JP2650587B2 - 糸欠陥検出方法 - Google Patents
糸欠陥検出方法Info
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- JP2650587B2 JP2650587B2 JP4304942A JP30494292A JP2650587B2 JP 2650587 B2 JP2650587 B2 JP 2650587B2 JP 4304942 A JP4304942 A JP 4304942A JP 30494292 A JP30494292 A JP 30494292A JP 2650587 B2 JP2650587 B2 JP 2650587B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、多数の紡績ユニットか
らなる紡績機における糸ムラを検出する紡績機の管理装
置に係わり、特に短くて極太の糸欠陥を正確に検出でき
る糸欠陥検出方法に関する。
らなる紡績機における糸ムラを検出する紡績機の管理装
置に係わり、特に短くて極太の糸欠陥を正確に検出でき
る糸欠陥検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】多数の紡績ユニットからなる紡績機の１
つとして空気紡績機があり、例えば特開平２─２２１４
２７号公報の第３図及び第４図に示されるものがある。
この空気紡績機について図９、図１０に基づき説明す
る。図９は各紡績ユニットにおける要部を示す図であ
る。図９において、２４はバックローラ、２５はミドル
ローラ、２６はフロントローラであり、ミドルローラ２
５には無端状のゴムベルトであるエプロン２７が巻回さ
れている。各ローラ２４、２５、２６はそれぞれが上位
のトップローラと下位のボトムローラとからなり、スラ
イバＳのドラフトを行う。２８は空気噴射ノズルであ
り、フロントローラ２６を出たスライバＳを加撚して紡
績糸Ｙを製造する。２９は紡績ノズル２８から糸を引き
出すデリベリローラ、１１は糸Ｙの太さの変動を検出し
て糸ムラ信号を出力する光電変換式の糸ムラ検出器すな
わちスラブキャッチャである。なお、下方フロントロー
ラ２６ａ近くに設けられたセンサ３６によって糸速度が
検出される。この糸速度は紡績機全体として図示されな
いマスターコンピュータで制御される。
つとして空気紡績機があり、例えば特開平２─２２１４
２７号公報の第３図及び第４図に示されるものがある。
この空気紡績機について図９、図１０に基づき説明す
る。図９は各紡績ユニットにおける要部を示す図であ
る。図９において、２４はバックローラ、２５はミドル
ローラ、２６はフロントローラであり、ミドルローラ２
５には無端状のゴムベルトであるエプロン２７が巻回さ
れている。各ローラ２４、２５、２６はそれぞれが上位
のトップローラと下位のボトムローラとからなり、スラ
イバＳのドラフトを行う。２８は空気噴射ノズルであ
り、フロントローラ２６を出たスライバＳを加撚して紡
績糸Ｙを製造する。２９は紡績ノズル２８から糸を引き
出すデリベリローラ、１１は糸Ｙの太さの変動を検出し
て糸ムラ信号を出力する光電変換式の糸ムラ検出器すな
わちスラブキャッチャである。なお、下方フロントロー
ラ２６ａ近くに設けられたセンサ３６によって糸速度が
検出される。この糸速度は紡績機全体として図示されな
いマスターコンピュータで制御される。
【０００３】図１０は糸ムラ検出器の詳細図である。図
１０において、糸ムラ検出器すなわちスラブキャッチャ
１１は発光ダイオード３０とフォトトランジスタ３１か
らなり、発光ダイオード３０から送光される光量をフォ
トトランジスタ３１により検出し、その検出した光量を
端子間の電気変位として出力する方式の、高感度で応答
性が高い検出器１１であり、スラブが遭遇して、極めて
大きな電気量の変位を検出すると、その信号によって切
断装置３２が働いてその箇所で糸Ｙを切断するようにな
っているのであるが、この糸ムラ検出器すなわちスラブ
キャッチャ１１からの電気信号は糸ムラ解析信号として
利用される。
１０において、糸ムラ検出器すなわちスラブキャッチャ
１１は発光ダイオード３０とフォトトランジスタ３１か
らなり、発光ダイオード３０から送光される光量をフォ
トトランジスタ３１により検出し、その検出した光量を
端子間の電気変位として出力する方式の、高感度で応答
性が高い検出器１１であり、スラブが遭遇して、極めて
大きな電気量の変位を検出すると、その信号によって切
断装置３２が働いてその箇所で糸Ｙを切断するようにな
っているのであるが、この糸ムラ検出器すなわちスラブ
キャッチャ１１からの電気信号は糸ムラ解析信号として
利用される。
【０００４】この糸ムラ検出器からの電気信号は、従来
は一般的に以下のように解析されていた。すなわち、こ
の電気信号をデジタル化した後、フーリエ変換または一
定区間の積分処理をする。フーリエ変換された信号はス
ペトル分析され、そのピーク部分の周波数によって周期
的な糸ムラが紡績ユニットのどのローラによって引き起
こされたかを特定する。このスペトル分析結果は主とし
て紡績機のメンテナンス情報として用いられ、これによ
って、紡績機のメンテナンスが図られる。また、積分処
理された信号は非周期的な糸ムラの総量を示し、糸の品
質情報として用いられる。
は一般的に以下のように解析されていた。すなわち、こ
の電気信号をデジタル化した後、フーリエ変換または一
定区間の積分処理をする。フーリエ変換された信号はス
ペトル分析され、そのピーク部分の周波数によって周期
的な糸ムラが紡績ユニットのどのローラによって引き起
こされたかを特定する。このスペトル分析結果は主とし
て紡績機のメンテナンス情報として用いられ、これによ
って、紡績機のメンテナンスが図られる。また、積分処
理された信号は非周期的な糸ムラの総量を示し、糸の品
質情報として用いられる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、糸の品質は
図１１に例示するように欠陥部の糸の断面太さと欠陥の
長さとの組合せにより細かく区分（Ｓ１Ａ〜Ｓ４Ｄの１
６区分、Ｌ１〜Ｌ３の３区分、Ｔ１Ａ〜Ｔ２Ｂの４区分
及びネップ１、シックプレース２、シンプレース３の３
区分）されて評価される。このため、上述のように、積
分処理により糸ムラの総量を知るだけでは不十分であ
り、そこで、巻き上がったパッケージを抜き取り、別工
程でウスタムラ試験器やスペクトログラフ等の試験装置
にかけて糸ムラの評価をおこなっていた。しかし、この
ような方法ではサンプリングや測定に手間を要するた
め、オンラインでリアルタイムに糸の品質を評価するこ
とが望まれていた。特に、紡績機で糸欠陥を検出するに
は、図１０に示すように糸走行中に検出ヘッド幅αを持
つ検出器１１で行うので、正確に短くて極太の糸欠陥を
検出することは困難であった。
図１１に例示するように欠陥部の糸の断面太さと欠陥の
長さとの組合せにより細かく区分（Ｓ１Ａ〜Ｓ４Ｄの１
６区分、Ｌ１〜Ｌ３の３区分、Ｔ１Ａ〜Ｔ２Ｂの４区分
及びネップ１、シックプレース２、シンプレース３の３
区分）されて評価される。このため、上述のように、積
分処理により糸ムラの総量を知るだけでは不十分であ
り、そこで、巻き上がったパッケージを抜き取り、別工
程でウスタムラ試験器やスペクトログラフ等の試験装置
にかけて糸ムラの評価をおこなっていた。しかし、この
ような方法ではサンプリングや測定に手間を要するた
め、オンラインでリアルタイムに糸の品質を評価するこ
とが望まれていた。特に、紡績機で糸欠陥を検出するに
は、図１０に示すように糸走行中に検出ヘッド幅αを持
つ検出器１１で行うので、正確に短くて極太の糸欠陥を
検出することは困難であった。
【０００６】本発明は従来の技術の有するこのような問
題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするとこ
ろは、オンラインでリアルタイムに短くて極太の糸欠陥
を特定することができる糸欠陥検出方法を提供すること
にある。
題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするとこ
ろは、オンラインでリアルタイムに短くて極太の糸欠陥
を特定することができる糸欠陥検出方法を提供すること
にある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明における糸欠陥検出方法は、走行糸の太さを
検出する検出器からの信号を単位時間毎にサンプリング
し、そのサンプリングデータを積算し、積算にかかる経
過時間と積算値とから短くて極太の糸欠陥を検出する糸
欠陥検出方法であって、前記サンプリングデータの平均
値を算出し、前記平均値に対する所定のしきい値を設定
し、前記サンプリングデータが前記しきい値を越えた場
合に、前記しきい値を越える直前のサンプリングデータ
から前記積算を開始し、前記しきい値を下回った直後の
サンプリングデータまで前記積算を行うことを特徴とす
るものである。
に、本発明における糸欠陥検出方法は、走行糸の太さを
検出する検出器からの信号を単位時間毎にサンプリング
し、そのサンプリングデータを積算し、積算にかかる経
過時間と積算値とから短くて極太の糸欠陥を検出する糸
欠陥検出方法であって、前記サンプリングデータの平均
値を算出し、前記平均値に対する所定のしきい値を設定
し、前記サンプリングデータが前記しきい値を越えた場
合に、前記しきい値を越える直前のサンプリングデータ
から前記積算を開始し、前記しきい値を下回った直後の
サンプリングデータまで前記積算を行うことを特徴とす
るものである。
【０００８】
【作用】所定のしきい値を越える直前の信号から積算を
開始し、所定のしきい値を下回った直後の信号までを積
算するので、欠陥長さに対してサンプリング数が相対的
に少なくなる短くて極太の糸欠陥を正確に検出すること
