JP2522635B2 - 皮膜切断による微粉末積層皮膜厚測定方法 - Google Patents
皮膜切断による微粉末積層皮膜厚測定方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、結合力および付着力の
弱い浸透探傷試験用現像剤としての微粉末積層皮膜の厚
さを、皮膜切断によって正確に測定する方法に関するも
のである。
弱い浸透探傷試験用現像剤としての微粉末積層皮膜の厚
さを、皮膜切断によって正確に測定する方法に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】浸透探傷試験用現像剤としての微粉末が
積層して出来ている皮膜の厚さを測定する場合に、皮膜
が付いている物体を皮膜ごと切断し、皮膜断面の厚さを
光学機械または各種顕微鏡類を用いて測定することは正
確に皮膜厚さを測定するために必要な手法である。
積層して出来ている皮膜の厚さを測定する場合に、皮膜
が付いている物体を皮膜ごと切断し、皮膜断面の厚さを
光学機械または各種顕微鏡類を用いて測定することは正
確に皮膜厚さを測定するために必要な手法である。
【０００３】しかし、一般にこのような皮膜は粒子相互
の接着力および素地物質に対する付着力が弱く、僅かな
力や振動が加えられると形状が乱れ、皮膜の状態が変わ
ってしまったり、あるいはなくなってしまう恐れがある
ことから、これまでは、このような切断法による皮膜の
測定は行われていなかった。
の接着力および素地物質に対する付着力が弱く、僅かな
力や振動が加えられると形状が乱れ、皮膜の状態が変わ
ってしまったり、あるいはなくなってしまう恐れがある
ことから、これまでは、このような切断法による皮膜の
測定は行われていなかった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、粒子間相互
または粒子と素地表面間との結合力がきわめて小さい浸
透探傷試験用現像剤としての微粒子粉末が積層して出来
ている皮膜の上述のような弱点をなくし、しかも殆ど無
視出来る程度の力で断面を作成し、この断面から光学顕
微鏡または電子顕微鏡を用いて皮膜厚さを測定する方法
を開発することを課題にしている。
または粒子と素地表面間との結合力がきわめて小さい浸
透探傷試験用現像剤としての微粒子粉末が積層して出来
ている皮膜の上述のような弱点をなくし、しかも殆ど無
視出来る程度の力で断面を作成し、この断面から光学顕
微鏡または電子顕微鏡を用いて皮膜厚さを測定する方法
を開発することを課題にしている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の皮膜切断による
微粉末積層皮膜厚測定方法は、薄い平らなガラス試験片
を準備すること、該ガラス試験片の表面にスリットを入
れること、該試験片のスリットを入れた表面上に粒子間
相互または粒子と素地表面間との結合力がきわめて小さ
い浸透探傷試験用現像剤としての微粉末の積層皮膜を形
成すること、前記皮膜上に金属蒸着を施すこと、前記試
験片に外力を加えて前記スリットをかいして切断するこ
と、切断試験片の切断面に金属蒸着を施すこと、顕微鏡
を用いて前記切断面の皮膜厚を測定することからなる手
段によって、上記課題を解決している。
微粉末積層皮膜厚測定方法は、薄い平らなガラス試験片
を準備すること、該ガラス試験片の表面にスリットを入
れること、該試験片のスリットを入れた表面上に粒子間
相互または粒子と素地表面間との結合力がきわめて小さ
い浸透探傷試験用現像剤としての微粉末の積層皮膜を形
成すること、前記皮膜上に金属蒸着を施すこと、前記試
験片に外力を加えて前記スリットをかいして切断するこ
と、切断試験片の切断面に金属蒸着を施すこと、顕微鏡
を用いて前記切断面の皮膜厚を測定することからなる手
段によって、上記課題を解決している。
【０００６】
【作用】極薄の金属蒸着膜が浸透探傷試験用現像剤とし
ての微粉末積層皮膜全面および切断面を覆い、付着力の
弱い微粉末の剥離・飛散を防止すると同時にスリットを
かいして切断するために極めて小さな外力により結合力
の弱い積層皮膜の原形を損なわずに切断する。
ての微粉末積層皮膜全面および切断面を覆い、付着力の
弱い微粉末の剥離・飛散を防止すると同時にスリットを
かいして切断するために極めて小さな外力により結合力
の弱い積層皮膜の原形を損なわずに切断する。
【０００７】
【実施例】図１を参照して、本発明の皮膜切断による粒
子間相互または粒子と素地表面間との結合力がきわめて
小さい浸透探傷試験用現像剤としての微粉末の積層皮膜
厚測定方法の実施例について説明する。
子間相互または粒子と素地表面間との結合力がきわめて
小さい浸透探傷試験用現像剤としての微粉末の積層皮膜
厚測定方法の実施例について説明する。
【０００８】本発明の測定方法においては、まず、
（Ａ）図に示すように、薄い平らなガラス試験片１を準
備する。このガラス試験片１は、顕微鏡等に用いられる
通常の透明な薄板ガラス（厚さ１．０ｍｍ程度）が好ま
しい。
（Ａ）図に示すように、薄い平らなガラス試験片１を準
備する。このガラス試験片１は、顕微鏡等に用いられる
通常の透明な薄板ガラス（厚さ１．０ｍｍ程度）が好ま
しい。
【０００９】次いで、（Ｂ）図に示すように、ガラス切
り等を用いて、このガラス試験片１の表面にスリット１
１を入れる。
り等を用いて、このガラス試験片１の表面にスリット１
１を入れる。
【００１０】（Ｃ）、（Ｄ）図に示すように、ガラス試
験片１のスリット１１を入れた表面上に浸透探傷試験用
現像剤としての微粉末積層皮膜３を形成する。ここで、
（Ｄ）図は（Ｃ）図の側面図である。微粉末としては、
鉄粉等の金属粉末、または、炭酸カルシューム粉、チタ
ン酸カルシウム粉、アルミナ粉等の非金属粉末が好まし
い。これらの微粉末を空気の流れを利用してガラス試験
片１上に積層させるか、または溶剤もしくは溶剤にバイ
ンダを加えた液体中に懸濁させ、試験片１上にブラシで
塗布するか、噴霧器で吹き付ける。
験片１のスリット１１を入れた表面上に浸透探傷試験用
現像剤としての微粉末積層皮膜３を形成する。ここで、
（Ｄ）図は（Ｃ）図の側面図である。微粉末としては、
鉄粉等の金属粉末、または、炭酸カルシューム粉、チタ
ン酸カルシウム粉、アルミナ粉等の非金属粉末が好まし
い。これらの微粉末を空気の流れを利用してガラス試験
片１上に積層させるか、または溶剤もしくは溶剤にバイ
ンダを加えた液体中に懸濁させ、試験片１上にブラシで
塗布するか、噴霧器で吹き付ける。
【００１１】このようにして形成された微粉末積層皮膜
３は、粒子間相互または粒子と素地表面間との結合力が
きわめて小さい。この性状は、浸透探傷試験の現像剤と
して利用されている。
３は、粒子間相互または粒子と素地表面間との結合力が
きわめて小さい。この性状は、浸透探傷試験の現像剤と
して利用されている。
【００１２】次に、（Ｅ）、（Ｆ）図に示すように、微
粉末積層皮膜３上に金属蒸着を施して金属蒸着膜４を形
成する。ここで、（Ｆ）図は（Ｅ）図の側面図である。
金属蒸着に用いる金属としては、金、クローム等が好ま
しい。蒸着厚さは約３００Å（オングストローム）また
は３０ｎｍ（ナノメータ）程度である。
粉末積層皮膜３上に金属蒸着を施して金属蒸着膜４を形
成する。ここで、（Ｆ）図は（Ｅ）図の側面図である。
金属蒸着に用いる金属としては、金、クローム等が好ま
しい。蒸着厚さは約３００Å（オングストローム）また
は３０ｎｍ（ナノメータ）程度である。
【００１３】（Ｇ）図に示すように、試験片１に曲げま
たは衝撃等の外力を加えてスリット１１をかいして試験
片１を２つに切断する。
たは衝撃等の外力を加えてスリット１１をかいして試験
片１を２つに切断する。
【００１４】最後に、（Ｈ）図に示すように、切断試験
片１の切断面１２に金属蒸着を施して金属蒸着膜５を形
成する。金属蒸着膜５は前述の金属蒸着膜４と同様のも
のである。
片１の切断面１２に金属蒸着を施して金属蒸着膜５を形
成する。金属蒸着膜５は前述の金属蒸着膜４と同様のも
のである。
【００１５】その後は、この切断面１２に対して各種顕
微鏡を用いて通常の皮膜厚の測定を行う。
微鏡を用いて通常の皮膜厚の測定を行う。
【００１６】
【発明の効果】本発明によれば、結合力の小さい浸透探
傷試験用現像剤としての微粉末積層皮膜の膜厚を安定し
て確実に測定しうる資料を提供することができる。本発
明の測定方法は、特に浸透探傷試験における現像剤の膜
厚管理に有効に適用できる。
傷試験用現像剤としての微粉末積層皮膜の膜厚を安定し
て確実に測定しうる資料を提供することができる。本発
明の測定方法は、特に浸透探傷試験における現像剤の膜
厚管理に有効に適用できる。
【図１】本発明の方法の概略説明図である。
１：ガラス試験片 ３：微粉末積層皮膜 ４，５：金属蒸着膜 １１：スリット １２：断面
Claims (1)
- 【請求項１】 薄い平らなガラス試験片を準備するこ
と、該ガラス試験片の表面にスリットを入れること、該
試験片のスリットを入れた表面上に粒子間相互または粒
子と素地表面間との結合力がきわめて小さい浸透探傷試
験用現像剤としての微粉末の積層皮膜を形成すること、
前記皮膜上に金属蒸着を施すこと、前記試験片に外力を
加えて前記スリットをかいして切断すること、切断試験
片の切断面に金属蒸着を施すこと、顕微鏡を用いて前記
切断面の皮膜厚を測定することからなる皮膜切断による
微粉末積層皮膜厚測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5271499A JP2522635B2 (ja) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | 皮膜切断による微粉末積層皮膜厚測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5271499A JP2522635B2 (ja) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | 皮膜切断による微粉末積層皮膜厚測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07128021A JPH07128021A (ja) | 1995-05-19 |
| JP2522635B2 true JP2522635B2 (ja) | 1996-08-07 |
Family
ID=17500914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5271499A Expired - Fee Related JP2522635B2 (ja) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | 皮膜切断による微粉末積層皮膜厚測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2522635B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100919850B1 (ko) * | 2007-12-13 | 2009-09-30 | 한국표준과학연구원 | 시편 제작방법 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53123655A (en) * | 1977-04-04 | 1978-10-28 | Hitachi Ltd | Color picture tube |
| JPH0492898A (ja) * | 1990-08-07 | 1992-03-25 | Nippon Steel Corp | 炭化珪素エピタキシャル成長膜の膜厚測定方法 |
-
1993
- 1993-10-29 JP JP5271499A patent/JP2522635B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07128021A (ja) | 1995-05-19 |
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