPU)3からトリガレベル,トリガ遅延時間などが設
定される。A/D変換器2の出力データは、データメモリ
4に格納される。なお、A/D変換器2のレンジは演算制
御部3により設定される。データメモリ4に格納された
波形データはCRTなどの表示器を含む表示部5に読み出
されて表示される。キーボード6は演算制御部3に測定
条件,メモリ条件,表示条件などを設定する。RAM7はシ
ステムメモリとして用いられる。ROM8には制御プログラ
ムが格納されていて、その一部にはトリガ回路1で設定
されるトリガレベルとA/D変換器2の出力データレベル
との差の最大許容値よりも大きなエイリアシング検出範
囲データが格納されている。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. In the figure, an input signal is applied to a trigger circuit 1 and an A / D converter 2. A trigger level, a trigger delay time, and the like are set in the trigger circuit 1 from an arithmetic control unit (CPU) 3. Output data of the A / D converter 2 is stored in the data memory 4. Note that the range of the A / D converter 2 is set by the arithmetic control unit 3. The waveform data stored in the data memory 4 is read out and displayed on a display unit 5 including a display such as a CRT. The keyboard 6 sets measurement conditions, memory conditions, display conditions, and the like in the arithmetic control unit 3. The RAM 7 is used as a system memory. A control program is stored in the ROM 8, and a part thereof includes aliasing detection range data larger than a maximum allowable value of a difference between a trigger level set by the trigger circuit 1 and an output data level of the A / D converter 2. Is stored.

このような構成において、トリガ回路1はトリガ条件
が成立して表示すべき1フレーム分の波形データがデー
タメモリ4に格納された時点でA/D変換器2に制御信号
を出力し、データメモリ4への波形データの書込みを中
止させる。そして、データメモリ4に格納された1フレ
ーム分の波形データを表示部5に表示する。
In such a configuration, the trigger circuit 1 outputs a control signal to the A / D converter 2 when the trigger condition is satisfied and one frame of waveform data to be displayed is stored in the data memory 4, and the data memory The writing of the waveform data to No. 4 is stopped. Then, the waveform data for one frame stored in the data memory 4 is displayed on the display unit 5.

一方、演算制御部3はデータメモリ4に格納されてい
る波形データを取り込み、トリガ回路1により設定され
るトリガデータおよびROM8に格納されているエイリアシ
ング検出範囲データに基づいてエイリアシング発生の有
無を検出する。
On the other hand, the arithmetic control unit 3 captures the waveform data stored in the data memory 4 and detects whether or not aliasing has occurred based on the trigger data set by the trigger circuit 1 and the aliasing detection range data stored in the ROM 8. .

第2図は第1図の装置の全体の動作の流れを示すフロ
ーチャートである。すなわち、キーボード6に設けられ
ている自動設定キーが押されることにより、ステップ
(1)において電圧感度を最大レンジに設定する。そし
て、任意のサンプルレートで1フレームの測定を行った
後(ステップ(2))、設定レンジおよびオフセットが
最適か否かを判断する(ステップ(3))。これらが最
適でない場合には、最適状態になるようにレンジ,オフ
セットおよびトリガレベルを変更する(ステップ
(4))。設定レンジおよびオフセットが最適に設定さ
れたらサンプルレートを最低速度に設定し(ステップ
(5))、1フレームの測定を行う(ステップ
(6))。続いて、1フレームに表示される波形が5周
期以下か否かを判断する(ステップ(7))。5周期以
下でない場合には5周期になるまでサンプルレートを1
段ずつ速くする(ステップ(8))。表示波形が5周期
以下になったら、エイリアシングの判定を行う(ステッ
プ(9))。そして、エイリアシングが発生しているか
否かを判断する(ステップ(10))。エイリアシングが
発生している場合にはエイリアシングが発生しなくなる
までサンプルレートを1段ずつ速くし(ステップ
(8))、エイリアシングが発生しなくなった時点で自
動設定動作が終了する。
FIG. 2 is a flowchart showing the flow of the entire operation of the apparatus shown in FIG. That is, when the automatic setting key provided on the keyboard 6 is pressed, the voltage sensitivity is set to the maximum range in step (1). After measuring one frame at an arbitrary sample rate (step (2)), it is determined whether the set range and the offset are optimal (step (3)). If they are not optimal, the range, offset and trigger level are changed so as to be in an optimal state (step (4)). When the set range and offset are optimally set, the sample rate is set to the minimum speed (step (5)), and one frame is measured (step (6)). Subsequently, it is determined whether the waveform displayed in one frame is equal to or less than five periods (step (7)). If it is not less than 5 cycles, set the sample rate to 1 until 5 cycles
Speed up step by step (step (8)). When the display waveform becomes five cycles or less, the aliasing is determined (step (9)). Then, it is determined whether or not aliasing has occurred (step (10)). If aliasing has occurred, the sample rate is increased by one step until aliasing does not occur (step (8)), and the automatic setting operation ends when aliasing does not occur.

第3図は、第2図のフローチャートのステップ(9)
におけるエイリアシングの判定動作の流れを示すフロー
チャートである。ステップ(1)で測定されデータメモ
リ4に格納された1フレームの波形データの中から、ト
リガ点のデータDtを読み出す(ステップ(2))ととも
にトリガ点よりも1つ前のデータDPを読み出す(ステッ
プ(3))。その後、トリガ回路1により設定されるト
リガレベル電圧T[V]およびROM8から読み出されるエ
イリアシング検出範囲電圧±A[V]に基づいて、トリ
ガ点のデータDtについて、 (T−A)≦Dt≦(T+A) で表される条件が成立するか否かの判断を行う(ステッ
プ(4))。ここで、この条件が成立しない場合にはエ
イリアシングが発生しているものと判定する(ステップ
(5))。一方、ステップ(4)の条件が成立する場合
には、トリガ点よりも1つ前のデータDPについて、 (T−A)≦Dp≦(T+A) で表される条件が成立するか否かの判断を行う(ステッ
プ(6))。ここで、この条件が成立しない場合にはエ
イリアシングが発生しているものと判定する(ステップ
(5))。一方、ステップ(6)の条件も成立する場合
には、このような一連の動作を複数n回繰返す(ステッ
プ(7))。n回実行した結果においてもステップ
(6)の条件が成立する場合にはエイリアシングは発生
していないものと判定する。
FIG. 3 shows a step (9) in the flowchart of FIG.
5 is a flowchart showing a flow of an aliasing determination operation in the embodiment. From the measured waveform data of one frame stored in the data memory 4 in step (1), reads out the data D t of the trigger point (step (2)) of data D P of the previous trigger point Read (step (3)). Then, based on the trigger level voltage T set by the trigger circuit 1 [V] and read from ROM8 aliasing detection range voltage ± A [V], the data D t of the trigger points, (T-A) ≦ D t It is determined whether a condition represented by ≤ (T + A) is satisfied (step (4)). If this condition is not satisfied, it is determined that aliasing has occurred (step (5)). On the other hand, if the condition of step (4) is satisfied, it is determined whether or not the condition represented by (T−A) ≦ D p ≦ (T + A) is satisfied for the data DP immediately before the trigger point. Is determined (step (6)). If this condition is not satisfied, it is determined that aliasing has occurred (step (5)). On the other hand, when the condition of step (6) is also satisfied, such a series of operations is repeated a plurality of times n (step (7)). If the condition of step (6) is satisfied even after the execution of n times, it is determined that aliasing has not occurred.

第4図は、第3図のフローチャートの動作においてエ
イリアシングが発生していない場合の動作説明図であ
る。トリガ回路1で設定されるトリガレベル電圧T
[V]は、内部ではA/D変換器2の出力データレベル電
圧T[V]に換算して扱われる。すなわち第4図におい
て、実線はトリガ回路1で設定されるトリガレベルT
[V]を表し、破線はA/D変換器23の変換出力における
トリガレベルT[V]を表している。そして、上限値T
+Aおよび下限値T−AはA/D変換器23の出力データレ
ベルに換算して表したものである。ここで、エイリアシ
ング検出範囲電圧±Aは、前述のようにトリガレベル電
圧とA/D変換器23の出力データレベル電圧との最大許容
電圧差よりも大きく設定されている。従って、エイリア
シングが発生していない場合には、DtおよびDPともに必
ず(T−A)〜(T+A)の間に入ることになる。
FIG. 4 is an operation explanatory diagram in a case where aliasing does not occur in the operation of the flowchart of FIG. Trigger level voltage T set by trigger circuit 1
[V] is internally converted to the output data level voltage T [V] of the A / D converter 2 and handled. That is, in FIG. 4, the solid line indicates the trigger level T set by the trigger circuit 1.
[V], and a broken line indicates a trigger level T [V] at the conversion output of the A / D converter 23. And the upper limit T
The value + A and the lower limit value TA are expressed in terms of the output data level of the A / D converter 23. Here, the aliasing detection range voltage ± A is set to be larger than the maximum allowable voltage difference between the trigger level voltage and the output data level voltage of the A / D converter 23 as described above. Therefore, if the aliasing does not occur, it will enter between D t and D P both sure of (T-A) ~ (T + A).

第5図は、第3図のフローチャートの動作においてエ
イリアシングが発生している場合の動作説明図である。
図において、Aは入力波形を示し、Bは表示波形を示し
ている。ここで、入力波形Aの確率密度分布を一様とす
ると、DtおよびDPが(T−A)〜(T+A)の間に入る
確率Pは、 になる。入力波形の確率密度分布により、DtおよびDP
(T−A)〜(T+A)の間に入る確率Pは上式以外に
なるが、P<1である。仮に、P=1/5として、10回繰
返すと、10回ともDtおよびDPが(T−A)〜(T+A)
の間に入る確率Pは(1/5)になり、エイリアシング
検出に失敗する確率は小さくなる。
FIG. 5 is an operation explanatory diagram when aliasing has occurred in the operation of the flowchart of FIG.
In the figure, A indicates an input waveform, and B indicates a display waveform. Here, when a uniform probability density distribution of the input waveform A, the probability P that falls between D t and D P is (T-A) ~ (T + A) is become. According to the probability density distribution of the input waveform, the probability P that Dt and Dp fall between (TA) to (T + A) is other than the above equation, but P <1. If, as P = 1/5, when repeated 10 times, with 10 times D t and D P is (T-A) ~ (T + A)
Becomes P (1/5) m , and the probability that the aliasing detection fails will be small.

なお、方形波では、第6図に示すようにトリガ点の電
圧と1つ前の電圧の差が大きい場合が普通である。この
場合、従来のエイリアシング検出でも実用上は問題ない
ため、方形波以外のその他の各種の入力波形に対応でき
るようにするには従来のエイリアシング検出と本発明の
構成を併用すればよく、これによりエイリアシング検出
に失敗する確率を改善できる。
In the case of a square wave, as shown in FIG. 6, the difference between the voltage at the trigger point and the immediately preceding voltage is usually large. In this case, the conventional aliasing detection does not pose a problem in practical use.In order to cope with various other input waveforms other than the square wave, the conventional aliasing detection and the configuration of the present invention may be used in combination. The probability that aliasing detection fails can be improved.

また、上記実施例では、上記波形を5周期分表示させ
るものとしたが、適宜増減してもよい。
Further, in the above-described embodiment, the waveform is displayed for five periods, but may be appropriately increased or decreased.

また、エイリアシングの検出はソフトウェア処理によ
り行うようにしてもよいし、ゲートアレーなどの電子回
路で行うようにしてもよい。
The detection of aliasing may be performed by software processing, or may be performed by an electronic circuit such as a gate array.

また、トリガ点をトリガレベルを横切る前の波形デー
タとしその1つ後の波形データを用いてエイリアシング
検出を行うようにしてもよい。
Alternatively, the trigger point may be set to the waveform data before crossing the trigger level, and the aliasing detection may be performed using the waveform data immediately after the trigger point.

さらに、エイリアシング検出を行う回数nは任意に設
定すればよい。
Further, the number of times n for performing the aliasing detection may be set arbitrarily.

<発明の効果> 以上説明したように、本発明によれば、設定されるト
リガレベルとA/D変換器の出力データにずれがある場合
にも高い確率でエイリアシング発生の有無が識別でき、
部品費が安くなる、製造時の調整工数が削減できる、経
年変化によるエイリアシング検出ミスが防止できるなど
の効果が得られる。
<Effects of the Invention> As described above, according to the present invention, even if there is a difference between the set trigger level and the output data of the A / D converter, the presence or absence of aliasing can be identified with high probability,
The effects of reducing the cost of parts, reducing the number of adjustment steps during manufacturing, and preventing aliasing detection errors due to aging can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す構成説明図、第2図お
よび第3図は第1図の動作の流れを示すフローチャー
ト、第4図はエイリアシングが発生していない場合の動
作説明図、第5図はエイリアシングが発生している場合
の動作説明図、第6図は方形波入力の動作説明図、第7
図は自動設定動作前の表示例図、第8図は自動設定後の
表示例図、第9図はエイリアシングの説明図、第10図〜
第12図は入力周波数が5Hzの場合の動作説明図、第13
図,第14図は入力周波数が995Hzの場合の動作説明図、
第15図はトリガレベルとA/D変換器の出力データにレベ
ル差がある場合の動作説明図である。 1……トリガ回路、2……A/D変換器、3……演算制御
部(CPU)、4……データメモリ、5……表示部、6…
…キーボード、7……RAM、8……ROM。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, FIGS. 2 and 3 are flowcharts showing the flow of the operation of FIG. 1, and FIG. 4 is an explanatory diagram of the operation when no aliasing occurs. , FIG. 5 is an explanatory diagram of the operation when aliasing occurs, FIG. 6 is an explanatory diagram of the operation of square wave input, FIG.
Fig. 8 is a display example before the automatic setting operation, Fig. 8 is a display example after the automatic setting, Fig. 9 is an explanatory diagram of the aliasing, Figs.
FIG. 12 is an explanatory diagram of the operation when the input frequency is 5 Hz, and FIG.
Fig. 14, Fig. 14 is an explanatory diagram of the operation when the input frequency is 995Hz,
FIG. 15 is an operation explanatory diagram when there is a level difference between the trigger level and the output data of the A / D converter. 1 Trigger circuit 2, A / D converter 3, Operation control unit (CPU) 4, Data memory 5, Display unit 6,
... keyboard, 7 ... RAM, 8 ... ROM.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】A/D変換器により離散的にサンプリングさ
れた波形データに基づいて波形を再生表示する波形表示
装置において、 トリガ点の波形データの電圧とトリガ点の1つ前の波形
データの電圧が、前記A/D変換器の出力データレベルを
中心にして前記A/D変換器の出力データレベルとトリガ
レベルとの最大許容電圧差よりも大きい値に設定された
エイリアシング検出レベル範囲に入るか否かに基づいて
エイリアシング発生の有無を検出するエイリアシング検
出手段を設けたことを特徴とする波形表示装置。
A waveform display device for reproducing and displaying a waveform based on waveform data discretely sampled by an A / D converter, comprising: a voltage of a waveform data at a trigger point and a waveform data of a waveform data immediately before the trigger point. The voltage falls within an aliasing detection level range set to a value larger than the maximum allowable voltage difference between the output data level of the A / D converter and the trigger level around the output data level of the A / D converter. A waveform display device comprising an aliasing detecting means for detecting whether or not aliasing has occurred based on whether or not the waveform has occurred.
JP9841489A 1989-04-18 1989-04-18 Waveform display device Expired - Lifetime JP2658377B2 (en)

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