ができる。
開始し、所定のしきい値を下回った直後の信号までを積
算するので、欠陥長さに対してサンプリング数が相対的
に少なくなる短くて極太の糸欠陥を正確に検出すること
ができる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
つつ説明する。図１は本発明の糸欠陥検出方法が用いら
れる糸ムラ情報解析装置の構成を示すブロック図、図２
は図１の糸ムラ情報解析装置の演算手段を示すブロック
図である。
つつ説明する。図１は本発明の糸欠陥検出方法が用いら
れる糸ムラ情報解析装置の構成を示すブロック図、図２
は図１の糸ムラ情報解析装置の演算手段を示すブロック
図である。
【００１０】図１において、Ｓは紡績機のスパン毎に設
けられているスレーブであり、Ｍは複数のスレーブＳに
対して共通に設置されている解析装置マスターである。
スレーブＳとマスターＭとはアナログ線４１ａ、４２
ａ、及び通信線９７で接続されている。アナログ線４１
ａは周期的（短周期のみ）な糸ムラ解析用の、アナログ
線４２ａは非周期的（長周期のムラを含む）な糸ムラ解
析用の各アナログ信号の送信のみを行い、通信は通信線
９７によって行っている。各スレーブＳに対する解析
は、切換手段９５、９６を順次切り換えて行われる。ス
レーブＳ属する各紡績ユニットに取り付けられた糸ムラ
検出器１１からの電気信号は第１及び第２マルチプレク
サ４１、４２に送出され、切換タイミング設定回路４５
によりそれぞれ取出タイミングを設定される。第１マル
チプレクサ４１から取り出された前記電気信号は増幅器
４６、ローパスフィルタ４７を経て、発振器４８とＡ／
Ｄ変換器４９とからなるサンプリング手段５８に入力さ
れ、ここでデジタル化されて第１ＣＰＵ４３に送出され
る。一方、第２マルチプレクサ４２から取り出された前
記電気信号は増幅器５０を経て、マルチプレクサ５４に
より適宜切り換えられる第１乃至第３ローパスフィルタ
５１乃至５４を通過し、発振器５５とＡ／Ｄ変換器５６
とからなるサンプリング手段５７に入力され、ここでデ
ジタル化されて第２ＣＰＵ４４に送出される。なお、前
記サンプリング手段５７、５８は、解析に要する周波数
に応じて決められたデータサンプリング時間を作る正確
な発振器４８、５５で入力信号をサンプリングしてデジ
タル信号に変換するものである。
けられているスレーブであり、Ｍは複数のスレーブＳに
対して共通に設置されている解析装置マスターである。
スレーブＳとマスターＭとはアナログ線４１ａ、４２
ａ、及び通信線９７で接続されている。アナログ線４１
ａは周期的（短周期のみ）な糸ムラ解析用の、アナログ
線４２ａは非周期的（長周期のムラを含む）な糸ムラ解
析用の各アナログ信号の送信のみを行い、通信は通信線
９７によって行っている。各スレーブＳに対する解析
は、切換手段９５、９６を順次切り換えて行われる。ス
レーブＳ属する各紡績ユニットに取り付けられた糸ムラ
検出器１１からの電気信号は第１及び第２マルチプレク
サ４１、４２に送出され、切換タイミング設定回路４５
によりそれぞれ取出タイミングを設定される。第１マル
チプレクサ４１から取り出された前記電気信号は増幅器
４６、ローパスフィルタ４７を経て、発振器４８とＡ／
Ｄ変換器４９とからなるサンプリング手段５８に入力さ
れ、ここでデジタル化されて第１ＣＰＵ４３に送出され
る。一方、第２マルチプレクサ４２から取り出された前
記電気信号は増幅器５０を経て、マルチプレクサ５４に
より適宜切り換えられる第１乃至第３ローパスフィルタ
５１乃至５４を通過し、発振器５５とＡ／Ｄ変換器５６
とからなるサンプリング手段５７に入力され、ここでデ
ジタル化されて第２ＣＰＵ４４に送出される。なお、前
記サンプリング手段５７、５８は、解析に要する周波数
に応じて決められたデータサンプリング時間を作る正確
な発振器４８、５５で入力信号をサンプリングしてデジ
タル信号に変換するものである。
【００１１】次に、図２において、第１ＣＰＵ４３に入
力されたデジタル信号は、フーリエ変換器６６で演算さ
れ、演算された結果は６７のベクトル合成手段によって
パワースペクトルにベクトル合成され、アウトプット処
理手段６８によって解析に適するように処理された後外
部に出力される。一方第２ＣＰＵ４４に入力されたデジ
タル信号は、平均手段６０によって平均値が演算される
とともに、該平均値とデジタル信号とから第１乃至第３
演算手段６１乃至６３によってそれぞれネップ（本願発
明の検出対象である短くて極太の糸欠陥）、シックプレ
ース（本願発明の検出対象外である太くて長い糸欠
陥）、シンプレース（本願発明の検出対象外である細く
て長い糸欠陥）に関する経過時間と積算値が演算され、
該演算結果は比較手段６４で設定値と比較され欠陥の有
無が判定されて、アウトプット処理手段６５によって解
析に適するように処理された後外部に出力される。
力されたデジタル信号は、フーリエ変換器６６で演算さ
れ、演算された結果は６７のベクトル合成手段によって
パワースペクトルにベクトル合成され、アウトプット処
理手段６８によって解析に適するように処理された後外
部に出力される。一方第２ＣＰＵ４４に入力されたデジ
タル信号は、平均手段６０によって平均値が演算される
とともに、該平均値とデジタル信号とから第１乃至第３
演算手段６１乃至６３によってそれぞれネップ（本願発
明の検出対象である短くて極太の糸欠陥）、シックプレ
ース（本願発明の検出対象外である太くて長い糸欠
陥）、シンプレース（本願発明の検出対象外である細く
て長い糸欠陥）に関する経過時間と積算値が演算され、
該演算結果は比較手段６４で設定値と比較され欠陥の有
無が判定されて、アウトプット処理手段６５によって解
析に適するように処理された後外部に出力される。
【００１２】次に、図２の第１乃至第３積算手段６１乃
至６３に組み込まれているプログラムの具体例を図３、
４、５に基づき説明する。
至６３に組み込まれているプログラムの具体例を図３、
４、５に基づき説明する。
【００１３】図３は第１積算手段６１に組み込まれてい
るネップ演算のフローチャート図である。図３におい
て、入力があると（ステップ♯１６）データＶ（デジタ
ル信号）を読み込み（ステップ♯１）、しきい値レジス
タＲ1 は予め０にセットされているのでデータＶがしき
い値より大きいか否か比較される（ステップ♯２、♯
３）。データＶがしきい値を越えるとしきい値レジスタ
Ｒ1 は１にセットされ（ステップ♯４）、積算値Ｉの内
容がしきい値を越える直前のデータ値にセットされ（ス
テップ♯５）、データ数レジスタＮにカウントされる
（ステップ♯６）。次に、データＶがしきい値より小さ
いか否か比較され（ステップ♯７）、大きいと前記積算
値Ｉの内容にデータＶが加算され（ステップ♯８）、デ
ータ数レジスタＮにカウントされ（ステップ♯９）、ス
テップ♯１に戻って次のデータＶを読み込む。そして、
しきい値レジスタＲ1 は１にセットされているのでステ
ップ♯７に進みデータＶはしきい値より小さいか否か比
較される（ステップ♯２、♯７）。以下データＶがしき
い値より小さくなるまでこれらステップを繰り返す。デ
ータＶがしきい値より小さくなると平均値と比較され
（ステップ♯１０）、平均値より大きい場合は積算値Ｉ
に加算され（ステップ♯１１）データ数がカウントされ
る（ステップ♯１２）が、小さい場合は積算値Ｉに加算
されず、データ数にもカウントされない。これは平均値
より小さい場合は実質的には減算となり、しきい値を下
回ったデータまでも加算してデータ数の不足を補うとい
う目的に反するからである。次に、しきい値レジスタＲ
1 がリセットされた後（ステップ♯１３）、積算値Ｉ及
びデータ数Ｎが出力されて（ステップ♯１４、♯１５）
ネップ演算は終了し、次の入力があるまで待機する（ス
テップ♯１６）。
るネップ演算のフローチャート図である。図３におい
て、入力があると（ステップ♯１６）データＶ（デジタ
ル信号）を読み込み（ステップ♯１）、しきい値レジス
タＲ1 は予め０にセットされているのでデータＶがしき
い値より大きいか否か比較される（ステップ♯２、♯
３）。データＶがしきい値を越えるとしきい値レジスタ
Ｒ1 は１にセットされ（ステップ♯４）、積算値Ｉの内
容がしきい値を越える直前のデータ値にセットされ（ス
テップ♯５）、データ数レジスタＮにカウントされる
（ステップ♯６）。次に、データＶがしきい値より小さ
いか否か比較され（ステップ♯７）、大きいと前記積算
値Ｉの内容にデータＶが加算され（ステップ♯８）、デ
ータ数レジスタＮにカウントされ（ステップ♯９）、ス
テップ♯１に戻って次のデータＶを読み込む。そして、
しきい値レジスタＲ1 は１にセットされているのでステ
ップ♯７に進みデータＶはしきい値より小さいか否か比
較される（ステップ♯２、♯７）。以下データＶがしき
い値より小さくなるまでこれらステップを繰り返す。デ
ータＶがしきい値より小さくなると平均値と比較され
（ステップ♯１０）、平均値より大きい場合は積算値Ｉ
に加算され（ステップ♯１１）データ数がカウントされ
る（ステップ♯１２）が、小さい場合は積算値Ｉに加算
されず、データ数にもカウントされない。これは平均値
より小さい場合は実質的には減算となり、しきい値を下
回ったデータまでも加算してデータ数の不足を補うとい
う目的に反するからである。次に、しきい値レジスタＲ
1 がリセットされた後（ステップ♯１３）、積算値Ｉ及
びデータ数Ｎが出力されて（ステップ♯１４、♯１５）
ネップ演算は終了し、次の入力があるまで待機する（ス
テップ♯１６）。
【００１４】図４は第２積算手段６２に組み込まれてい
るシックプレース演算のフローチャート図である。図４
において、入力があると（ステップ♯２７）当該データ
を含みｎ個前までのデータの移動平均値Ｗを算出し（ス
テップ♯１７）、しきい値レジスタＲ1 は予め０にセッ
トされているので移動平均値Ｗがしきい値より大きい上
限値（しきい値＋α）より大きいか否か比較される（ス
テップ♯１８、♯１９）。移動平均値Ｗが該上限値を越
えるとしきい値レジスタＲ1 は１にセットされ（ステッ
プ♯２０）、データ数レジスタＮがカウントされる（ス
テップ♯２２）。次に、移動平均値Ｗがしきい値より小
さい下限値（しきい値−α）より小さいか否か比較され
（ステップ♯２３）、大きいとステップ♯１７に戻って
次の移動平均値Ｗを算出する。そして、しきい値レジス
タＲ1 は１にセットされているのでステップ♯２２に進
みデータ数レジスタＮがカウントされ、移動平均値Ｗが
下限値より小さいか否か比較される（ステップ♯２
３）。以下移動平均値Ｗが下限値より小さくなるまでこ
れらステップを繰り返す。そして移動平均値Ｗが下限値
より小さくなると、しきい値レジスタＲ1 がリセットさ
れた後（ステップ♯２４）、データ数Ｎが出力されて
（ステップ♯２６）シックプレース演算は終了し、次の
入力があるまで待機する（ステップ♯２７）。
るシックプレース演算のフローチャート図である。図４
において、入力があると（ステップ♯２７）当該データ
を含みｎ個前までのデータの移動平均値Ｗを算出し（ス
テップ♯１７）、しきい値レジスタＲ1 は予め０にセッ
トされているので移動平均値Ｗがしきい値より大きい上
限値（しきい値＋α）より大きいか否か比較される（ス
テップ♯１８、♯１９）。移動平均値Ｗが該上限値を越
えるとしきい値レジスタＲ1 は１にセットされ（ステッ
プ♯２０）、データ数レジスタＮがカウントされる（ス
テップ♯２２）。次に、移動平均値Ｗがしきい値より小
さい下限値（しきい値−α）より小さいか否か比較され
（ステップ♯２３）、大きいとステップ♯１７に戻って
次の移動平均値Ｗを算出する。そして、しきい値レジス
タＲ1 は１にセットされているのでステップ♯２２に進
みデータ数レジスタＮがカウントされ、移動平均値Ｗが
下限値より小さいか否か比較される（ステップ♯２
３）。以下移動平均値Ｗが下限値より小さくなるまでこ
れらステップを繰り返す。そして移動平均値Ｗが下限値
より小さくなると、しきい値レジスタＲ1 がリセットさ
れた後（ステップ♯２４）、データ数Ｎが出力されて
（ステップ♯２６）シックプレース演算は終了し、次の
入力があるまで待機する（ステップ♯２７）。
【００１５】図５は第３積算手段６３に組み込まれてい
るシンプレース演算のフローチャート図である。図５に
おいて、入力があると（ステップ♯３８）当該データを
含みｎ個前までのデータの移動平均値Ｗを算出し（ステ
ップ♯２８）、しきい値レジスタＲ1 は予め０にセット
されているので移動平均値Ｗがしきい値より小さい下限
値（しきい値−α）より小さいか否か比較される（ステ
ップ♯２９、♯３０）。移動平均値Ｗが該下限値を下回
るとしきい値レジスタＲ1 は１にセットされ（ステップ
♯３１）、データ数レジスタＮがカウントされる（ステ
ップ♯３３）。次に、移動平均値Ｗがしきい値より大き
い上限値（しきい値＋α）より大きいか否か比較され
（ステップ♯３４）、小さいとステップ♯２８に戻って
次の移動平均値Ｗを算出する。そして、しきい値レジス
タＲ1 は１にセットされているのでステップ♯３３に進
みデータ数レジスタＮがカウントされ、移動平均値Ｗが
上限値より大きいか否か比較される（ステップ♯３
４）。以下移動平均値Ｗが上限値より大きくなるまでこ
れらステップを繰り返す。そして移動平均値Ｗが上限値
より大きくなると、しきい値レジスタＲ1 がリセットさ
れた後（ステップ♯３５）、データ数Ｎが出力されて
（ステップ♯３７）シンプレース演算は終了し、次の入
力があるまで待機する（ステップ♯３８）。
るシンプレース演算のフローチャート図である。図５に
おいて、入力があると（ステップ♯３８）当該データを
含みｎ個前までのデータの移動平均値Ｗを算出し（ステ
ップ♯２８）、しきい値レジスタＲ1 は予め０にセット
されているので移動平均値Ｗがしきい値より小さい下限
値（しきい値−α）より小さいか否か比較される（ステ
ップ♯２９、♯３０）。移動平均値Ｗが該下限値を下回
るとしきい値レジスタＲ1 は１にセットされ（ステップ
♯３１）、データ数レジスタＮがカウントされる（ステ
ップ♯３３）。次に、移動平均値Ｗがしきい値より大き
い上限値（しきい値＋α）より大きいか否か比較され
（ステップ♯３４）、小さいとステップ♯２８に戻って
次の移動平均値Ｗを算出する。そして、しきい値レジス
タＲ1 は１にセットされているのでステップ♯３３に進
みデータ数レジスタＮがカウントされ、移動平均値Ｗが
上限値より大きいか否か比較される（ステップ♯３
４）。以下移動平均値Ｗが上限値より大きくなるまでこ
れらステップを繰り返す。そして移動平均値Ｗが上限値
より大きくなると、しきい値レジスタＲ1 がリセットさ
れた後（ステップ♯３５）、データ数Ｎが出力されて
（ステップ♯３７）シンプレース演算は終了し、次の入
力があるまで待機する（ステップ♯３８）。
【００１６】次に、上述の糸ムラ情報解析装置のうち第
２ＣＰＵの作動、すなわち非周期的な糸ムラの解析を図
６乃至図８に基づき説明するが、その前にまず糸欠陥に
ついて説明する。非周期的な糸ムラには頻繁に発生する
糸欠陥と稀に発生する糸欠陥とがあり、上述のネップ、
シックプレース、シンプレースという３種類の糸欠陥は
前者に属し、図１１のＳ１Ａ〜Ｓ４Ｄ，Ｌ１〜Ｌ３，Ｔ
１Ａ〜Ｔ２Ｂの糸欠陥は後者に属する。次にこれら３種
類の糸欠陥の定義を説明する。図８において、ネップ１
は欠陥長が４ｍｍ以下で欠陥部の太さが＋１４０％（１
ｍｍ換算値）より大きいもの、シックプレース２は欠陥
長が８ｃｍ以下で欠陥部の太さが＋３５％より大きいも
の、シンプレース３は欠陥長が８ｃｍ以下で欠陥部の太
さが−３０％より細いものである。また、図１１に示す
ように、ネップ１、シックプレース２、シンプレース３
の３種類の欠陥は他のＳ１Ａ〜Ｓ４Ｄ，Ｌ１〜Ｌ３，Ｔ
１Ａ〜Ｔ２Ｂの欠陥に比べて、相対的に小さい。
２ＣＰＵの作動、すなわち非周期的な糸ムラの解析を図
６乃至図８に基づき説明するが、その前にまず糸欠陥に
ついて説明する。非周期的な糸ムラには頻繁に発生する
糸欠陥と稀に発生する糸欠陥とがあり、上述のネップ、
シックプレース、シンプレースという３種類の糸欠陥は
前者に属し、図１１のＳ１Ａ〜Ｓ４Ｄ，Ｌ１〜Ｌ３，Ｔ
１Ａ〜Ｔ２Ｂの糸欠陥は後者に属する。次にこれら３種
類の糸欠陥の定義を説明する。図８において、ネップ１
は欠陥長が４ｍｍ以下で欠陥部の太さが＋１４０％（１
ｍｍ換算値）より大きいもの、シックプレース２は欠陥
長が８ｃｍ以下で欠陥部の太さが＋３５％より大きいも
の、シンプレース３は欠陥長が８ｃｍ以下で欠陥部の太
さが−３０％より細いものである。また、図１１に示す
ように、ネップ１、シックプレース２、シンプレース３
の３種類の欠陥は他のＳ１Ａ〜Ｓ４Ｄ，Ｌ１〜Ｌ３，Ｔ
１Ａ〜Ｔ２Ｂの欠陥に比べて、相対的に小さい。
【００１７】図６は本願発明の検出対象であるネップの
信号波形を示す。図６において、縦軸は信号電圧Ｖであ
り、糸の太さを現し、横軸は時間ｔであり、糸の長さを
現す。図１０の所定長さαの存在により信号電圧の両端
はなだらかなものとなる。サンプリング間隔は糸の長さ
に換算して１ｍｍに相当するよう時間を選択されてい
る。図のような信号が入力されると、しきい値７１を越
える直前のデータ７３からしきい値７１を下回った直後
のデータ７４までが積算され、この間のデータ数がカウ
ントされる。ただし、しきい値７１を下回った直後のデ
ータが７５のように平均値７２以下である場合は積算さ
れず、データ数にもカウントされない。前記積算値をデ
ータ数で割って１ｍｍ換算した欠陥部の太さが求めら
れ、またデータ数即ち経過時間７６から欠陥長が求めら
れ、上述の定義に基づく設定値と比較されネップである
か否か判定される。
信号波形を示す。図６において、縦軸は信号電圧Ｖであ
り、糸の太さを現し、横軸は時間ｔであり、糸の長さを
現す。図１０の所定長さαの存在により信号電圧の両端
はなだらかなものとなる。サンプリング間隔は糸の長さ
に換算して１ｍｍに相当するよう時間を選択されてい
る。図のような信号が入力されると、しきい値７１を越
える直前のデータ７３からしきい値７１を下回った直後
のデータ７４までが積算され、この間のデータ数がカウ
ントされる。ただし、しきい値７１を下回った直後のデ
ータが７５のように平均値７２以下である場合は積算さ
れず、データ数にもカウントされない。前記積算値をデ
ータ数で割って１ｍｍ換算した欠陥部の太さが求めら
れ、またデータ数即ち経過時間７６から欠陥長が求めら
れ、上述の定義に基づく設定値と比較されネップである
か否か判定される。
【００１８】図７は本願発明の対象外であるシックプレ
ース及びシンプレースの信号をｎ個について移動平均し
た波形を示す。図７において、縦軸は信号電圧の移動平
均値Ｗであり、糸の太さを現し、横軸は時間ｔであり、
糸の長さを現す。図７において、信号が入力され図のよ
うな波形であると、シックプレースの場合は、しきい値
８１より大きい上限値８３を上回った信号８５からしき
い値８１より小さい下限値８４を下回った信号８６まで
が積算され、この間のデータ数がカウントされる。ま
た、シンプレースの場合も同様に、しきい値８７より小
さい下限値８８を下回った信号９０からしきい値８７よ
り大きい上限値８９を上回った信号９１までが積算さ
れ、この間のデータ数がカウントされる。以下、上述の
ネップの場合と同様に定義に基づく設定値と比較されシ
ックプレースあるいはシンプレースであるか否か判定さ
れる。（なお、しきい値より大きい上限値、小さい下限
値を設けるのは、しきい値前後でのわずかな信号の変化
に対しても安定した結果を得るためである。）
ース及びシンプレースの信号をｎ個について移動平均し
た波形を示す。図７において、縦軸は信号電圧の移動平
均値Ｗであり、糸の太さを現し、横軸は時間ｔであり、
糸の長さを現す。図７において、信号が入力され図のよ
