JP2644158B2 - 金属アルキル付加物 - Google Patents
金属アルキル付加物Info
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- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 title claims description 22
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims description 19
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims description 19
- 239000002879 Lewis base Substances 0.000 claims description 19
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims description 17
- 239000003446 ligand Substances 0.000 claims description 16
- 150000007527 lewis bases Chemical class 0.000 claims description 15
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims description 13
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 claims description 11
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 7
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 7
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 claims description 5
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 claims description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 42
- QFMZQPDHXULLKC-UHFFFAOYSA-N 1,2-bis(diphenylphosphino)ethane Chemical compound C=1C=CC=CC=1P(C=1C=CC=CC=1)CCP(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 QFMZQPDHXULLKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 27
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N ether Substances CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 25
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 19
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 16
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 16
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 13
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- AXVOAMVQOCBPQT-UHFFFAOYSA-N triphos Chemical compound C=1C=CC=CC=1P(C=1C=CC=CC=1)CCP(C=1C=CC=CC=1)CCP(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 AXVOAMVQOCBPQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 9
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000000047 product Substances 0.000 description 9
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 8
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 8
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- RIOQSEWOXXDEQQ-UHFFFAOYSA-N triphenylphosphine Chemical compound C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 RIOQSEWOXXDEQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 7
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 7
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 7
- XCZXGTMEAKBVPV-UHFFFAOYSA-N trimethylgallium Chemical compound C[Ga](C)C XCZXGTMEAKBVPV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- -1 alkyl Lewis bases Chemical class 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 6
- 238000000655 nuclear magnetic resonance spectrum Methods 0.000 description 6
- IBEFSUTVZWZJEL-UHFFFAOYSA-N trimethylindium Chemical compound C[In](C)C IBEFSUTVZWZJEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000002585 base Substances 0.000 description 5
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- 238000000927 vapour-phase epitaxy Methods 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 description 4
- 238000004508 fractional distillation Methods 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 3
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 3
- XOYLJNJLGBYDTH-UHFFFAOYSA-M chlorogallium Chemical compound [Ga]Cl XOYLJNJLGBYDTH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 3
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 3
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- DVSDBMFJEQPWNO-UHFFFAOYSA-N methyllithium Chemical compound C[Li] DVSDBMFJEQPWNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910021617 Indium monochloride Inorganic materials 0.000 description 2
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N Pentane Chemical compound CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 235000010290 biphenyl Nutrition 0.000 description 2
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 2
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 2
- 239000000706 filtrate Substances 0.000 description 2
- 238000005187 foaming Methods 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 229910021478 group 5 element Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- APHGZSBLRQFRCA-UHFFFAOYSA-M indium(1+);chloride Chemical compound [In]Cl APHGZSBLRQFRCA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 2
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000003261 o-tolyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 125000001037 p-tolyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(=C([H])C([H])=C1*)C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N phenylbenzene Natural products C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000004437 phosphorous atom Chemical group 0.000 description 2
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 2
- DMEUUKUNSVFYAA-UHFFFAOYSA-N trinaphthalen-1-ylphosphane Chemical compound C1=CC=C2C(P(C=3C4=CC=CC=C4C=CC=3)C=3C4=CC=CC=C4C=CC=3)=CC=CC2=C1 DMEUUKUNSVFYAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IDXDWPWXHTXJMZ-UHFFFAOYSA-N tris(2,4,6-trimethylphenyl)phosphane Chemical compound CC1=CC(C)=CC(C)=C1P(C=1C(=CC(C)=CC=1C)C)C1=C(C)C=C(C)C=C1C IDXDWPWXHTXJMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WXAZIUYTQHYBFW-UHFFFAOYSA-N tris(4-methylphenyl)phosphane Chemical compound C1=CC(C)=CC=C1P(C=1C=CC(C)=CC=1)C1=CC=C(C)C=C1 WXAZIUYTQHYBFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WQVMDOAYQORMRB-UHFFFAOYSA-N 1,1'-biphenyl;phosphane Chemical compound P.C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1.C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1.C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 WQVMDOAYQORMRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100135744 Caenorhabditis elegans pch-2 gene Proteins 0.000 description 1
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007818 Grignard reagent Substances 0.000 description 1
- GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N Indium phosphide Chemical compound [In]#P GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000661 Mercury cadmium telluride Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000029936 alkylation Effects 0.000 description 1
- 238000005804 alkylation reaction Methods 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 1
- MCMSPRNYOJJPIZ-UHFFFAOYSA-N cadmium;mercury;tellurium Chemical compound [Cd]=[Te]=[Hg] MCMSPRNYOJJPIZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 125000001033 ether group Chemical group 0.000 description 1
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 1
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 238000005194 fractionation Methods 0.000 description 1
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004795 grignard reagents Chemical class 0.000 description 1
- 150000004678 hydrides Chemical class 0.000 description 1
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 1
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- JOTBHEPHROWQDJ-UHFFFAOYSA-N methylgallium Chemical compound [Ga]C JOTBHEPHROWQDJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004452 microanalysis Methods 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000002924 primary amino group Chemical group [H]N([H])* 0.000 description 1
- 238000000425 proton nuclear magnetic resonance spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 1
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical group 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N trimethylaluminium Chemical compound C[Al](C)C JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003039 volatile agent Substances 0.000 description 1
- 238000010792 warming Methods 0.000 description 1
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07F—ACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
- C07F9/00—Compounds containing elements of Groups 5 or 15 of the Periodic Table
- C07F9/02—Phosphorus compounds
- C07F9/28—Phosphorus compounds with one or more P—C bonds
- C07F9/50—Organo-phosphines
- C07F9/5045—Complexes or chelates of phosphines with metallic compounds or metals
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07F—ACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
- C07F5/00—Compounds containing elements of Groups 3 or 13 of the Periodic Table
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07F—ACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
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- C07F5/06—Aluminium compounds
- C07F5/061—Aluminium compounds with C-aluminium linkage
- C07F5/062—Al linked exclusively to C
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- C07F—ACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
- C07F9/00—Compounds containing elements of Groups 5 or 15 of the Periodic Table
- C07F9/66—Arsenic compounds
- C07F9/70—Organo-arsenic compounds
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Description
【0001】本発明は化合物半導体材料の製造に有用な
金属アルキル類の製造に係る。
金属アルキル類の製造に係る。
【0002】化合物半導体材料、たとえばヒ化ガリウ
ム、リン化インジウム、リン化ガリウムおよびテルル化
カドミウム水銀のような材料はエレクトロニクス産業で
マイクロ波振動子、半導体発光ダイオードおよびレーザ
ーならびに赤外検知器などに応用用途を有する周知の材
料である。
ム、リン化インジウム、リン化ガリウムおよびテルル化
カドミウム水銀のような材料はエレクトロニクス産業で
マイクロ波振動子、半導体発光ダイオードおよびレーザ
ーならびに赤外検知器などに応用用途を有する周知の材
料である。
【0003】このような材料は従来、通常はサブストレ
ート結晶上に気相エピタキシヤル(VPE)法によって
1つ以上の活性層を形成することで製造されている。
ート結晶上に気相エピタキシヤル(VPE)法によって
1つ以上の活性層を形成することで製造されている。
【0004】MをIII 族元素、QをV族元素としてMQ
の形で表わされる化合物半導体が元素Mのトリアルキル
化物をV族元素Qの気体状化合物たとえば水素化物と反
応させることによってVPEで製造できることはかなり
前から知られている。この方法はたとえばGa(C
H3 )3 とAsH3 からヒ化ガリウム(ガリウムヒ素)
を製造するのに好適な方法である。
の形で表わされる化合物半導体が元素Mのトリアルキル
化物をV族元素Qの気体状化合物たとえば水素化物と反
応させることによってVPEで製造できることはかなり
前から知られている。この方法はたとえばGa(C
H3 )3 とAsH3 からヒ化ガリウム(ガリウムヒ素)
を製造するのに好適な方法である。
【0005】このため、金属アルキル、特にトリメチル
ガリウムやトリメチルインジウムのような III族トリア
ルキル(化物)が半導体材料の製造において重要になっ
てきた。
ガリウムやトリメチルインジウムのような III族トリア
ルキル(化物)が半導体材料の製造において重要になっ
てきた。
【0006】しかし、トリメチルガリウムやトリメチル
インジウムのような金属アルキル類は揮発性で自然発火
性であり加水分解反応性が爆発的に高いため極めて危険
である。
インジウムのような金属アルキル類は揮発性で自然発火
性であり加水分解反応性が爆発的に高いため極めて危険
である。
【0007】トリメチルガリウムやトリメチルインジウ
ムには特別な容器が必要であり、これを用意するには莫
大な費用を要する。
ムには特別な容器が必要であり、これを用意するには莫
大な費用を要する。
【0008】エレクトロニクス レターズ(Electronic
s Letters )、1980年3月13日、16巻、6号中
のレンツ(H.Renz)とバイトライン(J.Weidlein)によ
る論文にはトリメチルインジウムとルイス塩基P(CH
3 )3 の付加物の生成が記載されている。こうして生成
した付加物は常温で固体であり、危険がなくゾーン精製
法で精製される。しかしこの文献に記載されている付加
物からトリメチルインジウムを分離するのは困難であ
る。
s Letters )、1980年3月13日、16巻、6号中
のレンツ(H.Renz)とバイトライン(J.Weidlein)によ
る論文にはトリメチルインジウムとルイス塩基P(CH
3 )3 の付加物の生成が記載されている。こうして生成
した付加物は常温で固体であり、危険がなくゾーン精製
法で精製される。しかしこの文献に記載されている付加
物からトリメチルインジウムを分離するのは困難であ
る。
【0009】本発明の目的は、室温で安定で、かつ必要
なときにはかなり低い熱分解(解離)温度より上で容易
にその成分に分離される金属アルキル付加物を提供する
ことによってこの付加物から金属アルキルを生成する方
法を提供することである。
なときにはかなり低い熱分解(解離)温度より上で容易
にその成分に分離される金属アルキル付加物を提供する
ことによってこの付加物から金属アルキルを生成する方
法を提供することである。
【0010】III 族金属アルキルの製造方法は、(a)
式(R3 M)y ・L[式中、R3 は同一でも異なっても
よい3個のアルキル基Rを表わし、MはIII 族の金属元
素を表わし、Lは20℃で安定な有機ルイス塩基によっ
てもたらされるアリール含有リンドナーリガンドを表わ
し、yはリガンド内に存在するリンドナー原子の数に等
しい整数である]を有するアルキルの付加物を形成し、
(b)この付加物を加熱してその熱解離を起こさせるこ
とによって金属アルキルを気体生成物として遊離させる
ことからなる。
式(R3 M)y ・L[式中、R3 は同一でも異なっても
よい3個のアルキル基Rを表わし、MはIII 族の金属元
素を表わし、Lは20℃で安定な有機ルイス塩基によっ
てもたらされるアリール含有リンドナーリガンドを表わ
し、yはリガンド内に存在するリンドナー原子の数に等
しい整数である]を有するアルキルの付加物を形成し、
(b)この付加物を加熱してその熱解離を起こさせるこ
とによって金属アルキルを気体生成物として遊離させる
ことからなる。
【0011】本方法はIII 族金属の低級アルキル化物、
特にヘキサメチルジアルミニウム、トリメチルガリウム
およびトリメチルインジウムの製造に特に適している。
特にヘキサメチルジアルミニウム、トリメチルガリウム
およびトリメチルインジウムの製造に特に適している。
【0012】リガンドLを提供するルイス塩基はアリー
ル含有リンルイス塩基である。アルキルルイス塩基の代
わりにアリールのものを使用することの主な利点は次の
ことである。
ル含有リンルイス塩基である。アルキルルイス塩基の代
わりにアリールのものを使用することの主な利点は次の
ことである。
【0013】i このルイス塩基の塩基性が低下してお
り、そのためこれから生成する付加物の解離温度は低め
である。
り、そのためこれから生成する付加物の解離温度は低め
である。
【0014】ii このルイス塩基の揮発性は一般に低め
である。
である。
【0015】これら2つの利点のため、本発明の方法で
形成される付加物は比較的低い温度で容易に解離して、
汚染源となるルイス塩基を極く低濃度でしか含有しない
気体アルキル生成物を生成する。
形成される付加物は比較的低い温度で容易に解離して、
汚染源となるルイス塩基を極く低濃度でしか含有しない
気体アルキル生成物を生成する。
【0016】本発明の目的に対して許容できる低い揮発
性を有することが判明しているアリール含有リンルイス
塩基は、融点が50℃〜200℃の範囲にあるものであ
る。さらに、生成熱が5〜15kcal mol-1、特に6〜1
2kcal mol-1である式(R3M)y ・Lの付加物を与え
るようなルイス塩基が好ましいことが判明している。生
成熱が約5kcal mol-1未満の付加物は室温(15〜20
℃)で解離する傾向があるため本方法には適さないし、
生成熱が12kcal mol-1より大きく特に15kcal mol-1
より大きい付加物では通常許容できない程高い解離温度
が必要になり、このような温度では気体アルキル生成物
中の汚染物であるルイス塩基が高レベルになりうる。
性を有することが判明しているアリール含有リンルイス
塩基は、融点が50℃〜200℃の範囲にあるものであ
る。さらに、生成熱が5〜15kcal mol-1、特に6〜1
2kcal mol-1である式(R3M)y ・Lの付加物を与え
るようなルイス塩基が好ましいことが判明している。生
成熱が約5kcal mol-1未満の付加物は室温(15〜20
℃)で解離する傾向があるため本方法には適さないし、
生成熱が12kcal mol-1より大きく特に15kcal mol-1
より大きい付加物では通常許容できない程高い解離温度
が必要になり、このような温度では気体アルキル生成物
中の汚染物であるルイス塩基が高レベルになりうる。
【0017】リガンドLとこれの起源となる有機ルイス
塩基は双方とも次の一般式IIを有すると最も好ましい。
塩基は双方とも次の一般式IIを有すると最も好ましい。
【0018】
【化3】
【0019】ただし、Ar1 およびAr2 は同一かまた
は異なるアリール基であり、Xはリン原子であり、Ar
3 はアリール基であってAr1 およびAr2 の一方また
は両方と同一又は異なっていてもよく、Zは
は異なるアリール基であり、Xはリン原子であり、Ar
3 はアリール基であってAr1 およびAr2 の一方また
は両方と同一又は異なっていてもよく、Zは
【0020】
【化4】
【0021】(ここで、Dは脂肪族基であり、Ar4 は
アリール基である)であり、nは0,1,2,3,4又
は5である。Xはリンである。
アリール基である)であり、nは0,1,2,3,4又
は5である。Xはリンである。
【0022】Ar1 ,Ar2 とAr3 とAr4 の各基は
フエニル、置換フエニル(たとえばo−,p−,もしく
はm−トリルC6 H4 CH3 またはメシチルC6 H
2 (CH3 )3 )、p−ジフエニルまたはナフチルから
選択することができる。基Ar1,Ar2 ,Ar3 およ
びAr4 がフエニルであると好ましい。
フエニル、置換フエニル(たとえばo−,p−,もしく
はm−トリルC6 H4 CH3 またはメシチルC6 H
2 (CH3 )3 )、p−ジフエニルまたはナフチルから
選択することができる。基Ar1,Ar2 ,Ar3 およ
びAr4 がフエニルであると好ましい。
【0023】Dとしては脂肪族鎖(CH2 )m (ただし
mは1〜12の整数であり、2〜4が最も好ましい)が
好ましく、nとしては1〜3が好ましい。
mは1〜12の整数であり、2〜4が最も好ましい)が
好ましく、nとしては1〜3が好ましい。
【0024】一般式IIの一座および多座配位リガンドL
の例としてはトリフェニルホスフィン、トリス−p−ト
リルホスフィン、トリメシチルホスフィン、トリス−p
−ビフェニルホスフィンおよびトリナフチルホスフィ
ン、DIPHOS(Ph2 PCH2 CH2 PPh2 )、
TRIPHOS(Ph2 PCH2 CH2 P(Ph)CH
2 CH2 PPh2 )およびTETRAPHOS−1(P
h2 PCH2 CH2 P(Ph)CH2 CH2 P(Ph)
CH2 CH2 PPh2 )(Ph=フエニル)がある。
の例としてはトリフェニルホスフィン、トリス−p−ト
リルホスフィン、トリメシチルホスフィン、トリス−p
−ビフェニルホスフィンおよびトリナフチルホスフィ
ン、DIPHOS(Ph2 PCH2 CH2 PPh2 )、
TRIPHOS(Ph2 PCH2 CH2 P(Ph)CH
2 CH2 PPh2 )およびTETRAPHOS−1(P
h2 PCH2 CH2 P(Ph)CH2 CH2 P(Ph)
CH2 CH2 PPh2 )(Ph=フエニル)がある。
【0025】一般式IIの二座、特に多座配位ルイス塩基
を使用することの1つの特別な利点は、塩基の融点より
低い熱解離温度を有する式(R3 M)y ・Lの付加物を
形成し易いことである。固体の塩基/付加物混合物から
アルキルが遊離する速度は温度だけに依存し、解離の進
行に伴なって変化する付加物とルイス塩基解離生成物の
濃度にはほとんど影響を受けない。本発明者らは、Xが
リンである場合一般式IIのルイス塩基を使用したときの
さらなる利点が、これらが通常II族金属とは容易に付加
物を形成しないことであるということを見い出した。II
族金属が存在すると微量であっても III族/V族化合物
半導体層のVPE生長に干渉し得、これらの層の内部で
不要なドーパントとして作用し得る。したがって、本方
法においてこれらアリール含有リンルイス塩基を用いる
ことによって付加的に III族金属アルキルの精製方法を
得ることができる。この方法によって生成する(R
3 M)y ・L付加物は一般にII族金属不純物を含まない
からである。
を使用することの1つの特別な利点は、塩基の融点より
低い熱解離温度を有する式(R3 M)y ・Lの付加物を
形成し易いことである。固体の塩基/付加物混合物から
アルキルが遊離する速度は温度だけに依存し、解離の進
行に伴なって変化する付加物とルイス塩基解離生成物の
濃度にはほとんど影響を受けない。本発明者らは、Xが
リンである場合一般式IIのルイス塩基を使用したときの
さらなる利点が、これらが通常II族金属とは容易に付加
物を形成しないことであるということを見い出した。II
族金属が存在すると微量であっても III族/V族化合物
半導体層のVPE生長に干渉し得、これらの層の内部で
不要なドーパントとして作用し得る。したがって、本方
法においてこれらアリール含有リンルイス塩基を用いる
ことによって付加的に III族金属アルキルの精製方法を
得ることができる。この方法によって生成する(R
3 M)y ・L付加物は一般にII族金属不純物を含まない
からである。
【0026】付加物(R3 M)y ・Lを製造するには、
式R3 M.E(Eはエーテル)の前駆体付加物を生成
し、この前駆体付加物R3 M.EとV族ドナーリガンド
Lとの間で置換反応を生起せしめると好ましい。Lはル
イス塩基としてEよりも弱いかもしれないが、所望の
(R3 M)y ・L付加物が生成するように、揮発性のエ
ーテルEを留去することによって置換反応の平衡をずら
すことができる。
式R3 M.E(Eはエーテル)の前駆体付加物を生成
し、この前駆体付加物R3 M.EとV族ドナーリガンド
Lとの間で置換反応を生起せしめると好ましい。Lはル
イス塩基としてEよりも弱いかもしれないが、所望の
(R3 M)y ・L付加物が生成するように、揮発性のエ
ーテルEを留去することによって置換反応の平衡をずら
すことができる。
【0027】たとえば、Eはジエチル・エーテルでもよ
く、PAr3 特に上に特定したようなトリフエニルホス
フイン等で、またはDIPHOS、TRIPHOSもし
くはTETRAPHOSで置き換えることができる。1
例を挙げると、(CH3 )3Ga.(C2 H5 )2 Oの
生成の際には約20kcal mol-1(84kJ mol-1)の反応
熱が生ずるのに対し、これより弱いルイス塩基のPPh
3 を含有する(CH3)3 Ga.PPh3 の生成の際に
発生する反応熱はほぼ6kcal mol-1(25kJ mol-1)だ
けである。生成時の反応熱が約5kcal mol-1(21kJ m
ol-1)未満の付加物は温室で解離する傾向があるため本
発明の付加物としては不適当である。
く、PAr3 特に上に特定したようなトリフエニルホス
フイン等で、またはDIPHOS、TRIPHOSもし
くはTETRAPHOSで置き換えることができる。1
例を挙げると、(CH3 )3Ga.(C2 H5 )2 Oの
生成の際には約20kcal mol-1(84kJ mol-1)の反応
熱が生ずるのに対し、これより弱いルイス塩基のPPh
3 を含有する(CH3)3 Ga.PPh3 の生成の際に
発生する反応熱はほぼ6kcal mol-1(25kJ mol-1)だ
けである。生成時の反応熱が約5kcal mol-1(21kJ m
ol-1)未満の付加物は温室で解離する傾向があるため本
発明の付加物としては不適当である。
【0028】式R3 M.Eの前駆体付加物は多くの公知
ルートの1つによって製造することができる。たとえ
ば、R3 Mが(CH3 )3 Gaまたは(CH3 )3 In
の場合にはエーテルEを溶媒の形態で存在させてGaC
l3 またはInCl3 をCH3Liか適当なグリニヤー
ル試薬のいずれかと反応させればよい。
ルートの1つによって製造することができる。たとえ
ば、R3 Mが(CH3 )3 Gaまたは(CH3 )3 In
の場合にはエーテルEを溶媒の形態で存在させてGaC
l3 またはInCl3 をCH3Liか適当なグリニヤー
ル試薬のいずれかと反応させればよい。
【0029】本発明によって一般式(R3 M)y ・Lの
付加物が提供される。ここで、R3は同一でも異なって
もよい3個のアルキル基Rを表わし、MはIII 族の金属
元素を表わし、Lは20℃で安定な有機ルイス塩基から
得られるアリール含有リンドナーリガンドを表わし、y
はこのリガンド中に存在するリンドナー原子の数に等し
い整数である。Mはアルミニウム、ガリウムまたはイン
ジウムを表わすのが好ましい。各Rは好ましくは低級ア
ルキル基を表わし、メチルが最も好ましい。
付加物が提供される。ここで、R3は同一でも異なって
もよい3個のアルキル基Rを表わし、MはIII 族の金属
元素を表わし、Lは20℃で安定な有機ルイス塩基から
得られるアリール含有リンドナーリガンドを表わし、y
はこのリガンド中に存在するリンドナー原子の数に等し
い整数である。Mはアルミニウム、ガリウムまたはイン
ジウムを表わすのが好ましい。各Rは好ましくは低級ア
ルキル基を表わし、メチルが最も好ましい。
【0030】リガンドLを形成する起源となるルイス塩
基は50℃〜200℃の範囲で融解する低揮発性の固体
が好ましい。
基は50℃〜200℃の範囲で融解する低揮発性の固体
が好ましい。
【0031】付加物(R3 M)y ・Lの生成熱は5〜1
5kcal mol-1であり、6〜12kcalmol-1が最も好まし
い。
5kcal mol-1であり、6〜12kcalmol-1が最も好まし
い。
【0032】Lは、塩基中に存在するV族ドナー原子
(複数の場合はその各々)が三価で少なくとも1個の隣
接アリール基に直接結合しているリンルイス塩基から誘
導される。
(複数の場合はその各々)が三価で少なくとも1個の隣
接アリール基に直接結合しているリンルイス塩基から誘
導される。
【0033】Lは次の一般式IIで表わされる。
【0034】
【化5】
【0035】ここで、Ar1 およびAr2 は同一かまた
は異なるアリール基であり、Xはリン原子であり、Ar
3 はアリール基であってAr1 およびAr2 の一方また
は両方と同一または異なっていてもよくZは
は異なるアリール基であり、Xはリン原子であり、Ar
3 はアリール基であってAr1 およびAr2 の一方また
は両方と同一または異なっていてもよくZは
【0036】
【化6】
【0037】(ただし、Dは脂肪族基であり、Ar4 は
アリール基である)であり、nは0,1,2,3,4又
は5である。Xはリンである。
アリール基である)であり、nは0,1,2,3,4又
は5である。Xはリンである。
【0038】Ar1 ,Ar2 およびAr3 とAr4 の各
基はフエニル、置換フエニル(たとえばo−,p−,も
しくはm−トリルC6 H4 CH3 、またはメシチルC6
H2(CH3 )3 )、p−ジフエニルまたはナフチルか
ら選択し得る。基Ar1 ,Ar2 ,Ar3 およびAr4
がフエニルであると好ましい。
基はフエニル、置換フエニル(たとえばo−,p−,も
しくはm−トリルC6 H4 CH3 、またはメシチルC6
H2(CH3 )3 )、p−ジフエニルまたはナフチルか
ら選択し得る。基Ar1 ,Ar2 ,Ar3 およびAr4
がフエニルであると好ましい。
【0039】Dは脂肪族鎖(CH2 )m (ただし、mは
1〜12の整数であり、2〜4が最も好ましい)が好ま
しく、nは1〜3が好ましい。
1〜12の整数であり、2〜4が最も好ましい)が好ま
しく、nは1〜3が好ましい。
【0040】一般式IIの一座および多座配位リガンドL
の例としてはトリフェニルホスフィン、トリス−p−ト
リルホスフィン、トリメシチルホスフィン、トリス−p
−ビフェニルホスフィン、トリナフチルホスフィン、D
IPHOS(Ph2 PCH2CH2 PPh2 )、TRI
PHOS(Ph2 PCH2 CH2 P(Ph)CH2 CH
2 PPh2 )およびTETRAPHOS−1(Ph2 P
CH2 CH2 P(Ph)CH2 CH2 P(Ph)CH2
CH2 PPh2 )がある。
の例としてはトリフェニルホスフィン、トリス−p−ト
リルホスフィン、トリメシチルホスフィン、トリス−p
−ビフェニルホスフィン、トリナフチルホスフィン、D
IPHOS(Ph2 PCH2CH2 PPh2 )、TRI
PHOS(Ph2 PCH2 CH2 P(Ph)CH2 CH
2 PPh2 )およびTETRAPHOS−1(Ph2 P
CH2 CH2 P(Ph)CH2 CH2 P(Ph)CH2
CH2 PPh2 )がある。
【0041】本発明の方法で金属アルキル類を製造する
ことによって、揮発性の金属アルキルの製造、輸送およ
び取り扱いに関して上述した困難性を回避することが可
能である。しかし、使用時点(たとえばVPE装置内)
で金属アルキルを利用できる状態にするためには、たと
えば大気圧の不活性ガス中または減圧下で式(R3 M)
y ・Lの付加物を比較的低い温度に加熱することによっ
てこの付加物から金属アルキルを分離すればよい。たと
えば、(CH3 )3 Ga.PPh3 を大気圧の窒素中で
180℃または減圧(10-2mmHg)下で90℃に加熱
することによりこの付加物からトリメチルガリウムを得
ることができる。
ことによって、揮発性の金属アルキルの製造、輸送およ
び取り扱いに関して上述した困難性を回避することが可
能である。しかし、使用時点(たとえばVPE装置内)
で金属アルキルを利用できる状態にするためには、たと
えば大気圧の不活性ガス中または減圧下で式(R3 M)
y ・Lの付加物を比較的低い温度に加熱することによっ
てこの付加物から金属アルキルを分離すればよい。たと
えば、(CH3 )3 Ga.PPh3 を大気圧の窒素中で
180℃または減圧(10-2mmHg)下で90℃に加熱
することによりこの付加物からトリメチルガリウムを得
ることができる。
【0042】本発明の具体例である式(R3 M)y ・L
の付加物は半導体化合物の製造方法で使用するのに(C
H3 )3 Pのようなリガンドを含有する公知の付加物お
よびエーテルやその他の酸素含有リガンドを含有する付
加物より好ましい。というのは、このリガンドLはアル
キル化物から容易に分離できしかも微量のリガンドLは
生成した半導体化合物中でドーパントとして作用する可
能性が低いからである。
の付加物は半導体化合物の製造方法で使用するのに(C
H3 )3 Pのようなリガンドを含有する公知の付加物お
よびエーテルやその他の酸素含有リガンドを含有する付
加物より好ましい。というのは、このリガンドLはアル
キル化物から容易に分離できしかも微量のリガンドLは
生成した半導体化合物中でドーパントとして作用する可
能性が低いからである。
【0043】
【実施例】以下添付の図面を参照して本発明の具体例を
例示説明する。
例示説明する。
【0044】以下の実施例では次の記号を使用する。
【0045】 m.p.=融点 b.p.=沸点 NMR=核磁気共鳴スペクトル IR=赤外 ppm =100万分の1実施例1 前駆体付加物Me3 Ga.Et2 O(Et=エチル)か
ら付加物Me3 Ga.PPh3 を得ることによってこの
付加物からトリメチルガリウムMe3 Gaを製造した。
この前駆体付加物はジエチルエーテル中でメチルリチウ
ムから得た。使用した全反応経路は次のとおりである。
ら付加物Me3 Ga.PPh3 を得ることによってこの
付加物からトリメチルガリウムMe3 Gaを製造した。
この前駆体付加物はジエチルエーテル中でメチルリチウ
ムから得た。使用した全反応経路は次のとおりである。
【0046】 Et2 O GaCl3 +3MeLi → Me3 Ga.Et2 O+3LiCl…反応1 Me3 Ga.Et2 O+PPh3 →Me3 Ga.PPh3 +Et2 O…反応2 Me3 Ga.PPh3 →Me3 Ga+PPh3 …反応3 1.1 トリメチルガリウムエテレートの製造:反応1 氷冷攪拌しながらエーテル中のメチルリチウム(1.6
7M溶液112ml)をGaCl3 (エーテル50ml中1
1.0g)に加えた。この混合物を室温で一晩攪拌し、
濾過し、濾液をビグルー(Vigreux )カラム(長さ16
cm)で溶媒が全て除かれMe3 Ga.Et2 Oが留出さ
れる(b.p.99℃)まで分留した。収率は10.3
g(87%)であった。
7M溶液112ml)をGaCl3 (エーテル50ml中1
1.0g)に加えた。この混合物を室温で一晩攪拌し、
濾過し、濾液をビグルー(Vigreux )カラム(長さ16
cm)で溶媒が全て除かれMe3 Ga.Et2 Oが留出さ
れる(b.p.99℃)まで分留した。収率は10.3
g(87%)であった。
【0047】 1.2 付加物Me 3 Ga.PPh 3 の製造:反応2 ベンゼン(30ml)中のトリフエニルホスフイン(3.
6g)を室温でベンゼン(10ml)中のMe3 Ga.E
t2 O、92.6gに加えた。この混合物をビグルー
(Vigreux )カラム(長さ16cm)で分留して、留出物
の温度が80℃(ベンゼンのb.p.)に達するまで低
沸点留分(36℃)を除去した。次にこの混合物を冷却
し、減圧下で溶媒を蒸発させて晶出点まで濃縮した。結
晶性化合物1.7gが得られた。これを融点が一定する
までペンタン(約120ml)で再結晶した。この化合物
は132℃でひどく分解することなく融解する。この付
加物のIR、NMRおよびマススペクトルをとって構造
を確認した。またサンプルを微量分析(CとH)にかけ
た。結果は測定値がC、66.6%、H、6.47%で
あった。Me3 Ga.PPh3 は、C、66.9%、
H、6.41%となる。得られたIR、NMRおよびマ
ススペクトルの結果は次のとおり。
6g)を室温でベンゼン(10ml)中のMe3 Ga.E
t2 O、92.6gに加えた。この混合物をビグルー
(Vigreux )カラム(長さ16cm)で分留して、留出物
の温度が80℃(ベンゼンのb.p.)に達するまで低
沸点留分(36℃)を除去した。次にこの混合物を冷却
し、減圧下で溶媒を蒸発させて晶出点まで濃縮した。結
晶性化合物1.7gが得られた。これを融点が一定する
までペンタン(約120ml)で再結晶した。この化合物
は132℃でひどく分解することなく融解する。この付
加物のIR、NMRおよびマススペクトルをとって構造
を確認した。またサンプルを微量分析(CとH)にかけ
た。結果は測定値がC、66.6%、H、6.47%で
あった。Me3 Ga.PPh3 は、C、66.9%、
H、6.41%となる。得られたIR、NMRおよびマ
ススペクトルの結果は次のとおり。
【0048】1 H NMR(C 6 D 6 中) PPh3 フエニル基中の水素原子(δ、8.25−6.
90ppm )のMe3 Gaメチル基中の水素原子(0.2
ppm )に対するモル比はNMRピークの積分によると
1.8:1(計算値1.66:1)であった。得られた
値が多少大きいのは、フエニルのピーク強度に寄与する
C6 D6 溶媒中に微量に存在する分子種C6 Hx D6-x
(x=1〜6)の影響と説明される。
90ppm )のMe3 Gaメチル基中の水素原子(0.2
ppm )に対するモル比はNMRピークの積分によると
1.8:1(計算値1.66:1)であった。得られた
値が多少大きいのは、フエニルのピーク強度に寄与する
C6 D6 溶媒中に微量に存在する分子種C6 Hx D6-x
(x=1〜6)の影響と説明される。
【0049】マススペクトル(70eV) 結果を第1図に示す。
【0050】付加物の親イオンはみられなかった。
【0051】 出現ピーク:PPh3 + 質量262.3 Me3 Ga+ 質量116.2および114.2 (71Gaと69Ga同位体による) Me3 Ga+ 質量101.2および99.3 MeGa+ 質量86.2および84.1 Ga+ 質量71.1および69.1 ガリウム含有種のガリウムの2つの同位体(71と6
9)に対する強度比は約1.5であり、これは同位体の
天然存在比Ga69−60.4%、Ga71−39.6%と
良く一致している。
9)に対する強度比は約1.5であり、これは同位体の
天然存在比Ga69−60.4%、Ga71−39.6%と
良く一致している。
【0052】IRスペクトル 得られたスペクトルを第2図に示す。これによって付加
物の構造が再確認される。
物の構造が再確認される。
【0053】1.3 試験例1:反応3 Me3 Ga.PPh3 の製造を2回繰り返した。その目
的は、 1.大気圧の窒素中、と 2.減圧下 で油浴を用いる加熱作用によって付加物をMe3 Gaと
PPh3 に分けるためである。
的は、 1.大気圧の窒素中、と 2.減圧下 で油浴を用いる加熱作用によって付加物をMe3 Gaと
PPh3 に分けるためである。
【0054】いずれの場合も過剰(約20%)のPPh
3 を用いた。付加物は上の1.2と同様にして得た。た
だし、終了時のベンゼンによる結晶化の代わりに減圧下
で溶媒を蒸発させ、その生成物をさらに精製することな
く用いた。
3 を用いた。付加物は上の1.2と同様にして得た。た
だし、終了時のベンゼンによる結晶化の代わりに減圧下
で溶媒を蒸発させ、その生成物をさらに精製することな
く用いた。
【0055】窒素下で加熱したサンプルは180℃でM
e3 Gaと同定されたガスをゆっくり発生し始めた。加
熱はこの時点で停止した。
e3 Gaと同定されたガスをゆっくり発生し始めた。加
熱はこの時点で停止した。
【0056】減圧下(10-2mmHg)で加熱したサンプ
ルはほぼ80℃(油浴の温度)でMe3 Gaを発生し始
めた。この温度でフラスコ内の固体が融解し始めた(P
Ph3 のm.p.=80℃)。加熱を続けて温度をゆっ
くりと90℃まで上げた。フラスコの内容物が全部融解
し、ガスの発生が見えなくなってから約15分後に加熱
を停止した。Me3 Gaを液体窒素トラップ中に集め
た。
ルはほぼ80℃(油浴の温度)でMe3 Gaを発生し始
めた。この温度でフラスコ内の固体が融解し始めた(P
Ph3 のm.p.=80℃)。加熱を続けて温度をゆっ
くりと90℃まで上げた。フラスコの内容物が全部融解
し、ガスの発生が見えなくなってから約15分後に加熱
を停止した。Me3 Gaを液体窒素トラップ中に集め
た。
【0057】Me3 GaはNMRスペクトル(δ、−
0.07ppm ;C6 D6 )で同定した。Me3 Gaは
1.3g回収され、Me3 Ga.Et2 Oに基づく収率
は71%であった。(製造はMe3 Ga.Et2 O 3
gから出発した。)加熱後にフラスコ内に残った残渣を
NMRで検査した。それによると、付加物の形態のメチ
ルガリウム種の量は無視し得る量だけで全体がPPh3
であり、したがってこれをこのプロセスで再利用でき
た。
0.07ppm ;C6 D6 )で同定した。Me3 Gaは
1.3g回収され、Me3 Ga.Et2 Oに基づく収率
は71%であった。(製造はMe3 Ga.Et2 O 3
gから出発した。)加熱後にフラスコ内に残った残渣を
NMRで検査した。それによると、付加物の形態のメチ
ルガリウム種の量は無視し得る量だけで全体がPPh3
であり、したがってこれをこのプロセスで再利用でき
た。
【0058】実施例2 付加物(Me3 In)2 .DIPHOSからのMe3 I
nの製造(DIPHOS=Ph2 P−CH2 −CH2 −
PPh2 、Ph=フエニル)。
nの製造(DIPHOS=Ph2 P−CH2 −CH2 −
PPh2 、Ph=フエニル)。
【0059】 付加物(Me3 In)2 .DIPHOSの製造 エーテル(65ml)中の1.3Mメチルリチウム溶液を
エーテル(50ml)中のInCl3 (6g)に加えた。
この混合物を2時間還流し濾過した。この濾液にベンゼ
ン(100ml)中のDIPHOS(6g)溶液によって
ベンゼン(100ml)を加えた。ビグルー(Vigreux )
カラムで分別蒸留してエーテルを除去した。残りのベン
ゼン溶液を濾過し、減圧下で溶媒を蒸発させた。m.
