JP2578493B2 - 光学式エンコーダ - Google Patents

光学式エンコーダ

Info

Publication number
JP2578493B2
JP2578493B2 JP63299073A JP29907388A JP2578493B2 JP 2578493 B2 JP2578493 B2 JP 2578493B2 JP 63299073 A JP63299073 A JP 63299073A JP 29907388 A JP29907388 A JP 29907388A JP 2578493 B2 JP2578493 B2 JP 2578493B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scale
light
sub
emission intensity
main scale
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP63299073A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH02143113A (ja
Inventor
正栄 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Electronics Inc
Original Assignee
Canon Electronics Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Electronics Inc filed Critical Canon Electronics Inc
Priority to JP63299073A priority Critical patent/JP2578493B2/ja
Publication of JPH02143113A publication Critical patent/JPH02143113A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2578493B2 publication Critical patent/JP2578493B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は光学式エンコーダに関し、所定の格子パター
ンが形成されたメインスケールと互いに位相が異なる複
数個の格子パターンが形成されたサブスケールとを有す
る光学式エンコーダに関する。
〔従来技術〕
従来よりメインスケールとサブスケールの一方を可動
ステージなどの可動体に連結し、光源からの光でメイン
スケールの格子パターン(スリツト列)を照明してメイ
ンスケールの格子パターンとサブスケールの格子パター
ンを通過した光を受光素子で受光し、この受光素子から
の光電変換された出力信号にもとづいて可動体の変位を
検出するエンコーダが良く知られている。
このようなエンコーダでは、変位方向の判別又は変位
量の分解能を向上させるために、サブスケールに複数個
の格子パターンを形成し、しかもこれらの格子パターン
のメインスケールの格子パターンに対する位相を互いに
異ならしめ、互いに位相が異なる周期信号を受光素子に
より得ていた。
しかしながら、従来のエンコーダでは、サブスケール
の複数個の格子パターンを可動体の変位方向に沿って設
けていたため、経時変化により互いの位相差がずれると
いう問題が生じていた。また、そもそも、両者が、格子
パターンを成すスリツトの配列方向に並んでいるため
に、互いの位相差を正確に規定することも容易ではな
い。
従って、例えば第5図に示すように、サブスケール10
0(マスク)の格子パターン7,8(又は9,10)を、可動体
(ここではメインスケール2が可動体に取付けられてい
る。)の変位方向xにほぼ直交する方向に並べて設けて
やれば、上述の問題は解消できる。
ところが、第5図に示すように、光源1の強度変動を
モニターするための矩形スリツト6を間に挟んで格子パ
ターン7,8を設けると、メインスケール2とサブスケー
ル100のアジスマ誤差(Azimuth:傾きθ)の影響によ
り、不図示の光電変換素子で格子パターン7及び格子パ
ターン8からの光を各々光電変換して得られる周期信号
の位相差が、予め決めた位相差から大きくずれることが
解かった。
〔発明の概要〕
本発明の目的は、光源の発光強度を調整できるととも
に、所定の位相差を有する複数個の周期的信号を正確に
得ることができる光学式エンコーダを提供することにあ
る。
上記目的を達成するために、本発明の光学式エンコー
ダは、所定周期の格子パターンが形成されたメインスケ
ールと、光源からの光で前記メインスケールを照明する
照明手段と、該メインスケールの格子パターンに対して
互いに位相が異なった第1と第2の格子パターンと前記
光源の発光強度を調整するための発光強度モニター用ス
リットを有し、前記メインスケールに対向させて設けら
れたサブスケールと、前記メインスケールの格子パター
ンと前記サブスケールの第1格子パターンを介して得ら
れる光と、前記メインスケールの格子パターンと前記サ
ブスケールの第2格子パターンを介して得られる光と、
前記メインスケールの格子パターンと前記サブスケール
の発光強度モニター用スリットを介して得られる光とを
個別に光電変換し、前記第1、第2格子パターンに対応
する互いに位相が異なる第1と第2の周期信号と、前記
発光強度モニター用スリットからの前記光源の発光強度
に対応する信号とを出力する光電変換手段とを有し、前
記光源の発光強度に対応する信号にもとづいて前記光源
の発光強度を調整するとともに、前記メインスケールと
サブスケールの一方を可動体に連結し、前記第1と第2
の周期信号にもとづいて該可動体の変位を測定する光学
式エンコーダにおいて、前記サブスケールの第1と第2
の格子パターンを、前記可動体が変位する方向にほぼ直
交する方向に近接させて設ける為に前記第1と第2の格
子パターンを挟んで前記発光強度モニター用スリットを
設けたことを特徴とするものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を具体的に説明するが、その前
に本発明の光学式エンコーダの基本構成が示してある前
述の第5図の装置に関し追加説明する。
第5図において、2と100は、前述したように各々メ
インスケールとサブスケールを示している。1はLEDな
どの光源であり、光源1から射出した光はレンズ5によ
りほぼ平行な光束となり、この平行光束がメインスケー
ル2の所定周期の格子パターン20(スリツト列)を照明
する。格子パターン20の光透過部(スリツト)を透過し
た光はサブスケール100の全面を照明する。
サブスケール100の後方には、サブスケール100の格子
パターン7,8,9,10と矩形スリツト6の各々に対応して設
けた複数個のフオトダイオード(以下、フオトダイオー
ドアレイと称す。)が設けられており、各フオトダイオ
ードアレイは入射光を光電変換する。
サブスケール100の格子パターン7,8,9,10からの光が
入射するフオトダイオードからの光電変換信号は、サブ
スケール100とメインスケール2のx方向の相対変位に
より周期的な信号となる。一方、矩形スリツト6からの
光が入射するフオトダイオードからの光電変換信号は周
期信号ではなく、光源1の発光強度の変化に応答して変
化する信号である。従って、このフオトダイオードから
