JP2530644Y2 - 回路基板検査装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は回路基板検査装置に関し、さらに詳しく言
えば、プローブ移動式回路基板検査装置の計測座標確認
手段に関するものである。

〔従来の技術〕

Ｘ−Ｙ型に代表されるプローブ移動式回路基板検査装
置は、被測定回路基板ごとにピンボードを用意する必要
がないため、特に多品種少量基板の検査には好適であ
る。

第３図には作図の都合上その一部しか示されていない
が、この種の検査装置は、Ｘ方向に配向されたＸガイド
アーム10と、これと直交するＹ方向に配向された図示し
ないＹガイドアームとを備えている。Ｘガイドアーム10
は、そのＹガイドアームに沿ってその全体がＹ方向に移
動する。また、Ｘガイドアーム10には可動部11がＸ方向
に往復動し得るように保持されている。Ｘガイドアーム
10および可動部11は例えばサーボモータを含む駆動手段
にてその動きが制御される。

可動部11にはプローブ12が回路基板13に対して進退可
能に保持されている。プローブ12は例えばエアシリンダ
や円板クランクなどの駆動手段にてその進退動が制御さ
れる。

したがって、Ｘガイドアーム10自体をＹ方向に移動さ
せながら、可動部11をＸ方向に移動させることにより、
フローブ12を任意の位置に動かすことができ、その位置
でフローブ12を下げて回路基板13に接触させることによ
り、測定が行なわれる。

このようにして、プローブ12の位置制御が行なわれる
のであるが、測定ポイント上に正確に位置しているかを
非接触で確認し得るようにするため、可動部11にはレー
ザー光源15が保持されている。すなわち、レーザー光源
15はプローブ12が接触すべき測定ポイントをＰとすると
き、そのＰ点にレーザースポットが照射されるようにそ
の傾きを調節した上で保持板16を介して可動部11に取付
けられている。

〔考案が解決しようとする課題〕

上記従来例によると、そのレーザースポットを目視す
ることにより、計測座標を確認することができ、また、
その位置でのX,Yデータを取り込むことにより、測定時
の位置データなどが得られるのであるが、他方において
次のような欠点がある。すなわち、可動部11は極めて高
速にて移動するため、その移動に伴ってレーザー光源15
の配線などにストレスがかかり、極端な場合には断線す
るおそれもある。また、移動時、停止時のいずれにおい
ても、レーザー光源15にはかなりの加速度がかかるた
め、同光源に悪影響を及ぼすことになる。

〔課題を解決するための手段〕

この考案は上記従来例の欠点を解消するためになされ
たもので、その構成上の特徴は、回路基板に対してプロ
ーブを進退可能に保持するとともに、Ｘ−Ｙ方向に移動
し得る可動部と、上記プローブを接触すべき上記回路基
板上の測定ポイントにレーザースポットを照射する計測
座標確認手段とを備えている回路基板検査装置におい
て、上記計測座標確認手段は、該検査装置の筐体側に保
持されるレーザー光源と、上記可動部の移動方向を案内
するアームに取付けられ、上記レーザー光源からのレー
ザー光を上記可動部の移動方向と平行にその向きを変え
る第１の反射器と、上記可動部に保持されていて、同第
１の反射器からのレーザー光を上記回路基板上の測定ポ
イントに向けて照射する第２の反射器とを備えてなるこ
とにある。この場合、上記第１および第２の反射器は好
ましくは全反射プリズムからなる。

〔作用〕 上記構成によれば、レーザー光源は筐体側に取付けら
れ、レーザー光は第１および第２の反射器をへて回路基
板上に照射されるため、断線事故やレーザー光源に機械
的衝撃が加えられることもない。

〔実施例〕

以下、この考案の実施例を第１図と第２図を参照しな
がら詳細に説明する。なお、第１図には先に説明の第３
図には示されていなかったＹ方向に配向されたＹガイド
アームが参照符号14で示されており、その他、第３図と
同一部分にはそれと同じ参照符号を付し、その説明は省
略する。

この考案によると、レーザー光源15は検査装置のフレ
ームやシャーシなどの適当な筐体側に取付けられる。こ
の場合、同レーザー光源15はＸガイドアーム10の高さ位
置においてその照射光がＹガイドアーム14と平行となる
ように、その高さおよび角度などが設定される。

これに対して、Ｘガイドアーム10には第１の光反射器
20が設けられる。この例において、光反射器20は全反射
三角プリズムからなり、レーザー光源15から照射される
レーザー光の向きを可動部11側に直角に変える。すなわ
ち、Ｘ方向と平行にする。

可動部11には第１の光反射器20からのレーザー光を測
定ポイントＰに向けて照射するための第２の光反射器21
が設けられる。第２図に示されているように、同光反射
器21も全反射三角プリズムからなるが、この場合、測定
ポイントＰに対してその側方からレーザー光を照射する
ことになるため、この実施例では光反射器21をＸ方向と
平行な関係にある例えば一辺21aを中心として所定角度
傾けるようにしている。

上記構成によれば、レーザー光源15からＹ方向に向け
て照射されるレーザー光は第１の光反射器20にてＸ方向
にその向きを変えられ、さらに第２の光反射器21にて測
定ポイントＰにレーザースポットが形成されるように反
射される。Ｘガイド10と可動部11の移動により、レーザ
ー光源15と第１の光反射器20との距離、同第１の光反射
器20と第２の光反射器21間の距離が変化することになる
が、これは光スポットの形成に何ら影響を与えるもので
はない。

なお、上記実施例では各反射器として、全反射三角プ
リズムを使用しているが、本考案はこの実施例に限定さ
れるものではない。また、図示されていないが、各光反
射器20,21をガイドアーム10や可動部11に取付けるにあ
たって、好ましくは角度調整自在な保持手段を介在させ
るとよい。

〔考案の効果〕

以上説明したように、この考案によれば、レーザー光
源を筐体側に設置し、そのレーザー光を光反射器によっ
て測定ポイントにまで導くようにしたことにより、断線
事故のおそれが全くなく、しかもレーザー光源自体機械
的衝撃を受けるおそれは殆どない。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の一実施例を概略的に示した斜視図、
第２図は同実施例に使用されている光反射器の斜視図、
第３図は従来例を示した概略的な斜視図である。 図中、10はＸガイドアーム、11は可動部、13は回路基
板、15はレーザー光源、16は保持板、20,21は光反射器
である。

Claims (2)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】回路基板に対してプローブを進退可能に保
   持するとともに、Ｘ−Ｙ方向に移動し得る可動部と、上
   記プローブを接触すべき上記回路基板上の測定ポイント
   にレーザースポットを照射する計測座標確認手段とを備
   えている回路基板検査装置において、 上記計測座標確認手段は、該検査装置の筐体側に保持さ
   れるレーザー光源と、上記可動部の移動方向を案内する
   アームに取付けられ、上記レーザー光源からのレーザー
   光を上記可動部の移動方向と平行にその向きを変える第
   １の反射器と、上記可動部に保持されていて、同第１の
   反射器からのレーザー光を上記回路基板上の測定ポイン
   トに向けて照射する第２の反射器とを備えてなることを
   特徴とする回路基板検査装置。
2. 【請求項２】上記第１および第２の反射器は全反射プリ
   ズムからなる請求項１に記載の回路基板検査装置。