p.156℃の粗製化合物(9.78g)をベンゼンで
繰り返し結晶化して融点が一定(163℃)になるまで
精製した。この化合物の特性をIR,NMR.マススペ
クトルおよび元素分析で検査した。
エーテル(50ml)中のInCl3 (6g)に加えた。
この混合物を2時間還流し濾過した。この濾液にベンゼ
ン(100ml)中のDIPHOS(6g)溶液によって
ベンゼン(100ml)を加えた。ビグルー(Vigreux )
カラムで分別蒸留してエーテルを除去した。残りのベン
ゼン溶液を濾過し、減圧下で溶媒を蒸発させた。m.
p.156℃の粗製化合物(9.78g)をベンゼンで
繰り返し結晶化して融点が一定(163℃)になるまで
精製した。この化合物の特性をIR,NMR.マススペ
クトルおよび元素分析で検査した。
【0060】結果は次のとおり。
【0061】NMR 1 H化学シフト(ppm ) In(CH3 )3 :0.07; DIPHOS:C
H2 :2.50(二重線)C6 H5 :7.52−7.2
7および7.07−6.9; 積分するとCH3 :CH2 比は予想通り4.5:1であ
った。
H2 :2.50(二重線)C6 H5 :7.52−7.2
7および7.07−6.9; 積分するとCH3 :CH2 比は予想通り4.5:1であ
った。
【0062】元素分析: 測定値:C、53.83;H、5.90% (Me3 In)2 .DIPHOSに対する計算値:C、
53.51;H、5.89%
53.51;H、5.89%
【0063】
【表1】マススペクトル 質 量 強 度 DIPHOS+ 397.8 1.4% In115 Me2 + 144.9 100 In113 Me2 + 143.0 4.7 In115 Me+ 130.0 12.2 In113 Me+ 128.0 1.3試験例2 :Me3 Inの(Me3 In)2 .DIPHO
S付加物からの製造 液体窒素中に浸漬したガラス容器
に連結し真空ポンプにつないだフラスコ中減圧下(10
-2mmHg)で(Me3 In)2 .DIPHOS(3.0
7g)を加熱した。加熱(油浴)は次第に上昇させた。
ほぼ80℃でMe3 Inがガラス容器中に回収され始め
た。120℃で分解反応が激しくなり、反応フラスコの
内容物は淡褐色かつ泡状になった。温度をゆっくりと1
30℃まで上げ、泡立ちが完全に止むまで一定に保っ
た。ガラス容器中に集まった白色化合物(1.01g)
はNMRでMe3 In(0.2ppm に1本のピーク)と
して同定された。収率87%。反応フラスコ中に残され
た残渣のNMRスペクトルではDIPHOSのピークし
かなかった。
S付加物からの製造 液体窒素中に浸漬したガラス容器
に連結し真空ポンプにつないだフラスコ中減圧下(10
-2mmHg)で(Me3 In)2 .DIPHOS(3.0
7g)を加熱した。加熱(油浴)は次第に上昇させた。
ほぼ80℃でMe3 Inがガラス容器中に回収され始め
た。120℃で分解反応が激しくなり、反応フラスコの
内容物は淡褐色かつ泡状になった。温度をゆっくりと1
30℃まで上げ、泡立ちが完全に止むまで一定に保っ
た。ガラス容器中に集まった白色化合物(1.01g)
はNMRでMe3 In(0.2ppm に1本のピーク)と
して同定された。収率87%。反応フラスコ中に残され
た残渣のNMRスペクトルではDIPHOSのピークし
かなかった。
【0064】実施例3 付加物(Me3 Ga)2 .DIPHOSからのMe3 G
aの製造 付加物(Me3 Ga)2 .DIPHOSの製造 実施例1と同様にしてエーテル中でGaCl3 とMeL
iからMe3 Ga.Et2 Oを製造し、使用前に蒸留し
た。ベンゼン(150ml)中のDIPHOS(8.2
g)溶液をベンゼン(50ml)中のMe3 Ga.Et2
O(6.8g)に加え、混合物を室温で半時間攪拌し
た。次に分別蒸留によって揮発し易いエーテルを除去し
(ビグルー(Vigreux )カラム)、減圧下でベンゼンを
蒸発させた。m.p.155℃の粗製化合物(12.5
g)を融点が一定(163℃)になるまでベンゼンで結
晶化を繰り返して精製した。
aの製造 付加物(Me3 Ga)2 .DIPHOSの製造 実施例1と同様にしてエーテル中でGaCl3 とMeL
iからMe3 Ga.Et2 Oを製造し、使用前に蒸留し
た。ベンゼン(150ml)中のDIPHOS(8.2
g)溶液をベンゼン(50ml)中のMe3 Ga.Et2
O(6.8g)に加え、混合物を室温で半時間攪拌し
た。次に分別蒸留によって揮発し易いエーテルを除去し
(ビグルー(Vigreux )カラム)、減圧下でベンゼンを
蒸発させた。m.p.155℃の粗製化合物(12.5
g)を融点が一定(163℃)になるまでベンゼンで結
晶化を繰り返して精製した。
【0065】この化合物の特性をNMR、IR、マスス
ペクトルおよび元素分析で検査した。
ペクトルおよび元素分析で検査した。
【0066】NMR 1 H化学シフト(ppm ) Ga(CH3 )3 :0.15; DIPHOS:C
H2 、2.52; C6 H5 :7.55−7.27および7.1−6.87元素分析 実測値:C、61.39;H、6.73% (Me3 Ga)2 .DIPHOSとしての計算値:C、
61.20;H、6.74%試験例3 :(Me3 Ga)2 .DIPHOS付加物から
のMe3 Gaの製造 液体窒素中に浸漬したガラス受器につなぎ真空ポンプに
連結したフラスコ内で(Me3 Ga)2 .DIPHOS
(3.32g)を減圧下(10-2mmHg)で加熱した。
油浴の温度をゆっくりと130℃に上げた。Me3 Ga
の発生がほぼ80℃で始まり110℃で激しくなった。
回収した乾燥Me3 Gaを減圧下室温で再度蒸留し、N
MRで同定した(0.2ppm にピーク1個)。収率1.
01g(91.2%)。反応フラスコ内の残渣のNMR
スペクトルは“DIPHOS”ピークのみを示した。
H2 、2.52; C6 H5 :7.55−7.27および7.1−6.87元素分析 実測値:C、61.39;H、6.73% (Me3 Ga)2 .DIPHOSとしての計算値:C、
61.20;H、6.74%試験例3 :(Me3 Ga)2 .DIPHOS付加物から
のMe3 Gaの製造 液体窒素中に浸漬したガラス受器につなぎ真空ポンプに
連結したフラスコ内で(Me3 Ga)2 .DIPHOS
(3.32g)を減圧下(10-2mmHg)で加熱した。
油浴の温度をゆっくりと130℃に上げた。Me3 Ga
の発生がほぼ80℃で始まり110℃で激しくなった。
回収した乾燥Me3 Gaを減圧下室温で再度蒸留し、N
MRで同定した(0.2ppm にピーク1個)。収率1.
01g(91.2%)。反応フラスコ内の残渣のNMR
スペクトルは“DIPHOS”ピークのみを示した。
【0067】実施例4 付加物(Me3 Al)2 .DIPHOSからの(C
H3 )6 Al2 の製造 付加物(Me3 Al)2 .DIPHOSの製造 ヘキサン中の(1.15M)Me6 Al2 溶液21mlの
形態で“トリメチルアルミニウム”を、ベンゼン(25
0ml)に溶解したDIPHOS(10.2g)に加え
た。分留カラムを用いて約50mlの揮発性物質を蒸留除
去し、残った溶液を減圧下で50mlに濃縮した。白色個
体が沈積した。これを濾過した。収率9.2g(62
%)、Mp.〜163℃。
H3 )6 Al2 の製造 付加物(Me3 Al)2 .DIPHOSの製造 ヘキサン中の(1.15M)Me6 Al2 溶液21mlの
形態で“トリメチルアルミニウム”を、ベンゼン(25
0ml)に溶解したDIPHOS(10.2g)に加え
た。分留カラムを用いて約50mlの揮発性物質を蒸留除
去し、残った溶液を減圧下で50mlに濃縮した。白色個
体が沈積した。これを濾過した。収率9.2g(62
%)、Mp.〜163℃。
【0068】NMR 1 H化学シフト(ppm ) Al(CH3 )3 :−0.175; DIPHOS、C
H2 :2.62、C6H5 :6.87−7.12および
7.32−7.61 積分:CH3 :CH2 =4.5:1マススペクトル DIPHOS+ (m/z、398.4、68.1%)と
Me2 Al+ (m/z、57.3、100%)の主ピー
クがみられた。
H2 :2.62、C6H5 :6.87−7.12および
7.32−7.61 積分:CH3 :CH2 =4.5:1マススペクトル DIPHOS+ (m/z、398.4、68.1%)と
Me2 Al+ (m/z、57.3、100%)の主ピー
クがみられた。
【0069】試験例4:(Me3 Al)2 .DIPHO
S付加物からのMe6 Al2 の製造 減圧下で(Me3 Al).DIPHOS(3.0g)を
加熱し、揮発性のMe6 Al2 をコールドトラップ(液
体N2 温度)に集めた。解離離はほぼ115℃(加熱浴
温度)で始まった。140℃で物質が融解し、泡立ちが
みられた。泡立ちが終わるまで加熱を続けた。収率0.
71g(87.6%)。
S付加物からのMe6 Al2 の製造 減圧下で(Me3 Al).DIPHOS(3.0g)を
加熱し、揮発性のMe6 Al2 をコールドトラップ(液
体N2 温度)に集めた。解離離はほぼ115℃(加熱浴
温度)で始まった。140℃で物質が融解し、泡立ちが
みられた。泡立ちが終わるまで加熱を続けた。収率0.
71g(87.6%)。
【0070】この生成物は 1H NMRスペクトル
(δ、−0.35ppm )によってMe6Al2 と同定さ
れた。
(δ、−0.35ppm )によってMe6Al2 と同定さ
れた。
【0071】実施例5 付加物(Me3 In)3 .TRIPHOSからのMe3
Inの製造 付加物(Me3 In)3 .TRIPHOSの製造 TRIPHOS(1.5g)をベンゼン(20ml)に溶
解し、Me3 In(1.3g)を減圧下液体窒素温度で
凝縮添加した。室温に暖めた後溶媒を減圧蒸発させると
油(2.8g)が残った。
Inの製造 付加物(Me3 In)3 .TRIPHOSの製造 TRIPHOS(1.5g)をベンゼン(20ml)に溶
解し、Me3 In(1.3g)を減圧下液体窒素温度で
凝縮添加した。室温に暖めた後溶媒を減圧蒸発させると
油(2.8g)が残った。
【0072】NMR 1 H化学シフト(ppm ) In(CH3 )3 :0.125; TRIPHOS、C
H2 :1.90−2.60、C6 H5 :6.9−7.1
7および7.27−7.67 積分:CH3 :CH2 =3.10:1マススペクトル 主ピークはm/z540(TRIPHOS)、145/
143(Me2 In)および130/128(MeI
n)に現われた。
H2 :1.90−2.60、C6 H5 :6.9−7.1
7および7.27−7.67 積分:CH3 :CH2 =3.10:1マススペクトル 主ピークはm/z540(TRIPHOS)、145/
143(Me2 In)および130/128(MeI
n)に現われた。
【0073】試験例5:(Me3 In)3 .TRIPH
OS付加物からのMe3 Inの製造 (Me3 In)3 .TRIPHOS(2.8g)を減圧
下で加熱し、Me3 Inを液体窒素の温度のコールドト
ラップに凝縮回収した。加熱浴で60℃になると付加物
からMe3 Inが遊離し始め、75℃では急速になっ
た。温度をゆっくりと145℃まで上げ、ある量のMe
3 In(1.0g、75.7%収率)を3時間かけ回収
し、 1HNMRで同定した。不揮発性残渣のNMRスペ
クトルによってTRIPHOSには配位したMe3 In
が少量含まれていることを確認した。
OS付加物からのMe3 Inの製造 (Me3 In)3 .TRIPHOS(2.8g)を減圧
下で加熱し、Me3 Inを液体窒素の温度のコールドト
ラップに凝縮回収した。加熱浴で60℃になると付加物
からMe3 Inが遊離し始め、75℃では急速になっ
た。温度をゆっくりと145℃まで上げ、ある量のMe
3 In(1.0g、75.7%収率)を3時間かけ回収
し、 1HNMRで同定した。不揮発性残渣のNMRスペ
クトルによってTRIPHOSには配位したMe3 In
が少量含まれていることを確認した。
【0074】実施例6 付加物(Me3 Al)4 .TETRAPHOSからのM
e6 Al2 の製造 付加物(Me3 Al)4 .TETRAPHOSの製造 TETRAPHOS(2.55g)をベンゼン(100
ml)に懸濁し、これにヘキサン溶液(6.6ml)の形態
のMe6 Al2 (Me6 Al2 1.15M)を加えた。
次にTETRAPHOSをMe6 Al2 と反応させて可
溶性の付加物にすることによって溶解した。分別蒸留に
よってヘキサンやその他の揮発性不純物を除去し、減圧
下室温でベンゼンを蒸発させると白色の個体付加物
(3.92g)が残った。
e6 Al2 の製造 付加物(Me3 Al)4 .TETRAPHOSの製造 TETRAPHOS(2.55g)をベンゼン(100
ml)に懸濁し、これにヘキサン溶液(6.6ml)の形態
のMe6 Al2 (Me6 Al2 1.15M)を加えた。
次にTETRAPHOSをMe6 Al2 と反応させて可
溶性の付加物にすることによって溶解した。分別蒸留に
よってヘキサンやその他の揮発性不純物を除去し、減圧
下室温でベンゼンを蒸発させると白色の個体付加物
(3.92g)が残った。
【0075】NMR 1 H化学シフト(ppm ) Al(CH3 )3 :−0.25; TETRAPHO
S、CH2 :1.85−2.62、C6 H5 :6.87
−7.15および7.30−7.75 積分:CH3 :CH2 =3:1試験例6 :(Me3 Al)4 .TETRAPHOS付加
物からのMe6 Al2 の製造 (Me3 Al)4 .TETRAPHOS(1.58g)
を減圧下で加熱し、液体窒素コールドトラップに凝縮さ
せてをMe6 Al2 を回収した。Me6 Al2の遊離は
浴温が60℃に達したときにみられた。温度をゆっくり
140℃に上げた。Me6 Al2 の収率(0.48g)
は定量的だった。
S、CH2 :1.85−2.62、C6 H5 :6.87
−7.15および7.30−7.75 積分:CH3 :CH2 =3:1試験例6 :(Me3 Al)4 .TETRAPHOS付加
物からのMe6 Al2 の製造 (Me3 Al)4 .TETRAPHOS(1.58g)
を減圧下で加熱し、液体窒素コールドトラップに凝縮さ
せてをMe6 Al2 を回収した。Me6 Al2の遊離は
浴温が60℃に達したときにみられた。温度をゆっくり
140℃に上げた。Me6 Al2 の収率(0.48g)
は定量的だった。
【図1】明細書中で特定する反応2の生成物のマススペ
クトルの原子の質量に対する強度のグラフである。
クトルの原子の質量に対する強度のグラフである。
【図2】明細書中で特定する反応2の生成物の赤外吸収
スペクトルの波数に対する赤外透過率のグラフである。
スペクトルの波数に対する赤外透過率のグラフである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ハリナ・チユズインスカ イギリス国、ロンドン・ダブリユ・3・ 9・エス・ジエイ、アクスブリツジ・ロ ード・409、グロスヴエナー・コート・ 5 (72)発明者 マーク・マリアン・フアクター イギリス国、ロンドン・エヌ・ダブリ ユ・3・7・ピー・アール、ハンプステ ツド、クロレイン・ガーデンズ・14
Claims (5)
- 【請求項1】 式(R3 M)y .L[式中、R3 は3個
のアルキル基Rを表わし、Rは同一でも異なっていても
よく、MはIII 族金属元素を表わし、Lは50〜200 ℃の
融点を有する有機ルイス塩基によって形成されかつ一般
式II 【化1】 (式中、Ar1 およびAr2 は同一または異なるアリー
ル基であり、Ar3 はアリール基であってAr1 および
Ar2 の一方または両方と同一または異なっていてもよ
