JP2539091B2 - 浸炭部の測定方法 - Google Patents
浸炭部の測定方法Info
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Description
非破壊的に計測する浸炭測定方法に関する。
キングチューブ中に原料ナフサを通過させ、チューブ中
にて原料ナフサを高温高圧下に熱分解してエチレン等を
回収している。
えばHP材(Fe−25Cr−35Ni)が挙げられる。
反応に伴って生成されたカーボンがチューブ内面に付着
し、これが金属内部に拡散して浸炭が発生する。この浸
炭部はチューブの延性低下を招来するため、安全で円滑
な操業を維持するためには浸炭検査を定期的に実施し、
チューブ内面部の浸炭の有無及びその進行状況を的確に
把握することが必要である。
定する装置として、これまで磁気に利用した種々の装置
が提案されている。これらの装置は、チューブ本体は非
磁性であるのに対し、浸炭部は磁性であることを利用す
るもので、磁石から発せられた磁力線が磁性部によって
変化する量を検出するものである。
査し、磁力線の変化を測定した後、HP材を切断して断面
を王水を用いて腐蝕させ、浸炭層と健全部との腐蝕差に
より健全部厚さを測定し、グラフにしたものである。通
常は浸炭の進行に伴ない、磁力線は大きく変化する一定
の傾向に示しており、これによってクラッキングチュー
ブを交換すべきか否かの判定に用いることが出来る。
グチューブを検査した折、A領域で示すように浸炭層は
発生していなかったにも拘わらず、磁力線が変化する場
合があった。
が高温にさらされるため、管の外表面が脱炭、窒化等に
よって変質し、変質層を形成したからである。
管の外表面に存在しているから、検出装置の検出部に影
響を与え、磁力線を変化させたのである。
査の際、磁力線の変動は管内面の浸炭によるものと誤認
するおそれがある。
193168号公報に開示する方法によって、浸炭部の存在が
判断できる測定装置を提案した。
して、この磁石(12)をケース(10)中に配備し、磁極
間にて磁石(12)の磁力線と平行にホール素子(40)を
配置したものである。この装置は被検材表面に発生する
磁性変質層の影響を受けないで浸炭部を測定できる利点
があった。
問題があるため、第2磁石(16)とその磁極に近接して
磁力線と交叉する様に第2ホール素子(42)を配置し、
2つのホール素子(40)(42)の出力を見較べて浸炭部
の拡がりを判断せねばならなかった。
響を受けるから、これと対処するには、対象位置に第3
ホール素子を設けると共に、被検材と同じ材料で製った
ダミー片を備えねばならず、該装置は取扱い不便なた
め、改良が望まれていた。
出する方法を鋭意研究した。その結果、検査対象物に対
して磁石のNS磁極を第5図の如く水平に配置した場合
と、第6図の如く垂直に配置した場合では、磁力線変化
の状況が異なることを見出した。
し浸炭部に相当するとして、鉄片(36)の上方に磁石
(12)を配置して、鉄片(36)からの距離dをチューブ
の健全層の厚さであると想定し、両磁極は、磁石中心と
鉄片(36)を結ぶ直線に対し直交する様に配置した。
(14)を配置して、鉄片(36)の距離dによって、ホー
ル素子(14)の起電力が変化する様子を測定し、磁束密
度変化率を求めた。
(36)が無い場合、ホール素子(14)と交叉する磁束の
磁束密度は、Bo=65ガウスである。
たときの、ホール素子と交叉する磁束密度をBdとする。
る磁力線への影響は肉厚6mm以上に及んでいることが判
る。
通る様に磁石の配置し、ホール素子(18)を磁極から放
射される磁極線と交叉する様に配置した。磁石(16)な
第5図の磁石(12)と同じものであるが、ホール素子
(18)と交叉する磁束密度はBo=700ガウス、その他の
条件は第5図の実験と同じである。
ブの肉厚内部には殆んど浸透せず、表面から深さ4mm以
上では磁束密度変化は無かった。
壁と平行に配置すると、磁力線はチューブの肉厚の深く
まで浸透するが、磁石をチューブ壁に対し垂直に立てる
と、磁力線はチューブ壁への浸透は浅いことが判る。
離dの高さに薄鉄板(38)を配置したものである。
に相当する。
あった。
から2mm以上に浸透していることが判る。
離dの位置に薄鉄板(38)を配置したものである。
であった。
面から2mm以上には殆んど浸透していないことが判る。
によって、浸炭層及び変質層の夫々の影響を合計した影
響による磁束密度の変化を測定することが出来る。
よって、変質層のみの影響による磁束密度の変化を測定
することが出来る。
層単独による磁力線の変化を出力出来るのである。
いても、支障なく浸炭層の有無を検査できる方法を明ら
かにすることを目的とする。
して磁極中間部の磁束密度を測定する工程と、 被検材表面に対して磁石(16)の両磁石を垂直に配置
して磁極から放射される磁束密度を測定する工程と、 上記2つの工程の測定データを信号処理して、測定デ
ータの差信号を出力する工程 とによって、被検材表面に形成された磁性層の影響を消
化し、浸炭部のみによる磁束密度の変化を出力すること
により、浸炭部の発生及び浸炭の進行を検出するもので
ある。
内面の浸炭部の両者の影響による磁束密度変化を測定
し、第2工程によって、被検材の外表面近傍の変質部に
よる磁束密度変化を測定し、2つの測定値の出力差を演
算することによって、浸炭部単独による影響を測定でき
る。
でも、拡がっている場合でも、正しく表示できる。
するためのものであるから、特許請求の範囲を狭く解釈
するために用いるべきではない。
ムの如き非磁性材料で作られたケース(10)中へ、磁気
測定する第1検出手段(1)と第2検出手段(2)が、
所定間隔離して配置され、ケース(10)中には、熱可塑
性樹脂(図示せず)を充填して固化し、第1、第2検出
手段(1)(2)を動かない様にケース中に固定してい
る。
手段(2)は、情報処理回路(20)に接続され、該回路
には出力を表示する計器(28)が必要に応じて接続され
る。
(10)内に永久磁石(12)を配備し、該磁石のN極とS
極との中間部の磁場内に、磁石から放射される磁力線の
方向と交叉するようにホール素子(14)を配置してい
る。ホール素子(14)は増幅器(22)を通じて情報処理
回路(20)に接続される。
石(16)を配備し、該磁石の両磁性をケース(10)の検
査面(11)と略直交する方向に向けて取り付ける。
から放射される磁力線と交叉する様に配備する。ホール
素子(18)は増幅器(24)を通じて情報処理回路(20)
に接続される。
って、4200ガウス、横15mm、縦10mm、長さ20mmの断面矩
形を用いた。
であって、1000ガウス、直径6mm、長さ10mmの断面円形
を用いた。
ューブ(30)の外表面に当て、両磁石(12)(16)の夫
々の磁束密度の変化を検知することにより、被検材(3
4)の内部に存在する浸炭部(32)を測定するものであ
る。
おいて、磁石は永久磁石に代えて電磁石を使用してもよ
い。
第1検出手段(1)の出力Xと第2検出手段(2)の出
力Yとの差が計算され、その差を表わす出力X−Yが計
器に表示される。
(18)は、夫々の磁石からの磁力線と交叉する様に配置
されているから、常時起電力を発生している。
0)を被検材表面から約1mmの高さに接近させて、被検材
に沿って移動させると、被検材が浸炭部、変質層を形成
していない健全状況のときは、磁力線の状況は変らず、
ホール素子(14)(18)の起電力は一定である。
ス(10)が被検材の外表面に形成された変質層(34)に
接近すると、変質層(34)の磁性に影響されて第2検出
手段(2)のホール素子(18)と交叉する磁束密度は増
加する。
ら放射される磁力線は変質層(34)へ引き寄せられるか
ら、磁石(12)の中間部におけるホール素子(14)と交
叉する磁束密度は低下する。
(32)に接近すると、第2検出手段(2)のホール素子
(18)と交叉する磁束密度には変化はないが、第1検出
手段(1)の磁石(12)からの磁力線は浸炭部(32)に
向かって集まり、磁石(12)の磁極間ではホール素子
(14)と交叉する磁束密度は低下するから、第1検出手
段(1)のホール素子(14)の起電力は大きく変化す
る。
表面に変質層を形成した被検材(肉厚10mmのクラッキン
グチューブ)を測定した結果を第4図に示す。
が存在する領域と、存在しない健全な領域とが混在して
いるにも拘らず、外表面から内面の浸炭部に至る距離
と、計器の読みとの間に良好な相関関係を示している。
に、外表面に窒化、脱炭等による磁性変質層、内面に浸
炭部が形成された被検材を、外側から非破壊的に測定す
るのに適している。
当業者であれば、特許請求の範囲に記載の範囲で種々の
変形が可能であることは勿論である。例えばホール素子
(14)(18)に代えて、その他の磁気検出センサーを用
いることが出来る。
厚さと磁力線変化を示すグラフであって、第3図は従来
方法によるもの、第4図は本発明方法によるものを示
す、 第5図、第7図は第1検出部の実験状況を示す説明図、
第5a図、第7a図は、同上における被検材表面からの深さ
による磁束密度変化を示すグラフ、 第6図、第8図は、第2検出部の実験状況を示す説明
図、第6a図、第8a図は、同上における被検材表面からの
深さによる磁束密度変化を示すグラフ、第9図は出願人
が以前提案した従来装置の概略図である。 (1)……第1検出手段、(2)……第2検出手段 (10)……ケース、(12)(16)……磁石 (14)(18)……ホール素子 (20)……情報処理回路、(26)……減算回路
Claims (1)
- 【請求項1】パイプ状の被検材の内面に、浸炭部の発生
を検査する方法に於いて、 被検材表面に対して磁石の両磁極を水平に配置して磁極
中間部の極束密度を測定する工程と、 被検材表面に対して磁石の両磁極を垂直に配置して磁極
から放射される磁束密度を測定する工程と、 上記2つの工程の測定データを信号処理して、測定デー
タの差信号を出力する工程 とによって、被検材表面に形成された磁性層の影響を消
去し、被検材深部に発生した浸炭部のみによる磁束密度
の変化を出力することを特徴とする浸炭層の測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2271978A JP2539091B2 (ja) | 1990-10-08 | 1990-10-08 | 浸炭部の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2271978A JP2539091B2 (ja) | 1990-10-08 | 1990-10-08 | 浸炭部の測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04145358A JPH04145358A (ja) | 1992-05-19 |
JP2539091B2 true JP2539091B2 (ja) | 1996-10-02 |
Family
ID=17507449
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2271978A Expired - Lifetime JP2539091B2 (ja) | 1990-10-08 | 1990-10-08 | 浸炭部の測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2539091B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102422153A (zh) * | 2009-02-25 | 2012-04-18 | 住友金属工业株式会社 | 渗碳检测方法 |
CN110701990A (zh) * | 2019-10-19 | 2020-01-17 | 北京工业大学 | 基于磁场扰动与磁力双检测环的炉管渗碳层厚度评价方法与系统 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5299800B2 (ja) | 2011-10-25 | 2013-09-25 | 新日鐵住金株式会社 | 浸炭検知方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS626159A (ja) * | 1985-07-02 | 1987-01-13 | Kubota Ltd | 浸炭計測用プル−ブ |
JPS6276453A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-08 | Kubota Ltd | 浸炭計測用プル−プ |
-
1990
- 1990-10-08 JP JP2271978A patent/JP2539091B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
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CN102422153A (zh) * | 2009-02-25 | 2012-04-18 | 住友金属工业株式会社 | 渗碳检测方法 |
CN110701990A (zh) * | 2019-10-19 | 2020-01-17 | 北京工业大学 | 基于磁场扰动与磁力双检测环的炉管渗碳层厚度评价方法与系统 |
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JPH04145358A (ja) | 1992-05-19 |
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