JP2536440Y2 - 無挿入力構造のlsiソケット - Google Patents

無挿入力構造のlsiソケット

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JP2536440Y2
JP2536440Y2 JP1990010649U JP1064990U JP2536440Y2 JP 2536440 Y2 JP2536440 Y2 JP 2536440Y2 JP 1990010649 U JP1990010649 U JP 1990010649U JP 1064990 U JP1064990 U JP 1064990U JP 2536440 Y2 JP2536440 Y2 JP 2536440Y2
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JP
Japan
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pin
lsi
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base housing
socket
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JP1990010649U
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芳克 岡田
宏 遠藤
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NEC Corp
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NEC Corp
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案はLSIソケットに関し、特にピングリッドアレ
イ型のLSIを実装する無挿入力構造のLSIソケットに関す
る。
[従来の技術] 従来、この種の無挿入力構造[以下ZIF(Zero insert
ion force)構造と称す]のLSIソケットは第4図及び第
5図に示すようになっていた。
このLSIソケットはベースハウジング6と、カバーハ
ウジング7によって構成される。
ベースハウジング6は、LSI4のピン5及びコンタクト
8を挿入する溝6aを複数有し、コンタクト5の下部を下
面より突出させている。このコンタクト5はLSI4のピン
5と係合し得る形状となっている。
カバーハウジング7は、LSI4のピン5の直径に相応す
るピン貫通孔7aを有し、ベースハウジング6上をスライ
ド可能にされている。
従って、第4図においてLSI4は無挿入力でLSIソケッ
トに装着されたのち矢印方向にカバーハウジング7をス
ライドされることによって第5図のようにコンタクト8
にLSI4のピン5を導き入れ接触させるZIF構造がとられ
ている。
[考案が解決しようとする課題] 近年LSIは高密度化され同時にピン径も微細化されて
きており、上述した従来のZIF構造のLSIソケットのよう
にカバーハウジング7にてLSI4のピン5を移動させ、ベ
ースハウジング6に固定されたコンタクト8に導き入れ
る構造においては、コンタクト8への挿入力に比べLSI4
のピン5の強度が弱いため、ピン5の曲りを引き起こす
という欠点があった。
[課題を解決するための手段] 本考案は、上記課題を解決するためになしたもので、
その解決手段として本考案は、ピングリッドアレイ型の
LSIを実装する無挿入力構造のLSIソケットにおいて、ベ
ースハウジングと、該ベースハウジング上にスライド可
能に設けたカバーハウジングとを備え、上記ベースハウ
ジングはLSIのピンに相応した大きさの複数のピン挿入
溝と、該ピン挿入溝に連設したコンタクト取付溝と、該
コンタクト取付溝内に挿入した下端部をベースハウジン
グ下面より突出させたコンタクトを備え、上記カバーハ
ウジングは上記ピン挿入溝対応位置にスライド方向にお
いて上記ピンの直径よりも大きなピン貫通孔と、上記コ
ンタクトの上端と係合してコンタクトをLSIのピン側に
移動、接触させる係合凹部とを備える構造としている。
[実施例] 次に、本考案の実施例について図面を参照して説明す
る。
第1図は本考案の一実施例に係るZIF構造のLSIソケッ
トにおけるLSI装着前の状態を示す断面図、第2図はそ
のLSIのピン挿入直後の状態を示す断面図、第3図はLSI
装着後の状態を示す断面図である。
このLSIソケットは、ピングリッドアレイ型のLSI4を
実装する無挿入力構造のもので、ベースハウジング1
と、このベースハウジング1上にスライド可能に設けた
カバーハウジング2とを備えている。
ベースハウジング1は、LSI4のピン5に相応した大き
さの複数のピン挿入溝bと、このピン挿入溝bに連設下
コンタクト取付溝fと、このコンタクト取付溝f内に挿
入して下端部をベースハウジング1の下面より突出させ
たコンタクト3とを備えている。このコンタクト3は、
突出側がベースハウジング1に固定されており、上端a
側が自由な状態にされると共に、コンタクト取付溝f内
の中間部にはLSI4のピン5との接点部cが曲折形成され
ている。
カバーハウジング2は、ピン挿入溝b対応位置に、ス
ライド方向においてピン5の直径よりも大きなピン貫通
孔2aと、下面にコンタクト3の上端aと係合してコンタ
クト3をLSI4のピン5側に移動、接触させる係合凹部2b
とを備える。
第1図においてコンタクト3はベースハウジング1に
固定されると共に上端aがカバーハウジング2に係合し
ており、カバーハウジング2の矢印d方向の移動に対し
て抑圧され接点部cが移動する構造となっている。尚、
この接点部cは通常ベースハウジング1のピン5が挿入
されるピン挿入溝bに突出している。
次にLSI4の装着を順をおって説明する。
まず第1図の状態よりカバーハウジング2を矢印dの
方向に移動させることにより第2図のようにベースハウ
ジング1のピン挿入溝bに突出していたコンタクト3の
接点部cが抑圧されピン挿入溝bより外れLSI4のピン5
が無挿入力でベースハウジング1のピン挿入溝bに挿入
可能となる。
次にカバーハウジング2を矢印e方向にスライドさせ
ることにより第3図に示すように抑圧されていたコンタ
クト3が自由な状態になると同時にLSI4のピン5に接触
することとなる。
[考案の効果] 以上説明したように本考案の無挿入力構造のLSIソケ
ットは、ベースハウジングと、該ベースハウジング上に
スライド可能に設けたカバーハウジングとを備え、上記
ベースハウジングはLSIのピンに相応した大きさの複数
のピン挿入溝と、該ピン挿入溝に連設したコンタクト取
付溝と、該コンタクト取付溝内に挿入した下端部をベー
スハウジング下面より突出させたコンタクトを備え、上
記カバーハウジングは上記ピン挿入溝対応位置にスライ
ド方向において上記ピンの直径よりも大きなピン貫通孔
と、上記コンタクトの上端と係合してコンタクトをLSI
のピン側に移動、接触させる係合凹部とを備えるものと
したため、LSIのピンをベースハウジングのピン挿入溝
によって保護し、コンタクトをカバーハウジングのスラ
イドによって抑圧し接点を移動させることによって、微
細化され、強度的に弱いLSIのピンを保護すると同時
に、十分な抑圧をあたえ接触信頼性の高いZIF構造のLSI
ソケットを提供できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例に係るZIF構造のLSIソケット
におけるLSI装着前の状態を示す断面図、第2図はそのL
SIのピン挿入直後の状態を示す断面図、第3図はLSI装
着後の状態を示す断面図、第4図は従来のLSIソケット
の接点部の接触前の断面図、第5図はその接触後の断面
図である。 1……ベースハウジング 2……カバーハウジング 2a……ピン貫通孔、2b……係合凹部 3……コンタクト、4……LSI 5……ピン、b……ピン挿入溝 f……コンタクト取付溝
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 遠藤 宏 東京都渋谷区道玄坂1丁目21番6号 日 本航空電子工業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−249375(JP,A) 実開 昭60−140382(JP,U)

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】ピングリッドアレイ型のLSIを実装する無
    挿入力構造のLSIソケットにおいて、 ベースハウジングと、該ベースハウジング上にスライド
    可能に設けたカバーハウジングとを備え、上記ベースハ
    ウジングはLSIのピンに相応した大きさの複数のピン挿
    入溝と、該ピン挿入溝に連設したコンタクト取付溝と、
    該コンタクト取付溝内に挿入して下端部をベースハウジ
    ング下面より突出させたコンタクトとを備え、上カーバ
    ーハウジングは上記ピン挿入溝対応位置にスライド方向
    において上記ピンの直径よりも大きなピン貫通孔と、上
    記コンタクトの上端と係合してコンタクトをLSIのピン
    側に移動、接触させる係合凹部とを備えることを特徴と
    する無挿入力構造のLSIソケット。
JP1990010649U 1990-02-06 1990-02-06 無挿入力構造のlsiソケット Expired - Lifetime JP2536440Y2 (ja)

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JPH03101883U JPH03101883U (ja) 1991-10-23
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JPS60140382U (ja) * 1984-02-27 1985-09-17 山一電機株式会社 雌コネクタにおける接片の開閉機構
JPS62249375A (ja) * 1986-04-21 1987-10-30 日本電気株式会社 Lsi用コネクタ

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