JP2540543Y2 - X線分析装置のインタロック機構 - Google Patents

X線分析装置のインタロック機構

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JP2540543Y2
JP2540543Y2 JP3087892U JP3087892U JP2540543Y2 JP 2540543 Y2 JP2540543 Y2 JP 2540543Y2 JP 3087892 U JP3087892 U JP 3087892U JP 3087892 U JP3087892 U JP 3087892U JP 2540543 Y2 JP2540543 Y2 JP 2540543Y2
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Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本考案はX線分析装置からX線が
漏洩しないようにするためのインタロック機構に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】X線分析装置は、原理的には例えば図4
に示すように、X線源であるX線管1から試料2に対し
て一次X線を照射し、その試料2から放出される螢光X
線をX線フィルター3を介して検出器(比例計数管)4
で検出して成分分析等をおこなえるようにしたものであ
る。
【0003】このような装置を卓上型にしたものでは、
例えば図5に示すように、X線管や検出器を内蔵した検
出部5にはX線が外部に漏洩することのないように、シ
ャッター6が設けられ、その上部に試料2を載せるため
の試料台が載設され、さらに、装置本体8に開閉自在に
設けたシールドカバー9によってその検出部5全体が覆
われるようになっている。そして、そのシールドカバー
9の開閉端にはフック10が取り付けられ、シールドカバ
ー9を閉じるとそのフック10が装置本体8に設けたロッ
ク孔11の内側に設けられている被掛止部材(図示省略)
に係合してロックされるとともに、カバースイッチ12が
オンとなり、図示しないが、電気的な駆動源(例えばソ
レノイド)または機械的な連動機構を作動させてシャッ
ター6を開き、これにより、試料台上の試料2にX線を
照射させて分析作業がおこなえるようになっている。
【0004】一方、試料2の取り替え時等には、レバー
13を操作することにより被掛止部材のフック10に対する
係合を解除してシールドカバー9を開放することがで
き、そのときは、シャッター6が閉じられるようになっ
ており、これにより、外部にX線が漏洩することのない
ようになっている。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】上述したような従来の
装置では、カバースイッチ12が、開閉操作されるシール
ドカバー9に対応するように配置されていることから比
較的に触れやすいため、そのシールドカバー9が開いて
いるときに、不用意にカバースイッチ12に触れるような
ことがあると、電気的な駆動源を作動させてシャッター
6が開いてしまいX線が漏洩するようなトラブルの発生
が懸念される。
【0006】本考案はこのような実情に鑑みてなされ、
作業者の不注意等によってもX線が漏洩することのない
X線分析装置のインタロック機構を提供することを目的
としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】本考案は、上述の課題を
解決するための手段を以下のように構成している。すな
わち、第1の考案では、X線分析装置の本体に対して開
閉自在に設けられたX線遮断機能を有するシールドカバ
ーと、前記シールドカバーの開閉端側に取り付けられた
フックと、前記シールドカバーが閉じられたときに前記
フックと係合するロック位置とその係合が解除されるア
ンロック位置との間をスライド自在で前記フックと係合
する方向に付勢されて前記本体内部に設けられた戻しレ
バー付きのロックプレートと、前記ロックプレートに取
り付けられてそのロックプレートが前記フックと係合す
るロック位置でX線源を内蔵した検出部の上に設けた試
料台上の試料にX線を照射させるためにその検出部を開
放し、そのロックプレートが前記フックとの係合を解除
されるアンロック位置ではその検出部を閉じるX線遮断
機能を有するシャッターと、前記シールドカバーが開い
ているときに前記ロックプレートを前記フックとの係合
が解除されるアンロック位置に掛止させ、前記シールド
カバーが閉じられると前記フックによって押し下げられ
て前記ロックプレートに対する掛止を解き、そのロック
プレートをそのフックに係合させるべく本体内部に設け
たストッパーとよりなることを特徴としている。
【0008】第2の考案では、X線分析装置の本体に対
して開閉自在に設けられたX線遮断機能を有するシール
ドカバーと、前記シールドカバーの開閉端側に取り付け
られたフックと、前記シールドカバーが閉じられたとき
に前記フックと係合するロック位置とその係合が解除さ
れるアンロック位置との間をスライド自在で前記フック
と係合する方向に付勢されて前記本体内部に設けられた
戻しレバー付きのロックプレートと、前記ロックプレー
トに取り付けられてそのロックプレートが前記フックと
係合するロック位置でX線源を内蔵した検出部の上に設
けた試料台上の試料にX線を照射させるためにその検出
部を開放し、そのロックプレートが前記フックとの係合
を解除されるアンロック位置ではその検出部を閉じるX
線遮断機能を有するシャッターと、前記ロックプレート
に対応して設けられて前記シャッターの開閉を検出する
シャッタースイッチと、前記シールドカバーが開いてい
るときに前記ロックプレートを前記フックとの係合が解
除されるアンロック位置に掛止させ、前記シールドカバ
ーが閉じられると前記フックによって押し下げられて前
記ロックプレートに対する掛止を解き、そのロックプレ
ートをそのフックに係合させるべく本体内部に設けたス
トッパーと、前記ストッパーに対応して設けられて前記
ロックプレートのフックに対する係脱を検出するロック
スイッチとを有し、前記ロックスイッチとシャッタース
イッチとを並列に接続したインタロック回路が、入力電
源とX線高圧電源または装置電源との間に介設されてい
ることを特徴としている。
【0009】第3の考案では、第2の考案のシールドカ
バーの開閉を検出するカバースイッチが設けられ、前記
入力電源とX線高圧電源または装置電源との間に介設さ
れたインタロック回路が、前記カバースイッチとロック
スイッチとを直列に接続してこれを前記シャッタースイ
ッチと並列に接続した構成となっていることを特徴とし
ている。
【0010】
【作用】第1の考案では、試料台に試料を載せてシール
ドカバーを閉じると、そのシールドカバーの開閉端に取
り付けられているフックがロックプレートをアンロック
位置に掛止させているストッパーを押し下げてその掛止
を解いてロックプレートがロック位置に移動してフック
を係合させ、シールドカバーがロックされるとともに、
そのロックプレートと一体のシャッターが開放され、X
線源から試料台上の試料にX線を照射させて分析をおこ
なうことができる。
【0011】一方、試料を交換する等のためにシールド
カバーを開くときには、戻しレバーによってロックプレ
ートをアンロック位置に移動させてフックの係合を解け
ばよい。そうすると、そのロックプレートと一体のシャ
ッターが閉じられ、X線が漏洩するのを防ぐことがで
き、そのロックプレートはストッパーでそのアンロック
位置に掛止された状態となる。
【0012】このようなシールドカバーの開放下では、
ロックプレートをアンロック位置に掛止しているストッ
パーが押し下げられない限り、シャッターは開かれな
い。しかるに、そのストッパーはロックプレートと同様
に本体内部に設けられているため、人手に触れたり、異
物と接触するようなことがなく、故意または不用意にそ
のストッパーが押し下げられてシャッターが開くような
ことはない。
【0013】第2の考案では、第1の考案の構成に加え
てインタロック回路を設けたので、メカニズムの調整不
良等によって、シールドカバーの開放下でシャッターが
開いてしまうようなことがあっても、そのときにはイン
タロック回路が開き、X線高圧電源または装置電源への
通電が停止される。これにより、一層確実にX線の漏洩
が防止される。
【0014】さらに、第3の考案では、シールドカバー
とシャッターが共に開放されているとき、または、シー
ルドカバーのみが開放されているときに、故意または不
注意等によりカバースイッチがオンされることがあって
も、ロックスイッチが開であるためインタロック回路は
閉じず、安全が確保される。
【0015】なお、第3の考案におけるインタロック回
路が閉じるのは、シールドカバーが開(カバースイッチ
がオフ)、ストッパーがロックプレートに掛止(ロック
スイッチがオフ)、シャッターが閉(シャッタースイッ
チがオン)のとき、および、シールドカバーが閉、スト
ッパーがロックプレートに対する掛止を解き(フックが
ロックプレートに係合)、シャッターが開のときであ
る。一方、そのインタロック回路が開くのは、シールド
カバーとシャッターが共に開いたとき、および、かかる
状態下で、カバースイッチがオンされたときであり、い
ずれもエマージェンシイと見做し上述のように、X線そ
のものを発生させないようにしている。
【0016】
【実施例】以下に本考案の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。図1はX線分析装置のインタロック機構の
一実施例におけるシールドカバーを開いた状態の構成図
で、上部に試料台7を有して内部にX線源であるX線管
(図示省略)、検出器4(図2参照)、X線コリメータ
14等を収納し、スライド操作されるシャッター6によっ
てその内部が開閉自在に遮断されるようにした検出部5
が箱状の装置本体8に設けられており、その装置本体8
に設けたシールドカバー9によってその検出部5が開閉
自在に覆われ、閉状態ではそのシールドカバー9の開閉
端に設けたフック10が装置本体8内のロックプレート16
に係合してロックされ、かつその装置本体8に設けた接
触式のマイクロスイッチよりなるカバースイッチ12が閉
じられるようになっている。
【0017】上述のシャッター6は、X線遮断機能を有
する金属板部材よりなりその本体部6aが、検出部5の
上部に開設された開口15(図2参照)の両側縁に形成し
た案内溝にスライド自在に嵌挿されて、側方に屈曲延長
された取付部6bが、装置本体8内に設けられたロック
プレート16の上部にボルト17,17の締結によって固定さ
れている。
【0018】そのロックプレート16の下部には、装置本
体8の内部に突設固定された支持部材18,18間に架設さ
れている上下一対のレール19,19に案内される一対のス
ライドブロック20,20が固定されて、そのロックプレー
ト16が矢印21方向にスライド自在に支持され、その略中
央部位の側部に上方に向けて突設固定した戻しレバー23
を装置本体8に開設した横長状の開口22から外部に突出
させている。
【0019】上述のロックプレート16の一端にはバネ受
部材24が植設されて、装置本体8の側部に一端を掛止さ
せた引張バネ25の他端をそのバネ受部材24に掛止させ、
ロックプレート16を矢印21方向に付勢させる一方、その
ロックプレート16の他端には、接触式のマイクロスイッ
チよりなるシャッタースイッチ26が対応して設けられ、
図示の位置状態でシャッター6が検出部5の開口15(図
2参照)を閉じてシャッタースイッチ26が閉じ、かつ、
そのロックプレート16の一端が棒状のストッパー27によ
って図示のようにフック10と係合しないアンロック位置
Uに掛止されるようになっている。
【0020】そのストッパー27は、一方の支持部材18の
外側面に取り付けられたコ字状の支持ブラケット28の貫
通孔に貫挿されて上下方向に摺動自在に支持されかつ戻
しバネ29によって上方に付勢され、前述のように、自由
状態ではロックプレート16の一端にその上端部を当接さ
せてこれをアンロック位置Uに掛止できるようになって
いる。そして、その下端部には、接触式のマイクロスイ
ッチよりなるロックスイッチ30が対応して設けられ、シ
ールドカバー9が閉じられるとフック10によってストッ
パー27が押し下げられ、そのロックスイッチ30が閉じら
れるとともに、ロックプレート16が引張バネ25に引っ張
られて矢印21方向に移動してロック位置Lでフック10に
係合し(図2参照)、シールドカバー9がロックされ
る。なお、シールドカバー9の閉時には、フック10は装
置本体8の上部に開設したフック孔31から内部に挿入さ
れるようになっている。
【0021】一方、上述の3つのスイッチ、つまりカバ
ースイッチ12、シャッタースイッチ26、およびロックス
イッチ30により図3に示すような被爆防止のためのイン
タロック回路33が構成され、図示は省略するが、入力電
源とX線高圧電源または装置電源との間にそのインタロ
ック回路33が介設されている。
【0022】このインタロック回路33は、カバースイッ
チ12とロックスイッチ30とを直列に接続してこれをシャ
ッタースイッチ26と並列に接続したもので、図示のよう
に、カバースイッチ12がオフ、ロックスイッチ30がオ
フ、かつシャッタースイッチ26がオフのとき、つまりシ
ールドカバー9とシャッター6が共に開いたとき、およ
び、カバースイッチ12がオンでロックスイッチ30がオ
フ、かつシャッタースイッチ26がオフのとき、つまりシ
ールドカバー9とシャッター6が共に開かれた状態下
で、カバースイッチ12がオンされたときには、いずれも
何らかのトラブルによるエマージェンシイと見做してイ
ンタロック回路33が開かれるようになっている。一方、
そのインタロック回路33が閉じるのは、シールドカバー
9が開(カバースイッチ12がオフ)、ストッパー27がロ
ックプレート16に掛止(ロックスイッチ30がオフ)、シ
ャッター6が閉(シャッタースイッチ26がオン)のと
き、および、シールドカバー9が閉、ストッパー27がロ
ックプレート16に対する掛止を解き(フック10がロック
プレート16に係合)、シャッター6が開のときである。
これらはいずれも正常な状態であり、X線遮断機能を有
するシャッター6もしくはシールドカバー9によって検
出部5が閉じられており、外部にX線が漏洩することは
ない。
【0023】以上のように構成されるX線分析装置のイ
ンタロック機構の動作について説明すると、試料台7に
試料を載せてシールドカバー9を閉じると、そのシール
ドカバー9の開閉端に取り付けられているフック10がロ
ックプレート16をアンロック位置Uに掛止させているス
トッパー27を押し下げてその掛止を解いてロックプレー
ト16がロック位置Lに移動してフック10を係合させ(図
2参照)、シールドカバー9がロックされるとともに、
そのロックプレート16と一体のシャッター6が開放さ
れ、このとき、カバースイッチ12が閉、シャッタースイ
ッチ26が開、ロックスイッチ30が閉となりインタロック
回路33が閉じ、X線管から試料台7上の試料にX線を照
射させて分析をおこなうことができる。
【0024】一方、試料を交換する等のために、シール
ドカバー9を開くときには戻しレバー23によってロック
プレート16をアンロック位置Uに移動させてフック10の
係合を解けばよい。そうすると、そのロックプレート16
と一体のシャッター6が閉じられ、X線が洩れ出るのを
防ぐことができ、そのロックプレート16はストッパー27
でそのアンロック位置Uに掛止された状態となる。この
とき、カバースイッチ12が開、ロックスイッチ30が開、
シャッタースイッチ26が閉となりインタロック回路33は
閉じている。
【0025】このようなシールドカバー9の開放下で
は、ロックプレート16を掛止しているストッパー27が押
し下げられない限り、シャッター6は開かれないような
メカニズムに構成されており、かつそのストッパー27は
ロックプレート16と同様に装置本体8の内部に設けられ
ているため、人手に触れたり、異物と接触するようなこ
とがなく、不用意または故意によってもそのストッパー
27が押し下げられてシャッター6が開くようなことはな
く、前述のインタロック回路33と併せて万全の安全対策
が施されている。
【0026】また、かかるシールドカバー9の開放下
で、何らかのトラブルによってたとえシャッター6が開
いてしまってもそのときにはインタロック回路33が開く
ので、X線管からのX線の照射は停止されるため安全で
ある。
【0027】さらに、上述のように、シールドカバー9
とシャッター6が共に開いているときに、たとえカバー
スイッチ12がオンされるようなことがあってもインタロ
ック回路33は開かれたままであり安全である。
【0028】さらにまた、シールドカバー9が開いてい
るときに、たとえフック孔31から棒状のボールペン等を
挿し込んでストッパー27を故意に押し下げ、ロックスイ
ッチ30を閉じたとしても、このときには、そのボールペ
ン等によってロックプレート16がロック位置Lに掛止さ
れシャッター6は閉じたままとなり安全である。
【0029】このように、充分な安全対策が施されてい
るメカニズムによるインタロック機能にインタロック回
路33による電気的なインタロック機能を付加することに
よって、相互に補完し合い万全の安全対策を施すことが
できたのである。
【0030】なお、インタロック回路を簡易に構成する
場合にはカバースイッチ12を省いてもよい。つまり、ロ
ックスイッチ30とシャッタスイッチ26とを並列に接続し
てインタロック回路を構成することもできる。
【0031】
【考案の効果】以上説明したように、第1の考案によれ
ば、試料を交換する等のためにシールドカバーを開くと
きには、戻しレバーによってロックプレートをアンロッ
ク位置に移動させてフックの係合を解けばよく、その際
に、そのロックプレートと一体のシャッターが閉じられ
るので、X線の漏洩を防止することができる。そして、
このようなシールドカバーの開放下では、ロックプレー
トをアンロック位置に掛止しているストッパーが押し下
げられない限り、シャッターは開かれないが、そのスト
ッパーはロックプレートと同様に装置本体内部に設けら
れており、不注意等によってそのストッパーが押し下げ
られてシャッターが開くようなことはなく安全である。
【0032】また、第2の考案では、第1の考案のメカ
ニズム構成に加えてインタロック回路を設けたので、た
とえメカニズムの調整不良等によってシールドカバーの
開放下でシャッターが開くようなことがあっても、その
ときにはインタロック回路が開くので、X線源へは通電
されず安全が確保される。
【0033】さらに、第3の考案では、シールドカバー
とシャッターが共に開放されているとき、または、シー
ルドカバーのみが開放されているときに、故意または不
注意等によりカバースイッチがオンされるようなことが
あっても、インタロック回路は閉じず、なお安全が確保
される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案のX線分析装置のインタロック機構の一
実施例におけるシールドカバーを開放した状態の全体構
成図である。
【図2】同シールドカバーを閉じた状態の全体構成図で
ある。
【図3】同インタロック回路図である。
【図4】一般的なX線分析装置の原理を説明するための
模式図である。
【図5】従来のX線分析装置のシールドカバーを開いた
状態の斜視図である。
【符号の説明】
5…検出部、6…シャッター、7…試料台、8…装置本
体、9…シールドカバー、10…フック、12…カバースイ
ッチ、16…ロックプレート、26…シャッタースイッチ、
27…ストッパー、30…ロックスイッチ、33…インタロッ
ク回路、L…ロック位置、U…アンロック位置。

Claims (3)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X線分析装置の本体に対して開閉自在に
    設けられたX線遮断機能を有するシールドカバーと、前
    記シールドカバーの開閉端側に取り付けられたフック
    と、前記シールドカバーが閉じられたときに前記フック
    と係合するロック位置とその係合が解除されるアンロッ
    ク位置との間をスライド自在で前記フックと係合する方
    向に付勢されて前記本体内部に設けられた戻しレバー付
    きのロックプレートと、前記ロックプレートに取り付け
    られてそのロックプレートが前記フックと係合するロッ
    ク位置でX線源を内蔵した検出部の上に設けた試料台上
    の試料にX線を照射させるためにその検出部を開放し、
    そのロックプレートが前記フックとの係合を解除される
    アンロック位置ではその検出部を閉じるX線遮断機能を
    有するシャッターと、前記シールドカバーが開いている
    ときに前記ロックプレートを前記フックとの係合が解除
    されるアンロック位置に掛止させ、前記シールドカバー
    が閉じられると前記フックによって押し下げられて前記
    ロックプレートに対する掛止を解き、そのロックプレー
    トをそのフックに係合させるべく本体内部に設けたスト
    ッパーとよりなることを特徴とするX線分析装置のイン
    タロック機構。
  2. 【請求項2】 X線分析装置の本体に対して開閉自在に
    設けられたX線遮断機能を有するシールドカバーと、前
    記シールドカバーの開閉端側に取り付けられたフック
    と、前記シールドカバーが閉じられたときに前記フック
    と係合するロック位置とその係合が解除されるアンロッ
    ク位置との間をスライド自在で前記フックと係合する方
    向に付勢されて前記本体内部に設けられた戻しレバー付
    きのロックプレートと、前記ロックプレートに取り付け
    られてそのロックプレートが前記フックと係合するロッ
    ク位置でX線源を内蔵した検出部の上に設けた試料台上
    の試料にX線を照射させるためにその検出部を開放し、
    そのロックプレートが前記フックとの係合を解除される
    アンロック位置ではその検出部を閉じるX線遮断機能を
    有するシャッターと、前記ロックプレートに対応して設
    けられて前記シャッターの開閉を検出するシャッタース
    イッチと、前記シールドカバーが開いているときに前記
    ロックプレートを前記フックとの係合が解除されるアン
    ロック位置に掛止させ、前記シールドカバーが閉じられ
    ると前記フックによって押し下げられて前記ロックプレ
    ートに対する掛止を解き、そのロックプレートをそのフ
    ックに係合させるべく本体内部に設けたストッパーと、
    前記ストッパーに対応して設けられて前記ロックプレー
    トのフックに対する係脱を検出するロックスイッチとを
    有し、前記ロックスイッチとシャッタースイッチとを並
    列に接続したインタロック回路が、入力電源とX線高圧
    電源または装置電源との間に介設されていることを特徴
    とするX線分析装置のインタロック機構。
  3. 【請求項3】 前記シールドカバーの開閉を検出するカ
    バースイッチが設けられ、前記入力電源とX線高圧電源
    または装置電源との間に介設されたインタロック回路
    が、前記カバースイッチとロックスイッチとを直列に接
    続してこれを前記シャッタースイッチと並列に接続した
    構成となっていることを特徴とする請求項2に記載のX
    線分析装置のインタロック機構。
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