JP2592953B2 - リバース圧延時の平担度制御方法 - Google Patents

リバース圧延時の平担度制御方法

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JP2592953B2
JP2592953B2 JP1038001A JP3800189A JP2592953B2 JP 2592953 B2 JP2592953 B2 JP 2592953B2 JP 1038001 A JP1038001 A JP 1038001A JP 3800189 A JP3800189 A JP 3800189A JP 2592953 B2 JP2592953 B2 JP 2592953B2
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誠 吉井
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Kawasaki Steel Corp
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B21MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
    • B21BROLLING OF METAL
    • B21B37/00Control devices or methods specially adapted for metal-rolling mills or the work produced thereby
    • B21B37/28Control of flatness or profile during rolling of strip, sheets or plates
    • B21B37/38Control of flatness or profile during rolling of strip, sheets or plates using roll bending

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Control Of Metal Rolling (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【産業上の利用分野】
本発明は、厚板等の被圧延材をリバース圧延によつて
圧延する際に用いるリバース圧延時の平坦度制御方法の
改良に関する。
【従来の技術】
一般に、厚板圧延では、板厚の薄くなる後半パスで平
坦度の不良が発生し易いため、所定の板厚以下となるパ
スを形状制御パスと称して平坦度不良が発生しないよう
に予め圧下スケージユールを決定するようにしている
(特開昭55−64910号)。 しかしながら、予め計算した圧下スケジユールと実際
の圧延とでは、圧延材の温度予測誤差等に起因する圧延
荷重誤差、あるいはロールプロフイール(ヒートクラウ
ン、ロール摩耗)予測誤差等のために、圧延材の板クラ
ウン変化が予測と異なつてしまい、これに起因して平坦
度不良が発生してしまうという問題がある。 このような平坦度不良の発生防止のために、従来、圧
延材の形状(ロールプロフイール)の測定情報に基づい
て、ワークロールベンデイング力を制御する方法が知ら
れている(例えば特開昭59−159208号、同52−17355
号)。
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、これら従来の方法は、タンデムミル等
の定常圧延状態に適用するには有効であるが、厚板圧延
のようなリバース圧延を行う圧延機においては、スラブ
毎、パス毎に圧延スケージユールが変化するため十分な
効果が得られないという問題を残していた。 即ち、ロールプロフイールが平坦度に及ぼす影響につ
いては、ヒートクラウンの予測モデル、ロール摩耗予測
モデルを用いつロールプロフイールを予測し、これを圧
下スケジユール計算に反映させるようにしているが、予
測誤差による板クラウン変化に加えて、同一圧延材の圧
延中においてもロールプロフイール変化が生じるため、
これによつて板クラウン変化が発生し、平坦度不良を生
じる。 特に、厚板のリバース圧延では、第3図に示されるよ
うに、成形、幅出し、厚み出しの圧延スケジユール毎に
材料幅が変化するために、常にロールプロプイール(特
にヒートクラウン)が非定常に変化する。更に、圧延材
寸法もスラブ毎に変化するため、スラブ間でのロールプ
ロフイール変化も大きい。 又、厚板圧延では、デスケーリング等により生じる周
辺雰囲気の悪化が既存のセンサに対して悪影響を及ぼす
ため、平坦度検出を行えるパスも限定されてしまい、一
般に途中パスで行つた平坦度検出結果で最終パスまで制
御する必要があるという問題もある。
【発明の目的】
本発明は、このような従来の問題に鑑みてなされたも
のであつて、厚板等をリバース圧延によつて圧延する際
においても、平坦度を精度良く制御し、圧延での絞り込
みの発生防止、矯正不可の低減、平坦度不良に起因する
精整工程の付加低減を得ることができ、併せて、それま
で平坦度の観点から制約を受けていたロールチヤンスを
拡大することができ、素材の物流簡素化を図ることがで
きるリバース圧延時の平坦度制御方法を提供することを
目的とする。
【課題を解決するための手段】
本発明は、厚板等の圧延材をリバース圧延によつて圧
延する際に用いるリバース圧延時の平坦度制御方法にお
いて、圧延機の前面、後面の一方又は両方位置で、圧延
途中パスにおいて少なくとも1回圧延材の平坦度を検出
する手順と、平坦度を検出した直前の圧延実績データと
検出された平坦度の結果とから、圧延荷重及びロールプ
ロフイールの予測誤差を推定する手順と、該予測誤差に
基づいて、平坦度不良を防止するためのワークロールベ
ンデイング力を決定する手順とを含むことにより、上記
目的を達成したものである。
【作用】
本発明においては、まずリバース圧延においては、周
辺雰囲気の悪化が既存のセンサに対して悪影響を及ぼ
し、平坦度測定を行えるパスが限定されてくることに鑑
み、圧延途中パスで少なくとも1回圧延材の平坦度を検
出し、この検出結果に基づいて平坦度制御を行うように
している。 又、平坦度を測定した直前の圧延実績データと測定さ
れた平坦度測定結果とから、圧延荷重の予測誤差及びロ
ールプロフイールの予測誤差をそれぞれ推定し、この推
定された予測誤差に基づいて、平坦度不良を防止するた
めの次パス以降のワークロールベンデイング力を決定す
るようにしている。 これにより、リバース圧延特有の、スラブ毎、パス毎
に圧延スケジユールが変化するような状況においても、
良好な平坦度制御を行うことができるようになる。
【実施例】
以下図面に基づいて本発明の実施例を詳細に説明す
る。 圧延材の平坦度不良に直接影響を及ぼす要因は、圧延
材の幅方向各位置における圧延方向伸び率差であり、従
つて、この圧延方向伸び率を一定とするために、クラウ
ン比率一定の圧延が行われる。クラウン比率は、次のよ
うにして求められる。 クラウン比率=Cri/Hi …(1) Cri:iパスでの出側板クラウン Hi :iパスでの出側板厚 クラウン比率が一定とならない場合には、幅方向各位
置における伸び率差Δγが生じ、第4図(A)、(B)
に示すような平坦度不良(急峻度λ)が生じる。 伸び率差Δγは次のようにして求められる。 Δγ=Cri/Hi−Cri-1/Hi-1 …(2) Cri、Hi:iパスでの出側板クラウン、板厚 Cri-1、Hi-1:i−1パスでの出側板クラウン、板厚 即ち、前パス(i−1パス)におけるクラウン比率と
次パス(iパス)でのクラウン比率との差で表わされ
る。この場合、平坦度不良(急峻度λ)は(3)式のよ
うにして求めることができる。 クラウン比率が一定とならない原因としては、温度予
測誤差等に起因する圧延荷重予測誤差とロールプロフイ
ール予測誤差とが挙げられる。これらの誤差要因を、i
パス後の平坦度検出情報及びiパスより前のパス(i−
1パス)での圧延荷重実績から推定し、次パス(i+1
パス)以降のワークロールベンデイング力を決定する。 第1図にこのための情報処理フロー示す。 iパスにおける板クラウンCriは、(4)式のように
表わすことができる。 Cri=f(Pi、Cw、CB、Fi) …(4) Pi:圧延荷重(実績) Cw:ワークロールクラウン(真値) CBi:バツクアツプロールクランウン(真値) Fi:ワークロールベンデイング力(実績) 一方、圧延において幅方向各位置における圧延方向の
伸び率差が平坦度に現われる限界板厚Hcsが存在するこ
とが一般に知られており、この時の板クラウンCrcsは次
式で表わされる。 Crcs=f(Pcs、Cw、CB、Fcs) …(5) 従つて、平坦度不良を引き起こすクラウン比率の変化
Δγは、(6)式で求めることができる。 Δγ=Cri/Hi−Crcs/Hcs=f(Pi、Cw、CB、Fi)/Hi −f(Pcs、Cw、CB、Fcs)/Hcs …(6) 又、iパスでの平坦度不良実績λiから実績のクラウ
ン比率変化Δγiを求めると、(7)式のようになる。 Δγi=(π/2・λi) …(7) (6)式においてバツクアツプロールクラウンCBは、
1ロールチヤンス中の変化量が小さいため真値と仮定
し、ワークロールクラウンの予測誤差をΔCw、予測値を
Cwpとすると、(6)式は次のようになる。 Δγ=f(Pi、Cwp+ΔCw、CB、Fi)/Hi −f(Pcs、Cwp+ΔCw、CB、Fcs)/Hcs …(8) (7)、(8)式を用いて、Δγi=Δγとおくこと
によつて、ワークロールクラウンの予測誤差ΔCwの算出
が可能である。 一方、圧延荷重の予測誤差FCFi+1については、温度予
測誤差の影響が大きく、同一スラブ内ではほぼ同傾向と
考えることができるため、実績/予測の比をiパス以前
のパスまでに学習することで、i+1パス以降に反映さ
せることが可能である。 FCFi+1=(実績荷重/予測荷重)i×α +FCFi(1−α) …(9) Ppi+1′=FCFi+1*Ppi+1 …(10) α:指数平滑係数 Ppi+1:予測圧延荷重(修正前) Ppi+1′:予測圧延荷重(修正後) 以上のようにして求めたワークロールクラウンの予測
誤差ΔCwと圧延荷重予測誤差FCFi+1とを用いて、i+1
パス以降のクラウン比率Cri+1/Hi+1を所定のクラウン比
率となるように、ワークロールベンデイング力Fi+1を求
め制御する。所定のクラウン比率としては、通常Crcs/H
csを用いる。即ち、(11)式において、Fi+1が未知数と
いうことになる。 f(Ppi+1′、Cwp+ΔCw、CB、Fi+1)/Hi+1 =f(Pcs、Cwp+ΔCw、CB、Fcs)/Hcs …(11) ここでは、iパス後に検出を行つた例を示したが、途
中パスのどのタイミングで検出を行つても、同一処理を
行うことができ、その都度平坦度制御を行うことが可能
である。 最後に、第2図にベンデイング制御のシステム構成を
示す。第2図において、符号1、1′は、上下ワークロ
ールで、2、2′のベンデイング装置によつてベンデイ
ングされる。3はベンデイング力(圧力)を制御するた
めのロールバランス圧力制御装置である。 符号7は、ベンデイング力を演算するためのCPUで、
ロードセル4からの荷重実績、平坦度計6からの平坦度
情報、ベンデイング力の実績、プロセスコンピュータ5
からの圧延条件データ等から荷重予測誤差、ワークロー
ルクラウン予測誤差を前述したような方法によつて演算
し、次パス以降のベンデイング力を決定する。なお符号
8、8′は上下のバツクアツプロールである。 このベンデイング制御における個々のハード構成につ
いては、従来と特に異なるところがないため詳細な説明
は省略する。
【発明の効果】
以上説明した通り、本発明によれば、スラブ毎、ある
いは各パス毎に圧延スケジユールが変化するようなリバ
ース圧延等においても、平坦度を精度良く制御すること
が可能となり、圧延での絞り込みの発生防止、矯正不可
の低減、平坦度不良に起因する精整工程の負荷低減を図
ることができるようになるという優れた効果が得られ
る。 又、これまで平坦度の観点から制約を受けていたロー
ルチヤンスを拡大することができ、素材の物流簡素化を
図ることができるようになるという効果も得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係る平坦度制御方法の実施例を示す
流れ図、 第2図は、本発明が適用されるべきリバース圧延システ
ムの概略を示す(一部にブロツク図を含む)概略正面
図、 第3図は厚板のリバース圧延過程を示す工程図、 第4図は、平坦度不良の例を示す斜視図である。 1、1′……ワークロール、 2、2′……ベンデイング装置、 3……ベンデイング力制御装置、 4……ロードセル、 5……プロセスコンピユータ、 6……平坦度計、7……CPU。
フロントページの続き (72)発明者 吉里 勉 岡山県倉敷市水島川崎通1丁目(番地な し) 川崎製鉄株式会社水島製鉄所内 (56)参考文献 特開 昭50−102551(JP,A) 特開 昭53−108856(JP,A)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】厚板等の圧延材をリバース圧延によつて圧
    延する際に用いるリバース圧延時の平坦度制御方法にお
    いて、 圧延機の前面、後面の一方又は両方位置で、圧延途中パ
    スにおいて少なくとも1回圧延材の平坦度を検出する手
    順と、 平坦度を検出した直前の圧延実績データと検出された平
    坦度の結果とから、圧延荷重及びロールプロフイールの
    予測誤差を推定する手順と、 該予測誤差に基づいて、平坦度不良を防止するためのワ
    ークロールベンデイング力を決定する手順と、 を含むことを特徴とするリバース圧延時の平坦度制御方
    法。
JP1038001A 1989-02-17 1989-02-17 リバース圧延時の平担度制御方法 Expired - Lifetime JP2592953B2 (ja)

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JPS543464B2 (ja) * 1973-12-19 1979-02-23
JPS548464A (en) * 1977-06-22 1979-01-22 Seiko Instr & Electronics Ltd Insulation coating method to film carrier
JPS6325845A (ja) * 1986-07-17 1988-02-03 Fujitsu Ltd 光ピツクアツプ

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