JP2612166B2 - Programmable delay circuit - Google Patents

Programmable delay circuit

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JP2612166B2
JP2612166B2 JP62020500A JP2050087A JP2612166B2 JP 2612166 B2 JP2612166 B2 JP 2612166B2 JP 62020500 A JP62020500 A JP 62020500A JP 2050087 A JP2050087 A JP 2050087A JP 2612166 B2 JP2612166 B2 JP 2612166B2
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、LSIテスト装置等に応用して効果のある、
多チャンネル化に適したプログラマブル遅延回路に関す
るものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial application field) The present invention is effective when applied to an LSI test apparatus or the like.
The present invention relates to a programmable delay circuit suitable for increasing the number of channels.

(従来の技術) 第9図に従来のプログラマブル遅延回路のブロック構
成図を示す。従来のプログラマブル遅延回路は複数ビッ
トのレジスタ1′と、それに対応するビット数を持つカ
ウンタ2′とによって構成されていた。その動作を第10
図の動作タイミング図を用いて説明する。データ入力端
子4′に所定の遅延量をセット(この例では2、すなわ
ち第9図における端子bに“1"、それ以外を“0"とす
る。)し、ロード端子5′に入力するロード信号によっ
て、その遅延量をレジスタ1′に設定する。次に周期ク
ロック端子7′に入力する周期クロック信号でレジスタ
1′の内容をカウンタ2′に設定する。カウンタ2′
は、ロードされた内容に対してカウントクロック端子
6′に入力するカウントクロック信号の度に設定値から
順次減数(−1)して行き、その内容が0になった時点
で遅延出力端子11′に遅延信号(桁下り信号)を発生す
るように動作する。第10図の例で遅延量は遅延設定値+
1にカウントクロック信号の周期をかけた時間となり、
これは図の周期クロック信号から遅延出力信号間の遅延
時間tに相当する。
(Prior Art) FIG. 9 shows a block diagram of a conventional programmable delay circuit. A conventional programmable delay circuit has been constituted by a register 1 'having a plurality of bits and a counter 2' having a corresponding number of bits. The operation is the tenth
The operation will be described with reference to the operation timing chart of FIG. A predetermined amount of delay is set to the data input terminal 4 '(in this example, 2; that is, "1" is set to the terminal b in FIG. 9, and the other is set to "0"), and the load is input to the load terminal 5'. The delay amount is set in the register 1 'by a signal. Next, the content of the register 1 'is set in the counter 2' by the periodic clock signal input to the periodic clock terminal 7 '. Counter 2 '
Decrements (-1) sequentially from the set value every time a count clock signal is input to the count clock terminal 6 'with respect to the loaded content, and when the content becomes 0, the delay output terminal 11' To generate a delay signal (carry down signal). In the example of FIG. 10, the delay amount is the delay set value +
1 times the cycle of the count clock signal.
This corresponds to the delay time t between the periodic clock signal and the delay output signal in the figure.

第11図はLSIテスト装置等で用いる多チャンネルのプ
ログラマブル遅延回路のブロック構成図を示す。図のよ
うに多チャンネル化時には第9図に示したプログラマブ
ル遅延回路を複数並列に並べて構成していた。すなわ
ち、複数のレジスタ1A′〜1N′と、これらのレジスタ1
A′〜1N′に対応したカウンタ2A′〜2N′とから構成さ
れていた。なお、4A′〜4N′はデータ入力端子、11A′
〜11N′は遅延出力端子である。
FIG. 11 shows a block diagram of a multi-channel programmable delay circuit used in an LSI test apparatus or the like. As shown in the figure, when the number of channels is increased, a plurality of programmable delay circuits shown in FIG. 9 are arranged in parallel. That is, a plurality of registers 1A 'to 1N'
It is composed of counters 2A 'to 2N' corresponding to A 'to 1N'. 4A 'to 4N' are data input terminals, 11A '
-11N 'are delay output terminals.

(発明が解決しようとする問題点) LSIテスト装置等に用いられるプログラマブル遅延回
路は、一般に遅延設定範囲が広く、かつチャンネル数も
多いので、そのハードウェア量も膨大となる。前述した
第9図のプログラマブル遅延回路において、例えばカウ
ントクロック信号のレートを100MHzとし、遅延設定範囲
を0nsから1ms(分解能10ns)とすると、レジスタ1′お
よびカウンタ2′のビット数はそれぞれ17ビットとな
る。1ビット当たりのレジスタ1′とカウンタ2′を構
成するゲート数をそれぞれ7ゲート,12ゲートとする
と、17ビットのプログラマブル遅延回路の1チャンネル
当たりのゲート数は17×19=323ゲートとなる。従っ
て、LSIテスト装置等で一般に備えるチャンネル数、例
えば32チャンネルを前述した第11図のような構成で実現
しようとする323×32=10336ゲートとなり、ハードウェ
ア量が膨大となるという問題があった。そのために実装
上小型化が図れないという問題と、反対に実装上の制約
から多チャンネル化や遅延設定範囲の拡大に制限がある
という問題があった。
(Problems to be Solved by the Invention) A programmable delay circuit used in an LSI test apparatus or the like generally has a wide delay setting range and a large number of channels, so that the amount of hardware is enormous. In the programmable delay circuit of FIG. 9 described above, for example, if the rate of the count clock signal is 100 MHz and the delay setting range is 0 ns to 1 ms (resolution 10 ns), the number of bits of the register 1 'and the counter 2' is 17 bits. Become. Assuming that the number of gates constituting the register 1 'and the counter 2' per bit is 7 and 12, respectively, the number of gates per channel of the 17-bit programmable delay circuit is 17 × 19 = 323. Therefore, the number of channels generally provided in an LSI test apparatus, for example, 32 channels becomes 323 × 32 = 1,036 gates to be realized by the configuration as shown in FIG. 11, and there is a problem that the amount of hardware becomes enormous. . For this reason, there is a problem that it is not possible to reduce the size in mounting, and conversely, there is a problem that there are restrictions on increasing the number of channels and expanding a delay setting range due to mounting restrictions.

(発明の目的) 本発明は上記の点に鑑み提案されたものであり、LSI
テスト装置等に用いられるプログラマブル遅延回路を実
現する場合において、特に多チャンネル化や遅延設定範
囲の拡大を図る際に、ハードウェア量を大幅に低減する
ことができるプログラマブル遅延回路を提供することを
目的としている。
(Object of the Invention) The present invention has been proposed in view of the above points, and has been
The object of the present invention is to provide a programmable delay circuit that can significantly reduce the amount of hardware when realizing a programmable delay circuit used for a test apparatus, particularly when increasing the number of channels and expanding a delay setting range. And

(問題点を解決するための手段) 本発明は、従来の問題点を解決するために以下のよう
な新たな考え方を導入し、ハードウェア量の削減化を図
った。
(Means for Solving the Problems) The present invention has introduced the following new concept in order to solve the conventional problems, and has reduced the amount of hardware.

すなわち、LSIテスト装置等においてプログラマブル
遅延回路は被テストデバイスに各種の動作タイミングを
与える機能を持つ。その遅延設定方法は、基本的に1つ
のテスト周期内にそれぞれの動作タイミング(遅延量)
を設定するという方法となるので、その遅延設定範囲は
最大で1テスト周期に相当する時間であり、最小でテス
ト周期の1/100ないしは1/1000程度の時間である。つま
り、遅延量の設定範囲は3桁(バイナリで10ビット)分
あれば通常テスト実行に支障を来さないことになる。本
発明はこのような考え方を回路構成に導入することでハ
ードウェア量の削減化を図った。
That is, a programmable delay circuit in an LSI test apparatus or the like has a function of giving various operation timings to a device under test. The method of setting the delay is basically such that each operation timing (delay amount) within one test cycle
Therefore, the delay setting range is a time corresponding to one test cycle at the maximum, and is about 1/100 or 1/1000 of the test cycle at the minimum. In other words, if the setting range of the delay amount is three digits (10 bits in binary), it does not hinder the normal test execution. The present invention reduces the amount of hardware by introducing such a concept into the circuit configuration.

(作用) 第1図及び第2図は本発明の動作原理を説明するため
の図で、第1図はその回路図構成を示した図である。こ
の例によるプログラマブル遅延回路は、複数のデータ入
力端子4を持つレジスタ1と2つのカウンタ、すなわち
メインカウンタ2とサブカウンタ3とからなる。相互の
接続としては、レジスタ1の出力をビットの重み順に2
つの群に分け、2つの群の内の最も小さな重みを持つデ
ータビットの群をサブカウンタデータ入力端子9に接続
し、他方の群をメインカウンタデータ入力端子8に接続
する。サブカウンタ3は周期クロック端子7に入力する
周期クロック信号によりサブカウンタデータ入力端子9
のデータ入力端子を取り込み、カウントクロック端子6
に入力するカウントクロック信号の度に計数動作を行
い、その計数結果が所定の条件を満たす度にサブカウン
タ出力端子10にサブカウンタ出力信号(メインカウンタ
用のクロック信号)を出力する動作を行う。また、メイ
ンカウンタ2は、周期クロック信号によりメインカウン
タデータ入力端子8のデータを取り込み、サブカウンタ
出力端子10からのクロック信号の度に計数動作を行い、
計数結果が所定の値になったときに遅延出力端子11に遅
延信号を出力する動作を行う。
(Operation) FIGS. 1 and 2 are diagrams for explaining the operation principle of the present invention, and FIG. 1 is a diagram showing a circuit diagram configuration thereof. The programmable delay circuit according to this example includes a register 1 having a plurality of data input terminals 4 and two counters, that is, a main counter 2 and a sub counter 3. As for the mutual connection, the output of the register 1 is
Divided into two groups, the group of data bits having the smallest weight of the two groups is connected to the sub-counter data input terminal 9, and the other group is connected to the main counter data input terminal 8. The sub-counter 3 receives a sub-counter data input terminal 9 according to a periodic clock signal input to the periodic clock terminal 7.
Data input terminal and count clock terminal 6
The counting operation is performed every time the count clock signal is input to the sub-counter, and the sub-counter output signal (clock signal for the main counter) is output to the sub-counter output terminal 10 each time the counting result satisfies a predetermined condition. Further, the main counter 2 captures the data of the main counter data input terminal 8 by the periodic clock signal, and performs the counting operation every time the clock signal from the sub counter output terminal 10 is executed.
An operation of outputting a delay signal to the delay output terminal 11 when the count result reaches a predetermined value is performed.

第2図は以上説明したプログラマブル遅延回路の動作
タイミング図であり、データ入力端子4の端子a,cのみ
“1"とし、その他を“0"とした場合の動作例を示してい
る。しかして、各データ入力端子4のデータはレジスタ
1にロード信号で取り込まれる。周期クロック信号によ
りメインカウンタ2およびサブカウンタ3はレジスタ1
の値をそれぞれ取り込む。カウントクロック信号により
先ずサブカウンタ3が計数動作を行う。サブカウンタ3
には端子aの“1"に対応して1のデータが設定されてい
るのでカウントクロック信号の1クロックおきにサブカ
ウンタ出力端子10にメインカウンタ用のクロック信号を
出力する。次に、メインカウンタ2はサブカウンタ3と
同様に端子cの“1"に対応して1のデータが設定されて
いるのでサブカウンタ出力端子10のクロック信号の2ク
ロック目に遅延出力端子11に遅延信号を出力する。図で
は周期クロック信号に対する遅延出力信号とのタイミン
グ差tが設定した遅延量となる。第1図に示した回路例
で所望の遅延量は以下に示す式で表わすことができる。
FIG. 2 is an operation timing diagram of the programmable delay circuit described above, and shows an operation example in which only the terminals a and c of the data input terminal 4 are set to "1" and the others are set to "0". Thus, the data at each data input terminal 4 is taken into the register 1 by a load signal. The main counter 2 and the sub counter 3 register 1
The value of each is taken. First, the sub-counter 3 performs a counting operation according to the count clock signal. Sub counter 3
Is set to 1 corresponding to "1" of the terminal a, so that a clock signal for the main counter is output to the sub-counter output terminal 10 every other clock of the count clock signal. Next, in the main counter 2, as in the sub-counter 3, data of 1 is set corresponding to “1” of the terminal c, so that the second counter of the clock signal of the sub-counter output terminal 10 supplies the delayed output terminal 11. Outputs a delay signal. In the figure, the timing difference t between the periodic clock signal and the delayed output signal is the set delay amount. The desired delay amount in the circuit example shown in FIG. 1 can be expressed by the following equation.

遅延量={(A+1)×B}×(C+1) A:サブカウンタ3の設定値 B:カウントクロック信号の周期 C:メインカウンタ2の設定値 第2図ではA=C=1,B=Δtなので遅延量は4Δt
である。
Delay amount = {(A + 1) × B} × (C + 1) A: Set value of sub-counter 3 B: Period of count clock signal C: Set value of main counter 2 In FIG. 2, A = C = 1, B = Δt So the delay amount is 4Δt
It is.

なお、ここでは遅延量がサブカウンタ3およびメイン
カウンタ2の設定値のそれぞれ1を加えた値になってい
るが、カウンタの構成方法によって設定値をそのまま遅
延量とする方法も考えられる。
Here, the delay amount is a value obtained by adding 1 to each of the set values of the sub-counter 3 and the main counter 2, but a method of directly setting the set value as the delay amount depending on the configuration method of the counter is also conceivable.

(実施例) 次に本発明の実施例について説明する。(Example) Next, an example of the present invention will be described.

第3図は本発明にかかる回路の構成を示したものであ
り、第1図におけるレジスタ1を、メインカウンタ2の
データ設定を行うメインレジスタ12と、サブカウンタ3
のデータ設定を行うサブレジスタ13とに分けたものであ
る。メインレジスタ12およびサブレジスタ13はそれぞれ
メインカウンタ2とサブカウンタ3のビット数にそれぞ
れ等しいビット数で構成する。なお、動作は第1図の実
施例と同様であるので説明を省略する。
FIG. 3 shows the configuration of a circuit according to the present invention. The register 1 shown in FIG. 1 includes a main register 12 for setting data of a main counter 2 and a sub-counter 3
And a sub register 13 for setting the data. The main register 12 and the sub-register 13 have the same number of bits as the main counter 2 and the sub-counter 3, respectively. The operation is the same as that of the embodiment shown in FIG.

第4図は第3図のプログラマブル遅延回路の多チャン
ネル化を図ったものである。サブカウンタのデータを設
定するサブレジスタ13と、そのビット数と同じビット数
を持つサブカウンタ3とを全体で共通に1セット持ち、
メインカウンタのクロック信号であるサブカウンタ出力
信号を全てのメインカウンタ2A〜2Nに分配する構成にな
っている。また、各メインカウンタ2A〜2Nに対応したメ
インレジスタ12A〜12Nが設けられている。
FIG. 4 shows a multi-channel configuration of the programmable delay circuit shown in FIG. The sub-register 13 for setting the data of the sub-counter and the sub-counter 3 having the same bit number as the bit number have one set in common, and
The sub-counter output signal, which is a clock signal of the main counter, is distributed to all the main counters 2A to 2N. Further, main registers 12A to 12N corresponding to the main counters 2A to 2N are provided.

動作としては、先ず、各データ入力端子4A〜4N,4Sに
所定の遅延データを設定し、ロード信号を印加すること
で各レジスタ(メインレジスタ12A〜12Nおよびサブレジ
スタ13)に遅延データを設定する。次に、周期クロック
信号により、各レジスタの内容を各カウンタ(メインカ
ウンタ2A〜2Nおよびサブカウンタ3)にセットする。カ
ウントクロック信号によりサブカウンタ3が計数動作を
開始し、所定の周期でメインカウンタ用のクロック信号
を繰り返し発生する。各メインカウンタ2A〜2Nはサブカ
ウンタ3の出力信号を共通に受け計数動作を実行し、そ
れぞれ独立して計数値が所定の条件を満たした時点で個
々に遅延出力端子11A〜11Nに遅延信号の出力を行うよう
に動作する。
As an operation, first, predetermined delay data is set to each of the data input terminals 4A to 4N and 4S, and delay data is set to each register (main registers 12A to 12N and sub register 13) by applying a load signal. . Next, the contents of each register are set in each counter (main counters 2A to 2N and sub-counter 3) by a periodic clock signal. The sub-counter 3 starts counting operation by the count clock signal, and repeatedly generates a clock signal for the main counter at a predetermined cycle. Each of the main counters 2A to 2N receives the output signal of the sub-counter 3 in common and executes a counting operation. When the count value satisfies a predetermined condition, each of the main counters 2A to 2N independently outputs the delayed signal to the delay output terminal 11A to 11N. Operate to output.

第5図はサブカウンタ3の実施例を示す。サブカウン
タ3は、サブカウンタデータ入力端子9のデータをカウ
ンタロード信号で取り込み、カウントクロック端子6に
入力するカウントクロック信号の度に計数(減算)動作
をするカウンタ31と、そのカウンタ出力端子の状態が全
て“0"になったとき、あるいは全て“0"になったときの
次のカウントクロック信号でサブカウンタ出力端子10に
メインカウンタ用のクロック信号を出力する動作を行う
と共に、周期クロック端子7に周期クロック信号が入力
されたときあるいはサブカウンタ出力端子10にメインカ
ウンタ用のクロック信号を出力するときにカウンタ31に
カウンタロード信号を供給する動作を行う比較回路32と
によって構成している。
FIG. 5 shows an embodiment of the sub-counter 3. The sub-counter 3 takes in the data of the sub-counter data input terminal 9 with a counter load signal and counts (subtracts) each time a count clock signal is input to the count clock terminal 6, and the state of the counter output terminal. When all the clock signals have become "0" or when the clock signal has become all "0", a clock signal for the main counter is output to the sub-counter output terminal 10 with the next count clock signal. When a periodic clock signal is input to the sub-counter or when a clock signal for the main counter is output to the sub-counter output terminal 10, a comparison circuit 32 performs an operation of supplying a counter load signal to the counter 31.

その動作は、先ず周期クロック信号によりカウンタロ
ード信号がカウンタ31に供給され、カウンタ31はサブカ
ウンタデータ入力端子9の状態を取り込む。次に、カウ
ントクロック信号により減算(−1)動作を行い、カウ
ンタ出力端子の状態が全て“0"になったとき、あるいは
全て“0"になった後の次のカウントクロック信号になる
と、比較回路32の動作によりサブカウンタ出力端子10に
メインカウンタ用のクロック信号を出力する。また、こ
のときカウンタロード信号も発生し、カウンタ31に再び
サブカウンタデータ入力端子9の状態を取り込ませる。
以下、同様な動作によりサブカウンタデータ入力端子9
の状態(カウンタ初期設定値)またはその値+1の繰り
返しでサブカウンタ出力端子10にメインカウンタ用クロ
ック信号を出力する。
In the operation, first, a counter load signal is supplied to the counter 31 by a periodic clock signal, and the counter 31 captures the state of the sub-counter data input terminal 9. Next, a subtraction (−1) operation is performed by the count clock signal, and when the state of the counter output terminal is all “0”, or when the next count clock signal after all the state becomes “0”, the comparison is performed. The operation of the circuit 32 outputs a clock signal for the main counter to the sub-counter output terminal 10. At this time, a counter load signal is also generated, causing the counter 31 to take in the state of the sub-counter data input terminal 9 again.
Hereinafter, the sub-counter data input terminal 9 is operated in the same manner.
The main counter clock signal is output to the sub-counter output terminal 10 in the state (counter initial set value) or the repetition of the value + 1.

第6図は第5図中の比較回路32の実施例を示す。比較
回路32は端子a0〜anに印加されるカウンタ出力端子の全
てが同時に“0"となるタイミングを検出する桁下り検出
回路321と、この桁下り検出回路321の出力と端子Cに印
加されるカウントクロック信号のAND論理をとるAND論理
ゲート322と、このAND論理ゲート322の出力と端子L1
印加される周期クロック信号とのOR論理をとるOR論理ゲ
ート323とから構成されている。なお、AND論理ゲート32
2の出力は端子OSよりサブカウンタ出力信号として、OR
論理ゲート323の出力はカウンタロード信号出力端子L0
よりカウンタロード信号としてそれぞれ取り出される。
FIG. 6 shows an embodiment of the comparison circuit 32 in FIG. Comparator circuit 32 applies the carry-down detection circuit 321 all counter output terminal applied to the terminal a 0 ~a n is to detect when a "0" at the same time, the output and the terminal C of the carry-down detection circuit 321 an aND logic gate 322 for taking an aND logic of the count clock signal, and a OR logic gate 323 for taking an OR logic of the periodic clock signal applied to the output and the terminal L 1 of the aND logic gate 322 . Note that the AND logic gate 32
As second output sub-counter output signal from the terminal O S, OR
The output of the logic gate 323 is a counter load signal output terminal L 0.
Each of them is extracted as a counter load signal.

この比較回路32は次のように動作する。カウンタ31が
順次減算動作を行い、なるタイミングで端子a0〜anに与
えられるカウンタ出力端子の状態が全て“0"になったと
き、桁下り検出回路321の出力は“0"から“1"に変化す
る。このとき、カウントクロック端子6にカウントクロ
ック信号が入力され端子Cを介してAND論理ゲート322の
一端に印加されると、AND論理ゲート322は“1"を出力
し、続いてOR論理ゲート323も“1"を出力することで、
それぞれ所望のサブカウンタ出力信号とカウンタロード
信号とを得ることができる。なお、桁下り検出回路321
は、基本的に端子a0〜anの各信号のNOR論理をとること
で実現できる。また、カウンタ31内に桁下り検出機能を
含むものであれば、比較回路32中の桁下り検出回路321
とAND論理ゲート322は省略することができる。
This comparison circuit 32 operates as follows. Counter 31 performs a sequential subtraction operation, when the state of the counter output terminal given by comprising timing to the terminal a 0 ~a n becomes all "0", the output of the carry-down detection circuit 321 is switched from "0" to "1 Changes to " At this time, when the count clock signal is input to the count clock terminal 6 and applied to one end of the AND logic gate 322 via the terminal C, the AND logic gate 322 outputs “1”, and subsequently the OR logic gate 323 also. By outputting “1”,
Desired sub-counter output signals and counter load signals can be respectively obtained. Note that the carry-down detection circuit 321
It can be realized by taking the NOR logic of essentially the signal at the terminal a 0 ~a n. If the counter 31 includes a borrow detection function, the borrow detection circuit 321 in the comparison circuit 32
And the AND logic gate 322 can be omitted.

第7図はサブカウンタ3の他の実施例を示す。サブカ
ウンタ3は、複数ビット構成のカウンタ33と、このカウ
ンタ33の各ビットのカウンタ出力端子に一方の入力端子
を接続し、カウンタ33と等しいビット数のサブカウンタ
データ入力端子9の他方の入力端子を接続し、両者のデ
ータに比較を行う比較回路34とによって構成している。
比較回路34はカウンタ33の計数値をサブカウンタデータ
入力端子9のデータと比較し、所定の条件を満たす周期
でサブカウンタ出力端子10にメインカウンタ用のクロッ
ク信号を出力する動作を行う。
FIG. 7 shows another embodiment of the sub-counter 3. In FIG. The sub-counter 3 has a counter 33 having a plurality of bits, and one input terminal connected to the counter output terminal of each bit of the counter 33, and the other input terminal of the sub-counter data input terminal 9 having the same number of bits as the counter 33. And a comparison circuit 34 for comparing the two data.
The comparison circuit 34 performs an operation of comparing the count value of the counter 33 with the data of the sub-counter data input terminal 9 and outputting a clock signal for the main counter to the sub-counter output terminal 10 at a cycle satisfying a predetermined condition.

第8図は第7図中の比較回路34の実施例を示す。比較
回路34は、端子b0〜bnに印加される複数のサブカウンタ
データ入力端子9の反転内容を作成する複数のNOT論理
ゲート341と、このNOT論理ゲート341の出力端子と端子a
0〜anに印加されるカウンタ33の各ビットの出力端子と
の対応するビット間で個々にOR論理をとる複数のOR論理
ゲート342と、このOR論理ゲート342のOR論理結果と端子
Cより与えられるカウンタクロック信号とのAND論理を
とるAND論理ゲート343とで構成されている。従って、端
子b0〜bnに印加されるサブカウンタデータ入力端子9の
状態と端子a0〜anに印加されるカウンタ33の各ビットの
出力端子の状態とが所定の条件を満たす場合に端子OS
りサブカウンタ出力端子10に出力信号が出力されること
になる。すなわち、mをnより小とし端子b0〜bm
“0",端子bm+1〜bn=“0"としておくと、クリアの状態
からカウンタ33のカウントが進み、端子am+1が“1"にな
ると、端子Cが“1"となるタイミングで端子OSに“1"の
信号が出力される。
FIG. 8 shows an embodiment of the comparison circuit 34 in FIG. The comparison circuit 34 includes a plurality of NOT logic gates 341 for creating inverted contents of the plurality of sub-counter data input terminals 9 applied to the terminals b 0 to b n , an output terminal of the NOT logic gate 341 and a terminal a.
0 a plurality of OR logic gate 342 that takes the individual OR logic between corresponding bits of the output terminal of each bit of the counter 33 applied to ~a n, from the OR logic result and the terminal C of the OR logic gate 342 And an AND logic gate 343 which performs an AND logic with a given counter clock signal. Therefore, the state of the output terminal of each bit of the terminal b 0 ~b state and the terminal a of the sub-counter data input terminal 9 to be applied to n 0 counter 33 applied to ~a n is when a predetermined condition is satisfied so that the output signal to the sub-counter output terminal 10 from the terminal O S is output. That is, when m is smaller than n, the terminals b 0 to b m =
When “0” and terminals b m + 1 to b n are set to “0”, the count of the counter 33 advances from the clear state, and when the terminal am + 1 becomes “1”, the terminal C becomes “1”. signal of "1" to the terminal O S is output by comprising timing.

(発明の効果) 以上説明したように、従来個々の遅延回路で遅延設定
範囲の全てを網羅するビット数を備えていたものを、本
発明では分解能以下のハードウェアについて全ての遅延
回路で共通化を図るようにしているので、ハードウェア
の大幅な削減化が可能になる。例えば、カウントクロッ
ク信号のレートを100MHzとし、遅延設定範囲を0nsから1
ms(17ビット構成)とすると、32チャンネルのプログラ
マブル遅延回路のゲート数は従来方式の場合10336ゲー
ト(レジスタ7ゲート/ビット、カウンタ12ゲート/ビ
ット)であったものが、本発明によれば1チャンネル当
たりのゲート数は323ゲートで従来方式と同じである
が、32チャンネル化を図った場合には6213ゲート(メイ
ンカウンタ10ビット,サブカウンタ7ビットとする。)
となり、従来方式に比べ60%のハードウェア量で実現で
きる。更にチャンネル数および遅延設定範囲共にそれぞ
れ拡大すれば、よりハードウェア削減の効果が大きくな
るという利点がある。
(Effects of the Invention) As described above, in the present invention, each delay circuit is provided with the number of bits that covers the entire delay setting range. Therefore, hardware can be greatly reduced. For example, the count clock signal rate is 100 MHz, and the delay setting range is 0 ns to 1
Assuming ms (17-bit configuration), the number of gates of the programmable delay circuit of 32 channels is 10336 gates (register 7 gates / bit, counter 12 gates / bit) in the conventional system, but according to the present invention, it is 1 The number of gates per channel is the same as the conventional method with 323 gates, but when 32 channels are achieved, 6123 gates (main counter 10 bits, sub counter 7 bits).
It can be realized with 60% of hardware compared to the conventional method. Further, if both the number of channels and the delay setting range are expanded, there is an advantage that the effect of hardware reduction is further increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明のプログラマブル遅延回路の一実施例を
示すブロック構成図、第2図は第1図の動作タイミング
図、第3図は本発明の他の実施例を示すブロック構成
図、第4図は本発明の多チャンネル化時のブロック構成
図、第5図はサブカウンタの実施例を示す構成図、第6
図は第5図に比較回路の実施例を示す構成図、第7図は
サブカウンタの他の実施例を示す構成図、第8図は第7
図の比較回路の実施例を示す構成図、第9図は従来のプ
ログラマブル遅延回路を示すブロック構成図、第10図は
第9図の動作タイミング図、第11図は従来の多チャンネ
ル化時のブロック構成図である。 1……レジスタ 2……メインカウンタ 3……サブカウンタ 4……データ入力端子 5……ロード端子 6……カウントクロック端子 7……周期クロック端子 8……メインカウンタデータ入力端子 9……サブカウンタデータ入力端子 10……サブカウンタ出力端子 11……遅延出力端子
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a programmable delay circuit of the present invention, FIG. 2 is an operation timing diagram of FIG. 1, FIG. 3 is a block diagram showing another embodiment of the present invention, FIG. FIG. 4 is a block diagram showing a multi-channel system according to the present invention. FIG. 5 is a diagram showing an embodiment of a sub-counter.
FIG. 5 is a block diagram showing an embodiment of the comparison circuit in FIG. 5, FIG. 7 is a block diagram showing another embodiment of the sub-counter, and FIG.
FIG. 9 is a block diagram showing a conventional programmable delay circuit, FIG. 10 is an operation timing diagram of FIG. 9, and FIG. 11 is a diagram showing a conventional multi-channel circuit. It is a block block diagram. 1 Register 2 Main counter 3 Sub-counter 4 Data input terminal 5 Load terminal 6 Count clock terminal 7 Periodic clock terminal 8 Main counter data input terminal 9 Sub-counter Data input terminal 10: Sub-counter output terminal 11: Delayed output terminal

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】複数のデータ入力端子を有し、ロード端子
に入力するロード信号により前記データ入力端子のデー
タを取り込み保持する複数ビットからなるレジスタと、
該レジスタの出力端子を、該保持データのビットの重み
順にそれぞれ任意のビット数で複数の群に分け、該複数
の群の内の最も小さな重みを持つデータビットの群をサ
ブカウンタデータ入力端子に接続し、周期クロック端子
に入力する周期クロック信号により前記サブカウンタデ
ータ入力端子の状態を取り込み、カウントクロック端子
に入力するカウントクロック信号の度に計数動作を行っ
て、計数値が所定の条件を満たす度に繰り返しサブカウ
ンタ出力端子にサブカウンタ出力信号を出力する複数ビ
ットからなるサブカウンタと、前記レジスタの出力端子
の残りの群を単数もしくは複数のメインカウンタデータ
入力端子にそれぞれ接続し、前記周期クロック信号によ
り前記メインカウンタデータ入力端子の状態を取り込
み、前記サブカウンタ出力信号の度に計数動作を行っ
て、計数値が所定の条件を満たすときに遅延出力端子に
遅延信号を出力する動作をそれぞれ並列的に独立して行
う複数の複数ビットからなるメインカウンタとによって
構成されることを特徴としたプログラマブル遅延回路。
A register having a plurality of bits, having a plurality of data input terminals, and taking in and holding data of the data input terminal by a load signal inputted to a load terminal;
The output terminal of the register is divided into a plurality of groups by an arbitrary number of bits in the order of the weight of the bits of the held data, and a group of data bits having the smallest weight among the plurality of groups is input to a sub-counter data input terminal. Connected, captures the state of the sub-counter data input terminal according to the periodic clock signal input to the periodic clock terminal, performs a counting operation each time the count clock signal is input to the count clock terminal, and the count value satisfies a predetermined condition. A sub-counter consisting of a plurality of bits for repeatedly outputting a sub-counter output signal to a sub-counter output terminal, and connecting the remaining group of output terminals of the register to one or more main counter data input terminals, respectively, The state of the main counter data input terminal is captured by a signal, and the A main counter consisting of a plurality of bits, which performs a counting operation each time an output signal is output and outputs a delay signal to a delay output terminal when the count value satisfies a predetermined condition. A programmable delay circuit characterized by being configured.
【請求項2】複数ビットから構成されるデータの、ビッ
トの重み順にそれぞれ任意のビット数で複数の群に分
け、該複数の群の内の最も小さな重みを持つデータビッ
トの群を入力端子に接続し、その状態をロード端子に入
力するロード信号により取り込み保持し、サブカウンタ
データ入力端子に出力するサブレジスタと、前記データ
入力端子の残りの複数の群を入力端子にそれぞれ接続
し、その状態を前記ロード信号により取り込み保持し、
それぞれ対応するメインカウンタデータ入力端子に出力
する複数のメインレジスタとによってレジスタを構成し
てなる特許請求の範囲第1項記載のプログラマブル遅延
回路。
2. A data group comprising a plurality of bits is divided into a plurality of groups by an arbitrary number of bits in the order of bit weights, and a group of data bits having the smallest weight among the plurality of groups is input to an input terminal. A sub-register for capturing and holding the state by a load signal input to the load terminal, outputting the data to the sub-counter data input terminal, and connecting the remaining plural groups of the data input terminals to the input terminals. Is captured and held by the load signal,
2. The programmable delay circuit according to claim 1, wherein the register is constituted by a plurality of main registers each outputting to a corresponding main counter data input terminal.
【請求項3】メインカウンタとサブカウンタの少なくと
もどちらか一方が桁下り機能を持つ回路を含んでなる特
許請求の範囲第1項記載のプログラマブル遅延回路。
3. The programmable delay circuit according to claim 1, wherein at least one of the main counter and the sub counter includes a circuit having a carry down function.
【請求項4】カウンタロード信号によりサブカウンタデ
ータ入力端子の状態を取り込み、カウントクロック端子
に入力するカウントクロック信号の度に計数動作を行う
複数ビットのカウンタと、該カウンタの複数の出力端子
の状態を入力し、その内容が所定の入力状態になったと
きサブカウンタ出力端子にサブカウンタ出力信号を出力
し、該サブカウンタ出力信号が出力された場合あるいは
周期クロック端子に周期クロック信号が入力された場合
にカウンタロード信号出力端子に前記カウンタロード信
号を出力する比較回路とによってサブカウンタを構成し
てなる特許請求の範囲第1項記載のプログラマブル遅延
回路。
4. A multi-bit counter that captures the state of a sub-counter data input terminal by a counter load signal and performs a counting operation each time a count clock signal is input to a count clock terminal, and states of a plurality of output terminals of the counter. And outputs a sub-counter output signal to a sub-counter output terminal when the content is in a predetermined input state, and when the sub-counter output signal is output or when a periodic clock signal is input to a periodic clock terminal. 2. The programmable delay circuit according to claim 1, wherein a sub-counter is constituted by a comparison circuit that outputs the counter load signal to a counter load signal output terminal.
【請求項5】複数のカウンタ出力端子の状態を入力し、
その内容が所定の入力状態になったときに検出信号を出
力する桁下り検出回路と、前記検出信号とカウントクロ
ック端子に入力されるカウントクロック信号とのAND論
理をとり、該AND論理出力をサブカウンタ出力端子に与
えるAND論理ゲートと、前記AND論理出力と周期クロック
端子に入力される周期クロック信号とのOR論理をとり、
該OR論理出力をカウンタロード信号出力端子に与えるOR
論理ゲートとによって比較回路を構成してなる特許請求
の範囲第4項記載のプログラマブル遅延回路。
5. The state of a plurality of counter output terminals is input,
A borrow detection circuit that outputs a detection signal when the content is in a predetermined input state, ANDs the detection signal with a count clock signal input to a count clock terminal, and outputs the AND logic output as a sub AND logic gate applied to the counter output terminal, and OR logic of the AND logic output and the periodic clock signal input to the periodic clock terminal,
OR for applying the OR logic output to the counter load signal output terminal
5. The programmable delay circuit according to claim 4, wherein a comparison circuit is constituted by the logic gate.
【請求項6】周期クロック端子に入力する周期クロック
信号により内容をクリアし、カウントクロック端子に入
力するカウントクロック信号の度に計数動作を行う複数
ビットのカウンタと、該カウンタの各ビットの出力端子
に一群の入力端子を接続し、サブカウンタデータ入力端
子に他群の入力端子を接続し、双方の入力の状態を比較
して所定の条件が満たされる度にサブカウンタ出力端子
にサブカウンタ出力信号を出力する比較回路とによって
サブカウンタを構成してなる特許請求の範囲第1項記載
のプログラマブル遅延回路。
6. A multi-bit counter that clears contents by a periodic clock signal input to a periodic clock terminal and performs a counting operation each time a count clock signal is input to a count clock terminal, and an output terminal for each bit of the counter Is connected to a group of input terminals, the sub-counter data input terminal is connected to another group of input terminals, the state of both inputs is compared, and whenever a predetermined condition is satisfied, the sub-counter output terminal is connected to the sub-counter output signal. 2. The programmable delay circuit according to claim 1, wherein a sub-counter is configured by a comparison circuit that outputs the sub-counter.
【請求項7】複数のサブカウンタデータ入力端子の反転
内容を作成する複数のNOT論理ゲートと、該NOT論理ゲー
トの出力端子と複数ビットからなるカウンタの各ビット
の出力端子との対応するビット間で個々にOR論理をとる
複数のOR論理ゲートと、該OR論理ゲートの全てのOR論理
結果とカウントクロック端子に入力したカウントクロッ
ク信号とのAND論理をとるAND論理ゲートとによって比較
回路を構成してなる特許請求の範囲第6項記載のプログ
ラマブル遅延回路。
7. A plurality of NOT logic gates for creating inverted contents of a plurality of sub-counter data input terminals, and a corresponding bit between an output terminal of the NOT logic gate and an output terminal of each bit of a multi-bit counter. A comparison circuit is constituted by a plurality of OR logic gates that individually take OR logic and AND logic gates that take AND logic of all OR logic results of the OR logic gates and the count clock signal input to the count clock terminal. 7. The programmable delay circuit according to claim 6, wherein:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US4530107A (en) * 1982-09-16 1985-07-16 Ampex Corporation Shift register delay circuit
JPS60119137U (en) * 1984-01-20 1985-08-12 株式会社日立製作所 pulse generator

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