JP2553284B2

JP2553284B2 - 光ディスク駆動装置のレーザ・エネルギの較正方法及び装置

Info

Publication number: JP2553284B2
Application number: JP4178142A
Authority: JP
Inventors: デビッド・アーネスト・コール; ジュリアン・ルークオーイクズ
Original assignee: International Business Machines Corp
Current assignee: International Business Machines Corp
Priority date: 1991-09-11
Filing date: 1992-07-06
Publication date: 1996-11-13
Anticipated expiration: 2011-11-13
Also published as: EP0532241B1; EP0532241A3; US5216659A; DE69221049D1; JPH05189767A; EP0532241A2; DE69221049T2

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク駆動装置に
関し、特に、磁気光型（MO: magneto optical）及び追
記型（WORM：WRITE ONCE READ MANY）媒体の両者が利用
可能な駆動装置のレーザ電流の較正に関する。

【０００２】

【従来の技術】米国特許出願番号第５５５９５２号の題
名" レーザ駆動回路の較正及びエネルギ保護"（Calibra
ting and Power Protecting Laser Drive Circuits）
は、磁気光媒体、すなわち、消去可能な媒体のための較
正技術に関する。

【０００３】光ディスク・デバイスは、コンピュータ用
データの格納装置として利用され及び多量のデータを格
納する能力においてその価値が認められている。このよ
うなデバイスに使用される媒体は、例えば、半導体レー
ザの高速切り換えによって作り出される光の照射に反応
する。データを光媒体に書込むためにレーザ・エネルギ
は、その媒体がデータの有無を反映するように変化させ
られるために、かなり高エネルギ・レベルで制御されな
ければならない。そのデータを再度読出すには、レーザ
・エネルギ・レベルは、その媒体がレーザ・ビームによ
って変化しないように低レベルで制御される。

【０００４】一般に光媒体には２種類ある。つまり、一
度記録すると永久的な記録となる追記型媒体と、書込
み、そして消去、再書込み可能な媒体の２種類である。
追記型媒体（WORM）は、"書込み"エネルギ・レベルが、
レーザ・ビームによって作り出されると、永久に変化さ
せられたままであるが、一方、磁気光媒体（MO）を始め
とする消去可能な媒体は、データが書込まれても永久に
そのままであるわけではない。ＭＯ媒体では、反応材料
の磁気方向は書込みプロセスで方向付けされ、及び消去
プロセスで磁気方向は再方向付けされる。

【０００５】光ディスク・システムの動作では、各々の
光ディスクの読出し及び書込みにおいて、レーザ・エネ
ルギ・レベルを正しく設定することが必要である。光デ
ィスクの正しいパラメータは、ディスク自身にスタンプ
されている識別ヘッダの情報に含まれている。その情報
が、システムによって読出されると、正しいレーザ・エ
ネルギを作り出すために較正回路がレーザに対して目標
の電流レベルの設定を行う。レーザは、動作パラメー
タ、特に温度と経年によって変化させられるので、正し
いエネルギ・レベルがレーザの動作中及び寿命中で維持
されるように、レーザ駆動電流レベルを変えるための較
正方法が用いられる。

【０００６】所定の光媒体で動作するレーザ回路の一般
的な較正方法には、通常、その光媒体でのレーザ光の強
さの分析を必要とする。そのために、レーザ制御回路
は、光媒体での所定の又は目標の光の強さに整合するよ
うに設定される。光媒体に対する書込み及び消去動作に
おいてレーザ・エネルギを制御するための、デジタル・
アナログ変換器（DAC: digital to analog converter
s）の設定を可能とさせるために分析が行われる。ＷＯ
ＲＭ媒体においては、回路を較正するのに必要な高い光
の強さは、較正プロセス中にディスクに書込みを行い、
媒体に永久に変化を与える恐れがある。そのために、Ｗ
ＯＲＭ媒体では、媒体の永久的な変化を生じさせずに較
正するために、高エネルギ・レベルでは、レーザ・ビー
ムの焦点外において較正を実行するのが一般的である。
一般にＷＯＲＭ媒体に用いる光ディスク・システムにお
いては、ＷＯＲＭ媒体に対する光通路は、光ディスクか
らの反射光がレーザに戻ることがないように設計されて
いるので、反射光によるレーザ出力の測定値に対する影
響がなく、レーザの焦点外の使用による較正が可能であ
る。ＭＯ媒体に用いる光ディスク・システムにおいて
は、反射光が半導体レーザに戻ること、すなわち、光の
フィードバックを光通路から除去できないので、正確な
エネルギ・レベルを得るためには、一般に焦点でシステ
ムを較正する。このように、光フィードバックがある光
ディスク・システムにおいて、焦点外で較正すると、焦
点状態での実際の使用時には、レーザ出力の検出光に反
射光が含まれることにより、較正時の特性が正しく再現
されない。このような光フィードバックの利点は、焦点
状態と焦点外の状態で異なるレーザのエネルギ出力−駆
動電流曲線（Ｐ−Ｉ曲線）が得られることであり、従っ
て、較正は、焦点で行う必要がある。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】本発明者は、光フィー
ド・バックのある光ディスク・システムにおいて、追記
型媒体及び消去可能な媒体の両方における記録及び読出
し可能な光ディスク駆動装置を求めた。そのためには、
装置は、両方の種類の媒体で使用できる較正技術を備え
なければならない。ＭＯ媒体では、"書込み"ＤＡＣに対
するエネルギ・レベルの較正は、レーザ・ビームの焦点
で実行できる。しかしながら、ＷＯＲＭ媒体において
は、"書込み"ＤＡＣエネルギ・レベルは、媒体の永久的
な変化が伴うので、レーザ・ビームの焦点では較正でき
ない。

【０００８】上記の関連特許出願は、例えば、光ディス
ク上に信号を記録するなどの、レーザ・ダイオードの出
力の光の強さを制御するためにデジタル・アナログ変換
器を提供する。レーザ・エネルギは、ＤＡＣを初期設定
することによって供給される、２つの所定のレーザ・エ
ネルギ・レベル、すなわち、高エネルギ・レベル及び低
エネルギ・レベルによって較正される。これは、ビーム
の強さが所定のレーザ・エネルギ・レベルの値に到達す
るまで、ＤＡＣの入力値を増やすことによって得られ
る。マイクロプロセッサでの計算が、高い方のエネルギ
値から低い方のエネルギ値を差し引き、それから、ＤＡ
Ｃの単位入力値当たりのレーザ出力のエネルギ・レベル
であるＤＡＣ伝達関数を得るために、両エネルギ・レベ
ルの差をそれぞれのエネルギ・レベルに対応するＤＡＣ
入力値の差で除する。目標のエネルギ・レベルを作り出
すための目標のＤＡＣ設定が、次に求められる。この較
正技術は、ＭＯ媒体で使用されるために設計されたもの
で、及びＰ−Ｉ曲線の線形傾斜を求めるために低レベル
及び高レベルにおけるエネルギ値の使用が必要である。
この技術をＷＯＲＭ媒体に使用すると、高エネルギ・レ
ベルによってその媒体に永久的な変化を与えてしまう。

【０００９】米国特許第４７８５４４３号は、ＷＯＲＭ
ディスク媒体のための光ディスク・システム及びレーザ
光制御回路を述べる。"書込み"レーザ・エネルギ較正
は、記憶媒体を永久的な変化から保護するために媒体に
対してレーザの焦点外で実行される。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明は、消去可能な媒
体又は追記型媒体の何れも利用できるように、光フィー
ド・バックが存在するため、焦点で較正をしなければな
らない場合でも、追記型媒体に対して安全であるエネル
ギ・レベルで半導体レーザを駆動する正しいエネルギ・
レベルを得るための較正技術及びその装置に関する。本
発明者は、レーザの焦点及び焦点外での非常に高いエネ
ルギ・レベルにおいて、Ｐ−Ｉ曲線が互いに接近し、従
って、レーザの焦点及び焦点外の状態におけるレーザ駆
動電流の差が小さいことがわかった。この結果、駆動電
流の差が小さいレベルで本発明を実行するために高エネ
ルギ・レベルが選ばれた。このような方法で、ディスク
駆動装置に置かれた媒体の種類に関係なく、レーザ・ビ
ームの焦点外でレーザを較正するための高エネルギ・レ
ベルの使用を可能にする較正技術が提供された。

【００１１】本発明では、対物レンズがレーザ・ビーム
の焦点外に移動された状態で、第１の所定の低エネルギ
・レベルが得られ、電流レベルとＤＡＣ設定が記録され
る。次に、エネルギは、焦点及び焦点外におけるＰ−Ｉ
曲線が漸近の所の第２の所定の高エネルギ・レベルまで
増やされ、その電流レベル及びＤＡＣ設定が記録され
る。次に、エネルギ・レベルは、ほぼ第１の所定の低エ
ネルギ・レベルまで下げられ、及び対物レンズは、レー
ザ・ビームが合焦するように移動される。エネルギ・レ
ベルは、第１の所定のエネルギ・レベルに調節され、及
びその電流レベルとＤＡＣ設定が記録される。このよう
な方法で、焦点における傾斜と焦点外の傾斜の曲線が求
められる。この情報で、何れの特定のエネルギ・レベ
ル、例えば、高較正及び低較正レベルの中間に存在す
る"書込み"エネルギ・レベルが、正確に設定される。

【００１２】

【実施例】ここで各図を参照するに、各図における同一
部品及び同一構造体が、同一参照番号で示されている。
光ディスク１０が、光ディスク記録装置（図示なし）で
回転するために正しく取り付けられている。図１におい
て光システム１１は、普通のビーム・スプリッタを有
し、レーザ１４によって生成された光ビームを対物レン
ズ１２を及び光通路１３に供給し、ディスク１０からの
反射光を同一通路及び対物レンズ１２を通して得る。光
ビームは、レーザ制御１５によって制御され、光システ
ム１１を通してディスク１０に向けられるが、後で図２
で詳細に説明される。図１に例示された記録装置は、ラ
ンダム・アクセス・メモリ（RAM:randomaccess memor
y）２１を有するプログラムされたマイクロプロセッサ
２０の制御下にある。マイクロプロセッサ２０は、デジ
タル値をケーブル２２を通してデジタル・アナログ変換
器（DAC:digital to analog converter）２３に供給す
る。ＤＡＣ２３は、レーザ１４によって光システム１１
に放射されるビームの強さを設定するための、アナログ
信号をレーザ制御１５に供給する。このようなレーザ出
力の光の強さは、マイクロプロセッサ２０又は他のデー
タ処理回路によって供給されるデータに基づく変調を有
する。マイクロプロセッサ２０からレーザ制御１５に伸
びているライン２４は、レーザ制御回路１５を制御する
ための追加のモード制御を示す。

【００１３】レーザ１４の強弱は、レーザ制御１５のフ
ィードバック回路によって制御される。レーザ１４は、
補助ビームを光通路３０を通してフォト・ダイオード３
１に放射し、また、フォト・ダイオード３１は光システ
ム１１から反射光を受ける。フォト・ダイオード３１の
フォト電流振幅は、フィードバックされた光を含め、通
路３０を通して放射されるレーザ１４に対応して変化す
ることは周知である。所望するならば、主ビームをビー
ム・スプリッタを含む適切な光学装置を通してフォト・
ダイオード３１に照射できる。トランスインピーダンス
増幅器３２は、ダイオード３１の電流の振幅変化に応答
してライン３３の基準値と比較し、レーザ１４の出力ビ
ームの強さを表す信号をライン３４に供給する。ポテン
ショメータ３８は、トランスインピーダンス増幅器の利
得を調節する。この調整は、ライン３４の出力当たりの
電圧である較正信号レベルに影響を与える。この結果、
ライン３４の信号レベルは、レーザ１４の光エネルギ出
力を表すことになる。正常動作中のレーザ制御１５は、
ライン３４の信号レベルに対応し、レーザ１４の動作を
予め設定された強さに維持することがわかる。

【００１４】追加の回路が、ＤＡＣ２３の自動較正を可
能にするためにライン３４の信号処理用として備えら
れ、ケーブル２２の数値が、レーザ１４の出力の目標の
光の強さを正確に表すようにする。ＤＡＣ２３は、レー
ザ１４の光の強さに基づいて、最小、すなわち、安全エ
ネルギ・レベルＰ１及び高エネルギ・レベルＰ２におい
て較正される。

【００１５】第１アナログ比較器４０は、レーザ１４の
出力の光の強さの示度を受ける第１入力で、ライン３４
の信号を受信する。ライン４１の信号は、第１の所定の
エネルギ・レベルＰ１に相当する電圧レベルである目標
の最小値、すなわち、安全値のＣＡＬＶＲ１を示す基
準値である。比較器４０は、レーザ１４が最小値以上の
光ビームを放射していることをライン３４の信号が示す
まで、非アクティブ信号をライン４２を通してマイクロ
プロセッサ２０に供給する。ライン３４の信号によりレ
ーザ１４のエネルギ・レベルが最小値を越えたことが示
されると、比較器４０は、アクティブ信号をライン４２
を通してマイクロプロセッサ２０に供給する。次に、マ
イクロプロセッサ２０は、ＤＡＣ２３の入力値をテーブ
ル４３に格納し、後で、レーザ１４を制御する値を計算
するのに使用する。

【００１６】アナログ・デジタル変換器（ADC: analog
to digital converter）１００は、ライン１０１を通し
てレーザ制御回路１５に及びライン１０２を通してマイ
クロプロセッサ２０に接続されている。ＡＤＣ１００
は、レーザ１４の駆動電流、すなわち、レーザ制御回路
１５の出力電流を測定する。所定のエネルギ・レベルＰ
１に到達し、及び相当するＤＡＣ２３の設定がテーブル
４３に記録されると、レーザ・ビームの焦点外でのエネ
ルギ・レベルＰ１の駆動電流を表すＡＤＣ１００のデジ
タル化された出力も、テーブル４３に記録される。

【００１７】マイクロプロセッサ２０のプログラムが、
後で説明されるようにケーブル２２を通してＤＡＣ２３
に供給数値を連続的に増加する。これによってＤＡＣ２
３は、出力の光の強さを増加するためにエネルギ・レベ
ルを増やしてレーザ１４を作動させる。この反復的に徐
々に増加する傾向は、比較器４０と同じように製作され
た比較器３５の第１入力が、レーザ１４の目標の基準出
力の光の強さを作り出す最大エネルギ・レベルＰ２を表
すライン３６のＣＡＬＶＲ２の基準信号より振幅が大
きいライン３４の信号を、検知するまで続く。比較器３
５は、ライン３４の信号がライン３６の基準信号より小
さいことを検知しているときは、非アクティブの信号を
ライン３７を通してマイクロプロセッサ２０に供給す
る。比較器３５は、ライン３４の信号がライン３６の基
準信号を越えたと判定すると、アクティブ信号をライン
３７を通してマイクロプロセッサ２０に供給し、マイク
ロプロセッサ２０は、そのＤＡＣ２３の入力値をテーブ
ル４３に格納する。この時点で、マイクロプロセッサ２
０は、また、エネルギ・レベルＰ２を作り出す駆動電流
を表すＡＤＣ１００のデジタル化された出力を記録す
る。

【００１８】レベルＰｌ弱にエネルギ・レベルを戻した
後、光媒体１０の表面にレーザ・ビームの焦点を合わせ
るため、対物レンズが移動される。比較器４０は、レー
ザ１４の強さの示度を受けるためにライン３４の信号を
受信する。ＤＡＣ２３の設定は、ライン３４の信号が、
第１の所定のエネルギ・レベルＰ１を作り出すＣＡＬＶ
Ｒ１の信号に合致するまで増やされる。合致した時点
で、ＤＡＣ２３の設定が、レーザ・ビームの焦点におけ
るエネルギ・レベルＰ１を作り出すのに必要なレーザ駆
動電流を表すＡＤＣ１００の出力としてテーブル４３に
記録される。

【００１９】次に図２を参照するに、レーザ制御１５の
詳細が示されている。レーザ制御１５では、増幅器７０
がライン３４から信号を受信する。ライン７１の基準入
力が、読出し動作中に増幅器７０を制御する。抵抗回路
７３は、バイアス電圧を読出しスイッチ７２によって変
えられるライン７１を通して増幅器７０に供給して基準
電圧に結合する。ライン３４とライン７１との信号間の
信号電圧振幅差は、目標の読出しレーザ・エネルギ・レ
ベルと実際のレーザ出力エネルギ・レベル間の電圧エラ
ー出力である。増幅器７０は、このエラー電圧を増幅及
びライン７６で受けるマイクロプロセッサ２０からの信
号によって閉じた制御スイッチ７５を通して供給する。
スイッチ７５は、読出し動作のために閉じる。コンデン
サ７７は、増幅器７０から得た信号を平滑化し、スイッ
チ７５がオープンする場合にサンプル電圧として動作
し、保持する。第２増幅器７８は、エラー信号をバッフ
ァ及び増幅して抵抗器７９を通して制御トランジスタ８
０に送る。この制御トランジスタ８０は、自らのコレク
タにベースを接続している第２トランジスタ８１の電流
制御として作用する。トランジスタ８１は、駆動電流を
基準電源＋Ｖ１から抵抗器１１２及び電圧シフティング
・ダイオード８２を通してレーザ・ダイオード１４に供
給し、光の放射を生じさせる。抵抗器１１２の電圧が駆
動電流の値を検知する役割を行い、ＡＤＣ１００によっ
て相当するデジタル値に変換される。トランジスタ８１
を流れる駆動電流の値は、関連モード全体の値である。
すなわち、これを記録することは、記録媒体に記録する
エネルギ・レベルを有する出力の光を放射させるために
レーザ・ダイオード１４を付勢する電流の記録レベルを
意味する。書込みインパルス間において、記録ゼロ、す
なわち、記録媒体の変化なしの場合は、トランジスタ８
１からの電流は、部分的にトランジスタ８６を通して電
流シンク８７に転じられる。電流シンク８７を流れる電
流値はＤＡＣ２３によって制御されるので、従って、レ
ーザ１４の放射を制御する。書込みデータ信号は、フリ
ップ−フロップとして示されるスイッチ９０に供給され
る。ライン９１を通して供給されるトランジスタ・ター
ンオフ信号が、トランジスタ８６を非導通にする。この
作用が、トランジスタ８１からの電流をレーザ・ダイオ
ード１４に流れさせ、 "放射線の最大放射又は最大の光
の出力を生じさせる" 。同時に、フリップ−フロップ９
０からのライン９２の信号が、トランジスタ９３を導通
に切換し、トランジスタ８６によって前に供給された電
流シンク８７の電流を置き換える。その結果は、記録媒
体１０上に２進形式で記録される。否定書込み信号がフ
リップ−フロップ９０に供給されると、トランジスタ８
６及び９３の導通状態が反転させられて、レーザ１４か
らの放射線又は光の放射が減じられ、トランジスタ８１
からの電流がそらされる。

【００２０】スイッチ７５が閉じられた読出し動作中に
は、ライン３４の信号（放射されたレーザの光エネルギ
に相当）と、ライン７１の信号（目標の読出しレーザ出
力のエネルギ・レベル）とを突き合わせるレーザ１４の
制御ループが存在する。マイクロプロセッサ２０は、Ｄ
ＡＣ２３の入力値を変更する毎に、スイッチ７５を閉じ
及びフリップ−フロップ９０を設定する。次に、トラン
ジスタ８６は導通状態となる。この作用が、電流シンク
８７における電流振幅を変え、トランジスタ８１からの
電流量も変わる。ＤＡＣ２３への各入力値の変化後、前
述のレーザ制御サーボ・ループが平衡状態動作ポイント
に到達するためには、時間遅延が必要である。この時間
遅延中に、トランジスタ８１を流れる電流変化が安定す
る。記録又は消去モードの間、スイッチ７５は開放状態
に保たれ、前述のサーボ作用が、記録又は消去中にレー
ザ駆動電流が変化するのを防ぐ。

【００２１】比較器３５及び４０がＤＡＣ２３を較正す
るのに使われる。所定の低エネルギ・レベルＰ１におけ
る較正段階中に、電圧ＣＡＬＶＲ１が、低エネルギの
レーザ出力を検知するためにライン４１を通して比較器
４０に供給される。所定の高エネルギ・レベルＰ２にお
ける較正段階中に、電圧ＣＡＬＶＲ２は、高エネルギ
のレーザ出力レベルを検知するためにライン３６を通し
て比較器３５に供給される。

【００２２】図３は、半導体レーザのエネルギ対電流の
２つの特性曲線を示す。曲線１９０は、レーザ・ビーム
の焦点状態において対応する電流レベルで作り出された
エネルギ・レベルを示す。曲線１９１は、最大の焦点外
状態において対応する電流レベルで作り出されたエネル
ギ・レベルを示す。エネルギ・レベルＰ０は、レイジン
グ・モードが得られるスレッショルド・エネルギ・レベ
ルを表す。対応するスレッショルド電流レベルは、レー
ザ・ビームの焦点状態ではＩＴＨｎｉで示され、最大焦
点外状態ではＩＴＨｎｏで示されている。低基準エネル
ギ・レベルＰ１は、レンズが焦点状態であっても追記型
媒体が永久的に変化しないように選択する。高基準エネ
ルギ・レベルＰ２は、Ｐ２を作り出すレーザ駆動電流の
差が、焦点状態と最大焦点外状態との間で小さくなるよ
うに選択する。特性曲線１９０及び１９１は、高エネル
ギ・レベルで、漸近的に接近していることに注意された
い。

【００２３】本発明は、レーザ・ビームの焦点又は焦点
外であっても、高レーザ・エネルギにおいて任意のレー
ザ駆動電流におけるレーザ・エネルギの差が小さいとい
う事実を利用する。本発明の較正動作は、レーザ・ビー
ムが焦点外であって、第１低基準エネルギ・レベルＰ１
から第２高基準エネルギ・レベルＰ２にレーザ・エネル
ギの変化を作り出すのに必要なレーザのＤＡＣ値の変
化、△ＤＡＣ２を求める。また、レーザ駆動電流をレー
ザ・ビームが焦点状態である低エネルギ・レベルＰ１か
らレーザ・ビームが焦点外状態であるエネルギ・レベル
Ｐ１に変えるのに必要な△ＤＡＣ１と呼ばれるレーザの
ＤＡＣ値の変化を求める。エネルギ・レベルＰ１は、レ
ーザ・ビームがＷＯＲＭ媒体に焦点が合っている場合、
その媒体に対する低レーザ・エネルギ・レベル又は安全
レーザ・エネルギ・レベルである。次に、レーザＤＡＣ
伝達関数Ｅが計算され、レーザ・エネルギの変化、Ｐ２
−Ｐ１をＤＡＣ値の変化の和、△ＤＡＣ１＋△ＤＡＣ２
で除算することにより計算する。

【００２４】図４は、Ｐ１＝Ｐ０及びＰ０においてＤＡ
Ｃ１＝０を仮定するしたときの装置の動作の流れを示す
図である。図５は、これらの仮定がない一般化されたケ
ースを述べる。図４は、図３のＰ−Ｉ曲線を参照するこ
とによって良く理解できる。ステップ２００では、レー
ザがターン・オンされる前に、対物レンズが、媒体から
最大の焦点外に移動させられる。ステップ２０１では、
ＤＡＣがゼロに設定されてレーザがターン・オンされレ
ーザ・エネルギ制御ループ（LPCL:laser powercontrol
loop）がスイッチ７５の閉によって閉じられ、及び書
込みデータが非アクティブに設定されて、レーザ・エネ
ルギ・レベルＰ１を作り出す。ステップ２０２では、レ
ーザ駆動電流が、ＡＤＣ１００で測定されて、ＡＤＣ１
としてセーブされる。次に、ステップ２０３〜２０５で
は、スイッチ７５の閉及び書込みデータが非アクティブ
で、ＤＡＣ値が増加させられる。次にスイッチ７５が開
かれ、書込みデータがアクティブに設定されて、エネル
ギが測定される。このプロセスは、ＤＡＣ値がＰ２を得
るまで繰り返され、Ｐ２を得ると、ＤＡＣ値がＤＡＣ２
として格納される。レーザ電流が、再びＡＤＣ１００で
測定され、ＡＤＣ２としてセーブされる。それから、Ｌ
ＰＣＬが閉じられ、及びＤＡＣが再設定されて、ステッ
プ２０７で示されるようにレーザ・エネルギ・レベルＰ
１に戻る。次に、レーザ・ビームは、ステップ２０８で
媒体上に焦点を合わせられ、及び、レーザ駆動電流はＡ
ＤＣ１００で測定されて、ステップ２０９においてＡＤ
Ｃ３としてセーブされる。この時点で、ＤＡＣ較正プロ
シージャに残るすべてにおいて、計算がステップ２１０
でマイクロプロセッサ２０によって実行される。

【００２５】ステップ２１０の計算において、レーザの
ＤＡＣ値の変化が求められる。すなわち、レーザ・ビー
ムの焦点でのＰ１からレーザ・ビームの焦点外でのＰ１
にレーザ駆動電流を変えるのに必要な変化△ＤＡＣ１が
式１で求められる。

【００２６】 △ＤＡＣ１＝△ＤＡＣ２ｘ（ＡＤＣ１−ＡＤＣ３）／（ＡＤＣ２−ＡＤＣ１）（１）

【００２７】ＤＡＣ伝達関数Ｅは、式２で示されるよう
に計算される。

【００２８】Ｅ＝（Ｐ２−Ｐ１）／（△ＤＡＣ２＋△ＤＡＣ１）（２）

【００２９】焦点状態での任意のレーザ・エネルギ・レ
ベルＰ１ｐに対しても式３で示されるようにＤＡＣｎが
計算できる。また、レーザ・エネルギは、式４で示され
るように、任意のＤＡＣ値のＤＡＣｎに対して求めるこ
とができる。

【００３０】ＤＡＣｎ＝（Ｐ１ｐ−Ｐ１）／Ｅ（３）

【００３１】Ｐ１ｐ＝Ｐ１＋Ｅ・ＤＡＣｎ（４）

【００３２】図５は、新しい較正方法のさらに一般化し
た流れ図である。ここではＰ１＝Ｐ０と仮定せず、及び
Ｐ１でのＤＡＣの設定をゼロにする必要はない。ステッ
プ３００では、対物レンズが最大の焦点外状態に移動さ
れ、及びステップ３０１でレーザをターン・オンするた
めに初期化オペレーションが実行され、ＤＡＣを再設定
し、及びスイッチ７５を閉じ、書込みデータを非アクテ
ィブにして読出しエネルギ・レベルＰ０を得る。

【００３３】その後、スイッチ７５が閉じられ及び書込
みデータが非アクティブのままで、ＤＡＣは増加させら
れる。次に、スイッチ７５が開かれ、書込みデータがア
クティブに設定され、エネルギ・レベルを測定する。ス
テップ３０２〜３０４で示されるように、このプロセス
はエネルギ・レベルＰ１に到達するまで繰り返される。
ステップ３０４では、エネルギ・レベルＰ１を作り出す
レーザ駆動電流が測定され、ＡＤＣ１００によってデジ
タル値に変換されてＡＤＣ１として、およびそのときの
ＤＡＣの値ＤＡＣ１がセーブされる。その後、ステップ
３０６〜３０８において、ＤＡＣは増加させられ、及び
エネルギが、前述の方法でエネルギ・レベルＰ２に到達
するまで測定される。ＤＡＣの設定は、ＤＡＣ２として
格納され、及びレーザ駆動電流が測定されてＡＤＣ２と
して格納される。次に、ステップ３０８で、ＤＡＣが再
設定され、エネルギ・レベルＰ０が再び得られる。ステ
ップ３０９では、エネルギ・レベルＰ１が探索値として
目標にされる。ステップ３１０では、対物レンズ１２の
移動により焦点が得られ、及びＤＡＣは、前述の方法で
エネルギ・レベルＰ１に到達（ステップ３１１及び３１
２）するまで増加させられる。ステップ３１３では、Ｄ
ＡＣの設定は、ＤＡＣ３として格納され及び駆動電流が
測定されてＡＤＣ３として格納される。前述の式１〜式
４は、次式５〜式８としてそれぞれ修正され、及びマイ
クロプロセッサが計算を実行する（ステップ３１４）。

【００３４】 △ＤＡＣ１＝（ＤＡＣ２−ＤＡＣ１）ｘ（（ＡＤＣ１−ＡＤＣ３）／（ＡＤＣ２−ＡＤＣ１））（５）

【００３５】Ｅ＝（Ｐ２−Ｐ１）／（（ＤＡＣ２−ＤＡＣ１）＋△ＤＡＣ１））（６）

【００３６】ＤＡＣｎ＝ＤＡＣ３＋（Ｐｌｐ−Ｐ１）／Ｅ（７）

【００３７】Ｐ１ｐ＝Ｐ１＋Ｅ（ＤＡＣｎ−ＤＡＣ３）（８）

【００３８】レーザを較正する代替方法が、図６に示さ
れている。この方法は、ＡＤＣを使用する必要がなく、
図３に示すようなレーザのＰ−Ｉ特性曲線の線形性質を
利用する。事前にＤＡＣ設定値が各エネルギ・レベルＰ
１及びＰ２でセーブされ、これらの数値が駆動電流を表
すのに使用される。ステップ４００で、レンズが焦点外
に移動され、ステップ４０１でシステムが初期化され
る。ステップ４０２〜４０４で、ＤＡＣが、目的のエネ
ルギ・レベルＰ１を得るまで増加させられ、及びステッ
プ４０５でＤＡＣ設定のＤＡＣ１がセーブされる。ステ
ップ４０６〜４０８でエネルギＰ２に到達すると、ステ
ップ４０９でＤＡＣ設定のＤＡＣ２がセーブされる。ス
テップ４１０で、ＤＡＣは再設定され、スイッチ７５が
閉じられてレーザ・エネルギ制御ループ（LPCL）が閉じ
ることにより、読出しエネルギ・レベルＰ０が得られ
る。ステップ４１１で焦点が得られる。次に、ステップ
４１２〜４１７でＤＡＣ３値が求められる。ステップ４
１８においてＤＡＣ伝達関数Ｅが、次に示す式９を用い
て計算される。ここで、△ＤＡＣ１＝ＤＡＣ１−ＤＡＣ
３及び△ＤＡＣ２＝ＤＡＣ２−ＤＡＣ１である。

【００３９】Ｅ＝（Ｐ２−Ｐ１）／（△ＤＡＣ１＋△ＤＡＣ２）（９）

【００４０】本発明の実行において、制御トラックを読
出すまでは、駆動装置にＭＯ又はＷＯＲＭ媒体の何れが
挿入されているか不明である。従って、書込み及び消去
可能又は追記型媒体のＤＡＣ較正は、レーザ・ビームの
焦点外で実行しなければならない。焦点外で較正し、Ｍ
Ｏ媒体が駆動装置内にあったとしても、ＤＡＣ較正の結
果は依然として有効である。

【００４１】本発明では、レーザ駆動装置回路の追加の
チェックが実行できる。

【００４２】従来の技術では、レーザＤＡＣ伝達関数が
計算されて、レーザ・エネルギ制御システムのチェック
に使われた。ＤＡＣ伝達関数の単位Ｅは、ｍＷ／ＤＡＣ
ステップである。ここで説明するシステムでは、ＡＤＣ
でレーザ駆動電流をモニタすることによって、他の伝達
関数が計算される。これが、ｍＷ／ＡＤＣステップ単位
のＡＤＣ伝達関数ｎと呼ばれ、レーザ・エネルギの所定
の変化を作り出すのに必要なＡＤＣの変化値である。Ａ
ＤＣ伝達関数を計算する式は、レーザ・ビームの焦点外
（no）及び焦点（ni）状態の両方において下記に示され
る。

【００４３】ｎｏ＝（Ｐ２−Ｐ１）／（ＡＤＣ２−ＡＤＣ１）（１０）

【００４４】ｎｉ＝（Ｐ２−Ｐ１）／（（ＡＤＣ２−ＡＤＣ１）＋（ＡＤＣ１−ＡＤＣ３））（１１）

【００４５】伝達関数、ｎｏ及びｎｉは、ｍＷ／ｍＡ単
位のレーザ効率Ｇａとして書き換えでき、電流・電圧変
換器のＶ／ｍＡ単位の利得Ｋ１及びＡＤＣステップ／Ｖ
単位のＡＤＣ１００変換率Ｋ２で除算される。これは、
次式１２で示される。

【００４６】ｎ＝Ｇａ／Ｋ１・Ｋ２（１２）

【００４７】回路を実行して、電流・電圧変換器の利得
Ｋ１及びＡＤＣ変換率Ｋ２が既知であるならば、レーザ
効率Ｇａは、ｍＷ／ｍＡ単位で次式によって計算でき
る。

【００４８】Ｇａ＝ｎ・Ｋ１・Ｋ２（１３）

【００４９】同様な方法で、ｍＡ／ＤＡＣステップ単位
のＤＡＣ変換率Ｋ３が既知であるならば、レーザ効率Ｇ
ｄが、ＤＡＣ伝達関数Ｅから求められる。

【００５０】Ｇｄ＝Ｅ／Ｋ３（１４）

【００５１】ＤＡＣ較正によってＤＡＣ伝達関数Ｅ及び
ＡＤＣ伝達関数ｎの両方が得られるので、ｍＷ／ｍＡ単
位のレーザ効率が式１３及び式１４から計算でき、及び
その結果の比較が、それぞれと及び絶対限界に対して行
われる。２つの効率計算結果が同じであるが、しかし、
指定範囲外であるならば、レーザ・ダイオードが故障で
あることを示す。２つの効率が等しくなければ、レーザ
駆動回路が故障であることを示す。

【００５２】さらに、２つ効率計算の結果を互いに比較
することによってレーザ駆動装置の他の多くの回路機能
と電流検出素子をチェックでき、これらには、電流・電
圧変換器の利得Ｋ１、ＡＤＣ伝達関数Ｋ２及びＤＡＣ変
換率Ｋ３などがある。２つのレーザ効率、Ｇａ及びＧｄ
が等しいと仮定すると、ＡＤＣ伝達関数ｎとレーザＤＡ
Ｃ伝達関数Ｅの関係は、式１５によって示される。ＤＡ
Ｃ／ＡＤＣ比率、即ち、ＡＤＣステップに対するＤＡＣ
ステップは、ＤＡＣ変換率Ｋ３（ｍＡ／ＤＡＣ）、電圧
に対する電流検出率Ｋ１（Ｖ／ｍＡ）、及びＡＤＣ変換
率Ｋ２の積の逆数である。これらのＫ因数量は、回路設
計で制御され、及び稼働中は安定していなければならな
い。このように限界がＤＡＣとＡＤＣの変換（ＤＡＣ／
ＡＤＣ）率に対して設けられる。ＤＡＣ／ＡＤＣ変換率
に限界を設けることで、複数の回路素子の機能、すなわ
ち、ＤＡＣ変換率Ｋ３（ｍＡ／ＤＡＣ）、電圧・電流検
出率Ｋ１（Ｖ／ｍＡ）及びＡＤＣ変換率Ｋ２（ＡＤＣ／
Ｖ）がチェックできる。

【００５３】ＤＡＣ／ＡＤＣ＝ｎ／Ｅ＝１／Ｋ１・Ｋ２・Ｋ３（１５）

【００５４】ＡＤＣ値とレーザ駆動電流（ＡＤＣ／ｍ
Ａ）との関係が、式１６で求められる。これらの量は、
式１５の部分集合であり、また、稼働中では安定したま
まである。ＡＤＣ及びレーザ機能をチェックするために
合理的な限界が、ＡＤＣ対レーザ駆動電流（ＡＤＣ／ｍ
Ａ）の変換率に設けられる。

【００５５】ＡＤＣ／ｍＡ＝Ｋ１・Ｋ２

【００５６】ＡＤＣでレーザ駆動電流をモニタすること
によって、レーザ・エネルギ制御システムに対する追加
のチェックが実行できる。コマンドが、レーザＤＡＣを
変更するために与えられる場合、ＤＡＣは、その関係が
既知（式１６）であるので、ＤＡＣが変化させたことを
確かめられる。また、ＡＤＣ値とレーザ駆動電流（ＡＤ
Ｃ／ｍＡ）の関係が既知（式１６）なので、レーザがタ
ーン・オンされる場合又は潜在的障害が存在する場合
に、レーザ・スレッショルド電流（又はあるエネルギ・
レベルにおけるレーザ駆動電流）に対してチェックがで
きる。

【００５７】次に述べることは、レーザ駆動スレッショ
ルド電流がどのように測定されるかの例である。レーザ
がターン・オンする前に、駆動電流がＡＤＣで測定され
る。これは、オフセット値と呼ばれる。次に、レーザ
は、幾らかのエネルギ・レベル、例えば、０．５ｍＷで
ターン・オンし、及びレーザ駆動電流がオフセット値を
差し引かれてＡＤＣで測定される。仮に、この例におい
て、このエネルギ・レベルで最大レーザ駆動電流、例え
ば、８０ｍＡの限界が設定され、及びＡＤＣ対レーザ駆
動電流の変換率が１ｍＡにつき１．５ＡＤＣステップと
既知であるならば、測定されたＡＤＣ値の限界、例え
ば、１２０ステップが得られる。ＡＤＣ値を越えるなら
ば、レーザ・エネルギ制御システム又はレーザ・ダイオ
ードが故障である。

【００５８】ＡＤＣでレーザ駆動電流を測定することに
よって、幾つかの他の検知が考えられる。これらの幾つ
かは、次の通りである。媒体上で焦点に合わすための対
物レンズを移動するプロセス前に、ＡＤＣでレーザ駆動
電流をサンプリングすることによって、レーザの共振器
（Cavity）にフィードバックされた光によってレーザ駆
動電流が減少するので、焦点が得られているか確認でき
る。又、焦点を得るプロセス中に、ＡＤＣで駆動電流を
モニタすることによって、対物レンズが焦点を合わせた
ことを検知できる。これは、焦点エラー信号（FES: Foc
us Error Signal）のピークを検知する、優れた代替方
法である。ＦＥＳオフセットを調整する一方で、ＡＤＣ
でレーザ駆動電流をモニタすることによって、また、最
小レーザ駆動電流のポイントでは光媒体からの反射光で
あるレーザ・フィードバックが最大であるので、最適な
焦点を示すことになる。

【００５９】

【発明の効果】本発明により、光ディスク駆動装置が、
光フィード・バックの存在のために正確なエネルギー・
レベルを得るためには焦点状態で較正する必要がある場
合で、駆動装置にＭＯまたはＷＯＲＭ媒体の何れが挿入
されているか不明な場合であっても、ＷＯＲＭ媒体に較
正中に永久的な変化を与えない安全なエネルギー・レベ
ルを使用して較正する方法及び装置を提供できた。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明で使用した光ディスク記録装置のブロッ
ク図である。

【図２】図１の記録装置のレーザ制御回路を示す図であ
る。

【図３】レーザ・ビームの焦点及び焦点外のＰ−Ｉ曲線
を示す図である。

【図４】本発明によって光媒体を較正するために、相当
するＤＡＣ値を計算するためのエネルギ値を示すマシン
・オペレーションの簡単な流れ図である。

【図５】本発明で用いるマシン・オペレーションの一般
化された流れ図である。

【図６】本発明の代替のオペレーションの流れ図であ
る。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献特開平２−141940（ＪＰ，Ａ) 特開平２−265033（ＪＰ，Ａ) 特開平２−287933（ＪＰ，Ａ)

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】半導体レーザ・ダイオードのエネルギ出力
−駆動電流の特性曲線が、高レーザ・エネルギ・レベル
でのレーザ・ビームの焦点及び焦点外の状態における漸
近の領域を示す前記半導体レーザ・ダイオードを用いた
光ディスク駆動装置を較正する方法であって、前記光媒体上に焦点外の状態を得るステップと、前記焦点外の状態で所定の高レーザ・エネルギ・レベル
Ｐ２を作り出すために前記レーザ・ダイオードを付勢
し、前記エネルギ・レベルＰ２が前記漸近の領域の範囲
内で選択され、前記エネルギ・レベルＰ２を作り出すの
に必要なレーザ駆動電流Ｉ２を測定するステップと、所定の低レーザ・エネルギ・レベルＰ１を作り出すため
に前記レーザ・ダイオードを付勢するステップと、前記光媒体上に焦点状態を得るステップと、前記焦点状態で前記エネルギ・レベルＰ１を作り出すの
に必要なレーザ駆動電流Ｉ３を測定するステップと、前記焦点状態における前記エネルギ出力−駆動電流特性
曲線の傾斜を、（Ｐ２−Ｐ１）／（Ｉ２−Ｉ３）の関係
式で求めるステップと、前記エネルギー・レベルＰ１及びＰ２の間にある所定の
エネルギー・レベルの設定に必要とされる前記レーザ駆
動電流を前記傾斜を用いて計算するステップと、を有する、焦点状態での較正を行う方法。
【請求項２】半導体レーザ・ダイオードのエネルギ出力
−駆動電流の特性曲線が、高レーザ・エネルギ・レベル
でのレーザ・ビームの焦点及び焦点外の状態における漸
近の領域を示す前記半導体レーザ・ダイオードを用いた
光ディスク駆動装置を較正する方法であって、前記光媒体上に焦点外の状態を得るステップと、所定の低レーザ・エネルギ・レベルＰ１を作り出すため
に前記レーザ・ダイオードを付勢し、前記焦点外状態で
前記エネルギ・レベルＰ１を作り出すのに必要なレーザ
駆動電流Ｉ１を測定するステップと、前記焦点外の状態で所定の高レーザ・エネルギ・レベル
Ｐ２を作り出すために前記レーザ・ダイオードを付勢
し、前記エネルギ・レベルＰ２が前記漸近の領域の範囲
内で選択され、前記エネルギ・レベルＰ２を作り出すの
に必要なレーザ駆動電流Ｉ２を測定するステップと、前記焦点外の状態における、前記エネルギ出力−駆動電
流特性曲線の傾斜を（Ｐ２−Ｐ１）／（Ｉ２−Ｉ１）の
関係式で決定するステップと、前記エネルギー・レベルＰ１及びＰ２の間にある所定の
エネルギー・レベルの設定に必要とされる前記レーザ駆
動電流を、前記傾斜を用いて計算するステップと、を有する、焦点外の状態での較正を行う方法。
【請求項３】半導体レーザ・ダイオードのエネルギ出力
−駆動電流の特性曲線が、高エネルギ・レベルでのレー
ザ・ビームの焦点及び焦点外の状態における漸近の領域
を示し、レーザ駆動電流レベルを設定するためのデジタ
ル・アナログ変換器（ＤＡＣ）を備えたレーザ駆動回路
と、前記駆動電流レベルを測定するためのアナログ・デ
ジタル変換器（ＡＤＣ）とを有する前記半導体レーザ・
ダイオードを用いた光ディスク駆動装置を較正する方法
であって、前記光媒体上に焦点外の状態を得るステップと、所定の低レーザ・エネルギ・レベルＰ１を作り出すため
に前記レーザ・ダイオードを付勢し、前記焦点外の状態
における前記エネルギ・レベルＰ１において、ＤＡＣの
設定値であるＤＡＣ１及びＡＤＣの設定値であるＡＤＣ
１をセーブするステップと、所定の高レーザ・エネルギ・レベルＰ２を作り出すため
に前記レーザ・ダイオードを付勢し、前記高レーザ・エ
ネルギ・レベルが前記漸近の領域内で選択され、前記エ
ネルギ・レベルＰ２におけるＤＡＣの設定値であるＤＡ
Ｃ２及びＡＤＣの設定値であるＡＤＣ２をセーブするス
テップと、前記エネルギ・レベルＰ１を作り出すために前記レーザ
・ダイオードを付勢するステップと、前記光媒体上に焦点の状態を得るステップと、前記焦点の状態の前記エネルギ・レベルＰ１における、
ＤＡＣの設定値であるＤＡＣ３及びＡＤＣの設定値であ
るＡＤＣ３をセーブするステップと、関係式、△ＤＡＣ１＝（ＤＡＣ２−ＤＡＣ１）・（ＡＤ
Ｃ１−ＡＤＣ３）／（ＡＤＣ２−ＡＤＣ１）を用いてレ
ーザ駆動電流を焦点エネルギ・レベルＰ１から焦点外エ
ネルギ・レベルＰ１に変更するのに必要なＤＡＣの変化
値△ＤＡＣ１を求めるステップと、関係式、Ｅ＝(Ｐ２−Ｐ１)／(（ＤＡＣ２−ＤＡＣ１）
＋△ＤＡＣ１)を用いてＤＡＣの伝達関数Ｅを求めるス
テップと、関係式、ＤＡＣｎ＝ＤＡＣ３＋（Ｐ１ｐ−Ｐ１）／Ｅを
用いて任意のレーザ・エネルギ・レベルＰ１ｐにおける
ＤＡＣ値であるＤＡＣｎを求めるステップと、目標のエネルギ・レベルＰ１ｐを作り出すためにＤＡＣ
の設定値を計算するステップと、を有する方法。
【請求項４】前記半導体レーザ・ダイオード及びレーザ
駆動回路の適切な動作を判断するステップをさらに含
み、該ステップが、連続的に増大するＤＡＣステップであるデジタル値が、
連続的に増大するアナログ信号出力を生成する、該ＤＡ
Ｃステップ当たりのレーザ・エネルギ出力の増加である
ＤＡＣ伝達関数Ｅと、該Ｅの関数であるレーザ効率Ｇｄ
を求めるステップと、連続的に増大するアナログ入力信号が、連続的に増大す
るデジタル出力信号であるＡＤＣステップを生成する、
該ＡＤＣステップ当たりのレーザ・エネルギ出力の増加
であるＡＤＣ伝達関数ｎと、該ｎの関数であるレーザ効
率Ｇａを求めるステップと、前記Ｇｄ及びＧａを比較し、その結果が等しくて、かつ
前記レーザ効率の所定範囲内であれば故障がないことを
示すステップと、を有する請求項３記載の方法。
【請求項５】半導体レーザ・ダイオードのエネルギ出力
−駆動電流の特性曲線が、高エネルギ・レベルでのレー
ザ・ビームの焦点及び焦点外の状態における漸近の領域
を示し、レーザ駆動電流レベルを設定するためのデジタ
ル・アナログ変換器（ＤＡＣ）を備えたレーザ駆動回路
と、前記駆動電流レベルを測定するためのアナログ・デ
ジタル変換器（ＡＤＣ）とを有する前記半導体レーザ・
ダイオードを用いた光ディスク駆動装置を較正する方法
であって、前記光媒体上に焦点外の状態を得るステップと、所定の低レーザ・エネルギ・レベルＰ１を作り出すため
に前記レーザ・ダイオードを付勢し、前記焦点外の状態
における前記エネルギ・レベルＰ１において、ＤＡＣの
設定値であるＤＡＣ１及びＡＤＣの設定値であるＡＤＣ
１をセーブするステップと、所定の高レーザ・エネルギ・レベルＰ２を作り出すため
に前記レーザ・ダイオードを付勢し、前記エネルギ・レ
ベルＰ２が前記漸近の領域内で選択され、前記エネルギ
・レベルＰ２においてＤＡＣの設定値であるＤＡＣ２及
びＡＤＣの設定値であるＡＤＣ２をセーブするステップ
と、前記エネルギ・レベルＰ１を作り出すために前記レーザ
・ダイオードを付勢するステップと、前記光媒体上に焦点の状態を得るステップと、前記焦点の状態におけるエネルギ・レベルＰ１でＤＡＣ
の設定値であるＤＡＣ３及びＡＤＣの設定値であるＡＤ
Ｃ３をセーブするステップと、前記エネルギ・レベルＰ１がレーザ・レイジング・モー
ドが得られるスレッショルド・エネルギ・レベルＰ０に
等しくなるように前記装置を調整し、そのとき前記ＤＡ
Ｃが前記エネルギ・レベルＰ１で０になるように調整す
るステップと、関係式、△ＤＡＣ１＝（ＤＡＣ２−ＤＡＣ１）（ＡＤＣ
１−ＡＤＣ３）／（ＡＤＣ２−ＡＤＣ１）を用いて前記
駆動電流を焦点エネルギ・レベルＰ１から焦点外エネル
ギ・レベルＰ１に変更するのに必要なＤＡＣの変化値で
ある△ＤＡＣ１を求めるステップと、関係式、Ｅ＝（Ｐ２−Ｐ１）／（（ＤＡＣ２−ＤＡＣ
１）＋△ＤＡＣ１）を用いてＤＡＣの伝達関数Ｅを求め
るステップと、関係式、ＤＡＣｎ＝（Ｐ１ｐ−Ｐ１）／Ｅを用いて所定
のエネルギ・レベルＰ１ｐにおけるＤＡＣ値であるＤＡ
Ｃｎを求めるステップと、目標のエネルギ・レベルＰ１ｐを作り出すためのＤＡＣ
の設定値を計算するステップと、を有する方法。
【請求項６】半導体レーザ・ダイオードのエネルギ出力
−駆動電流の特性曲線が、高エネルギ・レベルでのレー
ザ・ビームの焦点及び焦点外の状態における漸近の領域
を示し、駆動電流レベルを設定するためのデジタル・ア
ナログ変換器（ＤＡＣ）を備えたレーザ駆動回路を有す
る、前記半導体レーザ・ダイオードを用いた光ディスク
駆動装置を較正する方法であって、前記光媒体上に焦点外の状態を得るステップと、所定の低レーザ・エネルギ・レベルＰ１を作り出すため
に前記レーザ・ダイオードを付勢し、前記焦点外の状態
における前記エネルギ・レベルＰ１において、ＤＡＣの
設定値であるＤＡＣ１をセーブするステップと、所定の高レーザ・エネルギ・レベルＰ２を作り出すため
に前記レーザ・ダイオードを付勢し、前記エネルギ・レ
ベルＰ２が前記漸近の領域内で選択され、前記エネルギ
・レベルＰ２においてＤＡＣの設定値であるＤＡＣ２を
セーブするステップと、前記エネルギ・レベルＰ１を作り出すために前記レーザ
・ダイオードを付勢するステップと、前記光媒体上に焦点の状態を得るステップと、前記焦点の状態におけるエネルギ・レベルＰ１でＤＡＣ
の設定値であるＤＡＣ３をセーブするステップと、関係式、△ＤＡＣ１＝ＤＡＣ１−ＤＡＣ３を用いてレー
ザ駆動電流を焦点エネルギ・レベルＰ１から焦点外エネ
ルギ・レベルＰ１に変更するのに必要なＤＡＣの変化値
である△ＤＡＣ１を求めるステップと、関係式、△ＤＡＣ２＝ＤＡＣ２−ＤＡＣ１を用いてレー
ザ駆動電流を焦点外の状態のエネルギ・レベルＰ２から
エネルギ・レベルＰ１に変更するのに必要なＤＡＣの変
化値△ＤＡＣ２を求めるステップと、関係式、Ｅ＝（Ｐ２−Ｐ１）／（△ＤＡＣ１＋△ＤＡＣ
２）を用いてＤＡＣの伝達関数Ｅを求めるステップと、関係式、ＤＡＣｎ＝ＤＡＣ３＋（Ｐ１ｐ−Ｐ１）／Ｅを
用いて所定のレーザ・エネルギ・レベルＰ１ｐにおける
ＤＡＣ値であるＤＡＣｎを求めるステップと、目標のエネルギ・レベルＰ１ｐを作り出すためのＤＡＣ
の設定値を計算するステップと、を有する方法。
【請求項７】半導体レーザ・ダイオードがレンズを通し
て光媒体に向けて放射線を放射し、前記レーザ・ダイオ
ードの出力が、前記光媒体から反射した放射線の光を含
めて検出され、前記レーザ・ダイオードの駆動電流を較
正する手段を有する光ディスク駆動装置であって、前記レーザ・ダイオード及び前記ダイオードの放射線を
受けるレンズと、前記ダイオードによって作られ、前記光媒体に向けられ
た放射線を、焦点外の状態から焦点に合わせるように前
記レンズを移動するための、前記レンズに接続された移
動手段と、前記レーザ・ダイオードに接続されたレーザ駆動電流手
段と、選択された低レーザ・エネルギ・レベルＰ１及び高レー
ザ・エネルギ・レベルＰ２を作り出すために前記ダイオ
ードを付勢するための、前記レーザ駆動電流手段に接続
されたレーザ駆動電流制御手段と、Ｉ１が焦点外の状態でエネルギ・レベルＰ１を作り出す
ための駆動電流でり、Ｉ２が焦点外の状態でエネルギ・レベルＰ２を作り出す
ための駆動電流であり、Ｉ３が焦点状態におけるエネル
ギ・レベルＰ１を作り出すための駆動電流である、レー
ザ駆動電流レベルＩ１、Ｉ２及びＩ３を測定するための
前記レーザ・ダイオードに接続された計測手段と、前記計測手段及び前記レーザ駆動電流制御手段に接続さ
れ、関係式、（Ｐ２−Ｐ１）／（Ｉ２−Ｉ３）を用いて
前記焦点状態でエネルギ出力−駆動電流の特性曲線の傾
斜を計算するマイクロプロセッサと、を有し、よって、前記エネルギ・レベルＰ１及びＰ２の間で所定
のエネルギ・レベルを得るためのレーザ駆動電流が計算
できることを特徴とする光ディスク駆動装置。
【請求項８】半導体レーザ・ダイオードがレンズを通し
て光媒体に向けて放射線を放射し、前記レーザ・ダイオ
ードの出力が、前記光媒体から反射した放射線の光を含
めて検出され、前記レーザ・ダイオードの駆動電流を較
正する手段を有する光ディスク駆動装置であって、前記レーザ・ダイオード及び前記ダイオードの放射線を
受けるレンズと、前記ダイオードによって作られ、前記光媒体に向けられ
た放射線を焦点外の状態から焦点に合わせるように前記
レンズを移動するための、前記レンズに接続された移動
手段と、前記レーザ・ダイオードに接続されたレーザ駆動電流手
段と、選択された低レーザ・エネルギ・レベルＰ１及び高レー
ザ・エネルギ・レベルＰ２を作り出すために、前記ダイ
オードを付勢するための前記レーザ駆動電流手段に接続
され、ＤＡＣ１が焦点外の状態で前記エネルギ・レベル
Ｐ１を作り出すための設定、ＤＡＣ３が焦点の状態で前
記エネルギ・レベルＰ１を作り出すための設定、及びＤ
ＡＣ２が焦点外の状態で前記エネルギ・レベルＰ２を作
り出すための設定である、ＤＡＣの設定値ＤＡＣ１、Ｄ
ＡＣ２及びＤＡＣ３を得るためのデジタル・アナログ変
換器（ＤＡＣ）を有するレーザ駆動電流制御手段と、マイクロプロセッサと、前記選択されたエネルギ・レベルを得るために、前記マ
イクロプロセッサに接続され、前記放射線の一部を受け
ることができるように前記レーザ・ダイオードに光学的
に接続されて前記レーザ・ダイオードの出力エネルギを
測定する手段と、を有し、前記マイクロプロセッサは前記ＤＡＣに接続され、関係
式、△ＤＡＣ１＝ＤＡＣ１−ＤＡＣ３を用いてレーザ駆
動電流を焦点エネルギ・レベルＰ１から焦点外エネルギ
・レベルＰ１に変えるのに必要なＤＡＣの変化値△ＤＡ
Ｃ１と、関係式、△ＤＡＣ２＝ＤＡＣ２−ＤＡＣ１を用
いて焦点外の状態でレーザ駆動電流を高エネルギ・レベ
ルＰ２から低エネルギ・レベルＰ１に変えるのに必要な
ＤＡＣの変化値△ＤＡＣ２と、関係式、Ｅ＝（Ｐ２−Ｐ
ｌ）／（△ＤＡＣ１＋△ＤＡＣ２）を用いてＤＡＣの伝
達関数Ｅと、関係式、ＤＡＣｎ＝ＤＡＣ３＋（Ｐ１ｐ−
Ｐ１）／Ｅを用いて、必要なレーザ・エネルギ・レベル
Ｐ１ｐとを求める手段とを有している光ディスク駆動装
置。
【請求項９】半導体レーザ・ダイオード、及び、デジタ
ル値（ＤＡＣステップ）が連続的に増加すると連続的に
アナログ信号出力が増加することにより、レーザ駆動電
流レベルの設定をするデジタル・アナログ変換器（ＤＡ
Ｃ）と、アナログ入力信号が連続的に増加すると連続的
にデジタル出力値（ＡＤＣステップ）が増加するアナロ
グ・デジタル変換器とを含むレーザ駆動回路の適切な動
作を検出する方法であって、ＤＡＣステップ当たりのレーザ・エネルギ出力の増加で
あるＤＡＣ伝達関数Ｅと、該Ｅの関数であるレーザ効率
Ｇｄを求めるステップと、ＡＤＣステップ当たりのレーザ・エネルギ出力の増加で
あるＡＤＣ伝達関数ｎと、該ｎの関数であるレーザ効率
Ｇａを求めるステップと、前記Ｇｄ及びＧａを比較し、その結果が等しくてかつ前
記レーザ効率の所定範囲内であれば故障がないことを示
すステップと、を含む方法。