うな波形であると、シックプレースの場合は、しきい値
８１より大きい上限値８３を上回った信号８５からしき
い値８１より小さい下限値８４を下回った信号８６まで
が積算され、この間のデータ数がカウントされる。ま
た、シンプレースの場合も同様に、しきい値８７より小
さい下限値８８を下回った信号９０からしきい値８７よ
り大きい上限値８９を上回った信号９１までが積算さ
れ、この間のデータ数がカウントされる。以下、上述の
ネップの場合と同様に定義に基づく設定値と比較されシ
ックプレースあるいはシンプレースであるか否か判定さ
れる。（なお、しきい値より大きい上限値、小さい下限
値を設けるのは、しきい値前後でのわずかな信号の変化
に対しても安定した結果を得るためである。）
【００１９】なお、上述の糸ムラ情報解析装置のうち第
１ＣＰＵの作動、すなわち周期的な糸ムラの解析の内容
は公知であり、内容の説明は省略する。
１ＣＰＵの作動、すなわち周期的な糸ムラの解析の内容
は公知であり、内容の説明は省略する。
【００２０】次に、上述の糸ムラ情報解析装置の全体の
作動を説明する。図１において、周期的な糸ムラの解析
は、切換タイミング設定回路４５で第１マルチプレクサ
４１を順次切り換えて各紡績ユニットからの糸ムラ検出
信号取り出し、第１ＣＰＵ４３で解析する。この解析に
要する時間は１分程度と短い。一方、非周期的な糸ムラ
の解析は、同様に第２マルチプレクサ４２を順次切り換
えて各紡績ユニットからの糸ムラ検出信号取り出し、さ
らに長周期ムラと非周期的ムラとの違いや糸速の違いに
応じて第３マルチプレクサ５４でローパスフィルタ５１
〜５３を切り換えて第２ＣＰＵ４４で解析する。この解
析に要する時間は４分〜１０分程度と長い。このように
マルチプレクサ及びＣＰＵを周期的な糸ムラの解析と非
周期的な糸ムラの解析とに分けて用いることによって、
迅速を要する周期的な糸ムラの解析を従来のように非周
期的な糸ムラの解析によって制約されることなく行うこ
とが可能である。
作動を説明する。図１において、周期的な糸ムラの解析
は、切換タイミング設定回路４５で第１マルチプレクサ
４１を順次切り換えて各紡績ユニットからの糸ムラ検出
信号取り出し、第１ＣＰＵ４３で解析する。この解析に
要する時間は１分程度と短い。一方、非周期的な糸ムラ
の解析は、同様に第２マルチプレクサ４２を順次切り換
えて各紡績ユニットからの糸ムラ検出信号取り出し、さ
らに長周期ムラと非周期的ムラとの違いや糸速の違いに
応じて第３マルチプレクサ５４でローパスフィルタ５１
〜５３を切り換えて第２ＣＰＵ４４で解析する。この解
析に要する時間は４分〜１０分程度と長い。このように
マルチプレクサ及びＣＰＵを周期的な糸ムラの解析と非
周期的な糸ムラの解析とに分けて用いることによって、
迅速を要する周期的な糸ムラの解析を従来のように非周
期的な糸ムラの解析によって制約されることなく行うこ
とが可能である。
【００２１】
【発明の効果】本発明における糸欠陥検出方法は上述の
ように、電気信号に基づき、所定のしきい値を越える直
前の信号から積算を開始し、所定のしきい値を下回った
直後の信号までを積算するので、欠陥長さに対してサン
プリング数が相対的に少なくなる短くて極太の糸欠陥を
正確に検出することができる。従って、オンラインでリ
アルタイムに短くて極太の糸欠陥を評価することが可能
であり、かつ検出器を増設するだけで多数の紡績ユニッ
トに対して１台の解析装置で本糸欠陥検出方法を適用す
ることが可能である。
ように、電気信号に基づき、所定のしきい値を越える直
前の信号から積算を開始し、所定のしきい値を下回った
直後の信号までを積算するので、欠陥長さに対してサン
プリング数が相対的に少なくなる短くて極太の糸欠陥を
正確に検出することができる。従って、オンラインでリ
アルタイムに短くて極太の糸欠陥を評価することが可能
であり、かつ検出器を増設するだけで多数の紡績ユニッ
トに対して１台の解析装置で本糸欠陥検出方法を適用す
ることが可能である。
【図１】本発明の糸欠陥検出方法が用いられる糸ムラ情
報解析装置の構成を示すブロック図である。
報解析装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１の糸ムラ情報解析装置の演算手段を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図３】ネップ演算のフローチャート図である。
【図４】シックプレース演算のフローチャート図であ
る。
る。
【図５】シンプレース演算のフローチャート図である。
【図６】ネップの信号波形を示す図である。
【図７】シックプレースの信号波形を示す図である。
【図８】糸欠陥の定義を示す図である。
【図９】紡績ユニットにおける要部を示す図である。
【図１０】糸ムラ検出器の詳細図である。
【図１１】糸欠陥の区分を示す図である。
【符号の説明】 Ｉ 積算値 １１ 糸ムラ検出器 ７１ しきい値 ７３ しきい値を越える直前の信号 ７４ しきい値を下回った直後の信号 ７６ 経過時間
