JP2582118B2 - 同期式光学走査装置 - Google Patents

同期式光学走査装置

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JP2582118B2 JP63107773A JP10777388A JP2582118B2 JP 2582118 B2 JP2582118 B2 JP 2582118B2 JP 63107773 A JP63107773 A JP 63107773A JP 10777388 A JP10777388 A JP 10777388A JP 2582118 B2 JP2582118 B2 JP 2582118B2
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Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は一般的には三次元結像装置に関し、特に同期
式光学走査装置に関する。
（発明の背景） 目標面あるいはその他の目標の三次元データを獲得す
る装置は、例えばロボツト工学、IC検査等各種の分野に
おいて目標認識のために極めて基本的なものである。そ
のような装置により工具の操作や、分析判断のためのコ
ンピユータへのデータの入力等に対して獲得した三次元
データを他の計器へ伝達することができる。
過去、三次元情報を発生させるために多様の技術が用
いられてきたが、その典型的な数例はステレオビジヨ
ン、レーザレーダおよび三角測量技術である。ステレオ
ビジヨンは正確な光学−機械的整合と複雑なデータ計算
とを要し、そのため応答が遅く、感度並びに解像度が低
くなる等問題がある。レーザレーダ技術は光学パルスの
飛行時間測定を利用する。室内での用途において0.025
ミリ（0.001インチ）の高さの測定のために時間の遅れ
が1000万分の１秒以上の解像度を必要とするためこの装
置は現在のところ実用から程遠い。
他方、三角測量法は各種の用途に対して全体的に最良
の効果のある方法と考えられている。三角測量技術の
中、三次元ラスタ走査技術が優れた結果を示した。1986
年12月９日付リオツクス（Rioux）の米国特許第4,627,7
34号が、同期的に走査される位置感応検出器を備えたレ
ーザスキヤナを利用した光学的三次元結像装置を記載し
ている。前記特許の装置において、投影されたビームと
検出されたビームとが同期的に走査されることにより、
前記ビームが基準面を走査すると位置感応検出器におい
て検出された位置は不変である。前記基準面の形状と位
置とは該装置の光学パラメータにより独特の検出がなさ
れる。基準面からの前記検出器の距離は任意にセツトし
うる。前記検出器で検出された位置は、前記基準面によ
り近い、あるいはより離れた表面の一点からビームが反
射されたときのみ変化する。
同様の同期式走査技術がピルレツト（pirlet）への19
79年10月23日付米国特許第4,171,917号に記載されてい
る。前記特許は、対象物の表面の輪郭を検出するため
に、一方が投影されたビームを走査し、他方が走査され
たビームを受取る、一対の同期的に回転する多角形のミ
ラーを用いている。
ケスター（Koester）への1979年10月９日付米国特許
第4,170,398号は、表面を走査し、走査されたビームを
検出するために一対の同期的に回転する平坦ミラーを採
用した別の三角測定技術を開示している。前記特許の走
査技術は走査顕微鏡用特に、種々の角度で生物の組織を
観察するためのものである。
三角測定法に係る共通の問題の１つは、目標の表面が
それに対して測定される基準面が、使用する装置の光学
装置によつて平坦でなく、むしろ球形、円筒形あるいは
その他の湾曲面となるという点において走査線に沿つて
直線でないことである。
（発明が解決しようとする問題点） 本発明はその適用の一例として、独特の光学的形状を
用いることにより前記の非直線性を排除する。
また、スラーヤ（Sraayer）への1978年７月11日付米
国特許第4,009,829号はスキヤナと平坦なフイールド面
との間において、前記の平坦なフイールドの全ゆる位置
において分出するビームを１点として集める単一の輻合
メニスカスレンズを使用することを示唆している。勿論
前記の光学的装置は同期的に走査するのではなく、投影
された走査ビームの集光のみを考慮したものである。こ
の方法を同期式走査に試してみたが、実用的でないこと
を示した。
（発明の目的） したがつて、本発明の目的は基準面を目標面に近似適
合させうる、同期式光学走査装置を提供することであ
る。
本発明の別の目的は基準面が平坦である同期式光学走
査装置を提供することである。
（発明の要約） 要約すれば、本発明は基準面に対する方向におけるあ
る面の輪郭を検出する結像装置である。特に本発明によ
る同期式光学走査装置は、光線ビームを走査し、かつ表
面から放散され走査されたビームを受け取ることにより
該表面を同期的に走査する２個あるいはそれ以上の回転
ミラーを含む回転走査手段を含む。前記装置はさらに、
走査光線ビームと放散した走査されたビーム用の光学軌
道の各々に１個ずつである一対の反射ミラーを含む。前
記反射ミラーは湾曲している。
本発明ならびにさらに別の目的や利点をさらによく理
解するために、添付図面に関連して以下の説明を参照す
る。
（好適実施例の詳細説明） 本特願の発明者が著した論文である、1984年11月１日
刊応用光学23巻21号「同期式スキヤナに基づくレーザレ
ンジフアインダ」の3837−3844頁（“Laser Range Find
er based on Synchronized Seanners"、Applied Optics
Vol、23、No.21）をまず参照する。この論文は同期式
走査を含む三角測量技術の幾何を詳細に分析している。
第１図は、一対の平坦ミラーを用いた本発明の一実施
例による同期化走査の、デカルト座標系の（Ｘ−Ｚ）面
における光学装置の概略図である。モニタすべき目標面
は（Ｘ−Ｙ）面にある。両側で反斜面を有する平坦なミ
ラー１はＹ軸に平行の軸の周りで回転する。光源３が光
線のビームを回転ミラー１に向かつて投影し、該ミラー
は平坦な固定ミラー５にビームを反射させる。回転ミラ
ー１が回転するにつれて、固定ミラー５から反射した光
線のビームは基準面７を走査する。基準面７からの放散
した光線は別の固定ミラー９により回転ミラー１に向か
つて反射し戻され、前記ミラー１は放散した光線のビー
ムを位置感応検出器11まで導く。回転ミラーの見掛け位
置を13と14とで示す。
前述の論文で述べるように、第１図に示す光学的幾何
において、基準面（（Ｘ−Ｚ）面における走査ビームと
走査された放散ビームの定角軌道）はその円周において
回転ミラーの２個所の見掛け位置を含む円である。前記
円の直径は で表現され、 ｄは回転ミラーの見掛け位置の間の距離で、 ｌは見掛け位置と基準面との間のＺ軸に沿つた距離であ
る。換言すれば、基準面の曲率半径Ｒは以下の通り表わ
される。
したがつて、例えばプリント回路盤の検査のように、
相対的に平坦な対象物が同期的に走査される場合、望ま
しい以上の多量の解像エレメントが必要とされることは
明らかである。理想的には１個の平坦面に対して１個の
エレメントが使用される。
Ｙ方向での走査は平行のビームにより直線とするか、
あるいは半径方向の走査ビームにより角度をつけて直線
としうることが注目される。前者の場合、基準面は円筒
形面であり、後者の場合は基準面は球形面を形成する。
したがつて、球形面および円筒形面の検査に対しては、
そのような基準面を用いることが有利であることが認め
られる。
第２図を参照すれば、本発明の一実施例による光学装
置が概略図示されている。第１図の一対の固定の平坦ミ
ラー５および９は一対の球形あるいは円筒形ミラー21と
23とによつて代替されている。点線25は、一対の平坦な
固定ミラーが用いられた場合の円筒形あるいは球形の基
準面を示す。（Ｒが無限である）平坦面から固定反射ミ
ラー21および23の曲率半径Ｒを低減させるにつれて、円
筒形（あるいは球形）の基準面の直径が増加する。ある
点Ｒ＝Roにおいて基準面の曲率半径は無限であつて、27
で示す平坦面を提供する。反射ミラーの曲率半径をRo以
下に低減させ続けるとすれば、円筒体の直径は第２図に
おいて29で示すようにマイナスとなる。
ミラーの曲率半径Ｒを低減させるにつれて、視野は第
２図から判るように増加する。
第３図は光学軸の角度、固定反射ミラーの曲率および
基準面の曲率の間の関係を示すグラフである。前記グラ
フは光線追跡プログラムを用いて作成した。前記グラフ
において、φは走査ビームと走査された放散ビームとの
光軸の交錯点における角度である。Rmは固定した反射ミ
ラー１の曲率半径で、ｌは回転ミラーの見掛け位置と基
準面との間のＺ軸に沿つた距離およびＲは基準面の曲率
半径を示す。
グラフから判るように、φ＝10度（色々な用途に対し
て典型的な値）であり、Rm/l＝2.0は∞（Ｒ＝∞）で示
す線が示すように平坦な基準面をつくる。
φ＝10度でRm/l＝3.0であると、僅かに凸形の基準面
（4R）がつくられる。
したがつて、ある用途の要件に応じて、解像エレメン
トの数を低減させるべく対象物の面を出来る限り近似適
合させるよう基準面を構成することが有利なのは明らか
である。
本発明は各種の三角測量装置に適応しうる。しかしな
がら、第４図、第５図および第６図は、本発明を適合し
うる同期式走査に係る実施例を概略的に示す。これらの
図におけるミラーM4およびM5は基準面の希望する要件に
適合するよう円筒形あるいは球形ミラーで代替しうる。
【図面の簡単な説明】
第１図は従来技術による同期式走査の光学線図、 第２図は本発明の一実施例による同期式走査の光学概略
線図、 第３図は光線ビームの光軸の角度と、固定反射ミラーの
曲率と、および基準面の曲率との関係を示すグラフ、 第４図は本発明を適用しうる別の実施例による同期式走
査の概略図、 第５図は本発明を適用しうるさらに別の実施例による同
期式走査の概略図、および 第６図は本発明を適用しうるさらに別の実施例による同
期式走査の概略図である。 図において １……ミラー 5,9……固定ミラー ７……基準面 21,23……ミラー 25……基準面 27,29……面

