JP2573173Y2 - プラズマスパッタ型負イオン源 - Google Patents
プラズマスパッタ型負イオン源Info
- Publication number
- JP2573173Y2 JP2573173Y2 JP1992090158U JP9015892U JP2573173Y2 JP 2573173 Y2 JP2573173 Y2 JP 2573173Y2 JP 1992090158 U JP1992090158 U JP 1992090158U JP 9015892 U JP9015892 U JP 9015892U JP 2573173 Y2 JP2573173 Y2 JP 2573173Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion source
- target
- plasma
- sputter target
- negative ion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、イオンビ−ムを長時
間、安定に引出すことができるプラズマスパッタ型負イ
オン源に関する。
間、安定に引出すことができるプラズマスパッタ型負イ
オン源に関する。
【0002】
【従来の技術】図2はプラズマスパッタ型負イオン源の
一例についての断面構成図であり、図3は同イオン源の
スパッタ・ターゲット部の拡大断面図である。真空チャ
ンバ1にガス導入口2からキセノンガスを供給し、フィ
ラメント3から放出される熱電子と衝突させ、キセノン
プラズマが生成される。プラズマは真空チャンバ1の周
囲に配置された永久磁石4の磁場によって真空チャンバ
内に閉じ込められ、このプラズマ中にスパッタ・ターゲ
ット5が配置される。図3に示すように、発生させたい
目的元素を含む材質のスパッタ・ターゲット5はボンデ
ィング材6によってバッキングプレート7に取り付けら
れており、同プレートはターゲット保持部材8を介して
結合する冷却軸9、絶縁フランジ10によって支持され
ている。これらスパッタ・ターゲット5及びその取付、
保持用の部材の周囲にガラスカバー11を配置し、不要
にスパッタリングされるのを防いでいる。
一例についての断面構成図であり、図3は同イオン源の
スパッタ・ターゲット部の拡大断面図である。真空チャ
ンバ1にガス導入口2からキセノンガスを供給し、フィ
ラメント3から放出される熱電子と衝突させ、キセノン
プラズマが生成される。プラズマは真空チャンバ1の周
囲に配置された永久磁石4の磁場によって真空チャンバ
内に閉じ込められ、このプラズマ中にスパッタ・ターゲ
ット5が配置される。図3に示すように、発生させたい
目的元素を含む材質のスパッタ・ターゲット5はボンデ
ィング材6によってバッキングプレート7に取り付けら
れており、同プレートはターゲット保持部材8を介して
結合する冷却軸9、絶縁フランジ10によって支持され
ている。これらスパッタ・ターゲット5及びその取付、
保持用の部材の周囲にガラスカバー11を配置し、不要
にスパッタリングされるのを防いでいる。
【0003】プラズマ中に置かれたスパッタ・ターゲッ
ト5を真空チャンバ1に対して負電位にバイアスし、プ
ラズマ中の正イオンにより同ターゲットをスパッタリン
グする。その際、アルカリ金属、例えばセシウムの蒸気
をセシウムリザーバ12から供給し、スパッタ・ターゲ
ット5の表面に付着させることにより負イオンの生成を
行う。真空チャンバ1のイオン引出し部に絶縁フランジ
13を介して設けられた引出し電極14を真空チャンバ
に対して正電位にバイアスし、負イオンのビームを引出
す。真空チャンバ1及びイオンビ−ムの輸送路は真空排
気口15に接続された真空ポンプで排気されている。
ト5を真空チャンバ1に対して負電位にバイアスし、プ
ラズマ中の正イオンにより同ターゲットをスパッタリン
グする。その際、アルカリ金属、例えばセシウムの蒸気
をセシウムリザーバ12から供給し、スパッタ・ターゲ
ット5の表面に付着させることにより負イオンの生成を
行う。真空チャンバ1のイオン引出し部に絶縁フランジ
13を介して設けられた引出し電極14を真空チャンバ
に対して正電位にバイアスし、負イオンのビームを引出
す。真空チャンバ1及びイオンビ−ムの輸送路は真空排
気口15に接続された真空ポンプで排気されている。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】かかる負イオン源の動
作時、ガラスカバー11はプラズマ電位となるため、ガ
ラスカバーとスパッタ・ターゲット5間には通常2kV
程度の電圧がかかる。スパッタ・ターゲット5は真空チ
ャンバ1のイオン引出し部側が凹面に形成された円盤状
のものであり、その材質によってはそのエッジ部aを丸
くアール(R)加工できないものがあり、エッジ部が強
電界となり、放電が起こる。また、スパッタリングによ
る加熱に伴いボンディング材6が蒸発し、そのガスが放
電の原因となる。エッジ部aの電界を弱くするために、
ガラスカバー11とスパッタ・ターゲット5の間を広げ
ると、不要な部分のスパッタリングが増加し、バイアス
電源の負荷が増え、またバッキングプレート7等の消耗
を招く。そして、かかる放電の発生は、引出されるイオ
ンビ−ムを不安定なものとする。
作時、ガラスカバー11はプラズマ電位となるため、ガ
ラスカバーとスパッタ・ターゲット5間には通常2kV
程度の電圧がかかる。スパッタ・ターゲット5は真空チ
ャンバ1のイオン引出し部側が凹面に形成された円盤状
のものであり、その材質によってはそのエッジ部aを丸
くアール(R)加工できないものがあり、エッジ部が強
電界となり、放電が起こる。また、スパッタリングによ
る加熱に伴いボンディング材6が蒸発し、そのガスが放
電の原因となる。エッジ部aの電界を弱くするために、
ガラスカバー11とスパッタ・ターゲット5の間を広げ
ると、不要な部分のスパッタリングが増加し、バイアス
電源の負荷が増え、またバッキングプレート7等の消耗
を招く。そして、かかる放電の発生は、引出されるイオ
ンビ−ムを不安定なものとする。
【0005】本考案は、スパッタ・ターゲットとその周
囲を覆うガラスカバーとの間の放電の発生を防ぎ、長時
間、安定にイオンビ−ムを引出すことができるプラズマ
スパッタ型負イオン源の提供を目的とするものである。
囲を覆うガラスカバーとの間の放電の発生を防ぎ、長時
間、安定にイオンビ−ムを引出すことができるプラズマ
スパッタ型負イオン源の提供を目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本考案は、スパッタ・タ
ーゲットの周囲にスパッタリング防止用カバーが配置さ
れているプラズマスパッタ型イオン源において、スパッ
タ・ターゲットの側面部が、同ターゲットのエッジ部に
隣接する曲面端部を有する導電体製リングで覆われてい
ることを特徴とするものである。
ーゲットの周囲にスパッタリング防止用カバーが配置さ
れているプラズマスパッタ型イオン源において、スパッ
タ・ターゲットの側面部が、同ターゲットのエッジ部に
隣接する曲面端部を有する導電体製リングで覆われてい
ることを特徴とするものである。
【0007】
【作用】スパッタ・ターゲットの側面部を同ターゲット
のエッジ部に隣接する曲面端部を有する導電体製リング
で覆うから、スパッタ・ターゲット部から尖鋭エッジ部
をなくすことができ、放電の発生を防止する。そして同
リングでボンディング材を覆うことができるから、ボン
ディング材の加熱による蒸発を減少させる。
のエッジ部に隣接する曲面端部を有する導電体製リング
で覆うから、スパッタ・ターゲット部から尖鋭エッジ部
をなくすことができ、放電の発生を防止する。そして同
リングでボンディング材を覆うことができるから、ボン
ディング材の加熱による蒸発を減少させる。
【0008】
【実施例】本考案の一実施例を図面を参照して説明す
る。図1はプラズマスパッタ型負イオン源におけるスパ
ッタ・ターゲット部の断面構成図であり、図2、図3と
同一符号は同等部分を示す。発生させたい目的元素を含
む材質のスパッタ・ターゲット5はボンディング材6に
よってバッキングプレート7に取り付けられており、同
プレートはターゲット保持部材8を介して結合する冷却
軸9によって支持されている。これらスパッタ・ターゲ
ット5及びその取付、保持用部材の周囲にスパッタリン
グ防止用ガラスカバー11が配置されている。
る。図1はプラズマスパッタ型負イオン源におけるスパ
ッタ・ターゲット部の断面構成図であり、図2、図3と
同一符号は同等部分を示す。発生させたい目的元素を含
む材質のスパッタ・ターゲット5はボンディング材6に
よってバッキングプレート7に取り付けられており、同
プレートはターゲット保持部材8を介して結合する冷却
軸9によって支持されている。これらスパッタ・ターゲ
ット5及びその取付、保持用部材の周囲にスパッタリン
グ防止用ガラスカバー11が配置されている。
【0009】スパッタ・ターゲット5の側面部はカーボ
ン、モリブデン等による導電体製リング16で覆われて
おり、図1では、同リング16が、スパッタ・ターゲッ
ト、バッキングプレート7及びターゲット保持部材8の
周囲を覆っているものを示す。導電体製リング16はス
パッタ・ターゲット5のエッジ部aに隣接する曲面端部
bを有し、同端部の形状を、エッジ部aに連続し、全体
としてその形状を緩和する曲面とすることにより、全体
としてスパッタ・ターゲット部から尖鋭なエッジ部をな
くし、放電をもたらす強電界の発生を防止する。また、
スパッタ・ターゲット5の周囲を導電体製リング16で
覆うことに伴い、ボンディング材6の部分も覆われ、ボ
ンディング材の加熱による蒸発が減少する。
ン、モリブデン等による導電体製リング16で覆われて
おり、図1では、同リング16が、スパッタ・ターゲッ
ト、バッキングプレート7及びターゲット保持部材8の
周囲を覆っているものを示す。導電体製リング16はス
パッタ・ターゲット5のエッジ部aに隣接する曲面端部
bを有し、同端部の形状を、エッジ部aに連続し、全体
としてその形状を緩和する曲面とすることにより、全体
としてスパッタ・ターゲット部から尖鋭なエッジ部をな
くし、放電をもたらす強電界の発生を防止する。また、
スパッタ・ターゲット5の周囲を導電体製リング16で
覆うことに伴い、ボンディング材6の部分も覆われ、ボ
ンディング材の加熱による蒸発が減少する。
【0010】
【考案の効果】本考案は、以上説明したように構成した
ので、スパッタ・ターゲット5のエッジの影響がなくな
り、強電界部分が生じないから、スパッタ・ターゲット
のエッジに起因するガラスカバー11とスパッタ・ター
ゲット間の放電を防止することができる。また、ボンデ
ィング材の蒸発が減少するから、蒸発ガスによる放電の
発生を防ぐことができる。したがって、イオン源からイ
オンビ−ムを長時間、安定に引出すことができる。
ので、スパッタ・ターゲット5のエッジの影響がなくな
り、強電界部分が生じないから、スパッタ・ターゲット
のエッジに起因するガラスカバー11とスパッタ・ター
ゲット間の放電を防止することができる。また、ボンデ
ィング材の蒸発が減少するから、蒸発ガスによる放電の
発生を防ぐことができる。したがって、イオン源からイ
オンビ−ムを長時間、安定に引出すことができる。
【図1】本考案の一実施例におけるスパッタ・ターゲッ
ト部の断面構成図である。
ト部の断面構成図である。
【図2】プラズマスパッタ型負イオン源の一例について
の断面構成図である。
の断面構成図である。
【図3】従来のスパッタ・ターゲット部の断面構成図で
ある。
ある。
5 スパッタ・ターゲット 6 ボンディング材 7 バッキングプレート 8 ターゲット保持部材 9 冷却軸 11 スパッタリング防止用ガラスカバー 16 導電体製リング
Claims (1)
- 【請求項1】 スパッタ・ターゲットの周囲にスパッタ
リング防止用カバーが配置されているプラズマスパッタ
型イオン源において、スパッタ・ターゲットの側面部
が、同ターゲットのエッジ部に隣接する曲面端部を有す
る導電体製リングで覆われていることを特徴とするプラ
ズマスパッタ型負イオン源。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1992090158U JP2573173Y2 (ja) | 1992-12-08 | 1992-12-08 | プラズマスパッタ型負イオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1992090158U JP2573173Y2 (ja) | 1992-12-08 | 1992-12-08 | プラズマスパッタ型負イオン源 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0650228U JPH0650228U (ja) | 1994-07-08 |
JP2573173Y2 true JP2573173Y2 (ja) | 1998-05-28 |
Family
ID=13990691
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1992090158U Expired - Fee Related JP2573173Y2 (ja) | 1992-12-08 | 1992-12-08 | プラズマスパッタ型負イオン源 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2573173Y2 (ja) |
-
1992
- 1992-12-08 JP JP1992090158U patent/JP2573173Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0650228U (ja) | 1994-07-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA2585176C (en) | Ion source with substantially planar design | |
US4019077A (en) | Field emission electron gun | |
JP2007516346A (ja) | 金属のイオン物理蒸着におけるスパッタリングソース | |
JP2573173Y2 (ja) | プラズマスパッタ型負イオン源 | |
US3827829A (en) | Sputter-ion pump | |
US3391303A (en) | Electronic vacuum pump including a sputter electrode | |
US20220285123A1 (en) | Ion gun and ion milling machine | |
JP3021762B2 (ja) | 電子衝撃型イオン源 | |
US6220821B1 (en) | Ion pump having protective mask components overlying the cathode elements | |
JP2573166Y2 (ja) | プラズマスパッタ型負イオン源 | |
JPS607705B2 (ja) | スパツタリング装置 | |
JPH04318163A (ja) | スパッタ型イオン源 | |
JP3905572B2 (ja) | 高融点物質蒸発装置 | |
JP3227713B2 (ja) | スパッタ型イオン源 | |
JPH0557748U (ja) | 負イオン源 | |
JP2592617B2 (ja) | イオン・プレーテイング装置 | |
JP2615895B2 (ja) | イオン源 | |
JP3409881B2 (ja) | Rf放電型イオン源 | |
JPH0736349U (ja) | プラズマスパッタ型負イオン源 | |
JPH0554812A (ja) | イオン源 | |
JP3067248B2 (ja) | イオン源 | |
JPH06325712A (ja) | イオン源 | |
JPH0530276Y2 (ja) | ||
JPH06310066A (ja) | イオン源装置 | |
JPH10317138A (ja) | イオンビームスパッタリング装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |