JP2596084B2 - 材料試験機の波形発生装置 - Google Patents
材料試験機の波形発生装置Info
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- JP2596084B2 JP2596084B2 JP63191485A JP19148588A JP2596084B2 JP 2596084 B2 JP2596084 B2 JP 2596084B2 JP 63191485 A JP63191485 A JP 63191485A JP 19148588 A JP19148588 A JP 19148588A JP 2596084 B2 JP2596084 B2 JP 2596084B2
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- Japan
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- waveform pattern
- frequency dividing
- waveform
- clock pulse
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Description
【発明の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 この発明は、電気油圧サーボ式材料試験機において、
試験片に加えるべき荷重や変位などの負荷波形（設定信
号）を発生する波形発生装置に関する。
試験片に加えるべき荷重や変位などの負荷波形（設定信
号）を発生する波形発生装置に関する。
B.従来技術 周知のように、電気油圧サーボ式材料試験機では、試
験片に加えるべき荷重や変位など所望の負荷波形を波形
発生装置によって発生させ、この負荷波形を設定信号と
してサーボ系に与えて、試験片に所望の負荷を作用させ
るようになっている。
験片に加えるべき荷重や変位など所望の負荷波形を波形
発生装置によって発生させ、この負荷波形を設定信号と
してサーボ系に与えて、試験片に所望の負荷を作用させ
るようになっている。
近年、この種の波形発生装置はデジタル式が主流にな
っている。以下、第５図に基づいて、その概略構成を説
明する。
っている。以下、第５図に基づいて、その概略構成を説
明する。
水晶発振器１は一定周期のクロックパルスCKを発生
し、このクロックパルスCKはカウンタ２に与えられる。
カウンタ２はクロックパルスCKを計数し、その計数値が
アドレス指定信号ADとしてROM3に与えられる。ROM3の各
アドレス領域には、波形パターンのデジタル化符号が予
め記憶されており、カウンタ２によって指定されたアド
レスに従って、前記波形パターンのデジタル化符号Ｄが
順に出力される。このデジタル化符号Ｄは、D/A変換機
４でアナログ信号に変換され、この信号が設定信号Ｓと
して材料試験機のサーボ系に与えられる。
し、このクロックパルスCKはカウンタ２に与えられる。
カウンタ２はクロックパルスCKを計数し、その計数値が
アドレス指定信号ADとしてROM3に与えられる。ROM3の各
アドレス領域には、波形パターンのデジタル化符号が予
め記憶されており、カウンタ２によって指定されたアド
レスに従って、前記波形パターンのデジタル化符号Ｄが
順に出力される。このデジタル化符号Ｄは、D/A変換機
４でアナログ信号に変換され、この信号が設定信号Ｓと
して材料試験機のサーボ系に与えられる。
カウンタ２は、その計数値が上限値にまで達すると自
動的に『０』がリセットされるように構成されているた
め、ROM3に記憶された波形パターンが連続的に発生され
る。
動的に『０』がリセットされるように構成されているた
め、ROM3に記憶された波形パターンが連続的に発生され
る。
C.発明が解決しようとする課題 しかしながら、上述した従来装置には次のような問題
点がある。
点がある。
カウンタ２に入力されるクロックパルスCKの周波数は
一定であるから、ROM3からのデジタル化符号Ｄの読み出
し速度、すなわち、設定信号の周期が一定である。その
ため、材料試験において、波形パターンはそのままで、
負荷速度のみを変えて試験したい場合には、水晶発振器
１を取り替えて、あるいはスイッチなどで切り換えて、
異なる発振周波数をもつ別の水晶発振器１をカウンタ２
に接続して、負荷速度を変更しなければならないという
煩わしさがある。
一定であるから、ROM3からのデジタル化符号Ｄの読み出
し速度、すなわち、設定信号の周期が一定である。その
ため、材料試験において、波形パターンはそのままで、
負荷速度のみを変えて試験したい場合には、水晶発振器
１を取り替えて、あるいはスイッチなどで切り換えて、
異なる発振周波数をもつ別の水晶発振器１をカウンタ２
に接続して、負荷速度を変更しなければならないという
煩わしさがある。
また、上述のように設定される複数の負荷速度に応じ
て、複数個の水晶発振器を備えると、波形発生装置の構
成が複雑化し、装置のコストが嵩むという不都合もあ
る。
て、複数個の水晶発振器を備えると、波形発生装置の構
成が複雑化し、装置のコストが嵩むという不都合もあ
る。
さらに、個別の材料試験の場合には、上述のようにし
て対応することもできるが、一連の材料試験中に負荷速
度を可変する必要がある場合などでは、上述のような水
晶発振器１の切り換えで対応するのは極めて困難であ
る。
て対応することもできるが、一連の材料試験中に負荷速
度を可変する必要がある場合などでは、上述のような水
晶発振器１の切り換えで対応するのは極めて困難であ
る。
この発明は、このような事情に鑑みてなされたもので
あって、設定信号の周期（負荷速度）を比較的簡単に、
かつ、任意に変更することができる材料試験機の波形発
生信号を提供することを目的としている。
あって、設定信号の周期（負荷速度）を比較的簡単に、
かつ、任意に変更することができる材料試験機の波形発
生信号を提供することを目的としている。
D.課題を解決するための手段 この発明は、上記目的を達成するために次のような構
成を備えている。
成を備えている。
即ち、この発明に係る材料試験機の波形発生装置は、
クロックパルス発生手段と、前記クロックパルス発生手
段からクロックパルスを与えられるプログラマブル分周
手段と、このプログラマブル分周手段の分周比を任意に
設定する分周比制御手段と、前記プログラマブル分周手
段の出力パルスを計数する計数手段と、波形パターンの
デジタル化符号を予め記憶し、前記計数手段からの計数
値によって指定されたアドレス領域のデジタル化符号を
順に出力する波形パターン記憶手段と、前記波形パター
ン記憶手段から出力されたデジタル化符号をアナログ信
号に変換して出力するD/A変換手段とを備えている。
クロックパルス発生手段と、前記クロックパルス発生手
段からクロックパルスを与えられるプログラマブル分周
手段と、このプログラマブル分周手段の分周比を任意に
設定する分周比制御手段と、前記プログラマブル分周手
段の出力パルスを計数する計数手段と、波形パターンの
デジタル化符号を予め記憶し、前記計数手段からの計数
値によって指定されたアドレス領域のデジタル化符号を
順に出力する波形パターン記憶手段と、前記波形パター
ン記憶手段から出力されたデジタル化符号をアナログ信
号に変換して出力するD/A変換手段とを備えている。
E.作 用 この発明によれは、分周比制御手段からの制御信号に
よって、プログラマブル分周手段の分周比が任意に設定
することにより、計数手段に入力される単位時間当たり
のパルス数が可変される。その結果、記憶手段からのデ
ジタル化符号の読み出し速度が制御され、これにより、
負荷速度が任意に設定される。
よって、プログラマブル分周手段の分周比が任意に設定
することにより、計数手段に入力される単位時間当たり
のパルス数が可変される。その結果、記憶手段からのデ
ジタル化符号の読み出し速度が制御され、これにより、
負荷速度が任意に設定される。
F.実施例 以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は、この発明の一実施例の構成の概略を示した
ブロック図である。
ブロック図である。
同図において、符号10A,10Bは設定信号発生ユニット
であって、それぞれ個別に設定信号Sa,Sbを出力する。
各設定信号発生ユニット10A,10Bは同様の構成であるか
ら、ここでは、設定信号発生ユニット10Aについて説明
する。
であって、それぞれ個別に設定信号Sa,Sbを出力する。
各設定信号発生ユニット10A,10Bは同様の構成であるか
ら、ここでは、設定信号発生ユニット10Aについて説明
する。
クロックパルス発生手段としての水晶発振器11Aから
出力されたクロックパルスCKは、プログラマブル分周器
12Aに与えられる。ブログラマブル分周器12Aは、分周比
制御手段としてのCPU16によって、その分周比が設定さ
れ、その出力パルスＰはカウンタ13Aに与えられる。カ
ウンタ13Aの計数値は、波形パターン記憶手段としてのR
AM14Aに、アドレス指定信号ADとして与えられる。
出力されたクロックパルスCKは、プログラマブル分周器
12Aに与えられる。ブログラマブル分周器12Aは、分周比
制御手段としてのCPU16によって、その分周比が設定さ
れ、その出力パルスＰはカウンタ13Aに与えられる。カ
ウンタ13Aの計数値は、波形パターン記憶手段としてのR
AM14Aに、アドレス指定信号ADとして与えられる。
RAM14Aの各アドレス領域には、波形パターンのデジタ
ル化符号が予め記憶されている。RAM14Aは、CPU16に接
続されて、各デジタル化符号が任意に書き換えできるよ
うに構成されている。
ル化符号が予め記憶されている。RAM14Aは、CPU16に接
続されて、各デジタル化符号が任意に書き換えできるよ
うに構成されている。
RAM14Aから順に読み出されたデジタル化符号は、D/A
変換器15Aでアナログ信号に変換され、設定信号Saとし
て出力される。
変換器15Aでアナログ信号に変換され、設定信号Saとし
て出力される。
CPU16は、出力インターフェイス17を介して、波形パ
ターンのデータ入力のためのキーボード18,CRTとライト
ペンによる入力装置19、磁気ディスク20、地震計21など
に接続されている。波形パターンとしては、正弦波や三
角波などの繰り返し波形の他に、上述した磁気ディスク
20に格納されたり、あるいは、地震計21から直接に入力
される地震波形なども例示される。
ターンのデータ入力のためのキーボード18,CRTとライト
ペンによる入力装置19、磁気ディスク20、地震計21など
に接続されている。波形パターンとしては、正弦波や三
角波などの繰り返し波形の他に、上述した磁気ディスク
20に格納されたり、あるいは、地震計21から直接に入力
される地震波形なども例示される。
次に、上述した実施例の動作を説明する。
まず、キーボード18、入力装置19あるいは磁気ディス
ク20などから、波形パターンのデジタル化符号が入力さ
れ、これらのデジタル化符号がCPU16を介してRAM14A,14
Bに順に書き込まれる。RAM14A,14Bには、試験条件に応
じて同一の波形パターンあるいは異なる波形パターンが
書き込まれる。このように波形パターン記憶手段として
RAMを使用すると、波形パターンの書き換えを容易かつ
迅速に行うことができる。
ク20などから、波形パターンのデジタル化符号が入力さ
れ、これらのデジタル化符号がCPU16を介してRAM14A,14
Bに順に書き込まれる。RAM14A,14Bには、試験条件に応
じて同一の波形パターンあるいは異なる波形パターンが
書き込まれる。このように波形パターン記憶手段として
RAMを使用すると、波形パターンの書き換えを容易かつ
迅速に行うことができる。
一方、キーボード18などから負荷速度の条件が設定さ
れると、CPU16は設定された負荷速度に対応した分周比
をプログラマブル分周器12A,12Bに対して設定する。そ
の結果、水晶発振器11A,11BのクロックパルスCKが所定
の分周比でもって分周されることにより、RAM14A,14Bか
らのデジタル化符号の読み出し速度が調整され、所望の
周期（負荷速度）をもった設定信号Sa,Sbを得ることが
できる。
れると、CPU16は設定された負荷速度に対応した分周比
をプログラマブル分周器12A,12Bに対して設定する。そ
の結果、水晶発振器11A,11BのクロックパルスCKが所定
の分周比でもって分周されることにより、RAM14A,14Bか
らのデジタル化符号の読み出し速度が調整され、所望の
周期（負荷速度）をもった設定信号Sa,Sbを得ることが
できる。
一連の試験中に負荷速度を可変したい場合には、CPU1
6に関連して設けれたプログラム格納用RAM（図示せず）
に、複数の負荷速度条件を設定しておき、そのプログラ
ムの実行に伴ってプログラマブル分周器12A,12Bの分周
比を順次切り換えていけばよい。第２図は、負荷速度V1
から負荷速度V2に切り換えた場合のプログラマブル分周
器12の出力パルスＰおよび設定信号Saを例示している。
6に関連して設けれたプログラム格納用RAM（図示せず）
に、複数の負荷速度条件を設定しておき、そのプログラ
ムの実行に伴ってプログラマブル分周器12A,12Bの分周
比を順次切り換えていけばよい。第２図は、負荷速度V1
から負荷速度V2に切り換えた場合のプログラマブル分周
器12の出力パルスＰおよび設定信号Saを例示している。
なお、上述の実施例では、二つの設定信号Sa,Sbを得
るために、二つの設定信号発生ユニット10A,10Bを設け
たが、設定信号発生ユニットの個数は、一つあるいは三
つ以上であってもよい。
るために、二つの設定信号発生ユニット10A,10Bを設け
たが、設定信号発生ユニットの個数は、一つあるいは三
つ以上であってもよい。
また、実施例では二つの設定信号Sa,Sbの周期を異な
ったものにするために、水晶発振器11,プログラマブル
分周器12およびカウンタ13をそれぞれ個別に設けたが、
設定信号Sa,Sbの周期が同じでよい場合には、水晶発振
器11,プログラマブル分周器12およびカウンタ13を兼用
し、前記カウンタ13の出力パルスを二つのRAM14A,14Bに
アドレス指定信号として与えるようにしてもよい（第３
図参照）。同様に、水晶発振器11のみを兼用し、そのク
ロックパルスCKを二つのプログラマブル分周器12A,12B
に与え、各プログラマブル分周器12A,12Bの分周比を個
別に設定するようにしてもよい（第４図参照）。
ったものにするために、水晶発振器11,プログラマブル
分周器12およびカウンタ13をそれぞれ個別に設けたが、
設定信号Sa,Sbの周期が同じでよい場合には、水晶発振
器11,プログラマブル分周器12およびカウンタ13を兼用
し、前記カウンタ13の出力パルスを二つのRAM14A,14Bに
アドレス指定信号として与えるようにしてもよい（第３
図参照）。同様に、水晶発振器11のみを兼用し、そのク
ロックパルスCKを二つのプログラマブル分周器12A,12B
に与え、各プログラマブル分周器12A,12Bの分周比を個
別に設定するようにしてもよい（第４図参照）。
さらに、実施例では波形パターンの書き換えの容易性
を考慮して、波形パターン記憶手段としてRAMを使用し
たが、波形パターンを頻繁に書き換える必要のない用途
では、ROMを使用してもよいことは勿論である。
を考慮して、波形パターン記憶手段としてRAMを使用し
たが、波形パターンを頻繁に書き換える必要のない用途
では、ROMを使用してもよいことは勿論である。
G.発明の効果 以上の説明から明らかなように、この発明に係る材料
試験機の波形発生装置によれは、クロックパルス発生手
段と計数手段との間にプログラマブル分周手段を介在さ
せ、その分周比を任意に設定可能に構成したから、負荷
速度を比較的簡単に、かつ、任意に変更することがで
き、この種の材料試験機の操作性や試験条件設定の自由
度を大幅に向上することができる。
試験機の波形発生装置によれは、クロックパルス発生手
段と計数手段との間にプログラマブル分周手段を介在さ
せ、その分周比を任意に設定可能に構成したから、負荷
速度を比較的簡単に、かつ、任意に変更することがで
き、この種の材料試験機の操作性や試験条件設定の自由
度を大幅に向上することができる。
第１図は本発明の第１実施例に係る材料試験機の波形発
生装置の概略ブロック図、第２図は第１実施例の動作波
形図、第３図は第２実施例の要部ブロック図、第４図は
第３実施例の要部ブロック図である。 第５図は従来装置の概略ブロック図である。 10A,10B……設定信号発生ユニット 11,11A,11B……水晶発振器 12,12A,12B……プログラマブル分周器 13,13A,13B……カウンタ 14A,14B……RAM 15A,15B……D/A変換器 16……CPU
生装置の概略ブロック図、第２図は第１実施例の動作波
形図、第３図は第２実施例の要部ブロック図、第４図は
第３実施例の要部ブロック図である。 第５図は従来装置の概略ブロック図である。 10A,10B……設定信号発生ユニット 11,11A,11B……水晶発振器 12,12A,12B……プログラマブル分周器 13,13A,13B……カウンタ 14A,14B……RAM 15A,15B……D/A変換器 16……CPU
Claims (1)
- 【請求項１】クロックパルス発生手段と、前記クロック
パルス発生手段からクロックパルスを与えられるプログ
ラマブル分周手段と、このプログラマブル分周手段の分
周比を任意に設定する分周比制御手段と、前記プログラ
マブル分周手段の出力パルスを計数する計数手段と、波
形パターンのデジタル化符号を予め記憶し、前記計数手
段からの計数値によって指定されたアドレス領域のデジ
タル化符号を順に出力する波形パターン記憶手段と、前
記波形パターン記憶手段から出力されたデジタル化符号
をアナログ信号に変換して出力するD/A変換手段とを備
えたことを特徴とする材料試験機の波形発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63191485A JP2596084B2 (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | 材料試験機の波形発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63191485A JP2596084B2 (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | 材料試験機の波形発生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0240529A JPH0240529A (ja) | 1990-02-09 |
| JP2596084B2 true JP2596084B2 (ja) | 1997-04-02 |
Family
ID=16275428
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63191485A Expired - Lifetime JP2596084B2 (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | 材料試験機の波形発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2596084B2 (ja) |
-
1988
- 1988-07-29 JP JP63191485A patent/JP2596084B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0240529A (ja) | 1990-02-09 |
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