Claims (10)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】基準面に対する方向におけるある面の輪郭
    を検出する結像装置において、同期式光学走査装置が、 走査光線ビームにより走査線に沿つた面を同期的に走査
    し、かつ該面からの走査された放散ビームを受け取るた
    めの２個以上の回転ミラーを含む回転走査手段と、およ
    び 走査光線ビームと走査された放散ビームとの光学軌道の
    各々において１個づつの一対の反射ミラーとを含み、 前記反射ミラーが湾曲していることを特徴とする同期式
    光学走査装置。
  2. 【請求項２】特許請求の範囲第１項に記載の装置におい
    て、前記反射ミラーの形状が、走査線に沿つた基準面が
    所定の形状に合致するように選択されることを特徴とす
    る同期式光学走査装置。
  3. 【請求項３】特許請求の範囲第２項に記載の装置におい
    て、前記反射ミラーの形状が円筒形と球形とからなる群
    から選択されることを特徴とする同期式光学走査装置。
  4. 【請求項４】特許請求の範囲第３項に記載の装置におい
    て、前記所定の形状が直線であることを特徴とする同期
    式光学走査装置。
  5. 【請求項５】特許請求の範囲第２項に記載の装置におい
    て、前記の回転走査手段がその軸心の周りで回転する両
    面ミラーであることを特徴とする同期式光学走査装置。
  6. 【請求項６】特許請求の範囲第３項に記載の装置におい
    て、前記の回転走査手段がその軸心の周りで回転する両
    面ミラーであることを特徴とする同期式光学走査装置。
  7. 【請求項７】特許請求の範囲第２項に記載の装置におい
    て、前記の回転走査手段がその軸心の周りで回転する多
    面ミラーであることを特徴とする同期式光学走査装置。
  8. 【請求項８】特許請求の範囲第３項に記載の装置におい
    て、前記の回転走査手段がその軸心の周りで回転する多
    面ミラーであることを特徴とする同期式光学走査装置。
  9. 【請求項９】特許請求の範囲第７項に記載の装置におい
    て、前記の多面ミラーが多角形あるいはピラミツド形で
    あることを特徴する同期式光学走査装置。
  10. 【請求項１０】特許請求の範囲第８項に記載の装置にお
    いて、前記の多面ミラーが多角形あるいはピラミツド形
    であることを特徴とする同期式光学走査装置。
JP63107773A 1987-05-06 1988-05-02 同期式光学走査装置 Expired - Lifetime JP2582118B2 (ja)

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US07/046,391 US4787748A (en) 1987-05-06 1987-05-06 Synchronous optical scanning apparatus
US046391 1987-05-06

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JPS6426816A JPS6426816A (en) 1989-01-30
JP2582118B2 true JP2582118B2 (ja) 1997-02-19

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