く、Zは 【化2】 (式中、Dは脂肪族基であり、Ar4 はアリール基であ
る)であり、nは0,1,2,3,4又は5である)を
有するアリール含有リンドナーリガンドを表わし、yは
リガンド中に存在するリンドナー原子の数に等しい整数
である]を有しかつ生成熱が5〜12kcal/モルであるこ
とを特徴とするIII 族金属アルキルの付加物。 - 【請求項2】 MがGa,In又はAlである請求項1
の付加物。 - 【請求項3】 nが0,1,2又は3である請求項2の
付加物。 - 【請求項4】 Ar1 ,Ar2 ,Ar3 及びAr4 がそ
れぞれフェニルである請求項3の付加物。 - 【請求項5】 Rがメチルである請求項4の付加物。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB848407808A GB8407808D0 (en) | 1984-03-26 | 1984-03-26 | Preparation of metal alkyls |
GB8407808 | 1984-03-26 | ||
GB848430979A GB8430979D0 (en) | 1984-12-07 | 1984-12-07 | Metal alkyls |
GB8430979 | 1984-12-07 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP50137685A Division JPS61502056A (ja) | 1984-03-26 | 1985-03-26 | 金属アルキル類の製造 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05345788A JPH05345788A (ja) | 1993-12-27 |
JP2644158B2 true JP2644158B2 (ja) | 1997-08-25 |
Family
ID=26287515
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5008540A Expired - Lifetime JP2644158B2 (ja) | 1984-03-26 | 1993-01-21 | 金属アルキル付加物 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US4720561A (ja) |
EP (1) | EP0176537B1 (ja) |
JP (1) | JP2644158B2 (ja) |
DE (1) | DE3567871D1 (ja) |
WO (1) | WO1985004405A1 (ja) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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GB2240975B (en) * | 1990-02-14 | 1993-10-13 | Air Prod & Chem | A method for handling arsine and phosphine |
TW217415B (ja) * | 1991-11-19 | 1993-12-11 | Shell Internat Res Schappej B V | |
US5473090A (en) * | 1992-07-02 | 1995-12-05 | Air Products And Chemicals, Inc. | Process for the preparation of trialkyl compounds of group 3a metals |
US5380895A (en) * | 1993-02-10 | 1995-01-10 | Bandgap Technology Corporation | Method for the synthesis of metal alkyls and metal aryls |
ATE250616T1 (de) | 1999-05-21 | 2003-10-15 | Akzo Nobel Nv | Reinigung einer metallorganischen verbindung durch umkristallisieren |
JP4757370B2 (ja) * | 2000-05-30 | 2011-08-24 | 住友化学株式会社 | エピタキシャル基板の製造方法 |
JP4954448B2 (ja) * | 2003-04-05 | 2012-06-13 | ローム・アンド・ハース・エレクトロニック・マテリアルズ,エル.エル.シー. | 有機金属化合物 |
JP4689969B2 (ja) * | 2003-04-05 | 2011-06-01 | ローム・アンド・ハース・エレクトロニック・マテリアルズ,エル.エル.シー. | Iva族およびvia族化合物の調製 |
JP4714422B2 (ja) * | 2003-04-05 | 2011-06-29 | ローム・アンド・ハース・エレクトロニック・マテリアルズ,エル.エル.シー. | ゲルマニウムを含有するフィルムを堆積させる方法、及び蒸気送達装置 |
JP4150917B2 (ja) | 2003-06-19 | 2008-09-17 | 信越化学工業株式会社 | トリメチルガリウムの精製方法 |
JP4585182B2 (ja) * | 2003-07-11 | 2010-11-24 | 東ソー・ファインケム株式会社 | トリメチルインジウムの充填方法および充填容器 |
JP2006001896A (ja) * | 2004-06-18 | 2006-01-05 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 高純度トリメチルアルミニウム及びトリメチルアルミニウムの精製方法 |
JP4488186B2 (ja) | 2004-06-18 | 2010-06-23 | 信越化学工業株式会社 | トリメチルアルミニウムの精製方法 |
TW200619222A (en) * | 2004-09-02 | 2006-06-16 | Rohm & Haas Elect Mat | Method for making organometallic compounds |
CN103910754B (zh) * | 2013-01-06 | 2018-02-13 | 江苏爱姆欧光电材料有限公司 | 烷基锌化合物的超声波辅助纯化方法 |
CN105175440A (zh) * | 2015-09-30 | 2015-12-23 | 江西佳因光电材料有限公司 | 一种三甲基铝的制备方法 |
EP3587430B1 (de) | 2018-06-26 | 2022-07-13 | KE Materials L.L.C. | Herstellung von trialkylpnictogen |
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NL264689A (ja) * | 1960-05-14 | |||
NL271849A (ja) * | 1960-12-23 | |||
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-
1985
- 1985-03-26 US US06/817,848 patent/US4720561A/en not_active Ceased
- 1985-03-26 EP EP85901492A patent/EP0176537B1/en not_active Expired
- 1985-03-26 DE DE8585901492T patent/DE3567871D1/de not_active Expired
- 1985-03-26 WO PCT/GB1985/000116 patent/WO1985004405A1/en active IP Right Grant
-
1988
- 1988-10-31 US US07/264,866 patent/USRE33292E/en not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-01-21 JP JP5008540A patent/JP2644158B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1985004405A1 (en) | 1985-10-10 |
USRE33292E (en) | 1990-08-07 |
EP0176537A1 (en) | 1986-04-09 |
JPH05345788A (ja) | 1993-12-27 |
US4720561A (en) | 1988-01-19 |
DE3567871D1 (en) | 1989-03-02 |
EP0176537B1 (en) | 1989-01-25 |
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