JP2537035B2 - 精密水準測量器 - Google Patents
精密水準測量器Info
- Publication number
- JP2537035B2 JP2537035B2 JP61175466A JP17546686A JP2537035B2 JP 2537035 B2 JP2537035 B2 JP 2537035B2 JP 61175466 A JP61175466 A JP 61175466A JP 17546686 A JP17546686 A JP 17546686A JP 2537035 B2 JP2537035 B2 JP 2537035B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- telescope
- image
- objective lens
- measuring
- leveling instrument
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、望遠鏡と、この望遠鏡の対物レンズの前側
節点においてその前側主面と共に配置されている第１の
像面と、望遠鏡の光路の外側に設けられていて且つ測定
値の表示並びに評価のための測定手段が含まれた第２の
像面を有する、後続配置された結像系と、及び、上記望
遠鏡対物レンズの前方の測定点に配置された標尺とを備
えた精密水準測量器に関する。本発明は中でも高度測定
のための水準測量器に使用することができる。
節点においてその前側主面と共に配置されている第１の
像面と、望遠鏡の光路の外側に設けられていて且つ測定
値の表示並びに評価のための測定手段が含まれた第２の
像面を有する、後続配置された結像系と、及び、上記望
遠鏡対物レンズの前方の測定点に配置された標尺とを備
えた精密水準測量器に関する。本発明は中でも高度測定
のための水準測量器に使用することができる。
望遠鏡の視準線が傾斜補償器または特別な補償手段に
よって自動的に鉛直方向に対して安定化されるコンペン
セータ水準測量器のような種々の測量器が知られてい
る。それらにおける測定誤差はその視準軸を水平向きに
するための回転軸が支持軸の近傍に配置されているけれ
ども、対物レンズの前方側節点はそうではないこと、そ
の読取り指標を傾斜補償器を介して結像させる際にスタ
ンド（Stativ）の震動がマイクロメーターの読取りを困
難にすること、あるいはまた目標像が震動に際して揺れ
動いたり振動したりして標尺の読取りが困難になるこ
と、などによって測定誤差が生じ得る。東ドイツ特許第
45281号公報から、直径上に向かいあった二つの望遠鏡
位置において測定するための測定用または視準用望遠鏡
が、そして東ドイツ特許第102820号公報からは折り曲げ
られた光学軸を有する視準用望遠鏡が公知であり、この
場合に対物レンズの物体側の節点が物対側の頂点に、そ
して視準マークが物体側の節点に配置されている。東ド
イツ特許第212097号公報には、高さ位置の値の読取りの
ための多数の表示手段が含まれている高度測定用の装置
が、そして経済特許第G01C 2701607号公報にはマイクロ
メーターの表示を自動的な記録することによって観測者
の負担が軽減され、そしてマイクロコンピューターとデ
ータメモリーを使用して視準過程を合理化することによ
り測定データ検出過程が自動化されるような装置がそれ
ぞれ記述されている。
よって自動的に鉛直方向に対して安定化されるコンペン
セータ水準測量器のような種々の測量器が知られてい
る。それらにおける測定誤差はその視準軸を水平向きに
するための回転軸が支持軸の近傍に配置されているけれ
ども、対物レンズの前方側節点はそうではないこと、そ
の読取り指標を傾斜補償器を介して結像させる際にスタ
ンド（Stativ）の震動がマイクロメーターの読取りを困
難にすること、あるいはまた目標像が震動に際して揺れ
動いたり振動したりして標尺の読取りが困難になるこ
と、などによって測定誤差が生じ得る。東ドイツ特許第
45281号公報から、直径上に向かいあった二つの望遠鏡
位置において測定するための測定用または視準用望遠鏡
が、そして東ドイツ特許第102820号公報からは折り曲げ
られた光学軸を有する視準用望遠鏡が公知であり、この
場合に対物レンズの物体側の節点が物対側の頂点に、そ
して視準マークが物体側の節点に配置されている。東ド
イツ特許第212097号公報には、高さ位置の値の読取りの
ための多数の表示手段が含まれている高度測定用の装置
が、そして経済特許第G01C 2701607号公報にはマイクロ
メーターの表示を自動的な記録することによって観測者
の負担が軽減され、そしてマイクロコンピューターとデ
ータメモリーを使用して視準過程を合理化することによ
り測定データ検出過程が自動化されるような装置がそれ
ぞれ記述されている。
本発明は標尺目盛の測定において疲労により生ずる高
さ測定誤差を取除いて測定過程の最適化を達成しようと
するものである。
さ測定誤差を取除いて測定過程の最適化を達成しようと
するものである。
即ち本発明は、測定点に設けられた標尺を、その測定
過程のためにマイクロメーターを使用することなく、疑
似絶対的（quasi−absolute）水平線の原理（望遠鏡の
二つの位置における測定及び対物レンズの前方側節点に
おける像面）を維持しながらマイクロメーター精度でオ
プト電子工学的に読取るように水準測量器を構成するこ
とを課題とする。
過程のためにマイクロメーターを使用することなく、疑
似絶対的（quasi−absolute）水平線の原理（望遠鏡の
二つの位置における測定及び対物レンズの前方側節点に
おける像面）を維持しながらマイクロメーター精度でオ
プト電子工学的に読取るように水準測量器を構成するこ
とを課題とする。
本発明に従えばこの課題は、第１の像面内に少なくと
も二つ以上の補助刻線が固定されており、それらの位置
を測定手段によって測定対象物の像の位置とともに測定
してその測定対象物に対する基準点として用いることに
よって解決される。有利には上記測定手段がCCD列にあ
ってこれが互いに独立な少なくとも二つ以上の電気的領
域を有し、それらのうち一方の領域は上記補助刻線に、
そしてもう一方の領域が測定対象物の像に従属するよう
にするのが良い。
も二つ以上の補助刻線が固定されており、それらの位置
を測定手段によって測定対象物の像の位置とともに測定
してその測定対象物に対する基準点として用いることに
よって解決される。有利には上記測定手段がCCD列にあ
ってこれが互いに独立な少なくとも二つ以上の電気的領
域を有し、それらのうち一方の領域は上記補助刻線に、
そしてもう一方の領域が測定対象物の像に従属するよう
にするのが良い。
以下本発明を添付図に図式的に表わした実施例によっ
て更に詳細に説明する。
て更に詳細に説明する。
第１図に本発明に従うコンペンセータ水準測量器の一
実施例の、測定望遠鏡または視準望遠鏡並びに各主要部
材を含む断面図が示されており、これは望遠鏡対物レン
ズ１の前方の測定点に設けられている測定用標尺５の測
定対象の像を前側焦点距離の半分のところに設けた振り
子ミラー２を介して、望遠鏡対物レンズ１の前側節点に
おいて前側主面とともに存在する第１の像面３内に結像
させるための上記対物レンズ１を備えている。図示して
いない他の結像用光学部材はこの装置の視準線の安定性
に対してなんらの影響を有しない。この場合に対物レン
ズ１は固定配置されている。上記第１像面３内に設けら
れている二本の補助刻線４（例えば目盛盤の刻線図形）
と一緒に、水準測量用標尺５の目盛が中間結像系６を介
して望遠鏡光路の外側に設けられている第２の像面の上
に結像されるが、この像面にはオプト電子工学的受光手
段、即ちCCD列７が設けられていて上記目盛像が測定さ
れる。この場合に刻線図形４は水準測定用標尺５のコー
ド化された目盛像の評価のための基準点として用いら
れ、そして対物レンズ１の上に固定して設けられてい
る。それ以後のそれぞれの測定値の評価と記録とは公知
の、例えばマイクロコンピューター及びメモリーのよう
な種々の手段によって行われる。
実施例の、測定望遠鏡または視準望遠鏡並びに各主要部
材を含む断面図が示されており、これは望遠鏡対物レン
ズ１の前方の測定点に設けられている測定用標尺５の測
定対象の像を前側焦点距離の半分のところに設けた振り
子ミラー２を介して、望遠鏡対物レンズ１の前側節点に
おいて前側主面とともに存在する第１の像面３内に結像
させるための上記対物レンズ１を備えている。図示して
いない他の結像用光学部材はこの装置の視準線の安定性
に対してなんらの影響を有しない。この場合に対物レン
ズ１は固定配置されている。上記第１像面３内に設けら
れている二本の補助刻線４（例えば目盛盤の刻線図形）
と一緒に、水準測量用標尺５の目盛が中間結像系６を介
して望遠鏡光路の外側に設けられている第２の像面の上
に結像されるが、この像面にはオプト電子工学的受光手
段、即ちCCD列７が設けられていて上記目盛像が測定さ
れる。この場合に刻線図形４は水準測定用標尺５のコー
ド化された目盛像の評価のための基準点として用いら
れ、そして対物レンズ１の上に固定して設けられてい
る。それ以後のそれぞれの測定値の評価と記録とは公知
の、例えばマイクロコンピューター及びメモリーのよう
な種々の手段によって行われる。
本発明によれば標尺の目盛を読取ることにより生ずる
高さ測定誤差を疑似絶対的水平線の原理を維持しながら
オプト電子工学的な測定値の検出によって除くことを可
能とする。得られた測定値はコンピューターに支援され
た吟味の後に記憶され且つ更に処理される。
高さ測定誤差を疑似絶対的水平線の原理を維持しながら
オプト電子工学的な測定値の検出によって除くことを可
能とする。得られた測定値はコンピューターに支援され
た吟味の後に記憶され且つ更に処理される。
添付の図面は本発明に従う装置の一実施例の断面図であ
る。 １……望遠鏡対物レンズ ２……振り子ミラー、３……第１像面 ４……補助刻線、５……標尺 ６……中間結像系 ７……受光手段（像面）
る。 １……望遠鏡対物レンズ ２……振り子ミラー、３……第１像面 ４……補助刻線、５……標尺 ６……中間結像系 ７……受光手段（像面）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭47−24345（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−25413（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−129610（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−197806（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】望遠鏡と、この望遠鏡の対物レンズ（１）
の前側主面と共に配置されている第１の像面（３）と、
望遠鏡の光路の外側に設けられていて、かつ測定値の表
示並びに評価のための測定手段が含まれた第２の像面
（７）を有する、後続配置された結像系（６）と、およ
び上記望遠鏡の対物レンズ（１）の前方の測定点に配置
された標尺（５）とを含む精密水準測量器において、上
記第１の像面（３）内に、少なくとも２本以上の補助刻
線が固定配置されており、それらの位置を、たがいに独
立した少なくとも二つ以上の領域を有するCCD列であっ
て、その際一方の領域は、各補助刻線に、そしてもう一
方の領域は、測定対象物の像に従属するようにしてある
上記測定手段（７）により、各補助刻線を測定対象物の
像の位置とともに測定してその測定対象物に対する基準
点として用いることを特徴とする精密水準測量器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61175466A JP2537035B2 (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 精密水準測量器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61175466A JP2537035B2 (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 精密水準測量器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6332316A JPS6332316A (ja) | 1988-02-12 |
| JP2537035B2 true JP2537035B2 (ja) | 1996-09-25 |
Family
ID=15996552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61175466A Expired - Lifetime JP2537035B2 (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 精密水準測量器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2537035B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59197806A (ja) * | 1983-04-25 | 1984-11-09 | Toshiba Corp | 距離測定装置 |
| JPS6025413A (ja) * | 1983-07-22 | 1985-02-08 | Asahi Seimitsu Kk | 水準測量における標尺目盛検出方法及びその装置 |
| JPS60129610U (ja) * | 1984-02-09 | 1985-08-30 | 旭精密株式会社 | 測量機械における機械高測定装置 |
-
1986
- 1986-07-25 JP JP61175466A patent/JP2537035B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6332316A (ja) | 1988-02-12 |
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