JP2640968B2 - Quartz lamp heating device - Google Patents

Quartz lamp heating device

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JP2640968B2
JP2640968B2 JP63125846A JP12584688A JP2640968B2 JP 2640968 B2 JP2640968 B2 JP 2640968B2 JP 63125846 A JP63125846 A JP 63125846A JP 12584688 A JP12584688 A JP 12584688A JP 2640968 B2 JP2640968 B2 JP 2640968B2
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filter
quartz
heated
light
quartz lamp
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雅史 鈴木
誠治 石田
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Kyushu Fujitsu Electronics Ltd
Fujitsu Ltd
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Kyushu Fujitsu Electronics Ltd
Fujitsu Ltd
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【発明の詳細な説明】 〔概要〕 被加熱体の温度検出を正確になしうるようにする石英
ランプ加熱装置の改良に関し、 半導体ウェーハ等被加熱体の温度を正確に検知するこ
とができる石英ランプ加熱装置を提供することを目的と
し、 石英ランプと、この石英ランプに対向して配設され、
石英ランプの放射する光のうち長波長帯の光を吸収し、
冷却手段をもって冷却されている第1の石英フィルタ
と、この第1の石英フィルタに対向して配設され、第1
の石英フィルタを透過した光を透過する第2の石英フィ
ルタと、この第2の石英フィルタに対向して配設され、
被加熱体を支持する被加熱体支持手段と、前記の被加熱
体に対接して配置される被加熱体温度検出手段とを具備
している石英ランプ加熱装置をもって構成される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Summary] The present invention relates to an improvement of a quartz lamp heating apparatus capable of accurately detecting the temperature of a heated object, and relates to a quartz lamp capable of accurately detecting the temperature of a heated object such as a semiconductor wafer. With the object of providing a heating device, a quartz lamp and a quartz lamp,
Absorbs light in the long wavelength band of the light emitted by the quartz lamp,
A first quartz filter cooled by cooling means, and a first quartz filter disposed opposite to the first quartz filter;
A second quartz filter that transmits light transmitted through the quartz filter; and a second quartz filter that faces the second quartz filter;
The apparatus comprises a quartz lamp heating device including a heated body supporting means for supporting the heated body, and a heated body temperature detecting means arranged in contact with the heated body.

〔産業上の利用分野〕[Industrial applications]

本発明は、石英ランプ加熱装置の改良に関する。特
に、被加熱体の温度検出を正確になしうるようにする改
良に関する。
The present invention relates to an improvement in a quartz lamp heating device. In particular, the present invention relates to an improvement that enables accurate detection of the temperature of an object to be heated.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来技術に係る石英ランプ加熱装置について、図を参
照して略述する。
A quartz lamp heating device according to the related art will be briefly described with reference to the drawings.

第2図参照 図において、1は石英ランプであり、発光波長帯は0.
5〜10μm程度である。11は抛物面鏡であり、点光源で
ある石英ランプ1の光を平行光に転換する。2は石英板
よりなるフィルタであり、4μm以上の波長帯の光を吸
収し、4μm以下の波長帯の光Aのみを透過する。3は
半導体ウェーハ等の被加熱体であり、被加熱体支持手段
5によって支持される。7はフッ化バリウム等8〜13μ
mの波長帯の光を透過する反射光窓である。4は、加熱
された被加熱体例えば半導体ウェーハ3の放射する赤外
線Bを検出する被加熱体温度検出手段であり、被加熱体
3の温度を検出する。6は被加熱体3を収納するチャン
バーである。
See FIG. 2. In the figure, reference numeral 1 denotes a quartz lamp having an emission wavelength band of 0.2.
It is about 5 to 10 μm. Numeral 11 denotes a parabolic mirror, which converts the light of the quartz lamp 1, which is a point light source, into parallel light. Reference numeral 2 denotes a filter made of a quartz plate, which absorbs light in a wavelength band of 4 μm or more and transmits only light A in a wavelength band of 4 μm or less. Reference numeral 3 denotes a heated body such as a semiconductor wafer, which is supported by a heated body supporting means 5. 7 is 8 to 13μ such as barium fluoride
This is a reflected light window that transmits light in the wavelength band of m. Reference numeral 4 denotes a heated object temperature detecting unit that detects infrared rays B emitted from the heated object, for example, the semiconductor wafer 3, and detects the temperature of the heated object 3. Reference numeral 6 denotes a chamber for storing the object 3 to be heated.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

上記の石英ランプ加熱装置においては、フィルタ2は
4μm以上の波長の光をすべて吸収せねばならないか
ら、温度が上昇して、フィルタ2自身が赤外線を放出
し、この赤外線が外乱となり、半導体ウェーハ等被加熱
体の温度を正確に検知する妨げになると云う欠点があっ
た。
In the above quartz lamp heating apparatus, since the filter 2 must absorb all the light having a wavelength of 4 μm or more, the temperature rises, the filter 2 emits infrared rays, and the infrared rays become a disturbance, and the semiconductor wafer and the like are disturbed. There was a drawback that it hindered accurate detection of the temperature of the object to be heated.

本発明の目的は、この欠点を解消することにあり、半
導体ウェーハ等被加熱体の温度を正確に検知することが
できる石英ランプ加熱装置を提供することにある。
An object of the present invention is to eliminate this drawback, and an object of the present invention is to provide a quartz lamp heating apparatus capable of accurately detecting the temperature of an object to be heated such as a semiconductor wafer.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

上記の目的は、石英ランプ(1)と、この石英ランプ
(1)に対向して配設され、石英ランプ(1)の放射す
る光のうち長波長帯の光を吸収し、冷却手段(23)をも
って冷却されている第1の石英フィルタ(21)と、この
第1の石英フィルタ(21)に対向して配設され、第1の
石英フィルタ(21)を透過した光を透過する第2の石英
フィルタ(22)と、この第2の石英フィルタ(22)に対
向して配設され、被加熱体を支持する被加熱体支持手段
(5)と、前記の被加熱体に対接して配置される被加熱
体温度検出手段(4)とを具備している石英ランプ加熱
装置によって達成される。
The object of the present invention is to provide a quartz lamp (1) and a lamp disposed opposite to the quartz lamp (1) for absorbing light in a long wavelength band out of the light radiated from the quartz lamp (1) and providing cooling means (23). ), And a second quartz filter (21) that is disposed to face the first quartz filter (21) and that transmits light transmitted through the first quartz filter (21). A quartz filter (22), an object-to-be-heated supporting means (5) disposed opposite to the second quartz filter (22) for supporting the object to be heated, This is attained by a quartz lamp heating device including an object to be heated temperature detecting means (4) arranged.

〔作用〕[Action]

本発明にあっては、石英ランプ1の放出する光のうち
長波長帯を吸収するフィルタが二重にされており、石英
ランプ1に近く大部分の長波長帯を吸収するため温度が
上昇しやすい第1のフィルタ21には冷却手段が付加され
ているので、特に石英ランプ1から離れており、そのた
め、長波長帯がすでに第1のフィルタ21によって排除さ
れた光のみが入射する第2のフィルタ22の温度は上昇せ
ず、事実上外乱がないので、被加熱体3の温度は正確に
検出されることができる。
In the present invention, the filter that absorbs the long wavelength band of the light emitted from the quartz lamp 1 is doubled, and the temperature rises because it absorbs most of the long wavelength band near the quartz lamp 1. A cooling means is added to the first filter 21 which is easy to be used, and is particularly separated from the quartz lamp 1, so that only the light whose long wavelength band has already been eliminated by the first filter 21 enters. Since the temperature of the filter 22 does not rise and there is virtually no disturbance, the temperature of the heated object 3 can be accurately detected.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面を参照して、本発明の二つの実施例に係る
石英ランプ加熱装置について説明する。
Hereinafter, a quartz lamp heating apparatus according to two embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1例 第1a図参照 図において、1は石英ランプであり、発光波長帯は0.
5〜10μm程度である。11は抛物面鏡であり、点光源で
ある石英ランプ1の光を平行光に転換する。21は石英板
よりなる第1のフィルタであり、冷却手段23によって冷
却されながら、4μm以上の波長帯の光を吸収し、4μ
m以下の波長帯の光Aのみを透過する。22は第1のフィ
ルタに対向して配置される第2のフィルタであり、第1
のフィルタ21と同様石英板よりなる。この第2のフィル
タ22に入射する光Aは4μm以上の波長の光を含まない
から、殆ど温度上昇しない。また、この第2のフィルタ
22も4μm以下の波長帯の光A´を透過する。3は半導
体ウェーハ等の被加熱体であり、被加熱体支持手段5に
よって支持される。7はフッ化バリウム等8〜13μmの
波長帯の光も透過する反射光窓である。4は、加熱され
た被加熱体例えば半導体ウェーハ3の放射する赤外線B
を検出する被加熱体温度検出手段であり、被加熱体3の
温度を検出する。6は被加熱体3を収納するチャンバー
である。
First Example See FIG. 1a In the figure, 1 is a quartz lamp, and the emission wavelength band is 0.
It is about 5 to 10 μm. Numeral 11 denotes a parabolic mirror, which converts the light of the quartz lamp 1, which is a point light source, into parallel light. Reference numeral 21 denotes a first filter made of a quartz plate, which absorbs light in a wavelength band of 4 μm or more while being cooled by the cooling means 23, and
Only light A in the wavelength band of m or less is transmitted. Reference numeral 22 denotes a second filter which is arranged to face the first filter,
It is made of a quartz plate like the filter 21 of FIG. Since the light A incident on the second filter 22 does not include light having a wavelength of 4 μm or more, the temperature hardly rises. Also, this second filter
22 also transmits light A 'in the wavelength band of 4 μm or less. Reference numeral 3 denotes a heated body such as a semiconductor wafer, which is supported by a heated body supporting means 5. Reference numeral 7 denotes a reflected light window that also transmits light in a wavelength band of 8 to 13 μm, such as barium fluoride. 4 is an infrared ray B emitted from a heated object, for example, a semiconductor wafer 3
Is a heated object temperature detecting means for detecting the temperature of the object 3 to be heated. Reference numeral 6 denotes a chamber for storing the object 3 to be heated.

以上の構造を有する石英ランプ加熱装置にあっては、
第2のフィルタ22の温度が低く保持されるので、被加熱
体温度検出手段4には外乱が入らず、正確に被加熱体3
の温度を検出しうる。
In the quartz lamp heating device having the above structure,
Since the temperature of the second filter 22 is kept low, no disturbance enters the heated body temperature detecting means 4 and the heated body 3 is accurately detected.
Can be detected.

第2例 第1b図参照 図において、1はいずれも石英ランプであり、発光波
長帯は0.5〜10μm程度である。11は抛物面鏡であり、
それぞれの石英ランプ1に付属し、点光源である石英ラ
ンプ1の光を平行光に転換する。21はいずれも石英板よ
りなる第1のフィルタであり、冷却手段23によって冷却
されながら、4μm以上の波長帯の光を吸収し、4μm
以下の波長帯の光Aのみを透過する。22は第1のフィル
タに対向して配置される第2のフィルタであり、第1の
フィルタ21と同様石英板よりなる。この第2のフィルタ
22も4μm以下の波長帯の光A´を透過するとともに、
その透過光A´の方向をいくらか変更して、後述する被
加熱体3の方向に向ける。この第2のフィルタ22に入射
する光Aは4μm以上の波長の光を含まないから、殆ど
温度上昇しない。3は半導体ウェーハ等の被加熱体であ
り、被加熱体支持手段5によって支持される。7はフッ
化バリウム等8〜13μmの波長帯の光も透過する反射光
窓である。4は、加熱された被加熱体例えば半導体ウェ
ーハ3の放射する赤外線Bを検出する被加熱体温度検出
手段であり、被加熱体3の温度を検出する。6は被加熱
体3を収納するチャンバーである。
Second Example See FIG. 1b In the figures, 1 is a quartz lamp, and the emission wavelength band is about 0.5 to 10 μm. 11 is a parabolic mirror,
The light of the quartz lamp 1, which is attached to each quartz lamp 1 and is a point light source, is converted into parallel light. Reference numeral 21 denotes a first filter made of a quartz plate, which absorbs light in a wavelength band of 4 μm or more while being cooled by the cooling means 23, and
Only the light A in the following wavelength band is transmitted. Reference numeral 22 denotes a second filter arranged to face the first filter, and is made of a quartz plate, like the first filter 21. This second filter
22 also transmits the light A ′ in the wavelength band of 4 μm or less,
The direction of the transmitted light A 'is changed to some extent, and the direction of the transmitted light A' is directed to the body 3 to be heated, which will be described later. Since the light A incident on the second filter 22 does not include light having a wavelength of 4 μm or more, the temperature hardly rises. Reference numeral 3 denotes a heated body such as a semiconductor wafer, which is supported by a heated body supporting means 5. Reference numeral 7 denotes a reflected light window that also transmits light in a wavelength band of 8 to 13 μm, such as barium fluoride. Reference numeral 4 denotes a heated object temperature detecting unit that detects infrared rays B emitted from the heated object, for example, the semiconductor wafer 3, and detects the temperature of the heated object 3. Reference numeral 6 denotes a chamber for storing the object 3 to be heated.

以上の構造を有する石英ランプ加熱装置にあっても、
第2のフィルタ22の温度が低く保持されるので、被加熱
体温度検出手段4には外乱が入らず、正確に被加熱体3
の温度を検出しうる。
Even in the quartz lamp heating device having the above structure,
Since the temperature of the second filter 22 is kept low, no disturbance enters the heated body temperature detecting means 4 and the heated body 3 is accurately detected.
Can be detected.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明に係る石英ランプ加熱装置においては、石英ラ
ンプの放出する光のうち長波長帯を吸収するフィルタが
二重にされており、石英ランプに近く大部分の長波長帯
を吸収するため温度が上昇しやすい第1のフィルタには
冷却手段が付加されているので、特に石英ランプから離
れており、そのため、長波長帯がすでに第1のフィルタ
によって排除された光のみが入射する第2のフィルタの
温度は上昇せず、事実上外乱がないので、被加熱体の温
度は正確に検出されることができる。
In the quartz lamp heating apparatus according to the present invention, the filter that absorbs the long wavelength band of the light emitted from the quartz lamp is doubled, and the filter absorbs most of the long wavelength band close to the quartz lamp, and thus has a low temperature. A cooling means is added to the first filter, which is likely to rise, so that the second filter is particularly separated from the quartz lamp, so that only the light whose long wavelength band has already been excluded by the first filter is incident. Since the temperature of the object does not rise and there is virtually no disturbance, the temperature of the object to be heated can be accurately detected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1a図は、本発明の一実施例に係る石英ランプ加熱装置
の構成図である。 第1b図は、本発明の他の実施例に係る石英ランプ加熱装
置の構成図である。 第2図は、従来技術に係る石英ランプ加熱装置の構成図
である。 1……石英ランプ、 11……抛物面鏡、 2……従来技術に係るフィルタ、 21……本発明に係る第1のフィルタ、 22……本発明に係る第2のフィルタ、 23……冷却手段、 3……被加熱体(半導体ウェーハ)、 4……被加熱体温度検出手段、 5……被加熱体支持手段、 6……チャンバー、 7……反射光窓。
FIG. 1a is a configuration diagram of a quartz lamp heating apparatus according to one embodiment of the present invention. FIG. 1b is a configuration diagram of a quartz lamp heating apparatus according to another embodiment of the present invention. FIG. 2 is a configuration diagram of a quartz lamp heating device according to the prior art. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Quartz lamp, 11 ... Parabolic mirror, 2 ... Filter according to prior art, 21 ... First filter according to the present invention, 22 ... Second filter according to the present invention, 23 ... Cooling means Reference numeral 3 denotes an object to be heated (semiconductor wafer); 4 ... means for detecting the temperature of an object to be heated; 5 ... means for supporting an object to be heated; 6 ... a chamber; 7 ... a reflected light window.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】石英ランプ(1)と、 該石英ランプ(1)に対向して配設され、該石英ランプ
(1)の放射する光のうち長波長帯の光を吸収し、冷却
手段(23)をもって冷却されてなる第1の石英フィルタ
(21)と、 該第1の石英フィルタ(21)に対向して配設され、該第
1の石英フィルタ(21)を透過した光を透過する第2の
石英フィルタ(22)と、 該第2の石英フィルタ(22)に対向して配設され、被加
熱体を支持する被加熱体支持手段(5)と、 前記被加熱体に対接して配置される被加熱体温度検出手
段(4)と を有することを特徴とする石英ランプ加熱装置。
1. A quartz lamp (1), disposed opposite to the quartz lamp (1), for absorbing light in a long wavelength band out of the light emitted by the quartz lamp (1), A first quartz filter (21) cooled by 23), and disposed opposite to the first quartz filter (21) and transmitting light transmitted through the first quartz filter (21). A second quartz filter (22); heated body support means (5) disposed opposite to the second quartz filter (22) for supporting the heated body; And a heated object temperature detecting means (4) arranged in a vertical direction.
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TWI577957B (en) * 2012-02-13 2017-04-11 光洋熱系統股份有限公司 Heater unit and heat treatment apparatus
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JP6076631B2 (en) * 2012-07-12 2017-02-08 光洋サーモシステム株式会社 Heater unit and heat treatment apparatus
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