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−221427（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−120170（ＪＰ，Ａ) 特開 昭52−99330（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−57953（ＪＰ，Ａ) 特公 昭30−9484（ＪＰ，Ｂ１) 特公 昭46−30457（ＪＰ，Ｂ１)
Claims (1)
- 【請求項１】 走行糸の太さを検出する検出器からの信
号を単位時間毎にサンプリングし、そのサンプリングデ
ータを積算し、積算にかかる経過時間と積算値とから短
くて極太の糸欠陥を検出する糸欠陥検出方法であって、 前記サンプリングデータの平均値を算出し、 前記平均値に対する所定のしきい値を設定し、 前記サンプリングデータが前記しきい値を越えた場合
に、前記しきい値を越える直前のサンプリングデータか
ら前記積算を開始し、前記しきい値を下回った直後のサ
ンプリングデータまで前記積算を行うことを特徴とする
糸欠陥検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4304942A JP2650587B2 (ja) | 1992-10-16 | 1992-10-16 | 糸欠陥検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4304942A JP2650587B2 (ja) | 1992-10-16 | 1992-10-16 | 糸欠陥検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06128821A JPH06128821A (ja) | 1994-05-10 |
| JP2650587B2 true JP2650587B2 (ja) | 1997-09-03 |
Family
ID=17939175
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4304942A Expired - Fee Related JP2650587B2 (ja) | 1992-10-16 | 1992-10-16 | 糸欠陥検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2650587B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3941544A1 (de) * | 1989-12-15 | 1991-06-20 | Siemens Ag | Ultraschall-durchflussmesser |
| DE10348742A1 (de) * | 2003-10-16 | 2005-05-12 | Saurer Gmbh & Co Kg | Verfahren zur Bestimmung von Effekten eines Effektgarnes |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2605736C3 (de) * | 1976-02-13 | 1981-07-30 | Schubert & Salzer Maschinenfabrik Ag, 8070 Ingolstadt | Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen des fehlerhaften Arbeitens von Spinnaggregaten von Offen-End-Spinnmaschinen |
| JPH06102857B2 (ja) * | 1985-09-05 | 1994-12-14 | 株式会社豊田自動織機製作所 | 紡績機の糸ムラ分析装置 |
| JP2556127B2 (ja) * | 1989-02-17 | 1996-11-20 | 村田機械株式会社 | 紡績機の管理装置 |
| DE3932667A1 (de) * | 1989-09-29 | 1991-04-11 | Rieter Ag Maschf | Verfahren zur reinigung von garnfehlern sowie garnreiniger zur durchfuehrung des verfahrens |
-
1992
- 1992-10-16 JP JP4304942A patent/JP2650587B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06128821A (ja) | 1994-05-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |