JP2591931B2 - 振動ジャイロ - Google Patents

振動ジャイロ

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JP2591931B2
JP2591931B2 JP7158885A JP15888595A JP2591931B2 JP 2591931 B2 JP2591931 B2 JP 2591931B2 JP 7158885 A JP7158885 A JP 7158885A JP 15888595 A JP15888595 A JP 15888595A JP 2591931 B2 JP2591931 B2 JP 2591931B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コリオリ力を利用して
回転角速度を検出する振動ジャイロに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、この種の振動ジャイロは、例え
ば、各種制御対象の姿勢制御や、カメラにおける手振れ
検知などに利用されている。
【0003】このような用途に用いられる振動ジャイロ
として、例えば、図33に示すようなものがある。これ
は、音叉型振動子1に駆動用圧電磁器2を貼合せて複合
音叉型振動子3を構成したもので、振動子1をx軸方向
に駆動励振する。そして、振動子1の中心軸(z軸)に
回転角速度(Ω0 )を加えると、その振動(x軸)と直
角方向(y軸方向)にコリオリ力が生ずるので、音片型
振動子4に対してy軸に貼合せた検出用圧電磁器5によ
り回転角速度Ω0 を検出するように構成されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このような従来技術に
おいては、圧電材料(圧電磁器)を切断し、互いに接着
するという工程を経て作製される。従って、加工が煩雑
であり、加工コストを低減させる上で限界があるととも
に、大量生産に不向きである。また、小型化も困難であ
る。
【0005】さらに、振動子1,4の加工精度や圧電材
料の特性、接着位置等のバラツキにより回転角速度Ωが
ゼロ(無回転時)の検出電圧(所謂、ヌル電圧)が完全
にゼロとならず、かつ、回転角速度Ωに対する検出電圧
が数mWと低く、S/N比もよくない。
【0006】S/N比の改善には、ヌル電圧を限りなく
ゼロに近付ける必要があるが、寸法精度、取付角度等の
加工・組立て及び調整にかなりの精度が要求され、量産
及びコストダウンを考慮した場合、現実には多くの困難
がある。
【0007】ちなみに、回転角速度Ωに対する感度を上
げることにより、ヌル電圧に対するS/N比を向上さ
せ、測定精度を高くするために、図34に示すように、
振動子6を断面正三角形状とした振動ジャイロも考えら
れているが、製造工程については図33に示したものと
なんら変わるところはなく、低コスト化、大量生産、小
型化は困難である。
【0008】本発明は、このような点に鑑み、以上の従
来技術の欠点を克服した振動ジャイロを提供することを
目的とする。即ち、切断や組立て等の工程がなく、加工
コストが低く、大量生産可能であり、かつ、小型化が容
易であり、測定精度の高い振動ジャイロを提供すること
を目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明の振
動ジャイロは、円形状に形成された庇を有する平板と、
前記庇領域部分に対して配置させた送波器と、この送波
器によって前記庇に生ずる定在波の波長の整数倍の距離
だけ離間させて前記庇領域部分に対して配置させた少な
くとも一対の受波器とを有する構成とした。
【0010】請求項2記載の発明の振動ジャイロは、円
形状に形成された庇を有する平板と、前記庇領域部分に
対して配置させた送波器と、この送波器から等距離の位
置の前記庇領域部分に対して配置させた少なくとも一対
の受波器とを有する構成とした。
【0011】請求項3記載の発明の振動ジャイロは、請
求項2記載の発明の振動ジャイロの構成に加えて、送波
器から最も遠い等距離の位置に配置させた一対の受波器
間に位置させて庇領域部分に吸振材又は吸音材を設け
た。
【0012】請求項4記載の発明の振動ジャイロは、請
求項3記載の発明の振動ジャイロの構成において、吸振
材又は吸音材を充填させる切欠きを庇領域部分に形成し
た。
【0013】請求項5記載の発明の振動ジャイロは、円
形状に形成された庇を有する平板と、前記庇領域部分に
対して配置させた送波器と、円形状の前記庇の中心点に
対して前記送波器と点対称をなす庇領域部分の位置に形
成された切欠きと、前記送波器によって前記庇に生ずる
定在波の波長の整数倍であって送波器から等距離の位置
の庇領域部分に対して配置させた少なくとも一対の受波
器とを有する構成とした。
【0014】また、請求項1,2,3,4又は5記載の
発明の振動ジャイロの構成に関して、請求項6記載の発
明では、庇を半導体材料により形成し、送波器と受波器
との少なくとも一方を前記庇領域部分に不純物を拡散さ
せてなる拡散抵抗により形成した。請求項7記載の発明
では、庇を絶縁体材料により形成し、送波器と受波器と
の少なくとも一方を前記庇領域部分に設けた半導体材料
により形成した。請求項8記載の発明では、庇を絶縁体
材料により形成し、送波器と受波器との少なくとも一方
を前記庇領域部分に設けた金属材料により形成した。請
求項9記載の発明では、庇を膜厚方向に圧電定数が順次
変化する圧電材料により形成し、送波器と受波器との少
なくとも一方が配置される庇領域部分の両面に対をなす
電極を形成した。請求項10記載の発明では、庇を圧電
材料により形成し、送波器と受波器との少なくとも一方
が配置される庇領域部分の片面に面内で対をなす電極を
形成した。請求項11記載の発明では、庇を絶縁体材料
により形成し、送波器と受波器との少なくとも一方を前
記庇領域部分に設けた圧電材料により形成した。請求項
12記載の発明では、庇と平板との間に空隙を設け、送
波器と受波器との少なくとも一方が配置される庇領域部
分に設けられた電極と前記空隙を介してこの電極に対向
させた前記平板上の電極とによりコンデンサを形成し
た。請求項13記載の発明では、庇と平板との間に空隙
を設け、送波器と受波器との少なくとも一方が配置され
る庇領域部分にコイルを形成するとともに前記空隙を介
してこのコイルに対向する磁性体材料部を前記平板上に
形成した。請求項14記載の発明では、庇と平板との間
に空隙を設け、送波器と受波器との少なくとも一方が配
置される庇領域部分に磁性体材料部を形成するとともに
前記空隙を介してこの磁性体材料部に対向するコイルを
前記平板上に形成した。請求項15記載の発明では、時
間的に光量が変化する光が照射される庇領域部分を送波
器とした。請求項16記載の発明では、庇領域部分の面
上に光を照射する光源と、この光源により照射されて庇
領域部分から反射される光の位置を検出する光位置検出
器とよりなる受波器とした。請求項17記載の発明で
は、庇の振動を光干渉法により検出する光検出計よりな
る受波器とした。
【0015】さらに、これらの請求項1ないし17の何
れか一記載の発明の振動ジャイロの構成に関して、請求
項18記載の発明では、円形状に形成された庇の中心部
に位置させて、台座に接着される剛性の高い部分を平板
部と一体で形成した。請求項19記載の発明では、円形
状に形成された庇の中心部及び前記庇の外側に位置させ
て、剛性の高い部分を平板部と一体で形成した。
【0016】
【作用】請求項1記載の発明の振動ジャイロにおいて
は、庇領域部分に対して配置させた送波器を駆動させる
と、送波器部分の庇に形状変化が繰り返し生じて振動す
る。この振動が円形状の庇のエッジに沿って伝わり、送
波器の駆動周波数を適当に設定することにより、送波器
から右回りの振動と左回りの振動とが重なり合い、共振
して定在波を生ずる。庇領域部分に対して配置された少
なくとも一対の受波器は定在波により生ずる庇の曲げに
よる歪を検知する。この場合、対をなす受波器は定在波
の波長の整数倍だけ離間させて配置されているので、回
転角速度がゼロの場合には対をなす受波器で検知される
歪変化の位相は一致している。そして、振動ジャイロが
回転すると、コリオリ力が働き、定在波が崩れ、対をな
す受波器で検知される歪変化に位相差を生ずる。この位
相差に基づき回転角速度が検出される。このような振動
ジャイロは、平板に対するフォトリソグラフィ工程等の
工程による半導体製造工程なるバッチプロセスにより作
製できることにより、組立て工程を要せず、かつ、加工
コストを低減でき、大量生産向きとなる。また、半導体
製造工程によれば、μm以下の精度があるので、小型化
が容易である上に、容易にヌル電圧を低減させることが
できるので、回転角速度の測定精度が向上する。
【0017】請求項2記載の発明の振動ジャイロにおい
ては、対をなす受波器が送波器から等距離の位置に配置
されているので、振動ジャイロの回転角速度がゼロの場
合には、送波器により発生させた右回り及び左回りの振
動は、対をなす受波器に同時に伝搬する。そして、振動
ジャイロが回転すると、コリオリ力が働き、右回りの振
動と左回りの振動との伝搬速度が異なり、対をなす受波
器に到達する時刻に位相差を生ずる。この位相差に基づ
き回転角速度が検出される。このような振動ジャイロに
関しても、請求項1記載の発明の振動ジャイロと同様
に、半導体製造工程なるバッチプロセスにより作製でき
る等のメリットが得られる。
【0018】この場合、請求項3記載の発明の振動ジャ
イロにおいては、送波器から最も遠い等距離の位置に配
置させた一対の受波器間に位置させて庇領域部分に吸振
材又は吸音材を有するので、送波器により発生させた右
回りの振動と左回りの振動とは送波器から最も遠い受波
器を超えた後は吸振材又は吸音材に到達して吸収される
ので、右回りの振動と左回りの振動とが干渉することが
なく、回転角速度の測定精度がさらに向上する。請求項
4記載の発明の振動ジャイロによる場合も、切欠きに充
填させた吸振材又は吸音材により、同様の作用が得られ
る。
【0019】請求項5記載の発明の振動ジャイロにおい
ては、庇領域部分に対して配置させた送波器を駆動させ
ると、送波器部分の庇に形状変化が繰り返し生じて振動
する。この振動が円形状の庇のエッジに沿って切欠きま
で伝わる。送波器から出た右回りの振動は切欠きで反射
され左回りの振動として伝搬する。同様に、送波器から
出た左回りの振動は切欠きで反射され右回りの振動とし
て伝搬する。ここに、送波器の駆動周波数を適当に設定
することにより、送波器・切欠き間で、各々の右回り、
左回りの振動が重なり合い、共振して定在波を生ずる。
よって、請求項1記載の発明の振動ジャイロの場合と同
様に、対をなす受波器を定在波の波長の整数倍であって
送波器から等距離の位置の庇領域部分に対して配置さ
せ、振動ジャイロを回転させた場合の対をなす受波器間
の位相差に基づき回転角速度が検出される。このような
振動ジャイロに関しても、請求項1記載の発明の振動ジ
ャイロと同様に、半導体製造工程なるバッチプロセスに
より作製できる等のメリットが得られる。
【0020】これらの請求項1,2,3,4又は5記載
の発明の振動ジャイロに関して、請求項6ないし17記
載の発明の振動ジャイロにおいては、庇を半導体材料に
より形成し、送波器又は受波器を拡散抵抗により形成す
る等、送波器や受波器を含めて半導体製造工程なるバッ
チプロセスにより作製でき、振動ジャイロの作製がより
一層容易となる。
【0021】さらに、これらの請求項1ないし17の何
れか一記載の発明の振動ジャイロに関して、請求項18
記載の発明の振動ジャイロにおいては、台座に接着され
る部分が剛性が高くて庇の中心部に位置しているので、
熱膨張係数の異なる台座に平板を取り付けてもこの熱膨
張係数の差により生ずる平板の応力歪の測定出力への影
響、即ち、温度変化の測定出力への影響が少ない。ま
た、請求項19記載の発明の振動ジャイロにおいては、
平板の外側を向いている庇を損傷することなく、台座に
接着する等のハンドリング作業を行える。
【0022】
【実施例】請求項1及び6記載の発明の一実施例を図1
ないし図6に基づいて説明する。まず、ドープ量が10
17cm~3以下のn型(又は、p型)のSi基板が平板11
として設けられている。この平板11には円形の穴12
が開口形成されているとともに、平板11上には、例え
ば、n型のエピタキシャル層13が積層されている。こ
のエピタキシャル層13にも前記穴12と同心の円形の
穴14が開口形成されている。ここに、穴14の半径の
ほうが穴12の半径よりも小さいことにより、エピタキ
シャル層13が穴12側に突出して円形状の庇15が形
成されている。
【0023】このような庇15領域部分に対しては、p
型の不純物を選択拡散させた拡散抵抗R1 ,R2 ,R3
が形成されている。ここに、拡散抵抗R1 は送波器を構
成するので、p型の不純物の量(ドープ量)はできるだ
け多くして低抵抗化させることが好ましい。また、拡散
抵抗R2 ,R3 は一対の受波器を構成するもので、p型
の不純物の量は1017〜1021cm~3程度に設定されてい
る。これらの拡散抵抗R2 ,R3 間の距離は、後述する
ように拡散抵抗R1 によって生ずる定在波の1波長をλ
としたとき、λに設定されている(もっとも、この波長
λが短く、加工精度上、これらの拡散抵抗R2 ,R3
作製が困難な場合には、波長λの2倍、3倍、といった
ように整数倍離間させてもよい)。これらの拡散抵抗R
1 ,R2,R3 には各々一対ずつのAl配線16が形成
されている。
【0024】このような構成よりなる振動ジャイロ17
は、全て半導体製造工程なるバッチプロセスにより作製
される。その作製プロセスを図2を参照して説明する。
まず、n型(又は、p型)のSi基板なる平板11上に
エピタキシャル層13を積層形成した板材を用意し、図
2(a)に示すように、エピタキシャル層13上の所定
位置にp型の不純物を拡散させて拡散抵抗R1 ,R2
3 を形成し、さらに、これらの拡散抵抗R1 ,R2
3 に対してAl配線16を設ける。
【0025】ついで、このような板材の表裏面にマスキ
ングフィルム(図示せず)を形成し、表面(エピタキシ
ャル層13側)のみ円形にフォトリソグラフィ法により
エッチング・パターニングした後、例えば、容積比でH
F:HNO3 :H2O又はCH3COOH=1:2:1、
或いは、9:75:30のエッチャントによりエピタキ
シャル層13をエッチングし、図2(b)に示すよう
に、円形の穴14をあける。
【0026】この後、今度は板材の裏面のマスキングフ
ィルムを上記であけた穴14より大きな半径で円形状パ
ターニングし、例えば、HF:HNO3:H2O又はCH
3COOH=1:3:8のエッチャントにより裏面から
Si基板なる平板11をエッチングし、図2(c)に示
すように、穴14とともに貫通穴を形成する穴12をあ
ける。この場合、裏面用のエッチャントはドープ量が1
17cm~3以下のSi基板のみをエッチングするので、n
型のエピタキシャル層13はエッチングされず、円形状
の庇15が形成されることになる。
【0027】次に、本実施例の振動ジャイロ17の動作
を説明する。まず、送波器として機能する拡散抵抗R1
は図3中に示すようにAl配線16を介して交流電圧V
aなる交流電源18に接続されている。拡散抵抗R1
非常に低抵抗化されているので、容易にヒータとして働
き、このような交流電圧Vaの印加により、発熱する
と、熱膨張により拡散抵抗R1 が配置された部分の庇1
5が図4(b)に示すように下に曲がる。この場合、交
流電圧Vaの印加であるので、このような庇15の形状
の変化が繰り返され、庇15は振動する。
【0028】この庇15の振動が、庇15の円形状のエ
ッジに沿ってうねるように曲げモードとして伝ってい
く。交流電圧Vaの周波数f0 を適当に定めると、右回
りに伝搬して1回りした振動と、左回りに伝搬して1回
りした振動とが重なり合い、共振して定在波が生ずる。
【0029】一方、受波器として機能する拡散抵抗R
2 ,R3 は、そのドープ量からピエゾ抵抗効果を持つた
め、この定在波により生じる各々R2 部、R3 部の庇1
5の曲げによる歪を検知することで、抵抗が変化する。
即ち、所定の周波数f0 で抵抗値が変化する。ここに、
拡散抵抗R2 ・R3 間の距離は、定在波の1波長λ分
(又は、1波長分の整数倍)に設定されているので、z
軸回りの回転角速度Ωがゼロの場合、拡散抵抗R2 ,R
3 の抵抗変化の位相は一致している。
【0030】ここで、対をなす拡散抵抗R2 ,R3 は図
3中に示すように2つの参照抵抗Rとともにホイースト
ンブリッジ19を構成しており、このホイーストンブリ
ッジ19には直流電圧Vbが印加されている。ホイース
トンブリッジ19からの出力V2 ,V3 は差動増幅器2
0に入力されている。この差動増幅器20の出力Vou t
からロックインアンプ21を介して最終的な直流信号V
sig が得られるように構成されている。
【0031】今、振動ジャイロ17の回転角速度Ω=0
の時には、前述したような理由によって、図5に示すよ
うに、出力V2 ,V3 の位相が一致しているので、差動
増幅器20の出力Vout はゼロとなる。そして、図1
(a)中に矢印で示すように、振動ジャイロ17がz軸
回りに回転すると、コリオリの力が働き、定在波が崩れ
る。これにより、拡散抵抗R2 ,R3 が受ける定在波に
よる振動に位相差が生じ、図6に示すように出力V2
3 にも位相差が生じる。これにより、差動増幅器20
の出力Vout に振動波形が現れるので、これから振動ジ
ャイロ17の回転角速度Ωを検出できる。
【0032】例えば、交流電圧Vaと比較して、出力V
2 がθだけ位相差が進み、出力V3が遅れる、とする
と、 V2 =asin(ωt+θ) V3 =asin(ωt−θ) となる。よって、 Vout =V2 −V3 =2asinθsin(ωt+π/2) となる。従って、交流電圧Vaを参照信号とするロック
インアンプ21等により、Vout をπ/2の位相で位相
検波し、ローパスフィルタをかければ、 Vsig =Asinθ なる直流信号が得られる。Ωはθに比例し、θ≒0では
sig =Aθとなるので、回転角速度Ωにほぼ比例した
直流信号Vsig を得ることができる。
【0033】本実施例によれば、Si基板による平板1
1上にフォトリソグラフィ工程による半導体製造工程を
施すことにより、組立て工程を伴うことなく、振動ジャ
イロ17を作製することができるので、大量生産に適し
たものとなり、加工コストを低くできる。また、半導体
製造工程によるので、μm以下の加工精度があり、振動
ジャイロ17の小型化が容易な上に、その加工精度に再
現性があるので、容易にヌル電圧を低減させることがで
き、よって、振動ジャイロ17の回転角速度Ωの測定精
度の高いものとなる。特に、本実施例では、送波器と受
波器とについても拡散抵抗R1 ,R2 ,R3 として形成
しており、振動ジャイロ17の全ての半導体製造工程に
よって作製できるので、振動ジャイロ17をより容易に
作製することができる。
【0034】つづいて、請求項5記載の発明の一実施例
を図7により説明する。前記実施例で示した部分と同一
機能を果たす部分は同一符号を用いて示し、その詳細を
省略する(以下の実施例でも同様とする)。本実施例の
振動ジャイロ22では、円形状の庇15の中心点Oに対
して送波器を構成する拡散抵抗R1 と点対称をなす庇1
5の位置には切欠き23が形成されている。また、受波
器を構成する一対の拡散抵抗R2 ,R3 は、前記拡散抵
抗R1 から等距離の位置であって、庇15に発生させる
定在波の波長λのn倍(nは整数)、即ち、nλの位置
に配置されている。この他の構成は、前記実施例の場合
と同様である。
【0035】このような構成において、前記実施例と同
様に送波器として機能する拡散抵抗R1 に交流電圧Va
を印加して、庇15に振動を与えると、この振動が庇1
5の内周側エッジに沿って曲げモードとして伝ってい
く。この拡散抵抗R1 から出た左回りの振動は、切欠き
23まで到達した後、この切欠き23の端面で反射して
右回りに伝搬していく。一方、拡散抵抗R1 から出た右
回りの振動は、同様に、切欠き23の端面で反射して左
回りに伝搬していく。従って、拡散抵抗R1 に印加する
交流電圧Vaの周波数f0 を適当に選ぶことにより、
左、右回りの振動が重なり合い、波長λをもって共振し
て定在波が生ずる。ここに、庇15領域部分には、波長
λの整数倍(n倍)で相等しい距離をこの拡散抵抗R1
からもつ位置に受波器として作用する拡散抵抗R2 ,R
3 が設けられているので、前記実施例の場合と同様に、
本実施例の振動ジャイロ22の回転角速度Ωを測定する
ことができる。
【0036】よって、本実施例による場合も前記実施例
と同様の効果が得られる。
【0037】つづいて、請求項2及び3記載の発明の一
実施例を図8ないし図11により説明する。本実施例の
振動ジャイロ24では、庇15領域部分において、送波
器として機能する拡散抵抗R1 から等距離(ともに、距
離L)の位置に、受波器として作用する拡散抵抗R2
3 が配置されている。また、これらの拡散抵抗R2
3 間に位置させて庇15上には吸振材(又は、吸音材
でもよい)25が積層状態で設けられている。
【0038】また、本実施例の回転角速度検出回路は図
9に示すように構成されている。まず、拡散抵抗R1
パルス電圧Vaを印加するパルス電源26が設けられて
いる。よって、パルス電源26により拡散抵抗R1 にパ
ルス電圧Vaを印加すると、前述した交流電圧印加の場
合と同様に、庇15において拡散抵抗R1 部分にパルス
振動が生ずる。この振動は、庇15のエッジに沿って伝
搬し、左回りの振動は拡散抵抗R2 、右回りの振動は拡
散抵抗R3 に到達する。ここに、これらの拡散抵抗R
2 ,R3 間には吸振材25があるので、左回り、右回り
で各々伝ってきた振動は、この吸振材25部分で吸収さ
れてそれ以上は伝わらない。即ち、左回りの振動が拡散
抵抗R3 まで伝わることがなく、右回りの振動が拡散抵
抗R2 まで伝わることはない。従って、この吸振材25
がない場合よりも回転角速度Ωの測定精度は向上する。
【0039】ところで、振動ジャイロ24に回転がない
時、左回りの振動と右回りの振動との伝搬速度は等し
く、かつ、拡散抵抗R1 から拡散抵抗R2 ,R3 までの
距離はLで等しいので、拡散抵抗R1 から出た振動は拡
散抵抗R2 ,R3 に同時に到達する。従って、図10に
示すように、パルス電圧Vaが印加されてから時間T0
後に、同時に伝搬してきた振動を拡散抵抗R2 ,R3
検出し、差動増幅器27,28の出力V2 ,V3 に同位
相でパルス電圧が発生する。
【0040】一方、振動ジャイロ24が回転している場
合、右回りと左回りの伝搬速度が異なるので、差動増幅
器27,28の出力V2 ,V3 にパルス電圧が現れる時
刻が異なる。図11に示すように、例えば、出力V2
時間T0 よりTだけ早く、出力V3 はTだけ遅くなる。
この位相差2Tを検出すれば、振動ジャイロ24の回転
角速度Ωを知ることができる。
【0041】具体的には、図9に示すように、デジタル
カウンタ29を用いて、パルス電圧Vaのパルスが出る
時刻t1 にデジタルカウンタ29をクリアし、出力V2
のパルスが出る時刻t2 にカウントをスタートし、出力
3 のパルスが出るt3 にカウントをストップする。カ
ウントした結果から回転角速度を知ることができる。
【0042】本実施例による場合も前述した実施例と同
様の効果が得られる。
【0043】また、請求項2,3及び4記載の発明の一
実施例を図12により説明する。本実施例の振動ジャイ
ロ30では、前記実施例において吸振材25を設ける個
所に位置させて庇15に切欠き31を形成し、この切欠
き31に吸振材25が充填されている。この他の構成は
前記実施例の場合と同様である。よって、基本的には前
記実施例と同様の作用・効果が得られるが、特に本実施
例によれば、吸振材25による吸収の他、切欠き31の
端面による吸収作用も得られるので、測定精度が一層向
上する。
【0044】つづいて、送波器及び受波器に関する各種
実施例について説明する。これらの実施例は、基本的に
は前述した各実施例をベースとするものである。まず、
請求項7記載の発明の一実施例を図13により説明す
る。本実施例の振動ジャイロ41では庇15が絶縁体材
料、具体的には、Si34膜42により形成され、Si
34膜42よる庇15領域部分の所定位置には半導体材
料なる多結晶Siによる抵抗43が積層形成され、この
抵抗43の両端にはAl配線16が施されている。この
抵抗43部分により送波器又は受波器が構成されてい
る。抵抗43を形成する位置は、前述した実施例に準ず
る(拡散抵抗R1 ,R2 ,R3 に相当する位置に設けら
れる)。抵抗43部分を送波器とする場合には、Al配
線16によるab間に交流電圧又はパルス電圧を印加す
る。抵抗43部分を受波器とする場合には、Al配線1
6によるab間で抵抗43に生ずる抵抗変化を検出す
る。
【0045】請求項8記載の発明の場合は、図13にお
いて、多結晶Siによる抵抗43部分を金属材料に置き
換えれば実現できる。
【0046】請求項9記載の発明の第一の実施例を図1
4により説明する。本実施例の振動ジャイロ44では、
庇15が第1層45aと第2層45bとの2層構造とし
て構成されている。ここに、第1層45aはある圧電定
数を持つ圧電材料により形成されている。また、第2層
45bは、金属、絶縁体、又は、第1層45aを形成す
る圧電材料の圧電定数とは異なる圧電定数を持つ圧電材
料により形成されている。従って、第1層45aと第2
層45bとは、少なくとも圧電定数の異なる層により形
成されており、庇15として見ればその膜厚方向に圧電
定数が異なる状態に形成されている。このような庇15
の両面には、所定位置に位置させて金属電極46a,4
6bが形成されている。金属電極46aが送波器又は受
波器の設置個所を特定するものとなり(拡散抵抗R1
2 ,R3 に相当する位置に設けられる)、小さめに形
成されている。
【0047】このような構成において、送波器として機
能する金属電極46a,46b間、即ち、庇15の膜厚
方向に電圧を印加すると、庇15の上部の第1層45a
と下部の第2層45bとが変位する。ここに、これらの
第1,2層45a,45bの圧電定数は異なるので、庇
15は曲がることになる。そこで、前述したように金属
電極46a,46b間に交流電圧を印加すれば、庇15
が振動する。よって、この金属電極46a,46bを設
けた庇15部分が送波器として機能する。また、送波器
による振動に伴い庇15領域部分の第1,2層45a,
45bには圧電効果が生ずる。そこで、圧電効果に伴い
金属電極46a,46b間に生ずる電圧を測定すること
により、この金属電極46a,46bを設けた部分が受
波器として機能する。
【0048】請求項9記載の発明の第二の実施例を図1
5により説明する。本実施例の振動ジャイロ47は、平
板も含めて庇15を圧電材料48により一体で形成した
ものである。ただし、この圧電材料48は膜厚方向に圧
電定数が順次変化する材料とされている。この他は前記
実施例(図14)と同様であり、同様に作用する。
【0049】請求項9記載の発明の第三の実施例を図1
6により説明する。本実施例の振動ジャイロ49では、
第1,2層45a,45b間に金属電極46bを設ける
ことにより、上部側の第1層45aの圧電材料にのみ膜
厚方向に電圧が印加され、庇15に曲げによる振動が生
ずるように構成されている。この他は前記実施例(図1
4)と同様であり、同様に作用する。
【0050】請求項10記載の発明の一実施例を図17
により説明する。本実施例の振動ジャイロ50では、庇
15が圧電材料51により形成されており、このような
庇15の片面上には面内で接近配置させた一対の電極5
2a,52bが積層状態で形成されている。これらの電
極52a,52bの対は、例えば、拡散抵抗R1 ,R
2 ,R3 に相当する位置に設けられている。なお、前記
圧電材料51は膜厚方向に圧電定数が変化する特性を有
していなくもよい。
【0051】このような構成において、例えば、拡散抵
抗R1 に相当する位置に設けられた電極52a,52b
間に電圧を印加すると、庇15の対応する部分ではその
面方向に電界が印加された状態となり、圧電材料51よ
りなるため振動を生ずる。よって、送波器として機能す
る。一方、拡散抵抗R2 ,R3 に相当する位置に設けら
れた電極52a,52b間には伝搬される振動による圧
電効果によってその端子ab間には電圧が生ずるので、
この電圧を測定することにより回転角速度の測定が可能
となる。ここに、受波器として機能する。
【0052】請求項11記載の発明の第一の実施例を図
18により説明する。本実施例の振動ジャイロ53で
は、絶縁体材料、例えば、Si34膜42による庇15
上に部分的に圧電材料54が形成され、この圧電材料5
4に対して庇15の片面内で接近配置させた一対の電極
55a,55bが積層状態で形成されている。圧電材料
54は、例えば、拡散抵抗R1 ,R2 ,R3 に相当する
位置に設けられている。
【0053】このような構成において、例えば、拡散抵
抗R1 に相当する位置に設けられた圧電材料54の電極
55a,55b間に電圧を印加すると、圧電材料54に
振動を生じ、庇15にも振動を生ずる。よって、送波器
として機能する。一方、拡散抵抗R2 ,R3 に相当する
位置に設けられた圧電材料54の電極55a,55b間
には伝搬される振動による圧電効果によってその端子a
b間には電圧が生ずるので、この電圧を測定することに
より回転角速度の測定が可能となる。ここに、受波器と
して機能する。
【0054】また、請求項11記載の発明の第二の実施
例を図19により説明する。本実施例の振動ジャイロ5
6では、庇15上に設けられる圧電材料54をその膜厚
方向に挾む形で電極57a,57bが設けられ、電極5
7a,57b間には絶縁膜58が介在されている。よっ
て、送波器として機能させる場合には、圧電材料54に
対して膜厚方向に電圧が印加される。この他の構成・作
用等は図18に示した前記実施例の場合と同様である。
【0055】請求項12記載の発明の一実施例を図20
により説明する。本実施例の振動ジャイロ59では、平
板11とSi34膜42による庇15との間に、SiO
2 等によるスペーサ60により空隙61が形成され、こ
の空隙61を間にして庇15(Si34膜42)下面と
平板11の上面には各々電極62a,62bが形成され
てコンデンサ63が構成されている。電極62a,62
bは金属、低抵抗多結晶Siなどの低抵抗膜として形成
されている。これらの電極62a,62bは、例えば、
拡散抵抗R1 ,R2 ,R3 に相当する位置に設けられて
いる。
【0056】このような構成において、例えば、拡散抵
抗R1 に相当する位置に設けられた電極62a,62b
間に電圧を印加すると、空隙61を介して静電引力が作
用するので、その部分の庇15が曲がり、振動を発生す
る。よって、送波器として機能する。一方、拡散抵抗R
2 ,R3 に相当する位置に設けられた電極62a,62
bでは伝搬される振動に伴い両者間の距離が変動し、コ
ンデンサ63としての静電容量が変化するので、電極6
2a,62b間の静電容量の変化を測定することによ
り、振動ジャイロ59の回転角速度の測定が可能とな
る。ここに、受波器として機能する。
【0057】請求項13記載の発明の一実施例を図21
により説明する。本実施例での振動ジャイロ64でも、
基本的には、図22の場合と同様に、スペーサ60によ
って平板11と庇15との間に空隙61が形成されてい
る。ここに、本実施例では、Si34膜42の庇15上
の所定位置にはCuによるコイル65が矩形渦巻状に形
成されている。66は絶縁体である。また、このコイル
65に対向する平板11上にはパーマロイ膜67が磁性
体材料膜として形成されている。このようなコイル65
は、例えば、拡散抵抗R1 ,R2 ,R3 に相当する位置
に設けられている。
【0058】このような構成において、例えば、拡散抵
抗R1 に相当する位置に設けられたコイル65の両端間
に通電すると、コイル65とパーマロイ膜67との間に
生じる磁力により、庇15が曲がり振動を生ずる。よっ
て、送波器として機能する。一方、拡散抵抗R2 ,R3
に相当する位置に設けられたコイル65とパーマロイ膜
67とでは伝搬される振動に伴い、コイル65を含めた
閉回路間に振動に応じて強弱を持つ誘導電流が流れる。
よって、コイル65に流れる電流の変化を測定すること
により、振動ジャイロ64の回転角速度の測定が可能と
なる。ここに、受波器として機能する。
【0059】なお、図21において、コイル65とパー
マロイ膜67との位置を交換すると、請求項14記載の
発明の実施例に相当する。
【0060】請求項15記載の発明の一実施例を図22
により説明する。本実施例の振動ジャイロ68では、送
波器についてのみ工夫されている。即ち、ab端子間に
パルス電圧を印加することにより時間的に光量が変化す
るパルス光を発生するレーザ光源69が、集光レンズ7
0とともに庇15上方に設けられ、パルス光を集光レン
ズ70によってSi44膜42による庇15表面に集光
照射し得るように構成されている。ここに、本実施例で
は、このようなパルス光が照射される被照射部71を送
波器として機能させるようにしたものである。この被照
射部71は、例えば、拡散抵抗R1 に相当する位置に設
定されている。
【0061】このような構成において、レーザ光源69
によって庇15の被照射部71にパルス光を照射する
と、照射された部分が熱せられ、庇15が曲がる。ここ
に、照射される光がパルス光であって時間的に光量が変
化するので、庇15は振動する。よって、庇15上の被
照射部71が送波器として機能する。
【0062】請求項16記載の発明の一実施例を図23
により説明する。本実施例の振動ジャイロ72では、受
波器のみについて工夫されている。即ち、振動ジャイロ
72の庇15領域部分に対して光学的手法による受波器
73が設けられている。この受波器73は電源74に接
続されて庇15領域部分の所定位置(前述した拡散抵抗
2 ,R3 に相当する位置)75にレーザ光を照射する
レーザ光源(光源)76と、所定位置76から反射され
るレーザ光の位置変化を検出する光位置検出器77とに
より光テコ方式の検出器として構成されている。光位置
検出器77の出力側には増幅器78が接続されている。
【0063】このような構成において、庇15に生じた
振動により所定位置76が変位すると、この所定位置7
6に照射されたレーザ光の反射位置も変位する。この位
置変位が光位置検出器77により検出されるので、庇1
5の振動状態、従って、振動ジャイロ72の回転角速度
の検出が可能となる。
【0064】請求項17記載の発明の一実施例を図24
により説明する。本実施例の振動ジャイロ79も受波器
のみについて工夫したもので、前記実施例と同様に光学
的手法とされているが、光干渉法により庇15の振動を
検出する2周波レーザ振動計(光検出器)80が受波器
として設けられている。この2周波レーザ振動計80
は、例えば、前述した拡散抵抗R2 ,R3 に相当する所
定位置76にて庇15に対向するように配置されてい
る。
【0065】このような構成において、庇15に生じた
振動により所定位置76が変位すると、この所定位置7
6に照射された2周波レーザ光が変位に応じた光路差に
より干渉することになり、2周波レーザ振動計80によ
って検出される。これにより、振動ジャイロ79の回転
角速度の検出が可能となる。
【0066】これらの図13ないし図24の各実施例に
示した振動ジャイロ41,44,47,49,50,5
3,56,59,64,68,72,79によれば、送
波器及び受波器も含めて、全体的に半導体製造工程によ
って作製できるので、生産性のよいものである。
【0067】なお、前述した本実施例では、図1等に示
したように、庇15が内周側に向けて突出する円形状の
ものとして説明したが(即ち、庇15の固定端が外周側
に位置する)、このような構造に限らず、例えば、図2
5に示すように、平板11が小さめで庇15が外方に突
出するような円形状構造であってもよい。即ち、庇15
の固定端が中心側に位置する構造であってもよい。この
ような構造によっても、全く同様な作用・効果が得られ
る。
【0068】この場合、庇15の中心部に位置する平板
11自体が剛性の高い部分81として形成されており、
図26に示すように、この部分81の下端を台座82に
接着させることにより振動ジャイロ83が固定される
(請求項18記載の発明に相当する)。前記台座82は
振動ジャイロ83全体が入り込む窪み84が形成された
円形形状のものであり、振動ジャイロ83の各Al配線
16に対応する位置には絶縁フィルム85を介してリー
ドピン86が取り付けられ、ボンディングワイヤ87に
よってAl配線16とリードピン86との電気的接続が
とられている。
【0069】台座82に対するこのような固定構造によ
れば、剛性の高い部分81が庇15の中心部に位置して
いるので、部分81(平板11)と台座82との熱膨張
係数が違っていても、熱膨張係数の差により生ずる平板
11の応力歪が庇15部分には殆ど及ばないので、測定
出力への影響が少ないものとなる。即ち、図1に示した
ような振動ジャイロ17を台座に接着固定した場合に
は、台座と平板11との間の熱膨張係数の違いにより、
温度が変化すると、平板11が撓み、これにより円形状
の庇15の膜に応力が発生し、これにより、庇15の剛
性が変化して波の伝搬速度が変わってしまう。これによ
り、送波器(R1 )から受波器(R2,R3)へ波が伝わ
る時間が温度により変化し、角速度の測定制度が低下し
てしまう。しかし、図26に示した固定構造によればこ
のような不都合が回避される。
【0070】図27(a)は図12(又は、図8)の振
動ジャイロ30(又は、24)に対応する変形例、図2
7(b)は図7の振動ジャイロ22に対応する変形例を
示す。
【0071】これらの場合、庇15の保護を考えて、例
えば、図28に示すように、庇15の外側に庇15の全
周を囲むような保護壁88を形成するようにしてもよ
い。即ち、図28に示す振動ジャイロ89にあっては、
平板11において、庇15の中心部に位置する剛性の高
い部分81と庇15の外側に位置する剛性の高い部分9
0とが一体で形成されている(請求項19記載の発明に
相当する)。このような構造の振動ジャイロ89も、例
えば、図29に示すように、庇15の中心部に位置させ
た剛性の高い部分81にて台座82に接着固定される
(請求項18記載の発明に相当する)。よって、図26
の場合と同様の作用・効果が得られる。特に、図28に
示す振動ジャイロ89の構造によれば、この振動ジャイ
ロ89を台座82に接着させる等のハンドリング作業を
行うときに庇15の外側に剛性の高い部分90による保
護壁88が存在するので、破損しやすい庇15を破損さ
せることなく作業を行える。即ち、台座82への接着作
業に際しては保護壁88にダイボンダの治具が接触する
ようにすればよく、簡単に行える。
【0072】また、前述した実施例では、平板11の中
心に穴12をあけた構造としたが、穴12をあけること
なく、図30に示すように窪み91を形成した構造とし
てもよい。この場合も、前述した実施例と全く同様な作
用・効果が得られる。
【0073】さらには、平板11の窪み91における中
心部(庇15の中心部)に図31に示すような島部92
を残す構造としてもよい。この場合、島部92が図32
に示すように対象となる台座93への取付部となる剛性
の高い部分94とされる(請求項18記載の発明に相当
する)。即ち、平板11を台座93に取り付ける剛性の
高い部分94(島部92)が平板11の中央であって庇
15の中心部にあるため、平板11と異なる熱膨張係数
を持つ台座93上に平板11を取り付けても、熱膨張係
数の差により生じる平板11の応力歪の測定出力への影
響が少ないものとなる。
【0074】また、前述した実施例では、何れも一対の
受波器のみを設けた例で説明したが、複数対の受波器を
適宜配置させるようにしてもよい。
【0075】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、円形状に
形成された庇を有する平板と、前記庇領域部分に対して
配置させた送波器と、この送波器によって前記庇に生ず
る定在波の波長の整数倍の距離だけ離間させて前記庇領
域部分に対して配置させた少なくとも一対の受波器とを
有する構成の振動ジャイロとして回転角速度を検出する
ようにしたので、平板に対するフォトリソグラフィ工程
等の工程による半導体製造工程なるバッチプロセスによ
り作製でき、組立て工程を要せず、かつ、加工コストを
低減でき、大量生産に適したものとなり、また、半導体
製造工程によれば、μm以下の精度があるので、小型化
が容易であり、かつ、加工精度の再現性があるので、容
易にヌル電圧を低減させることができ、回転角速度の測
定精度を向上させることができる。
【0076】請求項2記載の発明によれば、円形状に形
成された庇を有する平板と、前記庇領域部分に対して配
置させた送波器と、この送波器から等距離の位置の前記
庇領域部分に対して配置させた少なくとも一対の受波器
とを有する構成の振動ジャイロとしたので、半導体製造
工程なるバッチプロセスにより作製できる等、請求項1
記載の発明と同様な効果を有する。
【0077】請求項3記載の発明によれば、請求項2記
載の発明の振動ジャイロの構成に加えて、送波器から最
も遠い等距離の位置に配置させた一対の受波器間に位置
させて庇領域部分に吸振材又は吸音材を設け、また、請
求項4記載の発明によれば、請求項3記載の発明の振動
ジャイロの構成において、吸振材又は吸音材を充填させ
る切欠きを庇領域部分に形成したので、吸振材又は吸音
材或いは切欠きによって右回りの振動と左回りの振動と
の干渉を防止できるので、請求項2記載の発明の効果に
加えて、回転角速度の測定精度を一層向上させることが
できる。
【0078】請求項5記載の発明によれば、円形状に形
成された庇を有する平板と、前記庇領域部分に対して配
置させた送波器と、円形状の前記庇の中心点に対して前
記送波器と点対称をなす庇領域部分の位置に形成された
切欠きと、前記送波器によって前記庇に生ずる定在波の
波長の整数倍であって送波器から等距離の位置の庇領域
部分に対して配置させた少なくとも一対の受波器とを有
する構成の振動ジャイロとしたので、半導体製造工程な
るバッチプロセスにより作製できる等、請求項1記載の
発明と同様の効果を有する。
【0079】また、請求項1,2,3,4又は5記載の
発明の振動ジャイロの構成に関して、請求項6記載の発
明によれば、庇を半導体材料により形成し、送波器と受
波器との少なくとも一方を前記庇領域部分に不純物を拡
散させてなる拡散抵抗により形成し、請求項7記載の発
明によれば、庇を絶縁体材料により形成し、送波器と受
波器との少なくとも一方を前記庇領域部分に設けた半導
体材料により形成し、請求項8記載の発明によれば、庇
を絶縁体材料により形成し、送波器と受波器との少なく
とも一方を前記庇領域部分に設けた金属材料により形成
し、請求項9記載の発明によれば、庇を膜厚方向に圧電
定数が順次変化する圧電材料により形成し、送波器と受
波器との少なくとも一方が配置される庇領域部分の両面
に対をなす電極を形成し、請求項10記載の発明によれ
ば、庇を圧電材料により形成し、送波器と受波器との少
なくとも一方が配置される庇領域部分の片面に面内で対
をなす電極を形成し、請求項11記載の発明によれば、
庇を絶縁体材料により形成し、送波器と受波器との少な
くとも一方を前記庇領域部分に設けた圧電材料により形
成し、請求項12記載の発明によれば、庇と平板との間
に空隙を設け、送波器と受波器との少なくとも一方が配
置される庇領域部分に設けられた電極と前記空隙を介し
てこの電極に対向させた前記平板上の電極とによりコン
デンサを形成し、請求項13記載の発明によれば、庇と
平板との間に空隙を設け、送波器と受波器との少なくと
も一方が配置される庇領域部分にコイルを形成するとと
もに前記空隙を介してこのコイルに対向する磁性体材料
部を前記平板上に形成し、請求項14記載の発明によれ
ば、庇と平板との間に空隙を設け、送波器と受波器との
少なくとも一方が配置される庇領域部分に磁性体材料部
を形成するとともに前記空隙を介してこの磁性体材料部
に対向するコイルを前記平板上に形成し、請求項15記
載の発明によれば、時間的に光量が変化する光が照射さ
れる庇領域部分を送波器とし、請求項16記載の発明に
よれば、庇領域部分の面上に光を照射する光源と、この
光源により照射されて庇領域部分から反射される光の位
置を検出する光位置検出器とよりなる受波器とし、請求
項17記載の発明によれば、庇の振動を光干渉法により
検出する光検出計よりなる受波器としたので、請求項
1,2,3,4又は5記載の発明の効果に加えて、送波
器や受波器を含めて半導体製造工程なるバッチプロセス
により作製することができ、振動ジャイロの作製をより
一層容易にできるという効果を有する。
【0080】さらに、これらの請求項1ないし17記載
の発明の振動ジャイロに関して、請求項18記載の発明
によれば、台座に接着される部分が剛性が高くて庇の中
心部に位置するように構成されているので、熱膨張係数
の異なる台座に平板を取り付けてもこの熱膨張係数の差
により生ずる平板の応力歪の測定出力への影響、即ち、
温度変化の測定出力への影響を少なくすることができ
る。また、請求項19記載の発明によれば、平板の外側
を向いている庇を損傷することなく、台座に接着する等
のハンドリング作業を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1及び6記載の発明の一実施例を示し、
(a)は平面図、(b)はそのA‐A線断面図である。
【図2】作製プロセスを順に示す工程図である。
【図3】回転角速度検出系の構成を示す回路図である。
【図4】庇に曲がりが生ずる前後の様子を示す断面図で
ある。
【図5】回転角速度がゼロ時の動作を示す出力波形図で
ある。
【図6】回転時の動作を示す出力波形図である。
【図7】請求項5記載の発明の一実施例を示す平面図で
ある。
【図8】請求項2及び3記載の発明の一実施例を示し、
(a)は平面図、(b)はその一部の断面図である。
【図9】回転角速度検出系の構成を示す回路図である。
【図10】回転角速度がゼロ時の動作を示す出力波形図
である。
【図11】回転時の動作を示す出力波形図である。
【図12】請求項2,3及び4記載の発明の一実施例を
示し、(a)は平面図、(b)はその一部の断面図であ
る。
【図13】請求項7記載の発明の一実施例を示す要部の
概略断面図である。
【図14】請求項9記載の発明の第一の実施例を示す要
部の概略断面図である。
【図15】請求項9記載の発明の第二の実施例を示す要
部の概略断面図である。
【図16】請求項9記載の発明の第三の実施例を示す要
部の概略断面図である。
【図17】請求項10記載の発明の一実施例を示す要部
の概略平面図である。
【図18】請求項11記載の発明の第一の実施例を示
し、(a)は要部の概略断面図、(b)は概略平面図で
ある。
【図19】請求項11記載の発明の第二の実施例を示す
要部の概略断面図である。
【図20】請求項12記載の発明の一実施例を示し、
(a)は要部の概略断面図、(b)は概略平面図であ
る。
【図21】請求項13記載の発明の一実施例を示し、
(a)は要部の概略断面図、(b)は概略平面図であ
る。
【図22】請求項15記載の発明の一実施例を示す要部
の概略断面図である。
【図23】請求項16記載の発明の一実施例を示す要部
の概略断面図である。
【図24】請求項17記載の発明の一実施例を示す要部
の概略断面図である。
【図25】変形例を示し、(a)は概略平面図、(b)
は概略側面図である。
【図26】請求項18記載の発明の第一の実施例を示
し、(a)は概略平面図、(b)は概略断面図である。
【図27】異なる変形例を示す概略平面図である。
【図28】請求項19記載の発明の一実施例を示し、
(a)は概略平面図、(b)は概略断面図である。
【図29】請求項18記載の発明の第二の実施例を示
し、(a)は概略平面図、(b)は概略断面図である。
【図30】別の変形例を示し、(a)は概略平面図、
(b)は概略断面図である。
【図31】さらに別の変形例を示し、(a)は概略平面
図、(b)は概略断面図である。
【図32】請求項18記載の発明の第三の実施例を示
し、(a)は概略平面図、(b)は概略断面図である。
【図33】従来例を示す斜視図である。
【図34】異なる従来例を示す斜視図である。
【符号の説明】
11 平板 13 半導体材料 15 庇 23 切欠き 25 吸振材 31 切欠き 42 絶縁体材料 43 半導体材料 45a,45b 圧電定数の異なる圧電材料 46a,46b 電極 48 圧電定数が膜厚方向に異なる圧電材料 51 圧電材料 52a,52b 電極 54 圧電材料 61 空隙 62a,62b 電極 63 コンデンサ 65 コイル 67 磁性体材料部 71 被照射部 73 受波器 75 光源 77 光位置検出器 80 光検出計 81 剛性の高い部分 82 台座 90 剛性の高い部分 93 台座 94 剛性の高い部分 R1 送波器 R2 ,R3 受波器

Claims (19)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 円形状に形成された庇を有する平板と、
    前記庇領域部分に対して配置させた送波器と、この送波
    器によって前記庇に生ずる定在波の波長の整数倍の距離
    だけ離間させて前記庇領域部分に対して配置させた少な
    くとも一対の受波器とを有することを特徴とする振動ジ
    ャイロ。
  2. 【請求項2】 円形状に形成された庇を有する平板と、
    前記庇領域部分に対して配置させた送波器と、この送波
    器から等距離の位置の前記庇領域部分に対して配置させ
    た少なくとも一対の受波器とを有することを特徴とする
    振動ジャイロ。
  3. 【請求項3】 送波器から最も遠い等距離の位置に配置
    させた一対の受波器間に位置させて庇領域部分に吸振材
    又は吸音材を設けたことを特徴とする請求項2記載の振
    動ジャイロ。
  4. 【請求項4】 吸振材又は吸音材を充填させる切欠きを
    庇領域部分に形成したことを特徴とする請求項3記載の
    振動ジャイロ。
  5. 【請求項5】 円形状に形成された庇を有する平板と、
    前記庇領域部分に対して配置させた送波器と、円形状の
    前記庇の中心点に対して前記送波器と点対称をなす庇領
    域部分の位置に形成された切欠きと、前記送波器によっ
    て前記庇に生ずる定在波の波長の整数倍であって送波器
    から等距離の位置の庇領域部分に対して配置させた少な
    くとも一対の受波器とを有することを特徴とする振動ジ
    ャイロ。
  6. 【請求項6】 庇を半導体材料により形成し、送波器と
    受波器との少なくとも一方を前記庇領域部分に不純物を
    拡散させてなる拡散抵抗により形成したことを特徴とす
    る請求項1,2,3,4又は5記載の振動ジャイロ。
  7. 【請求項7】 庇を絶縁体材料により形成し、送波器と
    受波器との少なくとも一方を前記庇領域部分に設けた半
    導体材料により形成したことを特徴とする請求項1,
    2,3,4又は5記載の振動ジャイロ。
  8. 【請求項8】 庇を絶縁体材料により形成し、送波器と
    受波器との少なくとも一方を前記庇領域部分に設けた金
    属材料により形成したことを特徴とする請求項1,2,
    3,4又は5記載の振動ジャイロ。
  9. 【請求項9】 庇を膜厚方向に圧電定数が順次変化する
    圧電材料により形成し、送波器と受波器との少なくとも
    一方が配置される庇領域部分の両面に対をなす電極を形
    成したことを特徴とする請求項1,2,3,4又は5記
    載の振動ジャイロ。
  10. 【請求項10】 庇を圧電材料により形成し、送波器と
    受波器との少なくとも一方が配置される庇領域部分の片
    面に面内で対をなす電極を形成したことを特徴とする請
    求項1,2,3,4又は5記載の振動ジャイロ。
  11. 【請求項11】 庇を絶縁体材料により形成し、送波器
    と受波器との少なくとも一方を前記庇領域部分に設けた
    圧電材料により形成したことを特徴とする請求項1,
    2,3,4又は5記載の振動ジャイロ。
  12. 【請求項12】 庇と平板との間に空隙を設け、送波器
    と受波器との少なくとも一方が配置される庇領域部分に
    設けられた電極と前記空隙を介してこの電極に対向させ
    た前記平板上の電極とによりコンデンサを形成したこと
    を特徴とする請求項1,2,3,4又は5記載の振動ジ
    ャイロ。
  13. 【請求項13】 庇と平板との間に空隙を設け、送波器
    と受波器との少なくとも一方が配置される庇領域部分に
    コイルを形成するとともに前記空隙を介してこのコイル
    に対向する磁性体材料部を前記平板上に形成したことを
    特徴とする請求項1,2,3,4又は5記載の振動ジャ
    イロ。
  14. 【請求項14】 庇と平板との間に空隙を設け、送波器
    と受波器との少なくとも一方が配置される庇領域部分に
    磁性体材料部を形成するとともに前記空隙を介してこの
    磁性体材料部に対向するコイルを前記平板上に形成した
    ことを特徴とする請求項1,2,3,4又は5記載の振
    動ジャイロ。
  15. 【請求項15】 時間的に光量が変化する光が照射され
    る庇領域部分を送波器としたことを特徴とする請求項
    1,2,3,4又は5記載の振動ジャイロ。
  16. 【請求項16】 庇領域部分の面上に光を照射する光源
    と、この光源により照射されて庇領域部分から反射され
    る光の位置を検出する光位置検出器とよりなる受波器と
    したことを特徴とする請求項1,2,3,4又は5記載
    の振動ジャイロ。
  17. 【請求項17】 庇の振動を光干渉法により検出する光
    検出計よりなる受波器としたことを特徴とする請求項
    1,2,3,4又は5記載の振動ジャイロ。
  18. 【請求項18】 円形状に形成された庇の中心部に位置
    させて、台座に接着される剛性の高い部分を平板部と一
    体で形成したことを特徴とする請求項1,2,3,4,
    5,6,7,8,9,10,11,12,13,14,
    15,16又は17記載の振動ジャイロ。
  19. 【請求項19】 円形状に形成された庇の中心部及び前
    記庇の外側に位置させて、剛性の高い部分を平板部と一
    体で形成したことを特徴とする請求項1,2,3,4,
    5,6,7,8,9,10,11,12,13,14,
    15,16又は17記載の振動ジャイロ。
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