JP2591059B2 - キーボードの寿命試験装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 各種情報の入力装置として用いられるキーボードの製
造設備に関し、 使用時に近い状態でキーボードを構成する押釦スイッ
チの特性を試験し、しかもキートップが押下される都度
対応する押釦スイッチの、接触状態を検出し記録できる
キーボードの寿命試験装置を構成することを目的とし、 往復動する少なくとも１個の打鍵ロッドを有する打鍵
機構で、キーボードに装着されたキートップを順次押下
し、その都度該キートップに対応する押釦スイッチの識
別コード、累積動作回数、および接触状態を記憶装置に
記憶させると同時に、打鍵ロッドの先端が当接するキー
トップ上の位置、またはキートップと打鍵ロッドとの移
動方向がなす角度を任意に変えられるよう構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は各種情報の入力装置として用いられるキーボ
ードの製造設備に係り、特にキーボードを構成する押釦
スイッチの接触状態を試験する寿命試験装置に関する。

押釦スイッチは一般にキートップを移動させる押下力
が、キートップの移動方向（以下垂直方向と称する）に
向かって、キートップの中心に加えられるものとして設
計されている。しかるにキーボードを操作するオペレー
タがキートップを押下する場合は、キートップの中心に
垂直方向から押下力が加えられることは極く稀で、多く
の場合垂直方向以外の方向からキートップの隅に押下力
が加えられる。

押釦スイッチにかかる押下力が加わると可動部の摩耗
が著しく促進され、可動部の摩耗によって押下の途中で
キートップが重くなる感触不良が発生する。また開放型
接点を具えた押釦スイッチでは削り滓による接触不良が
発生する。その結果、常に垂直方向の押下力をキートッ
プの中心に加えたキーボードに比べ、オペレータが実際
に操作したキーボードは寿命が短くなる。

そこでキーボードを構成する押釦スイッチの特性を試
験する寿命試験は、垂直方向に対してある角度を有する
方向からキートップに押下力を加えたり、或いはキート
ップの隅に押下力を加える等使用時に近い状態で行うこ
とが望ましい。

〔従来の技術〕

第５図は従来の寿命試験装置の概要を示す斜視図であ
る。

図において従来の寿命試験装置はキーボード１を載置
するテーブル２と打鍵機構３からなり、キーボード１は
パネル11に装着された多数個の押釦スイッチ12と、押釦
スイッチ12のリード端子をはんだ付けする配線パターン
を有するプリント配線板13と、押釦スイッチ12の可動部
に嵌着されパネル11の表面に露呈するキートップ14とを
具えている。なおそれぞれの押釦スイッチ12の出力信号
は図示省略されたコネクタを介して出力される。

またテーブル２は予め設定されているプログラムに従
ってＸ軸方向およびＹ軸方向に移動し、次に押下される
キートップ14を打鍵機構３の下に位置せしめるように構
成されている。打鍵機構３は20〜30個のソレノイド31で
構成されており、ソレノイド31に電気信号を入力すると
打鍵ロッド32が往復動して、キーボード１の20〜30個の
キートップ14が同時に押下される。キートップ14が押下
されるとそれぞれの押釦スイッチ12はリード端子が導通
状態になり、それをコード化するエンコーダを搭載して
なるキーボードでは、押釦スイッチ12の識別コードがコ
ネクタを介して出力される。

しかし20〜30個のキートップ14が同時に連続して押下
される場合には、押下されたキートップ14に対応する押
釦スイッチ12の接触状態を、キートップ14が押下される
都度検出し記録することは不可能である。そこで途中で
装置を停止させ対応する押釦スイッチ12の接触状態を検
出し記録している。

〔発明が解決しようとする課題〕 しかし従来の試験装置では打鍵ロッドとキートップの
移動方向が一致しており、押下力が垂直方向に向かって
キートップの中心に加えられる構成になっている。した
がって垂直方向以外の方向からキートップに押下力を加
えることができない。また20〜30個のキートップが同時
に押下されるためパネルに大きい力が印加され、その曲
げ応力によって甚だしい時にはキーボードに反りが生じ
る。しかも押釦スイッチの接触状態の検出が間欠的に行
われるため、故障が発生するまでの経緯を把握すること
ができないという問題があった。

本発明の目的は使用時に近い状態でキーボードを構成
する押釦スイッチの特性を試験し、しかもキートップが
押下される都度対応する押釦スイッチの、接触状態を検
出し記録できるキーボードの寿命試験装置を構成するこ
とにある。

〔課題を解決するための手段〕

第１図は本発明になる寿命試験装置の原理を示すブロ
ック図である。なお全図を通し同じ対象物は同一記号で
表している。

上記課題は往復動する少なくとも１個の打鍵ロッド42
を有する打鍵機構４で、キーボード１に装着されたキー
トップ14を順次押下し、その都度押下されたキートップ
14に対応する押釦スイッチの識別コード、累積動作回
数、および接触状態を記憶装置７に記憶させると同時
に、打鍵ロッド42の先端が当接するキートップ14上の位
置、またはキートップ14の移動方向Ｓと打鍵ロッド42の
移動方向Ｐとがなす角度を、任意に変えられるように構
成してなる本発明のキーボードの寿命試験装置により達
成される。

〔作用〕

第１図において往復動する少なくとも１個の打鍵ロッ
ドでキートップを順次押下し、その都度該キートップに
対応する押釦スイッチの識別コードや、累積動作回数、
接触状態を記憶装置に記憶させると同時に、キートップ
の移動方向と打鍵ロッドの移動方向とがなす角度や、打
鍵ロッドの先端が当接するキートップ上の位置を可変に
すにことによって、使用時に近い状態でキーボードを構
成する押釦スイッチの特性を試験し、しかもキートップ
が押下される都度対応する押釦スイッチの、接触状態を
検出し記録できるキーボードの寿命試験装置を構成する
ことができる。

〔実施例〕

以下添付図により本発明の実施例について説明する。
第２図は本発明になる装置による試験方法を示すフロー
チャート、第３図は本発明の一実施例を示す斜視図、第
４図は本発明の他の実施例を示す斜視図である。

第１図において本発明になる試験装置は打鍵機構４と
テーブル５を具えており、キーボード１はコネクタ15を
介して制御装置６に接続されていて、キートップ14が押
下される都度それに対応する押釦スイッチの、識別コー
ド、累積動作回数、および接触状態が記憶装置７に記憶
される。

打鍵機構４は電気信号により作動する例えばソレノイ
ド41と、ソレノイド41が作動するとキートップ14を押下
する打鍵ロッド42を具えており、ソレノイド41を作動さ
せる電気信号は制御装置６から出力される。一方モータ
51、52を有しキーボード１をＸ軸方向およびＹ軸方向に
移動させるテーブル５は、制御装置６から出力される制
御信号でモータ51、52が回動し、次に押下されるキート
ップ14を前記打鍵ロッド42の下に移動せしめる。

打鍵ロッドの先端が当接するキートップ上の位置を変
える機構はテーブル５が具えており、キーボード１を移
動させる信号を若干変更することで容易に実現させるこ
とができる。またキートップ14の移動方向Ｓと打鍵ロッ
ド42の移動方向Ｐとがなす角度を、任意に変える機構は
打鍵機構４若しくはテーブル５が具えている。

第２図において全ての押釦スイッチの識別コードと押
下順序を記憶させ、押釦スイッチの動作回数を設定して
装置をスタートさせると、テーブルは最初に押下される
キートップを打鍵ロッドの下に移動せしめ、打鍵機構が
作動して打鍵ロッドが打鍵ロッドがキートップを押下す
る。キートップが押下されると押釦スイッチの識別コー
ドが制御装置に取り込まれ、同時に接触抵抗値が検出さ
れて接触状態に異常があった場合は、識別コード、累積
動作回数、および接触状態が記憶装置に記憶される。ま
た異常が無かった場合は次のキートップを押下すべくス
タート後の状態に戻る。

押下順序に従って全キートップが一回ずつ押下される
と、最初に押下されるキートップに戻って二回目の移動
と押下が開始され、これを繰り返して全キートップの押
下回数が規定回数に達すると装置は停止し、それまで記
憶されていた識別コード、累積動作回数、および接触状
態が印刷される。

本発明の一実施例は第３図（ａ）に示す如く打鍵機構
４がプランジャ41と打鍵ロッド42で形成され、キートッ
プ14の移動方向と打鍵ロッド42の移動方向がなす角度を
変える機構は、ソレノイド41を装置の枠体８に装着する
アーム43が具えている。即ち枠体８は固定ねじ81の嵌入
孔の廻りに角度目盛82を有し、アーム43の基準線44をこ
れに合わせて固定ねじ81が螺着することで、打鍵ロッド
42の移動方向を任意に変えることができる。

一方テーブル５は第３図（ｂ）に示す如く制御信号に
よってモータ51、52が回動し、次に押下されるキートッ
プ14を打鍵ロッド42の下に移動させたときの、打鍵ロッ
ド42の先端からキートップ14までの距離を一定にすべ
く、上下の面が平行な支持台53によってキーボード１を
保持している。

また本発明の他の実施例は第４図（ａ）に示す如く打
鍵機構４が、図示省略されたモータで駆動され回転する
カム機構45と、常に垂直方向に往復動する打鍵ロッド42
で形成されている。カム機構45と打鍵ロッド42は装置の
枠体に固定されたアーム46によって保持され、打鍵ロッ
ド42は例えばコイルばね47でキートップを押す方に付勢
されている。

一方テーブル５は第４図（ｂ）に示す如くスタッド54
で支えられた支持台55を有し、両端のスタッド54のねじ
込み長さを変えることによって、その上に載置されたキ
ーボード１の傾斜方向と角度、即ち打鍵ロッド42の移動
方向とキートップ14の移動方向とがなす角度を任意に変
えることができる。

なお第３図および第４図に示す打鍵機構は従来の寿命
試験装置に適用可能で、これを適用することによって従
来の寿命試験装置には無かった、数々の優れた効果が得
られることはいうまでも無い。

このように往復動する少なくとも１個の打鍵ロッドで
キートップを順次押下し、その都度該キートップに対応
する押釦スイッチの識別コードや、累積動作回数、接触
状態を記憶装置に記憶させると同時に、キートップの移
動方向と打鍵ロッドの移動方向とがなす角度や、打鍵ロ
ッドの先端が当接するキートップ上の位置を可変にすに
ことによって、使用時に近い状態で押釦スイッチの特性
を試験することが可能になる。

即ちパネルに加わる力が軽減されてキーボードの反り
が無くなると共に、使用時に近い状態でキーボードを構
成する押釦スイッチの特性を試験し、しかもキートップ
が押下される都度対応する押釦スイッチの、接触状態を
検出し記録できるキーボードの寿命試験装置を構成する
ことができる。

〔発明の効果〕

上述の如く本発明によればキートップの隅に押下力を
加えたり、垂直方向に対してある角度を有する方向から
キートップに押下力を加える等、使用時に近い状態で特
性を試験するキーボードの寿命試験装置を提供すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明になる寿命試験装置の原理を示すブロッ
ク図、 第２図は本発明になる装置による試験方法を示すフロー
チャート、 第３図は本発明の一実施例を示す斜視図、 第４図は本発明の他の実施例を示す斜視図、 第５図は従来の寿命試験装置の概要を示す斜視図、 である。図において １はキーボード、４は打鍵機構、 ５はテーブル、６は制御装置、 ７は記憶装置、８は装置の枠体、 12は押釦スイッチ、14はキートップ、 15はコネクタ、41はソレノイド、 42は打鍵ロッド、43、46はアーム、 44は基準線、45はカム機構、 47はコイルばね、51、52はモータ、 53、55は支持台、54はスタッド、 81は固定ねじ、82は角度目盛、 をそれぞれ表す。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】往復動する少なくとも１個の打鍵ロッド
   （42）を有する打鍵機構（４）で、キーボード（１）に
   装着されたキートップ（14）を順次押下し、その都度押
   下された該キートップ（14）に対応する押釦スイッチの
   識別コード、累積動作回数、および接触状態を記憶装置
   （７）に記憶させると同時に、 該打鍵ロッド（42）の先端が当接する該キートップ（1
   4）上の位置、または該キートップ（14）の移動方向Ｓ
   と該打鍵ロッド（42）の移動方向Ｐとがなす角度を、任
   意に変えられるように構成してなることを特徴とするキ
   ーボードの寿命試験装置。