の信号にもとづいて、光源1の発光強度を自動又は手動
で調整できる。
また、フオトダイオードとしては、その感度特性内に
光源1の発光スペクトルが含まれるものが用いられる。
さて、本発明の主たる特徴は、第5図に示されるよう
なサブスケール100の構成にある。
第1図及び第2図は本発明の一実施例を示すための説
明図であり、第1図はサブスケール100における格子パ
ターンの配置を示す拡大図、第2図は各格子パターンに
対応する各フオトダイオードからの出力信号を示す図で
ある。
格子パターン7は、対応するフオトダイオードからA
相信号を取出すためのパターンであり、格子パターン8
は対応するフオトダイオードからB相信号を取出すため
のパターンである。このA相信号の周期とB相信号の周
期は互いに90゜位相がずれたものであり、A相及びB相
信号から周知の技術によりメインスケール2(可動体)
の変化する方向が判別できる。
また、格子パターン9は対応するフオトダイオードか
ら、A相信号に対して180゜位相がずれた相信号を取
出すためのパターンであり、A相信号と相信号の差動
をとることにより、電磁ノイズ等の外乱につよい周期信
号(C相信号)を形成し、この信号によりメインスケー
ル2の変位量や変位速度が測定される。
また、格子パターン10は対応するフオトダイオードか
ら、B相信号に対して180゜位相がずれた相信号を取
出すためのパターンであり、A相と相の組合わせと同
様に、B相信号と相信号の差動をとることにより所定
の周期信号(D相信号)を形成し、この信号によりメイ
ンスケール2の変位量や変位速度が測定される。
もちろん、C相及びD相信号を組合せることにより、
各相単独の場合の、2倍の分解能でメインスケール2の
変位量が測定できる。
各格子パターン7〜10を介して得られる周期信号の状
態が第2図に示されている。このような周期信号を得る
ために、格子パターン7〜10は、その周期が格子パター
ン20の周期とほぼ同じであり、メインスケール2の格子
パターン20に対して、順次90゜づつ位相をずらしてあ
る。即ち、格子パターン7と8が互いに90゜位相がず
れ、格子パターン9,10が互いに90゜位相がずれているの
である。そして、本実施例では、格子パターン7と8を
変位方向xと直交する方向に互いに近接配置し、また格
子パターン9と10を変位方向xと直交する方向に互いに
近接配置している。このために、メインスケール2とサ
ブスケール100のアジスマ誤差の影響を、各周期信号が
受けにくくなっており、従って、各周期信号間の位相差
は正しく90゜に設定される。
第3図に格子パターン7と格子パターン8の距離とア
ジスマ誤差及びA相−B相間の相対的位相誤差量の関係
を示す。
第3図に示すグラフは、格子パターンのスリツトの長
さをb、幅をw(w=0.14・b)、格子パターンA,Bの
スリツト端部間の距離をaとし、b/aをパラメータとし
てアジスマ誤差と位相誤差の関係をプロツトとしてあ
る。第3図から明らかなように、格子パターンA,B間の
距離が小さくなればなる程、アジスマ誤差の位相誤差に
対する影響も小さくなるのである。
従って、本実施例では、メインスケール2の変位方向
xに直交する方向に格子パターン7,8(9,10)を近接配
置したため、アジスマ誤差の影響が小さくなり、正確に
互いに90゜位相がずれた周期信号を常時得られる。これ
により、高精度の変位測定が可能な光学式エンコーダが
提供できる。
第1図に戻り、6は光源1の発光強度モニター用のス
リツトであり、これに対応するフオトダイオードから
は、光源1の発光強度に対応したF相信号が得られる。
このF相信号は、前述のように、光源1の発光強度を調
整するために用いられる。そして、スリツト6は、格子
パターン7,8の間、格子パターン9,10の間には存在せ
ず、これにより、上述した格子パターン7,8(格子パタ
ーン9,10)の近接配置を達成している。
また、本実施例におけるサブスケール100は、フオト
ダイオードアレイが形成されている基板上に設けられて
おり、フオトダイオードアレイとサブスケール100とは
一体化している。即ち、基板上にフオトダイオードアレ
イ(A相、B相、相、相、F相用)を形成した後、
蒸着等の手法により各フオトダイオードアレイ上に格子
パターンやスリツトパターンを形成し、フオトダイオー
ドアレイをこれらのパターンによりマスキングしてい
る。従って、サブスケール100はマスクとして基板上に
設けられているのであり、第1図の符号6〜10で示す領
域は各々F相、A相、B相、相、相用のフオトダイ
オード領域とみなしてよい。
このような構成とすることにより、メインスケール2
からの光を受光する受光手段(サブスケール+光電変換
素子)の小型化を達成し、コンパクトな光学式エンコー
ダを提供できる。
また、フオトダイオードアレイを基板上に形成する時
に、フオトダイオード自体を格子状にパターニングし、
サブスケールとしての機能を与えてもよい。
第4図は本発明の他の実施例を示す説明図であり、第
1図の場合同様、エンコーダの基本構成は第5図に既に
示してある。本実施例のサブスケールと前記実施例のサ
ブスケールの違いは、F相信号を取り出すためのスリツ
ト6の形状にある。本実施例では、スリツト6を2つの
部分に分け、この2つの部分の間に格子パターン7〜10
を設けている。従って、格子パターン7と8、格子パタ
ーン9と10が近接配置されていることはもちろんのこ
と、格子パターン7と10、格子パターン8と9も近接配
置してある。
このような構成とすることにより、メインスケール2
を介してサブスケール100を照明する光の平行度に誤差
が多少あっても、メインスケール2の変位方向に配列し
た格子パターンを介して得られる周期信号間の位相誤差
の変動が小さくなる。
従って、例えば格子パターン7と9を介して得られる
周期信号の差動で形成されるC相信号が正確なものとな
り、精度の良い光学式エンコーダを提供できる。
以上2つの実施例を本願では示したが、本発明の思想
にもとづいて種々の形態の光学式エンコーダを提供する
ことが可能である。
例えば、上記各実施例では、第5図に示すようなリニ
アエンコーダを対象として説明したが、ロータリタイプ
のエンコーダにも本発明を用いることができる。また、
メインスケールを可動体に取り付ける代わりに、光源−
光学式−サブスケール−フオトダイオードの組から成る
1ユニツトを可動体に取付け、メインスケールを装置本
体に固定しても良い。また、フオトダイオードアレイを
用いる代わりに、サブスケールの格子パターンに対応さ
せて受光面を分割した分割センサを使用すると、セツテ
イングの面で有利になる。
〔発明の効果〕
以上、本発明によれば、光源の発光強度の調整ができ
るとともに、発光強度モニター用スリットが第1、第2
の格子パターンの間に存在しないので第1、第2の格子
パターンを近接配置でき、アジスマ誤差による周期信号
間の位相誤差の影響を低減し高精度に可動体の変位を測
定できる光学式エンコーダを提供することが可能にな
る。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明の一実施例を示す説明図。 第3図は格子パターン間の距離とメインスケールとサブ
スケールのアジマス誤差とA相−B相間の位相誤差量の
関係を示すグラフ図。 第4図は本発明の他の実施例を示す説明図。 第5図は光学式エンコーダの基本構成を示す図。 1……光源 2……メインスケール 6……スリツト 7〜10,20……格子パターン 100……サブスケール

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所定周期の格子パターンが形成されたメイ
    ンスケールと、光源からの光で前記メインスケールを照
    明する照明手段と、該メインスケールの格子パターンに
    対して互いに位相が異なった第1と第2の格子パターン
    と前記光源の発光強度を調整するための発光強度モニタ
    ー用スリットを有し、前記メインスケールに対向させて
    設けられたサブスケールと、前記メインスケールの格子
    パターンと前記サブスケールの第1格子パターンを介し
    て得られる光と、前記メインスケールの格子パターンと
    前記サブスケールの第2格子パターンを介して得られる
    光と、前記メインスケールの格子パターンと前記サブス
    ケールの発光強度モニター用スリットを介して得られる
    光とを個別に光電交換し、前記第1、第2格子パターン
    に対応する互いに位相が異なる第1と第2の周期信号
    と、前記発光強度モニター用スリットからの前記光源の
    発光強度に対応する信号とを出力する光電変換手段とを
    有し、前記光源の発光強度に対応する信号にもとづいて
    前記光源の発光強度を調整するとともに、前記メインス
    ケールとサブスケールの一方を可動体に連結し、前記第
    1と第2の周期信号にもとづいて該可動体の変位を測定
    する光学式エンコーダにおいて、前記サブスケールの第
    1と第2の格子パターンを、前記可動体が変位する方向
    にほぼ直交する方向に近接させて設ける為に前記第1と
    第2の格子パターンを挟んで前記発光強度モニター用ス
    リットを設けたことを特徴とする光学式エンコーダ。
JP63299073A 1988-11-25 1988-11-25 光学式エンコーダ Expired - Fee Related JP2578493B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63299073A JP2578493B2 (ja) 1988-11-25 1988-11-25 光学式エンコーダ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63299073A JP2578493B2 (ja) 1988-11-25 1988-11-25 光学式エンコーダ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02143113A JPH02143113A (ja) 1990-06-01
JP2578493B2 true JP2578493B2 (ja) 1997-02-05

Family

ID=17867847

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63299073A Expired - Fee Related JP2578493B2 (ja) 1988-11-25 1988-11-25 光学式エンコーダ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2578493B2 (ja)

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5696216A (en) * 1979-12-28 1981-08-04 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Index scale for photoelectric encoder
JPS5892819A (ja) * 1981-11-28 1983-06-02 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 光電式エンコ−ダ装置
JPS59616A (ja) * 1982-06-26 1984-01-05 Kawaguchiko Seimitsu Kk 光電変換装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH02143113A (ja) 1990-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5302820A (en) Opto-electronic scale reading apparatus having an array of elongate photo-sensitive elements and a periodic light pattern
US4677293A (en) Photoelectric measuring system
US4091281A (en) Light modulation system
JPH09196705A (ja) 変位測定装置
JP3644687B2 (ja) 2つの物体の相対的な変位を測定する光電式距離及び角度測定装置
JPS6333604A (ja) 相対変位測定装置
JPH0131127B2 (ja)
JP2001208566A (ja) 測定装置
JPH07286861A (ja) 光学変換器および方法
JPH06258102A (ja) 測定装置
JPH02129518A (ja) 光電位置測定装置
US5530543A (en) Detector array for use in interferometric metrology systems
JP2578493B2 (ja) 光学式エンコーダ
JPH0625675B2 (ja) 平均化回折モアレ位置検出器
JP2575935B2 (ja) 位置検出装置
JPH01272917A (ja) 反射式xyエンコーダ
JPH0521485B2 (ja)
JP3803607B2 (ja) 2次元エンコーダ
JPH0444211B2 (ja)
JPH0521486B2 (ja)
JPS6350722A (ja) 光学式変位検出器
JP3632825B2 (ja) 波長計測装置
JPH09203644A (ja) 光学式エンコーダ
JPH01217211A (ja) 平均化回折モアレ位置検出器
JPH0733134Y2 (ja) 光学式変位検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees