JP2581429B2 - 半導体レーザ - Google Patents

半導体レーザ

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JP2581429B2
JP2581429B2 JP32064793A JP32064793A JP2581429B2 JP 2581429 B2 JP2581429 B2 JP 2581429B2 JP 32064793 A JP32064793 A JP 32064793A JP 32064793 A JP32064793 A JP 32064793A JP 2581429 B2 JP2581429 B2 JP 2581429B2
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JP
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semiconductor
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semiconductor laser
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芳康 上野
卓 松本
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NEC Corp
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Nippon Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、情報処理機器の光源に
用いる緑青色II−VI族半導体レーザに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体レーザは極めて小型でかつ量産性
に富むため、今日、情報機器や光通信など様々な光電気
機器用の光源として幅広く利用されている。情報機器の
なかでも特にいわゆるコンパクトディスク(CD)や光
磁気ディスクは、音楽やデータなどのデジタル情報を記
録再生する機器として重要である。これらの情報機器の
記録容量は、光源の波長が短いほど大きくなる。このた
め、より、波長の短い半導体レーザの開発が活性に進め
られてきた。最近は、緑青色II−VI族半導体レーザ
が注目を集め(伊藤他、エレクトロニクスレターズ(E
lectronics Letters)誌第29巻9
号766−768頁、およびH.Jeon他、アプライ
ド・フィジクス・レターズ(Applied Phys
icsLetters)誌第60巻第17号2045−
2047頁)、いくつかの新しい提案がなされている。
松本らはII−VI族半導体上にIV族半導体を形成し
て素子抵抗を低減する提案を行った(特願平5−133
64号)。
【0003】現在までに報告されているII−VI族レ
ーザはマルチモードで発振している。今後情報機器に採
用するためには、発振光横モードを制御し基本横モード
発振を安定化し、かつ、適切な電流狭窄構造を設けて発
光領域への効率的な電流注入を行う必要がある。最近、
平坦なダブルヘテロ結晶にストライプ状のリッジを形成
し、リッジの側部を透明で絶縁性のあるポリイミドで作
成した横モード制御型レーザが報告された(市村他、第
54回応用物理学会学術講演予稿集、No.3、講演番
号29a−H−3)。しかし,ポリイミドは半導体と熱
膨張係数が大きく異なり半導体層にストレスを与える、
或は、半導体表面の品質が劣化するなどの問題がある。
そこでリッジ側部を半導体で作成することによりこれら
の問題は改善をはかった。
【0004】
【発明が解決しようとる課題】リッジ側部を半導体で作
成する場合、半導体の格子定数が基板半導体に近いこと
が重要である。例えば、適切な導電型のGaAs層を用
いたレーザ構造が考えられている。しかしリッジ側部の
層と活性層で挟まれたクラッド層が非常に薄井ため、該
GaAs層とII−VI族クラッド層の界面を通したわ
ずかな原子相互拡張によって該II−VI族クラッド層
結晶の伝導型が変わり、ストライプ外部を流れる無効電
流が発生する問題がある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体レーザ
は、II−VI族からなる活性層とリッジ形状をなすク
ラッド層を少なくとも含むダブルヘテロ構造を持ち、該
リッジの側部Six Ge1 - x (0≦x≦1)であるこ
とを特徴とする。
【0006】
【作用】Six Ge1 - x 層はIV族原子からなるの
で、これらの原子が隣接するII−VI族クラッド層結
晶の中に拡散しても該クラッド層結晶の伝導型を変えな
い。
【実施例】本発明の半導体レーザの一つ実施例を図1に
示す。まず、Siドープn型GaAsP基板2の表面上
に分子線のエピタキシャル法(MBE法)で1.2μm
厚のClドープn型ZnMgSSe、クラッド層3、4
0nm厚のCdZnMgSSe活性層4、1.2μm厚
のNドープp型ZnMgSSeクラッド層5を成長す
る。成長温度は250−350℃とした。成長方法は有
機金属気相成長法(MOVPE法)を用いることも可能
である。該活性層は多重量子井戸でも良く、光閉じ込め
係数を改善するために適切な光ガイド層を設けても良
い。活性層に例えば厚さ7nmのCd0 . 1 2 Zn
0 . 8 8 Se量子井戸を用いれば波長約498nmで発
振する。量子井戸にMgを添加すれば発振波長は短くな
る。ZnMgSSeクラッド層の組成は、その格子定数
がGaAsP基板2に近いように選び格子整合させる。
【0007】次に、化学エッチングを用いて該p−Zn
MgSSe5に高さ1μm程度のストライプ状リッジを
形成する。リッジ形成に、より制御性に優れたドライエ
ッチングを用いてもよい。リッジの形成後、再びMBE
法またはMOVPE法で該リッジの側部にSix Ge
1 - x 6を選択成長する。Siの組成(x)は、Six
Ge1 - x 6の格子定数がGaAsP基板2にほぼ等し
いように選び格子整合させる。選択成長マスクには、誘
電体膜を用いた。該Six Ge1 - x 層と活性層に挟ま
れたクラッド層の厚さは0.2μmである。
【0008】選択成長の後、該誘電体膜を除去し、ウエ
ハ表面にNドープp型ZnSSeキャップ層7を形成す
る。最後にp電極8とn電極1を形成すると、本発明の
半導体レーザは完成する。
【0009】本実施例ではn型ドーパント及びp型ドー
パントのそれぞれ1つの例を挙げた。上述のドーパント
以外のドーパントを用いても本発明の効果を妨げるもの
ではない。
【0010】また基板はGaAsP以外にGaPでもよ
く、この場合はGaP基板上に順にZnSSeクラッド
層、ZnSSe活性層ZnMgSSeクラッド層を積層
したものでもよい。
【0011】また、本実施例ではn型の半導体基板を用
いたが、p型の半導体基板を用いても良い。この場合、
Six Ge1 - x 層も含めて全てのエピタキシャル半導
体層の伝導型をそれぞれ反転させれば同等な効果を得る
ことができる。その他、本発明はその趣旨を逸脱しない
範囲で種々の変形実施することが可能である。
【0012】
【発明の効果】本発明の半導体レーザのストライプ外部
はn型クラッド層/p型クラッド層/n型Six Ge
1 - x 層/p型キャップ層からなるnpnp構造んをな
し、該npnp構造が注入電流をストライプ内部に狭窄
する。npnp構造の一部をなすSix Ge1 - x 層の
構成原子がIV族などで、隣接するII−VI族クラッ
ド層に相互拡散しても該クラッド層の伝導型を変えな
い。従って、伝導型反転による無効電流の発生が抑えら
れる。
【0013】また、該Six Ge1 - x 層は発振光を吸
収するので高次モード発振を強く抑制する。従って、本
発明の半導体レーザは安定な基本横モード発振光を発生
する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体レーザの一つの実施例を示す断
面図である。
【符号の説明】
1 n電極 2 n−GaAsP基板 3 n−ZnMgSSeクラッド層 4 CdZnMgSSe活性層 5 p−ZnMgSSeクラッド層 6 Six Ge1 - x 層 7 p−ZnSSeキャップ層 8 p電極

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 II−VI族からなる活性層とリッジ形
    状をなすII−VI族クラッド層を少なくとも含むダブ
    ルヘテロ構造を持ち、該リッジの側部がSix Ge
    1 - x (0≦x≦1)であることを特徴とする半導体レ
    ーザ。
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